JPH04307482A - 磁気ディスク装置のサーマルオフトラック補正制御方式 - Google Patents
磁気ディスク装置のサーマルオフトラック補正制御方式Info
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- JPH04307482A JPH04307482A JP9968291A JP9968291A JPH04307482A JP H04307482 A JPH04307482 A JP H04307482A JP 9968291 A JP9968291 A JP 9968291A JP 9968291 A JP9968291 A JP 9968291A JP H04307482 A JPH04307482 A JP H04307482A
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- temperature
- head
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- circuit
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- Pending
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- 101000606504 Drosophila melanogaster Tyrosine-protein kinase-like otk Proteins 0.000 title claims abstract description 20
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 230000004886 head movement Effects 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Moving Of The Head To Find And Align With The Track (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、磁気ディスク装置のサ
−マルオフトラック補正機能に関し温度情報として装置
外部の雰囲気温度と、内部温度の２つの変数から補正値
を算出する磁気ディスク装置の制御方式に関する。
−マルオフトラック補正機能に関し温度情報として装置
外部の雰囲気温度と、内部温度の２つの変数から補正値
を算出する磁気ディスク装置の制御方式に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の磁気ディスク装置におけ
るサ−マルオフトラック補正の方法は温度情報として、
内部温度又は外部の雰囲気の温度の一方だけを参考に補
正値を算出していた。
るサ−マルオフトラック補正の方法は温度情報として、
内部温度又は外部の雰囲気の温度の一方だけを参考に補
正値を算出していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の磁気デ
ィスク装置はサ−マルオフトラック補正において、外部
の雰囲気あるいは装置内部いずれか一方のみの温度を参
考に補正値を算出している。ところが、外部雰囲気の温
度が変化する場合（特に高温から低温へ遷移する場合）
に装置内部の温度変化は一定のタイムラグ（時間遅れ）
をもって追従する為、温度変化の途中状態にあっては、
所定のオフトラック補正値算出結果と実際のオフトラッ
ク量に大きな差が生じ、補正効果が得られないという問
題がある。
ィスク装置はサ−マルオフトラック補正において、外部
の雰囲気あるいは装置内部いずれか一方のみの温度を参
考に補正値を算出している。ところが、外部雰囲気の温
度が変化する場合（特に高温から低温へ遷移する場合）
に装置内部の温度変化は一定のタイムラグ（時間遅れ）
をもって追従する為、温度変化の途中状態にあっては、
所定のオフトラック補正値算出結果と実際のオフトラッ
ク量に大きな差が生じ、補正効果が得られないという問
題がある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明の磁気ディスク装
置のサ−マルオフトラック補正制御方式は、装置内部の
温度を測定する温度検出器と装置外部の雰囲気の温度を
測定する温度検出器により、温度情報を入力し、シリン
ダアドレス及びヘッドアドレス毎のサ−マルオフトラッ
ク特性値情報を内蔵する不揮発性記憶素子回路をもとに
、外部に接続されたマイクロプロセッサ及び制御メモリ
回路を用いて、当該装置の起動時に、選択されたヘッド
アドレス・シリンダアドレスに最適な補正値を、算出し
てヘッドポジショナ−駆動回路に出力する機能を有して
いる。
置のサ−マルオフトラック補正制御方式は、装置内部の
温度を測定する温度検出器と装置外部の雰囲気の温度を
測定する温度検出器により、温度情報を入力し、シリン
ダアドレス及びヘッドアドレス毎のサ−マルオフトラッ
ク特性値情報を内蔵する不揮発性記憶素子回路をもとに
、外部に接続されたマイクロプロセッサ及び制御メモリ
回路を用いて、当該装置の起動時に、選択されたヘッド
アドレス・シリンダアドレスに最適な補正値を、算出し
てヘッドポジショナ−駆動回路に出力する機能を有して
いる。
【０００５】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明する
。図１及び図２は本発明の一実施例である。まず初めに
図１に関して説明する。磁気ディスク装置１０はスピン
ドル１１に固着されたディスク１２、スピンドル１１を
回転させるスピンドルモ−タ１７、ヘッドの移動、位置
決めを行うヘッドポジショナ−１３、ディスク上でのデ
−タの書き込み、読み出しを行うＲ／Ｗヘッド群１４、
サ−ボディスク面からサ−ボ情報を読み出すサ−ボヘッ
ド１５、Ｒ／Ｗヘッド群１４の中からどれか１本を選択
し、デ−タリ−ド時にはインタフェ−ス回路８０により
選択されたヘッドの出力信号をリ−ド信号アンプ７１に
送出するヘッド選択回路１６とを主な構成要素とし、加
えて、装置内の温度検出を行う温度検出器Ａ１８と、外
部の雰囲気の温度検出を行う温度検出器Ｂ１９、及びシ
リンダアドレス及びヘッドアドレス毎のサ−マルオフト
ラック特性値情報が書き込まれている不揮発性記憶素子
回路２０を有する。マイクロプロセッサ３０は制御メモ
リ回路４０に書き込まれている制御プログラムに従って
、ＭＰＵ−ＢＵＳを介して接続されるヘッドアドレスレ
ジスタ８１、オフセットメモリ回路６０、サ−ボ制御回
路５１に対し、命令の伝達、収集を行うと共に不揮発性
記憶素子回路２０との間でデ−タ受授を行い、温度検出
器Ｂ１９より外部雰囲気の温度信号の入力、温度検出器
Ａ１８より装置内部温度信号の入力、オフトラック検出
回路７２よりオフトラック信号の入力を行う事によりデ
ィスク装置１０のシ−ケンス制御を行う。
。図１及び図２は本発明の一実施例である。まず初めに
図１に関して説明する。磁気ディスク装置１０はスピン
ドル１１に固着されたディスク１２、スピンドル１１を
回転させるスピンドルモ−タ１７、ヘッドの移動、位置
決めを行うヘッドポジショナ−１３、ディスク上でのデ
−タの書き込み、読み出しを行うＲ／Ｗヘッド群１４、
サ−ボディスク面からサ−ボ情報を読み出すサ−ボヘッ
ド１５、Ｒ／Ｗヘッド群１４の中からどれか１本を選択
し、デ−タリ−ド時にはインタフェ−ス回路８０により
選択されたヘッドの出力信号をリ−ド信号アンプ７１に
送出するヘッド選択回路１６とを主な構成要素とし、加
えて、装置内の温度検出を行う温度検出器Ａ１８と、外
部の雰囲気の温度検出を行う温度検出器Ｂ１９、及びシ
リンダアドレス及びヘッドアドレス毎のサ−マルオフト
ラック特性値情報が書き込まれている不揮発性記憶素子
回路２０を有する。マイクロプロセッサ３０は制御メモ
リ回路４０に書き込まれている制御プログラムに従って
、ＭＰＵ−ＢＵＳを介して接続されるヘッドアドレスレ
ジスタ８１、オフセットメモリ回路６０、サ−ボ制御回
路５１に対し、命令の伝達、収集を行うと共に不揮発性
記憶素子回路２０との間でデ−タ受授を行い、温度検出
器Ｂ１９より外部雰囲気の温度信号の入力、温度検出器
Ａ１８より装置内部温度信号の入力、オフトラック検出
回路７２よりオフトラック信号の入力を行う事によりデ
ィスク装置１０のシ−ケンス制御を行う。
【０００６】サ−ボ制御回路５１はサ−ボヘッド１５が
サ−ボディスク面より読み出した位置決め情報をアンプ
５４を介して入力し、かつ、サ−ボ制御信号を加算器５
２及びパワ−アンプ５３を介して、ヘッドポジショナ１
３に出力する事により閉ル−プを構成し、ヘッドのシリ
ンダ上での位置決め制御、並びにインタフェ−ス回路８
０より出力され、シリンダアドレスレジスタ８２を介し
てＣＹＬ−ＢＵＳ上に出力される目標シリンダアドレス
へのヘッド移動制御をマイクロプロセッサ３０の指示監
視のもとに行う。ヘッドアドレスレジスタ８１はインタ
フェ−ス回路８０より出力されたヘッドアドレスを入力
し、ＭＰＵ−ＢＵＳを介してヘッドアドレスをＨ／ＡＢ
ＵＳ上に出力する。オフセットメモリ回路６０には、Ｍ
ＰＵ−ＢＵＳを介してそれぞれのヘッドアドレス・シリ
ンダアドレスに最適なオフセットデ−タをＲＯ−ＢＵＳ
上に出力する。出力されたオフセットデ−タはＤ−Ａ変
換器５５によってアナログ信号に変換され、オフセット
信号として出力され加算器５２によってサ−ボ制御信号
と加算され、パワ−アンプ５３を介してヘッドポジショ
ナ１３に伝達される。オフトラック検出回路７２はリ−
ド信号アンプ７１より入力した読み出しデ−タ信号によ
りオフトラック量を算出し、ＭＰＵ−ＢＵＳを介してマ
イクロプロセッサ３０に伝達する。これにより、不揮発
性記憶素子回路２０にオフセットデ−タが書き込まれる
。
サ−ボディスク面より読み出した位置決め情報をアンプ
５４を介して入力し、かつ、サ−ボ制御信号を加算器５
２及びパワ−アンプ５３を介して、ヘッドポジショナ１
３に出力する事により閉ル−プを構成し、ヘッドのシリ
ンダ上での位置決め制御、並びにインタフェ−ス回路８
０より出力され、シリンダアドレスレジスタ８２を介し
てＣＹＬ−ＢＵＳ上に出力される目標シリンダアドレス
へのヘッド移動制御をマイクロプロセッサ３０の指示監
視のもとに行う。ヘッドアドレスレジスタ８１はインタ
フェ−ス回路８０より出力されたヘッドアドレスを入力
し、ＭＰＵ−ＢＵＳを介してヘッドアドレスをＨ／ＡＢ
ＵＳ上に出力する。オフセットメモリ回路６０には、Ｍ
ＰＵ−ＢＵＳを介してそれぞれのヘッドアドレス・シリ
ンダアドレスに最適なオフセットデ−タをＲＯ−ＢＵＳ
上に出力する。出力されたオフセットデ−タはＤ−Ａ変
換器５５によってアナログ信号に変換され、オフセット
信号として出力され加算器５２によってサ−ボ制御信号
と加算され、パワ−アンプ５３を介してヘッドポジショ
ナ１３に伝達される。オフトラック検出回路７２はリ−
ド信号アンプ７１より入力した読み出しデ−タ信号によ
りオフトラック量を算出し、ＭＰＵ−ＢＵＳを介してマ
イクロプロセッサ３０に伝達する。これにより、不揮発
性記憶素子回路２０にオフセットデ−タが書き込まれる
。
【０００７】次に図２に関して説明を行う。図２の実施
例では、オフセットメモリ回路６０の変わりにオフセッ
トレジスタ９０を用いる。この場合ヘッドアドレス及び
シリンダアドレスは、ＭＰＵ−ＢＵＳを介してマイクロ
プロセッサ３０に入力されると、不揮発性記憶素子回路
２０のオフセット情報と、その時の温度により、選択さ
れたシリンダアドレス及びヘッドアドレスに最適なオフ
セット量がオフセットレジスタ９０に入力され、これが
Ｄ−Ａ変換器５５によってアナログ信号に変換され、オ
フセット信号としてアナログ加算回路５２によってサ−
ボ制御信号と加算され、パワ−アンプ５３を介してヘッ
ドポジショナ１３に伝達される。
例では、オフセットメモリ回路６０の変わりにオフセッ
トレジスタ９０を用いる。この場合ヘッドアドレス及び
シリンダアドレスは、ＭＰＵ−ＢＵＳを介してマイクロ
プロセッサ３０に入力されると、不揮発性記憶素子回路
２０のオフセット情報と、その時の温度により、選択さ
れたシリンダアドレス及びヘッドアドレスに最適なオフ
セット量がオフセットレジスタ９０に入力され、これが
Ｄ−Ａ変換器５５によってアナログ信号に変換され、オ
フセット信号としてアナログ加算回路５２によってサ−
ボ制御信号と加算され、パワ−アンプ５３を介してヘッ
ドポジショナ１３に伝達される。
【０００８】次に図３を用いて、本発明の図１の実施例
に関して、実際の動作の説明をする。
に関して、実際の動作の説明をする。
【０００９】電源がＯＮされる（１００）と、初期設定
が行われる（１０１）。続いて、不揮発性記憶素子回路
２０に書き込まれている低温・高温時のヘッド・シリン
ダ毎のオフセット量のデ−タをマイクロプロセッサ３０
に入力する（１０２）。次にその時の温度を入力し、そ
の温度での全ヘッド全シリンダ毎のオフセット量をオフ
セットメモリ回路６０に入力する（１０３）。これでＲ
ＥＡＤＹ状態となり（１０４）、この時に選択されたヘ
ッドアドレス・シリンダアドレスが入力されると、それ
に対応したオフセット量がオフセットメモリ回路６０か
らアナログ加算回路５２へ送られる。雰囲気温度並びに
装置内の温度変化が認められると（１０５）、再びオフ
セットメモリ回路６０内に記憶されているオフセット量
が、その温度変化に対応して書き替えられる（１０６）
。
が行われる（１０１）。続いて、不揮発性記憶素子回路
２０に書き込まれている低温・高温時のヘッド・シリン
ダ毎のオフセット量のデ−タをマイクロプロセッサ３０
に入力する（１０２）。次にその時の温度を入力し、そ
の温度での全ヘッド全シリンダ毎のオフセット量をオフ
セットメモリ回路６０に入力する（１０３）。これでＲ
ＥＡＤＹ状態となり（１０４）、この時に選択されたヘ
ッドアドレス・シリンダアドレスが入力されると、それ
に対応したオフセット量がオフセットメモリ回路６０か
らアナログ加算回路５２へ送られる。雰囲気温度並びに
装置内の温度変化が認められると（１０５）、再びオフ
セットメモリ回路６０内に記憶されているオフセット量
が、その温度変化に対応して書き替えられる（１０６）
。
【００１０】次に図４を用いて、本発明図２の実施例に
関して、実際の動作の説明を行う。
関して、実際の動作の説明を行う。
【００１１】電源がＯＮされる（２００）と、初期設定
が行われる（２０１）。続いて、不揮発性記憶素子回路
２０に書き込まれている低温高温時のヘッドシリンダ毎
のオフセット量のデ−タをマイクロプロセッサ３０に入
力する（２０２）。次にその時の温度及び選択されてい
るヘッドアドレス及びシリンダアドレスをマイクロプロ
セッサ３０に入力し、不揮発性記憶素子回路２０の内容
から、この時の温度、シリンダアドレス及びヘッドアド
レスに最適なオフセット量が算出され、オフセットレジ
スタ９０に記憶する（２０３）。これでＲＥＡＤＹ状態
となり（２０４）この値がアナログ加算回路５２へ送ら
れる。雰囲気温度並びに装置内の温度変化が認められる
（２０５）かあるいはヘッドアドレス並びにシリンダア
ドレスが変化する（２０６）と、再びオフセットレジス
タ９０に書かれているオフセット量は、その時の温度、
シリンダアドレス、ヘッドアッドレスに対応して書き替
えられる（２０７）。
が行われる（２０１）。続いて、不揮発性記憶素子回路
２０に書き込まれている低温高温時のヘッドシリンダ毎
のオフセット量のデ−タをマイクロプロセッサ３０に入
力する（２０２）。次にその時の温度及び選択されてい
るヘッドアドレス及びシリンダアドレスをマイクロプロ
セッサ３０に入力し、不揮発性記憶素子回路２０の内容
から、この時の温度、シリンダアドレス及びヘッドアド
レスに最適なオフセット量が算出され、オフセットレジ
スタ９０に記憶する（２０３）。これでＲＥＡＤＹ状態
となり（２０４）この値がアナログ加算回路５２へ送ら
れる。雰囲気温度並びに装置内の温度変化が認められる
（２０５）かあるいはヘッドアドレス並びにシリンダア
ドレスが変化する（２０６）と、再びオフセットレジス
タ９０に書かれているオフセット量は、その時の温度、
シリンダアドレス、ヘッドアッドレスに対応して書き替
えられる（２０７）。
【００１２】次に本方式に基づくオフトラック補正値算
出の基本数式について説明する。
出の基本数式について説明する。
【００１３】装置内温度検出器Ａから得られる温度数値
をｘ，外部雰囲気温度検出器Ｂから得られる温度数値を
ｙ、オフセット信号線の出力数値をｚとする時、本方式
のオフトラック補正値算出の基本数式は以下の数式で表
される。
をｘ，外部雰囲気温度検出器Ｂから得られる温度数値を
ｙ、オフセット信号線の出力数値をｚとする時、本方式
のオフトラック補正値算出の基本数式は以下の数式で表
される。
【００１４】ｆ（ｚ）＝ａｙ＋ｂ（ｘ−ｙ）右辺の第一
項“ａｙ”は外部温度に基づく基本補正量、第二項“ｂ
（ｘ−ｙ）”は外部雰囲気温度と、装置内部温度に基づ
く補正加減量を示している。
項“ａｙ”は外部温度に基づく基本補正量、第二項“ｂ
（ｘ−ｙ）”は外部雰囲気温度と、装置内部温度に基づ
く補正加減量を示している。
【００１５】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、外部の雰
囲気の温度と、装置内部の温度の２つの温度情報を参考
に、サ−マルオフトラック補正値を算出する方式を採用
したので、実際のずれ量に対し、従来よりもより正確に
補正値を算出できるという効果がある。
囲気の温度と、装置内部の温度の２つの温度情報を参考
に、サ−マルオフトラック補正値を算出する方式を採用
したので、実際のずれ量に対し、従来よりもより正確に
補正値を算出できるという効果がある。
【図１】本発明の磁気ディスク装置の実施例を示すブロ
ック回路図である。
ック回路図である。
【図２】本発明の磁気ディスク装置の実施例を示すブロ
ック回路図である。
ック回路図である。
【図３】本発明の図１の実施例を実現するため。
【図４】本発明の図２の実施例を実現するためのファ−
ムウエアのフロ−チャ−ト図である。
ムウエアのフロ−チャ−ト図である。
１０ 磁気ディスク装置
１１ スピンドル
１２ ディスク
１３ ヘッドポジショナ
１４ Ｒ／Ｗヘッド
１５ サ−ボヘッド
１６ ヘッド選択回路
１７ スピンドルモ−タ
１８ 装置内温度検出器Ａ
１９ 外部雰囲気温度検出器Ｂ
２０ 不揮発性記憶素子回路Ｂ
３０ マイクロプロセッサ
４０ 制御メモリ回路
５１ サ−ボ制御回路
５２ アナログ加算回路
５３ パワ−アンプ
５４ リ−ド信号アンプ
６０ オフセットメモリ回路
７１ リ−ド信号アンプ
７２ オフトラック検出回路
８０ インタフェ−ス回路
８１ ヘッドアドレスレジスタ
８２ シリンダアドレスレジスタ９０ オ
フセットレジスタ
フセットレジスタ
Claims (1)
- 【請求項１】 磁気ディスク装置の内部の温度を測定
する温度検出器と装置外部の雰囲気の温度を測定する温
度検出器により２種の温度情報を入力し、シリンダアド
レス及びヘッドアドレス毎のサ−マルオフトラック特性
値情報を内蔵する不揮発性記憶素子回路をもとに、外部
に接続されたマイクロプロセッサ及び制御メモリ回路を
用いて、当該装置の起動時に、選択されたシリンダアド
レス・ヘッドアドレスに最適な補正値を算出してヘッド
ポジショナ駆動回路に出力することを特徴とする磁気デ
ィスク装置のサ−マルオフトラック補正制御方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9968291A JPH04307482A (ja) | 1991-04-05 | 1991-04-05 | 磁気ディスク装置のサーマルオフトラック補正制御方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9968291A JPH04307482A (ja) | 1991-04-05 | 1991-04-05 | 磁気ディスク装置のサーマルオフトラック補正制御方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04307482A true JPH04307482A (ja) | 1992-10-29 |
Family
ID=14253807
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9968291A Pending JPH04307482A (ja) | 1991-04-05 | 1991-04-05 | 磁気ディスク装置のサーマルオフトラック補正制御方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04307482A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6760183B2 (en) | 2000-09-21 | 2004-07-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Servo system with runout compensation for disk drive |
-
1991
- 1991-04-05 JP JP9968291A patent/JPH04307482A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6760183B2 (en) | 2000-09-21 | 2004-07-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Servo system with runout compensation for disk drive |
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