JPS63262852A - 電子部品リ−ドの浮き検出装置 - Google Patents

電子部品リ−ドの浮き検出装置

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JPS63262852A
JPS63262852A JP62096231A JP9623187A JPS63262852A JP S63262852 A JPS63262852 A JP S63262852A JP 62096231 A JP62096231 A JP 62096231A JP 9623187 A JP9623187 A JP 9623187A JP S63262852 A JPS63262852 A JP S63262852A
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JP
Japan
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lead
fiber plate
electronic component
camera
beams
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Application number
JP62096231A
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English (en)
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JPH0429227B2 (ja
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Masanori Ota
大田 正憲
Shunichi Hanabusa
花房 俊一
Kyoichiro Ota
太田 恭一郎
Haruo Hamano
浜野 春男
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TDK Corp
Original Assignee
TDK Corp
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Publication date
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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、電子部品リードの浮き検出装置に係り、とく
にSOP形IC5QFP形IC,PLCC形IC,LC
CC丁形等の多数のリードを有する面装着用ICのリー
ドの浮き上がりを検出するのに好適な検出vc置に関す
る。
(従来の技術) 近年、IC(半導体集積回路)の集積度の向上に伴い種
々の形状のICが製造されるようになってきている。第
5図は代表的な面装着用IC(lj−ドをプリント基板
に貫通させずにプリント基板のパターン上に接触させた
状態ではんだ付けする構造)を示すもので、図中、1は
SOP形IC12はQFP形IC,3はLCCC丁形を
それぞれ示す。
上記のような面装着用ICは多数のリードを微小間隔で
引き出したものであり、リードの曲がり、位置ずれがあ
ると、プリント基板への装着時(はんだ付は時)にプリ
ント基板上のパターンに対して接続不良が発生しやすい
この点を考慮して、本出願人は特願昭61−56062
号において、面装着用ICのリードを直接的にカメラで
写してリードの曲がり及び位置ずれを検出する機構を具
備した電子部品装着装置を提案している。
(発明が解決しようとする問題点) ところで、リードの横方向の曲がりや位置ずれはリード
姿勢を直接的にカメラで写すことによって検出可能であ
るが、リードの浮き検出は直接的にリードを写す構成で
は困難である。
ここで、リードの浮きとは、第6図のようにプリント基
板4上に面装着用IC5を載置したとき、正常なり−ド
5Aはプリント基板面に接するが、浮きが生じたリード
5Bは基板面より上方に離れて浮いてしまうことであり
、はんだ付は不良の原因となる。
(問題点を解決するための手段) 本発明は、上記の点に鑑み、面装着用IC等の電子部品
のリードの浮きを間車な構成で確実に検出でき、あわせ
てリードの曲がり、欠けをも検出可能な電子部品リード
の浮き検出装置を提供しようとするものである。
本発明は、ファイバープレートの斜め上方より光線を照
射し、該ファイバープレー1を垂直に通過した光線を写
すカメラを設けた手段により、前記ファイバープレート
上に載置された電子部品のリードの浮きを検出すること
を特徴としている。
(作用) 本発明の電子部品リードの浮き検出装置において、ファ
イバープレート上に載置された電子部品のリードに浮き
が無い場合には、リードの全長が影となり、前記ファイ
バープレートを垂直に通過する光線もその影の部分は微
弱となる。従って、カメラにはリードの全長が暗(写る
(例えば第3図参照)。
一方、リードに浮きが存在すると、ファイバープレート
に対して光線が斜め上方より照射されるため、リードの
浮いた部分の下側にも光線が入り込み、リードの影はそ
れだけ短くなる。従って、前記7アイパープレートを垂
直に通過する光線においても微弱部分は短くなり、カメ
ラには短いリード部分が暗く写る(例えば第4図参照)
(実施例) 以下、本発明に係る電子部品リードの浮き検出装置の実
施例を図面に従って説明する。
t51図において、ファイバープレート10の上方には
一対の光源11が配置され、ファイバープレート10の
下方にはカメラ(例えばCODカメラ等)12が配置さ
れている。カメラ12で写した画像を示すビデオ信号は
画像処理装置13に入力されるようになっている。
第2図は前記ファイバープレート10の構造の概略であ
り、ファイバープレー)10は多数の細い光ファイバー
15を垂直に立てた状態で板状に並べて一体化した構成
であり、7アイパープレート10に垂直、すなわち、フ
ァイバープレート10上に載置される電子部品としての
面装着用IC5に垂直な光線を取り出すことができる。
また、前記光源11はファイバープレート10の斜め上
方より7アイバープレート10に対して斜めに入射する
平行光線を出すものであり、ファイバープレート10上
に載置される電子部品としての面装着用IC5のリード
の浮きが検出しやすい向きとする。
なお、ファイバープレー)10上へのIC5の移送は吸
着ピン等で実行できる。
上記実施例の構成において、第3図(A)のように、7
フイパープレート10上に載置された面装着用IC5の
リード5Aに浮きが無い場合には、リード5Aの全長が
影となり、前記ファイバープレー)10を垂直に通過す
る光線もその影の部分は微弱となる。従って、カメラ1
2を介して、リード5Aの全長が暗く写った第3図(B
)のごとき画像が画像処理装置13に取り込まれる。
一方、第4図(A)のように面装着用IC5のリード5
Bに浮きが存在すると、ファイバープレート10に対し
て光線が斜め上方より照射されるため、リード5Bの浮
いた部分の下側にも光線が入り込み、リード5Bの影は
それだけ短くなる。従って、前記7アイパープレートを
垂直に通過する光線においても微弱部分は短くなり、カ
メラ12を介して画像処理装置13には第4図(B)の
ようなリードが短く写った画像が取り込まれる。
画像処理装置13では、例えば第3図(B)の正常な場
合の画像と、第4図(B)のリードの浮きが存在する場
合の画像とを比較して第4図(B)のΔHを検出し、Δ
Hが所定値より大きい場合にリード浮き有りと判定する
なお、どのような部品形状であっても、画像処理装置で
正常時の画像を予め記憶しておき、異常時の画像と比較
することにより検出可能である。
また、電子部品のリードの横方向の曲がりや、リードの
欠けが存在する場合にも、ファイバープレートを通過し
た光線による画像に曲がりや欠けが現れるから、同様に
検出可能である。
(発明の効果) 以上説明したように、本発明の電子部品リードの浮き検
出装置によれば、ファイバープレート上にリードを有す
る電子部品を@置し、前記ファイバープレートの斜め上
方より光線を照射し、前記ファイバープレートの下方に
配置されたカメラで当該ファイバープレートを垂直に通
過した光線を写す構成としたので、面装着用IC等の電
子部品のリードの浮きを簡単な構成で確実に検出でき、
あわせてリードの曲がり、欠けをも検出できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る電子部品リードの浮き検出装置の
実施例を示す構成図、第2図は実施例で用いるファイバ
ープレートの概略を示す斜視図、pltJ3図及び第4
図は実施例の作用を示す説明図、第5図は面装着用IC
の代表的な外形をそれぞれ示す斜視図、第6図はリード
の浮きを説明するための正面図である。 5・・・面装着用rc、5A、5B・・・リード、10
・・・ファイバープレート、11・・・光源、12・・
・カメラ、13・・・画像処理装置。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)ファイバープレート上にリードを有する電子部品
    を載置し、前記ファイバープレートの斜め上方より光線
    を照射し、前記ファイバープレートの下方に配置された
    カメラで当該ファイバープレートを垂直に通過した光線
    を写すことを特徴とする電子部品リードの浮き検出装置
JP62096231A 1987-04-21 1987-04-21 電子部品リ−ドの浮き検出装置 Granted JPS63262852A (ja)

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JP62096231A JPS63262852A (ja) 1987-04-21 1987-04-21 電子部品リ−ドの浮き検出装置

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JPS63262852A true JPS63262852A (ja) 1988-10-31
JPH0429227B2 JPH0429227B2 (ja) 1992-05-18

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ID=14159453

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03159200A (ja) * 1989-11-16 1991-07-09 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体チップの観察装置および観察方法
EP0473749B2 (en) 1990-03-23 1998-12-16 Icos Vision Systems N.V. Method and device for determining a position of at least one lead of an electronic component

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2544438Y2 (ja) * 1993-08-06 1997-08-20 横浜電子精工株式会社 チップ型温度可変固定減衰器

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03159200A (ja) * 1989-11-16 1991-07-09 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体チップの観察装置および観察方法
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