JPH0429227B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0429227B2
JPH0429227B2 JP62096231A JP9623187A JPH0429227B2 JP H0429227 B2 JPH0429227 B2 JP H0429227B2 JP 62096231 A JP62096231 A JP 62096231A JP 9623187 A JP9623187 A JP 9623187A JP H0429227 B2 JPH0429227 B2 JP H0429227B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lead
fiber plate
leads
electronic component
floating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP62096231A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS63262852A (ja
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP62096231A priority Critical patent/JPS63262852A/ja
Publication of JPS63262852A publication Critical patent/JPS63262852A/ja
Publication of JPH0429227B2 publication Critical patent/JPH0429227B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、電子部品リードの浮き検出装置に係
り、とくにSOP形IC、QFP形IC、PLCC形IC、
LCC形IC等の多数のリードを有する面装着用IC
のリードの浮き上がりを検出するのに好適な検出
装置に関する。
(従来の技術) 近年、IC(半導体集積回路)の集積度の向上に
伴い種々の形状のICが製造されるようになつて
きている。第5図は代表的な面装着用IC(リード
をプリント基板に貫通させずにプリント基板のパ
ターン上に接触させた状態ではんだ付けする構
造)を示すもので、図中、1はSOP形IC、2は
QFP形IC、3はLCC形ICをそれぞれ示す。
上記のような面装着用ICは多数のリードを微
小間隔で引き出したものであり、リードの曲が
り、位置ずれがあると、プリント基板への装着時
(はんだ付け時)にプリント基板上のパターンに
対して接続不良が発生しやすい。
この点を考慮して、本出願人は特願昭61−
56062号において、面装着用ICのリードを直接的
にカメラで写してリードの曲がり及び位置ずれを
検出する機構を具備した電子部品装着装置を提案
している。
(発明が解決しようとする問題点) ところで、リードの横方向の曲がりや位置ずれ
はリード姿勢を直接的にカメラで写すことによつ
て検出可能であるが、リードの浮き検出は直接的
にリードを写す構成では困難である。
ここで、リードの浮きとは、第6図のようにプ
リント基板上4に面装着用IC5を載置したとき、
正常なリード5Aはプリント基板面に接するが、
浮きが生じたリード5Bは基板面より上方に離れ
て浮いてしまうことであり、はんだ付け不良の原
因となる。
(問題点を解決するための手段) 本発明は、上記の点に鑑み、面装着用IC等の
電子部品のリードの浮きを簡単な構成で確実に検
出でき、あわせてリードの曲がり、欠けをも検出
可能な電子部品リードの浮き検出装置を提供しよ
うとするものである。
本発明は、フアイダープレートの斜め上方より
光線を照射し、該フアイバープレートを垂直に通
過した光線を写すカメラを設けた手段により、前
記フアイバープレート上に載置された電子部品の
リードの浮きを検出することを特徴としている。
(作用) 本発明の電子部品リードの浮き検出装置におい
て、フアイバープレート上に載置された電子部品
のリードに浮きが無い場合には、リードの全長が
影となり、前記フアイバープレートを垂直に通過
する光線もその影の部分は微弱となる。従つて、
カメラにはリードの全長が暗く写る(例えば第3
図参照)。
一方、リードに浮きが存在すると、フアイバー
プレートに対して光線が斜め上方より照射される
ため、リードの浮いた部分の下側にも光線が入り
込み、リードの影はそれだけ短くなる。従つて、
前記フアイバープレートを垂直に通過する光線に
おいても微弱部分は短くなり、カメラには短いリ
ード部分が暗く写る(例えば第4図参照)。
(実施例) 以下、本発明に係る電子部品リードの浮き検出
装置の実施例を図面に従つて説明する。
第1図において、フアイバープレート10の上
方には一対の光源11が配置され、フアイバープ
レート10の下方にはカメラ(例えばCCDカメ
ラ等)12が配置されている。カメラ12で写し
た画像を示すビデオ信号は画像処理装置13に入
力されるようになつている。
第2図は前記フアイバープレート10の構造の
概略であり、フアイバープレート10は多数の細
い光フアイバー15を垂直に立てた状態で板状に
並べて一体化した構成であり、フアイバープレー
ト10に垂直、すなわち、フアイバープレート1
0上に載置される電子部品としての面装着用IC
5に垂直な光線を取り出すことができる。
また、前記光源11はフアイバープレート10
の斜め上方よりフアイバープレート10に対して
斜めに入射する平行光線を出すものであり、フア
イバープレート10上に載置される電子部品とし
ての面装着用IC5のリードの浮きが検出しやす
い向きとする。
なお、フアイバープレート10上へのIC5の
移送は吸着ピン等で実行できる。
上記実施例の構成において、第3図Aのよう
に、フアイバープレート10上に載置された面装
着用IC5のリード5Aに浮きが無い場合には、
リード5Aの全長が影となり、前記フアイバープ
レート10を垂直に通過する光線もその影の部分
は微弱となる。従つて、カメラ12を介して、リ
ード5Aの全長が暗く写つた第3図Bのごとき画
像が画像処理装置13に取り込まれる。
一方、第4図Aのように面装着用IC5のリー
ド5Bに浮きが存在すると、フアイバープレート
10に対して光線が斜め上方より照射されるた
め、リード5Bの浮いた部分の下側にも光線が入
り込み、リード5Bの影はそれだけ短くなる。従
つて、前記フアイバープレートを垂直に通過する
光線においても微弱部分は短くなり、カメラ12
を介して画像処理装置13には第4図Bのような
リードが短く写つた画像が取り込まれる。
画像処理装置13では、例えば第3図Bの正常
な場合の画像と、第4図Bのリードの浮きが存在
する場合の画像とを比較して第4図BのΔHを検
出し、ΔHが所定値より大きい場合にリード浮き
有りと判定する。
なお、どのような部品形状であつても、画像処
理装置での正常時の画像を読め記憶しておき、異
常時の画像と比較することにより検出可能であ
る。
また、電子部品のリードの横方向の曲がりや、
リードの欠けが存在する場合にも、フアイバープ
レートを通過した光線による画像に曲がりや欠け
が現れるから、同様に検出可能である。
(発明の効果) 以上説明したように、本発明の電子部品リード
の浮き検出装置によれば、フアイバープレート上
にリードを有する電子部品を載置し、前記フアイ
バープレートの斜め上方より光線を照射し、前記
フイアバープレートの下方に配置されたカメラで
当該フアイバープレートを垂直に通過した光線を
写す構成としたので、面装着用IC等の電子部品
のリードの浮きを簡単な構成で確実に検出でき、
あわせてリードの曲がり、欠けをも検出できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る電子部品リードの浮き検
出装置の実施例を示す構成図、第2図は実施例で
用いるフアイバープレートの概略を示す斜視図、
第3図及び第4図は実施例の作用を示す説明図、
第5図は面装着用ICの代表的な外形をそれぞれ
示す斜視図、第6図はリードの浮きを説明するた
めの正面図である。 5……面装着用IC、5A,5B……リード、
10……フアイバープレート、11……光源、1
2……カメラ、13……画像処理装置。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 フアイバープレート上にリードを有する電子
    部品を載置し、前記フアイバープレートの斜め上
    方より光線を照射し、前記フアイバープレートの
    下方に配置されたカメラで当該フアイバープレー
    トを垂直に通過した光線を写すことを特徴とする
    電子部品リードの浮き検出装置。
JP62096231A 1987-04-21 1987-04-21 電子部品リ−ドの浮き検出装置 Granted JPS63262852A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62096231A JPS63262852A (ja) 1987-04-21 1987-04-21 電子部品リ−ドの浮き検出装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62096231A JPS63262852A (ja) 1987-04-21 1987-04-21 電子部品リ−ドの浮き検出装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63262852A JPS63262852A (ja) 1988-10-31
JPH0429227B2 true JPH0429227B2 (ja) 1992-05-18

Family

ID=14159453

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62096231A Granted JPS63262852A (ja) 1987-04-21 1987-04-21 電子部品リ−ドの浮き検出装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS63262852A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2544438Y2 (ja) * 1993-08-06 1997-08-20 横浜電子精工株式会社 チップ型温度可変固定減衰器

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH088440B2 (ja) * 1989-11-16 1996-01-29 松下電器産業株式会社 半導体チップの観察装置および観察方法
BE1003136A3 (nl) 1990-03-23 1991-12-03 Icos Vision Systems Nv Werkwijze en inrichting voor het bepalen van een positie van ten minste een aansluitpen van een elektronische component.

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2544438Y2 (ja) * 1993-08-06 1997-08-20 横浜電子精工株式会社 チップ型温度可変固定減衰器

Also Published As

Publication number Publication date
JPS63262852A (ja) 1988-10-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0385625B1 (en) Method and apparatus for inspection of substrates
US5208463A (en) Method and apparatus for detecting deformations of leads of semiconductor device
JPH0429227B2 (ja)
JP2698213B2 (ja) 回路基板および回路基板の位置認識方式
EP1020702B1 (en) Judging whether bump height is proper or not
KR20040053152A (ko) 나쁜 콘트라스팅 배경에 대해 금속 물체들의 컴퓨터 비전인식
JP2599812B2 (ja) 光学検査装置
JP3225067B2 (ja) リード測定方法
JPH05288527A (ja) 実装基板外観検査方法およびその装置
US6211959B1 (en) Method of checking for the presence of connection balls
JP2000101298A (ja) 部品位置整合装置及びこれを用いた部品位置整合方法
JP2885443B2 (ja) フラットパッケージ集積回路のリード検査装置
JP3398821B2 (ja) 電子部品のリード端子浮き検出方法及び装置
JPH0555334A (ja) 表面実装部品のリード端子の不良検出方法
JPH04162700A (ja) 配線基板の位置検出方法
JPH0775035B2 (ja) 画像処理によるsmdの極性識別検査装置
JPH05275900A (ja) 部品リードの実装状態検査方法
JPH03141658A (ja) 面実装型ic素子のリード浮き検出方法
JPH04259233A (ja) 電子部品観察用レーザ装置
JP2781022B2 (ja) はんだ付外観検査装置
KR101180915B1 (ko) 부품실장기 및 이를 이용한 부품실장방법
JPS633499A (ja) 電子部品の装着状態検出方法
JPH03110900A (ja) 表面実装部品のリード端子の不良検出方法
JPH04330577A (ja) 多端子電子部品の端子状態検出装置
JPH01233311A (ja) フラットパッケージの外リード浮き良否判別装置

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees