JPH0430824Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0430824Y2 JPH0430824Y2 JP771885U JP771885U JPH0430824Y2 JP H0430824 Y2 JPH0430824 Y2 JP H0430824Y2 JP 771885 U JP771885 U JP 771885U JP 771885 U JP771885 U JP 771885U JP H0430824 Y2 JPH0430824 Y2 JP H0430824Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- fet
- gate
- mos
- drain
- source
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 14
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 235000014676 Phragmites communis Nutrition 0.000 description 1
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Electronic Switches (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本考案は、アナログスイツチ回路に関するもの
であり、詳しくは、制御信号(電源電圧)を越え
る入力電圧が加えられた場合であつても異常電流
が流れない過大入力特性の優れたアナログスイツ
チ回路を集積化が容易な素子のみで実現したもの
である。
であり、詳しくは、制御信号(電源電圧)を越え
る入力電圧が加えられた場合であつても異常電流
が流れない過大入力特性の優れたアナログスイツ
チ回路を集積化が容易な素子のみで実現したもの
である。
(従来の技術)
例えば、多数の測定信号を選択的に切り換えて
送出する入力スキヤナ装置としては、比較的高電
圧(例えば数100V)のフローテイング回路の出
力信号も切り換えられることが望ましい。
送出する入力スキヤナ装置としては、比較的高電
圧(例えば数100V)のフローテイング回路の出
力信号も切り換えられることが望ましい。
そこで、従来、このようなスイツチ要素として
は、例えばリードリレーなどの機械的接点を有す
るものが用いられていた。
は、例えばリードリレーなどの機械的接点を有す
るものが用いられていた。
ところが、このような機械的接点は寿命が比較
的短く、応答速度も遅いなどの欠点を有すること
から、最近はMOS形FETなどの半導体スイツチ
素子が用いられている。
的短く、応答速度も遅いなどの欠点を有すること
から、最近はMOS形FETなどの半導体スイツチ
素子が用いられている。
第4図は、このようなMOS形FETを用いたス
イツチ回路の一例を示す回路図である。第4図に
おいて、Q1,Q2はMOS形FET(以下FETとい
う)、Aはアンプ、PTはフオトトランジスタ、
LEDは発光ダイオードである。FETQ1,Q2のソ
ースSはアンプAの一方の入力端子に共通に接続
され、FETQ1のドレインDは入力電圧Viが加え
られる入力端子Tiに接続され、FETQ2のドレイ
ンDは負荷RLが接続される出力端子に接続され、
各ゲートGはフオトトランジスタPTのコレクタ
に接続されている。アンプAの出力端子はフオト
トランジスタPTのエミツタに接続されるととも
にアンプAの他方の入力端子に接続されている。
フオトトランジスタPTは発光ダイオードLEDの
出力光に応じて動作するものであり、発光ダイオ
ードLEDとともにフオトカプラPCとして形成さ
れている。
イツチ回路の一例を示す回路図である。第4図に
おいて、Q1,Q2はMOS形FET(以下FETとい
う)、Aはアンプ、PTはフオトトランジスタ、
LEDは発光ダイオードである。FETQ1,Q2のソ
ースSはアンプAの一方の入力端子に共通に接続
され、FETQ1のドレインDは入力電圧Viが加え
られる入力端子Tiに接続され、FETQ2のドレイ
ンDは負荷RLが接続される出力端子に接続され、
各ゲートGはフオトトランジスタPTのコレクタ
に接続されている。アンプAの出力端子はフオト
トランジスタPTのエミツタに接続されるととも
にアンプAの他方の入力端子に接続されている。
フオトトランジスタPTは発光ダイオードLEDの
出力光に応じて動作するものであり、発光ダイオ
ードLEDとともにフオトカプラPCとして形成さ
れている。
このように構成することにより、第5図のよう
な等価回路が形成されることになり、フローテイ
ング回路の出力信号などを切り換えることができ
る。
な等価回路が形成されることになり、フローテイ
ング回路の出力信号などを切り換えることができ
る。
(考案が解決しようとする問題点)
しかし、このような従来のアナログスイツチ回
路では、フオトカプラPCを用いているために集
積化は困難であつて装置としての小形化が図りに
くく、複数の回路素子を実装して接続するための
工数が必要になることからコストも高くなつてし
まうなどの欠点がある。
路では、フオトカプラPCを用いているために集
積化は困難であつて装置としての小形化が図りに
くく、複数の回路素子を実装して接続するための
工数が必要になることからコストも高くなつてし
まうなどの欠点がある。
本考案は、このような欠点を解決したものであ
つて、その目的は、集積化が可能な素子のみを用
いて過大入力特性の優れたアナログスイツチ回路
を実現することにある。
つて、その目的は、集積化が可能な素子のみを用
いて過大入力特性の優れたアナログスイツチ回路
を実現することにある。
(問題点を解決するための手段)
このような目的を達成する本考案は、互いに異
なる伝導形を有し一方のソースが他方のドレイン
に接続され一方のドレインに入力端子が接続され
他方のソースに出力端子が接続された第1、第2
のMOS形FETと、第2のMOS形FETと同じ伝
導形を有し、ドレインに第1のMOS形FETのゲ
ートが接続されゲートに第2のMOS形FETのゲ
ートが接続されソースに制御端子が接続された第
3のMOS形FETと、第2、第3のMOS形FET
のゲートと制御端子との間に接続されたインバー
タとで構成されたことを特徴とする。
なる伝導形を有し一方のソースが他方のドレイン
に接続され一方のドレインに入力端子が接続され
他方のソースに出力端子が接続された第1、第2
のMOS形FETと、第2のMOS形FETと同じ伝
導形を有し、ドレインに第1のMOS形FETのゲ
ートが接続されゲートに第2のMOS形FETのゲ
ートが接続されソースに制御端子が接続された第
3のMOS形FETと、第2、第3のMOS形FET
のゲートと制御端子との間に接続されたインバー
タとで構成されたことを特徴とする。
(実施例)
以下、図面を用いて詳細に説明する。
第1図は、本考案の一実施例を示す回路図であ
り、第4図と同一部分には同一符号を付けてい
る。第1図において、Q3は伝導形がnの第1の
FET、Q4,Q5は伝導形がpの第2、第3の
FET、ZDはツエナーダイオード、Tcは制御信号
Scが入力される制御端子、INVはインバータ、
D1〜D3はそれぞれ寄生ダイオードである。第1
のFET Q3のソースSは第2のFET Q4のドレイ
ンDと接続され、第1のFET Q3のドレインDは
入力端子Tiに接続され、第2のFET Q4のソース
Sは出力端子Toに接続されている。第3のFET
Q5のドレインDは第1のFETのゲートGに接続
され、ソースSは制御端子Tcに接続され、ゲー
トGは第2のFETのゲートGに接続されている。
インバータINVはV+,V−の電源電圧で駆動
されるものであり、第2、第3のFET Q4,Q5の
ゲートGと制御端子Tcとの間に接続されている。
ツエナーダイオードZDは第1のFET Q3のゲー
トを保護するためものであり、第1のFET Q3の
ゲートとソースとの間に接続されている。
り、第4図と同一部分には同一符号を付けてい
る。第1図において、Q3は伝導形がnの第1の
FET、Q4,Q5は伝導形がpの第2、第3の
FET、ZDはツエナーダイオード、Tcは制御信号
Scが入力される制御端子、INVはインバータ、
D1〜D3はそれぞれ寄生ダイオードである。第1
のFET Q3のソースSは第2のFET Q4のドレイ
ンDと接続され、第1のFET Q3のドレインDは
入力端子Tiに接続され、第2のFET Q4のソース
Sは出力端子Toに接続されている。第3のFET
Q5のドレインDは第1のFETのゲートGに接続
され、ソースSは制御端子Tcに接続され、ゲー
トGは第2のFETのゲートGに接続されている。
インバータINVはV+,V−の電源電圧で駆動
されるものであり、第2、第3のFET Q4,Q5の
ゲートGと制御端子Tcとの間に接続されている。
ツエナーダイオードZDは第1のFET Q3のゲー
トを保護するためものであり、第1のFET Q3の
ゲートとソースとの間に接続されている。
このように構成された装置の動作について、入
力電圧Viと電源電圧V+,V−の大きさに着目
しながら説明する。
力電圧Viと電源電圧V+,V−の大きさに着目
しながら説明する。
[V−<Vi<V+]
制御信号Scが“H”のレベルの時、第3の
FET Q5のゲート電位は“L”レベルになつて、
第3のFET Q5はONになる。この結果、第1の
FET Q3のゲート電位は“H”レベルになる。こ
れに対し、制御信号Scが“L”レベルの時には
第3のFET Q5のゲート電位は“H”レベルにな
つて第3のFET Q5はOFFになるが、第3の
FET Q5の寄生ダイオードD3はONになる。ここ
で、この寄生ダイオードD3の順方向電圧を無視
すると、第1のFETQ3のゲート電位は常に制御
信号Scの電位と等しくなり、第2のFET Q4のゲ
ート電位は制御信号Scを反転した電位と等しく
なる。
FET Q5のゲート電位は“L”レベルになつて、
第3のFET Q5はONになる。この結果、第1の
FET Q3のゲート電位は“H”レベルになる。こ
れに対し、制御信号Scが“L”レベルの時には
第3のFET Q5のゲート電位は“H”レベルにな
つて第3のFET Q5はOFFになるが、第3の
FET Q5の寄生ダイオードD3はONになる。ここ
で、この寄生ダイオードD3の順方向電圧を無視
すると、第1のFETQ3のゲート電位は常に制御
信号Scの電位と等しくなり、第2のFET Q4のゲ
ート電位は制御信号Scを反転した電位と等しく
なる。
次に、寄生ダイオードD1,D2のON、OFFを
説明する。
説明する。
制御信号Scが“H”のとき、第1のFET Q3お
よび第2のFET Q4はONになるので、寄生ダイ
オードD1,D2のON、OFFはいずれでもよい。
よび第2のFET Q4はONになるので、寄生ダイ
オードD1,D2のON、OFFはいずれでもよい。
制御信号Scが“L”のとき、寄生ダイオード
D1,D2がONになる可能性は入力電圧Viの極性
によつて異なる。例えば入力電圧Viが負の場合
には寄生ダイオードD1がONになる可能性があ
り、入力電圧Viが正の場合には寄生ダイオード
D2がONになる可能性がある。ただし、入力電圧
Viが負の場合、寄生ダイオードD1がONになる可
能性があるとはいうものの、第2のFET Q4およ
び寄生ダイオードD2がOFFになるので実際には
電流は流れず、寄生ダイオードD1もOFFになる。
D1,D2がONになる可能性は入力電圧Viの極性
によつて異なる。例えば入力電圧Viが負の場合
には寄生ダイオードD1がONになる可能性があ
り、入力電圧Viが正の場合には寄生ダイオード
D2がONになる可能性がある。ただし、入力電圧
Viが負の場合、寄生ダイオードD1がONになる可
能性があるとはいうものの、第2のFET Q4およ
び寄生ダイオードD2がOFFになるので実際には
電流は流れず、寄生ダイオードD1もOFFになる。
これらの関係を図示すると第2図のようにな
り、制御信号Scに応じて第1、第2のFET Q3,
Q4はON、OFFされることになる。
り、制御信号Scに応じて第1、第2のFET Q3,
Q4はON、OFFされることになる。
[Sc……“L”,Vi>V+]
第1のFET Q3のゲートは第3のFET Q5の寄
生ダイオードD3を介して制御信号Scの入力端子
Tcに接続されている。従つて、この第1のFET
Q3のゲート電位は制御信号Scと第3のFET Q5
の寄生ダイオードD3の順方向電圧の和よりも小
さい“L”レベルにあり、第1のFET Q3のソー
ス・ドレイン耐圧を越えない限りOFFになる。
生ダイオードD3を介して制御信号Scの入力端子
Tcに接続されている。従つて、この第1のFET
Q3のゲート電位は制御信号Scと第3のFET Q5
の寄生ダイオードD3の順方向電圧の和よりも小
さい“L”レベルにあり、第1のFET Q3のソー
ス・ドレイン耐圧を越えない限りOFFになる。
[Sc……“L”,Vi<V−]
寄生ダイオードD1がONになり、第2のFET
Q4のドレイン電位はほぼViに等しい負の値にな
るが、第3のFET Q5のゲート電位が“H”レベ
ルにあるために第3のFET Q5のソース・ドレイ
ン耐圧を越えない限りOFFになる。ところで、
ツエナーダイオードZDは第1のFET Q3のゲー
トを保護するためのものであることから、そのブ
レークダウン電圧Vzはソース・ドレイン耐圧に
比べて相当小さな値になつてしまうことがある。
その時、第3のFET Q5のドレイン電位はVi+
Vzとなり、大きな負の値になる。しかし、本実
施例の場合、第3のFET Q5も第2のFET Q4と
同じ伝導形pの高耐圧FETであつてOFFになつ
ているために、入力端子Tiと制御端子Tcとの間
に電流通路ができることはない。
Q4のドレイン電位はほぼViに等しい負の値にな
るが、第3のFET Q5のゲート電位が“H”レベ
ルにあるために第3のFET Q5のソース・ドレイ
ン耐圧を越えない限りOFFになる。ところで、
ツエナーダイオードZDは第1のFET Q3のゲー
トを保護するためのものであることから、そのブ
レークダウン電圧Vzはソース・ドレイン耐圧に
比べて相当小さな値になつてしまうことがある。
その時、第3のFET Q5のドレイン電位はVi+
Vzとなり、大きな負の値になる。しかし、本実
施例の場合、第3のFET Q5も第2のFET Q4と
同じ伝導形pの高耐圧FETであつてOFFになつ
ているために、入力端子Tiと制御端子Tcとの間
に電流通路ができることはない。
このように構成することにより、従来のような
フオトカツプラを用いることなく、集積化に適し
た回路部品のみで過大入力特性の優れたアナログ
スイツチ回路が実現でき、装置の小形化が図れ、
量産によるコストの低下も図れる。
フオトカツプラを用いることなく、集積化に適し
た回路部品のみで過大入力特性の優れたアナログ
スイツチ回路が実現でき、装置の小形化が図れ、
量産によるコストの低下も図れる。
第3図は、このように構成されるアナログスイ
ツチ回路を用いたマルチプレクサの具体例を示す
ブロツク図であつて、それぞれが大きなコモンモ
ード電圧eCM1〜eCMoを有する複数nチヤンネルの
入力電圧e1〜eoを選択的に切り換えて出力する装
置の例を示している。第3図において、S11〜So2
は本考案に係るスイツチ回路、IAは絶縁された
アンプ、PCは制御信号Scデータを絶縁伝送する
フオトカプラ、DECは制御信号Scデータをデコ
ードするデコード、IDは絶縁された駆動電源で
ある。このような構成において、i番目のチヤン
ネルが選択された時にj番目の非選択チヤンネル
のスイツチの入出力端子間に加わる電圧はほぼ
(eCMj〜eCMi)になつて正負の大きな値になること
があるが、そのような場合においてもスイツチの
OFF状態を保証することができる。
ツチ回路を用いたマルチプレクサの具体例を示す
ブロツク図であつて、それぞれが大きなコモンモ
ード電圧eCM1〜eCMoを有する複数nチヤンネルの
入力電圧e1〜eoを選択的に切り換えて出力する装
置の例を示している。第3図において、S11〜So2
は本考案に係るスイツチ回路、IAは絶縁された
アンプ、PCは制御信号Scデータを絶縁伝送する
フオトカプラ、DECは制御信号Scデータをデコ
ードするデコード、IDは絶縁された駆動電源で
ある。このような構成において、i番目のチヤン
ネルが選択された時にj番目の非選択チヤンネル
のスイツチの入出力端子間に加わる電圧はほぼ
(eCMj〜eCMi)になつて正負の大きな値になること
があるが、そのような場合においてもスイツチの
OFF状態を保証することができる。
なお、各FETの伝導形は上記実施例に限るも
のではなく、逆の組み合わせであつてもよい。
のではなく、逆の組み合わせであつてもよい。
(考案の効果)
以上説明したように、本考案によれば、集積化
が可能な素子のみを用いて過大入力特性の優れた
アナログスイツチ回路を実現することができ、実
用上の効果は大きい。
が可能な素子のみを用いて過大入力特性の優れた
アナログスイツチ回路を実現することができ、実
用上の効果は大きい。
第1図は本考案の一実施例を示す回路図、第2
図は第1図の動作説明図、第3図は第1図のアナ
ログスイツチ回路を用いたマルチプレクサの具体
例を示すブロツク図、第4図は従来のMOS形
FETを用いたスイツチ回路の一例を示す回路図、
第5図は第4図の等価回路である。 Q3〜Q5……MOS形FET、ZD……ツエナーダ
イオード、INV……インバータ。
図は第1図の動作説明図、第3図は第1図のアナ
ログスイツチ回路を用いたマルチプレクサの具体
例を示すブロツク図、第4図は従来のMOS形
FETを用いたスイツチ回路の一例を示す回路図、
第5図は第4図の等価回路である。 Q3〜Q5……MOS形FET、ZD……ツエナーダ
イオード、INV……インバータ。
Claims (1)
- 互いに異なる伝導形を有し一方のソースが他方
のドレインに接続され一方のドレインに入力端子
が接続され他方のソースに出力端子が接続された
第1、第2のMOS形FETと、第2のMOS形
FETと同じ伝導形を有しドレインに第1のMOS
形FETのゲートが接続されゲートに第2のMOS
形FETのゲートが接続されソースに制御端子が
接続された第3のMOS形FETと、第2、第3の
MOS形FETのゲートと制御端子との間に接続さ
れたインバータとで構成されたことを特徴とする
アナログスイツチ回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP771885U JPH0430824Y2 (ja) | 1985-01-23 | 1985-01-23 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP771885U JPH0430824Y2 (ja) | 1985-01-23 | 1985-01-23 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61124126U JPS61124126U (ja) | 1986-08-05 |
JPH0430824Y2 true JPH0430824Y2 (ja) | 1992-07-24 |
Family
ID=30486329
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP771885U Expired JPH0430824Y2 (ja) | 1985-01-23 | 1985-01-23 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0430824Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2642465B2 (ja) * | 1989-01-17 | 1997-08-20 | 株式会社東芝 | アナログ信号入力回路 |
-
1985
- 1985-01-23 JP JP771885U patent/JPH0430824Y2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS61124126U (ja) | 1986-08-05 |
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