JPH04303940A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
- Publication number
- JPH04303940A JPH04303940A JP6816891A JP6816891A JPH04303940A JP H04303940 A JPH04303940 A JP H04303940A JP 6816891 A JP6816891 A JP 6816891A JP 6816891 A JP6816891 A JP 6816891A JP H04303940 A JPH04303940 A JP H04303940A
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- Japan
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- output
- semiconductor device
- resistor
- terminal
- resistance
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 40
- 238000012360 testing method Methods 0.000 abstract description 33
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
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- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は半導体装置に関し、特に
半導体装置内部の信号を出力する場合に外部で抵抗を用
いて終端する半導体装置に関する。
半導体装置内部の信号を出力する場合に外部で抵抗を用
いて終端する半導体装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の半導体装置の試験では、図２に示
すように、半導体装置１３の出力ゲート１４を外部で抵
抗１６によって終端する半導体装置１３と、その出力信
号を受ける半導体試験装置１５と、半導体装置１３と半
導体試験装置１５とで接続する配線１７と、半導体試験
装置１５の入力端にＧＮＤと入力端子間に付加する終端
抵抗１６とを有する。
すように、半導体装置１３の出力ゲート１４を外部で抵
抗１６によって終端する半導体装置１３と、その出力信
号を受ける半導体試験装置１５と、半導体装置１３と半
導体試験装置１５とで接続する配線１７と、半導体試験
装置１５の入力端にＧＮＤと入力端子間に付加する終端
抵抗１６とを有する。
【０００３】半導体装置１３では、出力ゲート１４の出
力レベルを、外部につける終端用抵抗１７と、半導体装
置１３内の出力部の出力抵抗との並列抵抗値によって設
定している為、この半導体装置１３の試験を行う場合は
、半導体試験装置１５に終端用抵抗１６の抵抗をとりつ
けて、実使用の出力レベルの出る状態で試験を行ってい
た。
力レベルを、外部につける終端用抵抗１７と、半導体装
置１３内の出力部の出力抵抗との並列抵抗値によって設
定している為、この半導体装置１３の試験を行う場合は
、半導体試験装置１５に終端用抵抗１６の抵抗をとりつ
けて、実使用の出力レベルの出る状態で試験を行ってい
た。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】このような従来の半導
体装置１３では、出力ゲートの出力レベルを出すために
、通常外部に終端抵抗１６を付加することによって使用
するものである。この為、この半導体装置１３の試験を
行う場合、通常使用の出力レベルを出すために、試験装
置１５に終端用の抵抗１６を付加しなければならない。 そのため、試験装置１５での測定では、半導体装置１４
上に作った出力抵抗だけの特性を測定するのではなく、
出力抵抗と並列に外部に付けた終端抵抗１６も測るため
、外部終端抵抗１６の影響や、外部終端抵抗１６を取り
付けてある試験装置１５の影響等によって、半導体装置
１３の正確な特性が測定出来ないという問題点があった
。
体装置１３では、出力ゲートの出力レベルを出すために
、通常外部に終端抵抗１６を付加することによって使用
するものである。この為、この半導体装置１３の試験を
行う場合、通常使用の出力レベルを出すために、試験装
置１５に終端用の抵抗１６を付加しなければならない。 そのため、試験装置１５での測定では、半導体装置１４
上に作った出力抵抗だけの特性を測定するのではなく、
出力抵抗と並列に外部に付けた終端抵抗１６も測るため
、外部終端抵抗１６の影響や、外部終端抵抗１６を取り
付けてある試験装置１５の影響等によって、半導体装置
１３の正確な特性が測定出来ないという問題点があった
。
【０００５】本発明の目的は、前記問題点が解決され、
正確な特性試験ができるようにした半導体装置を提供す
ることにある。
正確な特性試験ができるようにした半導体装置を提供す
ることにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明の構成は、出力ゲ
ートに終端抵抗を付けて出力振幅を得る半導体装置にお
いて、前記出力ゲートの出力抵抗と並列になるように、
前記終端抵抗を内部に設け、前記抵抗の一端を外部に導
出する端子を設けたことを特徴とする。
ートに終端抵抗を付けて出力振幅を得る半導体装置にお
いて、前記出力ゲートの出力抵抗と並列になるように、
前記終端抵抗を内部に設け、前記抵抗の一端を外部に導
出する端子を設けたことを特徴とする。
【０００７】
【実施例】図１は本発明の一実施例の半導体装置の出力
ゲート部分の回路図である。
ゲート部分の回路図である。
【０００８】図１において、本実施例の半導体装置は、
出力ゲートの出力抵抗１と、出力ゲートの出力抵抗１と
並列状に接続した試験用終端抵抗２と、入力端子用スイ
ッチングトランジスタ３ａと、スイッチング用基準電位
用スイッチングトランジスタ３ｂと、出力ゲートの定電
流源用トランジスタ４と、出力ゲートの定電流源用抵抗
５と、出力ゲートの定電流源の為の基準電位端子６と、
出力ゲートのスイッチングの為の定電位端子７と、出力
ゲートへの信号入力端子８と、半導体装置の出力ゲート
の出力を外部へ出力するのに用いる出力端子９と、試験
用終端抵抗２への電圧引加のためのバス１０と、試験用
終端抵抗２に接続した電圧印加バス１０への外部からの
電圧印加端子１１と、出力ゲートへの供給電源端子１２
とを有する。
出力ゲートの出力抵抗１と、出力ゲートの出力抵抗１と
並列状に接続した試験用終端抵抗２と、入力端子用スイ
ッチングトランジスタ３ａと、スイッチング用基準電位
用スイッチングトランジスタ３ｂと、出力ゲートの定電
流源用トランジスタ４と、出力ゲートの定電流源用抵抗
５と、出力ゲートの定電流源の為の基準電位端子６と、
出力ゲートのスイッチングの為の定電位端子７と、出力
ゲートへの信号入力端子８と、半導体装置の出力ゲート
の出力を外部へ出力するのに用いる出力端子９と、試験
用終端抵抗２への電圧引加のためのバス１０と、試験用
終端抵抗２に接続した電圧印加バス１０への外部からの
電圧印加端子１１と、出力ゲートへの供給電源端子１２
とを有する。
【０００９】この半導体装置の出力ゲートは、定電流用
トランジスタ４へ、定電流源用基準電位端子６の電位を
与えて、この基準電位と端子１２に供給される電源電位
と、定電流用抵抗５とによって定電流をつくり、スイッ
チング基準電位端子７の電位に対し信号入力端子８への
入力信号電位の変化によって、定電流を流す経路を入力
端子用スイッチングトランジスタ３ａをＯＮ（導通）す
るか、スイッチング用基準電位端子用スイッチングトラ
ンジスタ３ｂをＯＮするかによって、出力端子９の出力
を変化させる。
トランジスタ４へ、定電流源用基準電位端子６の電位を
与えて、この基準電位と端子１２に供給される電源電位
と、定電流用抵抗５とによって定電流をつくり、スイッ
チング基準電位端子７の電位に対し信号入力端子８への
入力信号電位の変化によって、定電流を流す経路を入力
端子用スイッチングトランジスタ３ａをＯＮ（導通）す
るか、スイッチング用基準電位端子用スイッチングトラ
ンジスタ３ｂをＯＮするかによって、出力端子９の出力
を変化させる。
【００１０】その際、通常の出力振幅を出すため、終端
抵抗２の接続が必要である。そのため、試験の場合には
試験用終端抵抗２に、グランド電位を印加するため、外
部電位印加端子１１にグランド電位を印加し、外部電位
印加端子１１と試験用終端抵抗１２とを接続するバスを
用いて、グランド電位を与える。
抵抗２の接続が必要である。そのため、試験の場合には
試験用終端抵抗２に、グランド電位を印加するため、外
部電位印加端子１１にグランド電位を印加し、外部電位
印加端子１１と試験用終端抵抗１２とを接続するバスを
用いて、グランド電位を与える。
【００１１】以上、本実施例の半導体装置は、半導体装
置内部の出力ゲートと、出力信号を出す為の出力用パッ
ドと、出力ゲートの出力抵抗に並列に接続した試験用終
端抵抗と、その試験用終端抵抗の一端へ外部から電位を
与えるために接続されたパッドとを備えている。
置内部の出力ゲートと、出力信号を出す為の出力用パッ
ドと、出力ゲートの出力抵抗に並列に接続した試験用終
端抵抗と、その試験用終端抵抗の一端へ外部から電位を
与えるために接続されたパッドとを備えている。
【００１２】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、特に外
部で半導体装置の出力に終端抵抗を付けて出力振幅を出
す半導体装置を試験する場合には、半導体装置内に試験
用終端抵抗をつくって、出力ゲートの出力抵抗と並列に
なる様に接続し、その試験用終端抵抗の片側を外部から
印加する為の端子に接続し、試験時にグランド電位を印
加することにより、試験時に容易に半導体装置の振幅を
出すことが出来るという効果があり、また測定時に測定
装置や外部付加抵抗などの影響を受けずに、内部にある
素子だけで測定するため、半導体装置の特性を正確に測
ることが出来るという効果もある。
部で半導体装置の出力に終端抵抗を付けて出力振幅を出
す半導体装置を試験する場合には、半導体装置内に試験
用終端抵抗をつくって、出力ゲートの出力抵抗と並列に
なる様に接続し、その試験用終端抵抗の片側を外部から
印加する為の端子に接続し、試験時にグランド電位を印
加することにより、試験時に容易に半導体装置の振幅を
出すことが出来るという効果があり、また測定時に測定
装置や外部付加抵抗などの影響を受けずに、内部にある
素子だけで測定するため、半導体装置の特性を正確に測
ることが出来るという効果もある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例の半導体装置の出力ゲート部
分を示す回路図である。
分を示す回路図である。
【図２】従来の半導体装置の使用例を示すブロック図で
ある。
ある。
１ 出力ゲートの出力抵抗
２ 半導体装置につくった試験用終端抵抗３ａ
入力端子用スイッチングトランジスタ３ｂ
スイッチング用基準電位端子用スイッチングトランジ
スタ ４ 定電流源用トランジスタ ５ 定電流源用抵抗 ６ 定電流源用基準電位端子 ７ スイッチング用基準電位端子８ 信号
入力端子 ９ 半導体装置の出力用端子 １０ 試験用終端抵抗への電位印加バス１１
試験用終端抵抗への電位印加端子１２ ゲー
ト供給電源端子 １３ 出力側半導体装置 １４ 出力側半導体装置の出力ゲート１５
半導体試験装置 １６ 半導体装置外にある終端抵抗１７
出力側半導体装置の出力デートと受け側の半導体装置の
入力ゲートを接続する配線
入力端子用スイッチングトランジスタ３ｂ
スイッチング用基準電位端子用スイッチングトランジ
スタ ４ 定電流源用トランジスタ ５ 定電流源用抵抗 ６ 定電流源用基準電位端子 ７ スイッチング用基準電位端子８ 信号
入力端子 ９ 半導体装置の出力用端子 １０ 試験用終端抵抗への電位印加バス１１
試験用終端抵抗への電位印加端子１２ ゲー
ト供給電源端子 １３ 出力側半導体装置 １４ 出力側半導体装置の出力ゲート１５
半導体試験装置 １６ 半導体装置外にある終端抵抗１７
出力側半導体装置の出力デートと受け側の半導体装置の
入力ゲートを接続する配線
Claims (1)
- 【請求項１】 出力ゲートに終端抵抗を付けて出力振
幅を得る半導体装置において、前記出力ゲートの出力抵
抗と並列になるように、前記終端抵抗を内部に設け、前
記抵抗の一端を外部に導出する端子を設けたことを特徴
とする半導体装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6816891A JPH04303940A (ja) | 1991-04-01 | 1991-04-01 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6816891A JPH04303940A (ja) | 1991-04-01 | 1991-04-01 | 半導体装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04303940A true JPH04303940A (ja) | 1992-10-27 |
Family
ID=13365969
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6816891A Pending JPH04303940A (ja) | 1991-04-01 | 1991-04-01 | 半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04303940A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0233950A (ja) * | 1988-07-23 | 1990-02-05 | Nec Corp | 半導体装置 |
| JPH03102866A (ja) * | 1989-09-18 | 1991-04-30 | Fujitsu Ltd | 半導体集積回路 |
-
1991
- 1991-04-01 JP JP6816891A patent/JPH04303940A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0233950A (ja) * | 1988-07-23 | 1990-02-05 | Nec Corp | 半導体装置 |
| JPH03102866A (ja) * | 1989-09-18 | 1991-04-30 | Fujitsu Ltd | 半導体集積回路 |
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