JPH04286965A - 実効値測定装置 - Google Patents

実効値測定装置

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JPH04286965A
JPH04286965A JP5120891A JP5120891A JPH04286965A JP H04286965 A JPH04286965 A JP H04286965A JP 5120891 A JP5120891 A JP 5120891A JP 5120891 A JP5120891 A JP 5120891A JP H04286965 A JPH04286965 A JP H04286965A
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JP
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square
calculation
arithmetic
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JP5120891A
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Yukiyoshi Hiraishi
行好 平石
Yukio Kashiwabara
柏原 幸男
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Yokogawa Electric Corp
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Yokogawa Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、指数化平均法を用いた
実効値測定装置における応答時間の改善に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】本出願人は、特願平2−222722号
(以下、先願と記す)にて指数化平均法を用いた「実効
値測定装置」を出願した。本願は、この先願の応答時間
を改善したものである。
【0003】図3を参照して先願の説明を行う。図3(
a) はアナログ入力波形Bであり、黒丸B1,B2,
…はサンプリング点である。(b) は(a) 波形を
2乗した値の波形b(n)=Bn2   であり、実線
はサンプリング点の2乗値を表すもので階段状になる。 また、点線は(a) 波形の理想的2乗値波形である。 実効値を測定する場合、図3(b)波形の平均値P(M
)を得て、その後、この平均値P(M)を開平演算する
ことで、実効値を得ている。ここで、先願では、図3(
b)波形の平均値P(M)を(1) 式の演算により求
めている。     P(n)=P(n−1)+(1/G)・{b(
n)−P(n−1)}               
                 (1)P(n):
サンプリング回数nまでに処理された指数化平均結果 P(n−1):サンプリング回数(n−1) までに処
理された指数化平均結果 b(n):サンプリング回数n番目における入力波形の
瞬時値の2乗値 1/G :定数(なお、1/G << 1)ここで、定
数1/G は、1/G << 1  に設定されている
ので、b(n)が図示しない演算手段へ加えられるたび
に、(1) 式の演算を繰り返すと、第3図(c) の
波形となる。
【0004】(1) 式の意味を解説する。今回サンプ
リングしたサンプリング回数n番目の瞬時2乗値b(n
)と、前回のサンプリング回数(n−1) までの平均
演算結果P(n−1)との差を取り出し、この差、つま
り {b(n)−P(n−1)}  を定数1/G 倍
する。ここで、1/G <<1であるから、 (1/G
)・{b(n)−P(n−1)} は、前回までの平均
演算結果P(n−1)と、今回のサンプリング値b(n
)の“差を薄めたもの”である。そして、この“差を薄
めたもの”を前回の平均演算結果P(n−1)に加算し
て、今回のサンプリング回数nまでの平均演算結果デー
タ P(n) を得ているので、この演算を多数回繰り
返すと、(1) 式のP(n)は、b(n)の波形の平
均値になることを意味している。従って、第3図(c)
 の最終値は、第3図(b) の2乗波形の平均値P(
M)と一致する。
【0005】このような先願の実効値測定装置によれば
、被測定信号波形Bの周期がサンプリング周期の整数倍
か否かに関係なく測定できるため、入力波形Bの周期を
測定する回路が不要になる等の効果が得られる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかし、(1) 式に
おいて、指数化平均を初期値P(0)=0から始めると
、平均値P(M)が得られるまで一定の応答時間tA(
図3(C) 参照)がかかる。図3(C) では僅かな
サンプル数(演算回数)で、指数化平均出力が一定にな
るように示したが、実際の動作では、通常1000回程
の演算回数を経て一定になる。この応答時間を短くする
と、即ち、定数(1/G) を大きくすると、応答は速
くなるが、低い周波数の被測定信号Bを測定する場合、
指数化平均後の出力にリプルを含み、測定値がふらつく
問題がある。
【0007】本発明の目的は、出力のリプルを増加させ
ることなく出力の応答時間を短くした実効値測定装置を
提供することである。
【0008】
【課題を解決するための手段】以上の目的を達成するた
め第1の発明は、アナログの被測定信号を或る周期でサ
ンプリングし、このサンプリング値をデジタル信号へ変
換するAD変換手段(1) と、このAD変換手段のデ
ジタル出力信号を2乗演算する2乗演算器(5) と、
この2乗演算器の出力データの所定の個数の値を算術平
均する算術平均手段(10)と、2乗演算器が前記所定
の個数の出力データを出力した後の出力データ{b(n
)}を導入し、前記算術平均手段で得られた算術平均値
を初期値として、指数化平均演算を加える演算手段(7
) と、この演算手段の出力を導入し、これの開平演算
を行う開平演算器と、を備えるようにしたものである。
【0009】第2の発明は、アナログの被測定信号を或
る周期でサンプリングし、このサンプリング値をデジタ
ル信号へ変換するAD変換手段(1) と、このAD変
換手段のデジタル出力信号を2乗演算する2乗演算器(
5) と、この2乗演算器の出力データの所定の個数の
中から最大値と最小値をとり、(最大値+最小値)/2
の演算を行う平均手段(15)と、2乗演算器が前記所
定の個数の出力データを出力した後の出力データ{b(
n)}を導入し、前記平均手段で得られた(最大値+最
小値)/2の値を初期値として、指数化平均演算を加え
る演算手段と、この演算手段の出力を導入し、これの開
平演算を行う開平演算器と、を備えるようにしたもので
ある。
【0010】
【作用】第1の発明において、算術平均手段は、2乗演
算器の出力の所定の個数の値を算術平均する。例えば所
定の個数が10個であれば、{b(1)+b(2)+ 
…+b(10)} /10の演算を行う。このようにし
て得られた平均値は僅かなサンプル数を平均したもので
あり、理想的な平均値P(M)と比較して誤差が大きい
が、(1) 式の演算によるカーブ(図3(c) 参照
)と比較して格段に立ち上がりが速い(図3(d) 参
照)。第1の発明では、このように測定開始直後から得
られる僅かなサンプル数の値を算術平均した値を初期値
P(0)とし、その後、2乗演算器から出力される出力
データに演算手段にて指数化平均演算を加えるので、短
時間に所望の実効値が得られる。
【0011】第2の発明において、平均手段は、2乗演
算器の出力データの所定の個数の中から最大値と最小値
をとり、(最大値+最小値)/2の演算を行う。このよ
うにして得られた値は、理想的な平均値P(M)と比較
して誤差は大きいが、(1) 式の演算によるカーブ(
図4(C) 参照)と比較して格段に立ち上がりが速い
(図4(d)参照)。第2の発明では、このように測定
開始直後から得られる僅かな数のサンプル値から最大値
と最小値を取り出し(最大値+最小値)/2の演算から
得られる値を初期値として、その後2乗演算器から出力
される出力データに演算手段にて指数化平均演算を加え
るので、短時間に所望の実効値が得られる。
【0012】
【実施例】図1は本発明に係る実効値測定装置の構成例
を示す図、図2は本発明に係る実効値測定装置の別の構
成例を示す図、図3は図1装置の各部の信号のタイムチ
ャート、図4は図2装置の各部の信号のタイムチャート
である。
【0013】図1において、アナログの被測定信号Bは
、端子P1に加えられる。被測定信号Bは、電圧信号で
も電流信号でもよく、図1の装置は、この被測定信号B
の実効値を測定するものである。この端子P1に加えら
れた被測定信号Bは(図3(a) の波形参照)、AD
変換手段1に導かれる。AD変換手段1はクロック発生
器3から加えられたクロック信号SCの印加タイミング
で、その時点の被測定信号Bの瞬時値Bnをサンプリン
グし、これをデジタル値に変換して出力する。図3(a
) の丸印B1,B2,…は、各サンプリング点を示し
ている。なお、AD変換手段1の構成を細かく説明する
と、クロック信号SCが加えられるたびに、その時点の
被測定信号Bの瞬時値Bnを取り込むサンプル・ホール
ド回路と、このサンプル・ホールド回路の出力をデジタ
ル信号へ変換するAD変換器とで構成されているが、図
1では、このサンプル・ホールド回路とAD変換器とを
併せて、AD変換手段と称している。
【0014】2乗演算器5は、AD変換手段1の出力B
nを導入し、このデータを2乗した信号b(n)=Bn
2 を出力するものである。この2乗値b(n)は、被
測定信号Bのサンプリング回数n番目の瞬時データを2
乗した値を示す。 2乗演算器5の出力は、デジタル値であるが、これをア
ナログ的に表現したのが図3(b) の実線波形である
。即ち、サンプリング値であるため、階段状になる。な
お図3(b) の点線波形は、図3(a) の波形の理
想的2乗波形である。2乗演算器5は、ありふれたデジ
タル演算器を用いることができる。
【0015】演算手段7は、2乗演算器5から出力され
るデータb(n)を(1) 式により指数化平均するも
のである。詳述すると、演算手段7は、後述する算術平
均手段10から初期値 P(0) を出力した旨を意味
する信号S1を受信した以降、2乗演算器5からデータ
が加えられる毎に、上記した(1) 式の演算を繰り返
す。つまり、2乗演算器5から2乗値b(n)を、メモ
リ8から前回の演算結果 P(n−1) を導入し、(
1) 式の演算を行い、その出力 P(n) をメモリ
8に格納する。そして一定回数の指数化平均した結果の
P(n)を開平演算器9に加える。
【0016】ここで、1/G << 1  であるから
、b(n)値が演算手段7へ加えられるたびに(1)式
の演算を繰り返すと、図3(c) の波形となる。従来
例の所で説明したように(1) 式の演算を繰り返すと
、P(n)は、b(n)の波形の平均値になる。従って
、図3(c) の最終値P(M)は、図3(b) の2
乗値波形 b(n) の平均値P(M)と一致する。つ
まり、演算手段7の出力P(M)は、あたかも(2) 
式で示される値と同じになる。   P(M)=(1/n) ・ΣBn2       
                         
                (2)Σは、n=1
からnまでの加算和を意味する。開平演算器9は、演算
手段7から導入した信号に開平演算を加えるので、{(
1/n)・ΣBn2 } 1/2 の値の信号を出力す
る。 これは、被測定信号Bの実効値を意味する。
【0017】中央処理装置(以下、単にCPU と記す
)12は、開平演算器9の出力信号 {(1/n)・ΣBn2 } 1/2   を導入し、
所定の演算回数を経たデータ、即ち、図3(C) にて
定常状態になった{P(M)}1/2 ={(1/n)
・ΣBn2 } 1/2 を表示器13に表示する。な
お、演算回数は、クロック信号の回数と一致するので、
図1では分周器4を用い、所定のクロック数が発生する
とCPU 12へ信号を加え、所定の演算回数を行った
ことを知らせている。
【0018】図1の装置は、先願の構成に対し、算術平
均手段10を新たに設け、この作用により応答性の改善
を図っている。この算術平均手段10は、2乗演算器5
の出力 b(n) の所定の個数の値を算術平均するも
のである。 例えば、2乗演算器5から、b(1),b(2),b(
3),…,b(k) と、k個の2乗値が出力された場
合、   P(0)={b(1)+b(2)+b(3)+…+
b(k)}/k                  
        (3) のデジタル演算を行い、この
結果を指数化平均の初期値 P(0) として、メモリ
8に格納する。また、この初期値 P(0) の値が得
られると、この値P(0)の出力と共に、演算手段7へ
初期値P(0)を出力した旨を知らせる信号S1を出力
する。なお、以上のような機能の2乗演算器5と、演算
手段7と、算術平均手段10は、例えばデジタル・ジク
ナルプロセッサ(以下、DSP と記す)11で構成す
ることができる。
【0019】以上のような図1装置の動作を図3を参照
しながら説明する。t=0を起点として、端子P1には
、例えば図3(a) に示す被測定信号Bが加えられた
とする。AD変換手段1は、クロック発生器3からクロ
ック信号SCが加えられるたびに、被測定信号の瞬時値
をサンプリングし、この瞬時値のデジタル値Bnを出力
する。2乗演算器5は、この瞬時値Bnを2乗したb(
n)=Bn2 を出力する(図3(b) 参照)。即ち
、2乗演算器5は、クロック信号に同期して、次々と2
乗値 b(1),b(2),b(3),…を出力する。
【0020】ここで算術平均手段10には、例えば数値
“k”が設定されており、2乗演算器5から信号 b(
1),b(2),b(3),…が加えられるたびに、k
から1ずつ減算し、k=0になると(3) 式に示す演
算を行う。即ち、1〜kのデータを算術平均した値を初
期値 P(0) として出力し、この値 P(0) は
、メモリ8に格納される。また、算術平均手段10は、
初期値 P(0) を出力した旨を示す信号S1を演算
手段7へ加える。なお、図3(d) に示すTUは、(
3) 式のP(0)を測定算出するまでの時間である。 図3(d) に示した例では初期値 P(0) は、図
3(b) に示す瞬時2乗値 b(1),b(2),b
(3),b(4)の4個のデータの算術平均である。こ
の図3(c) と図3(d) を比較すると分かるよう
に算術平均して得られた値 P(0) を初期値とした
指数化平均は、P(0)=0とした通常の指数化平均演
算による(1) 式のカーブ(図3(C) )と比較し
て格段に立ち上がりが速い(図3(d) )。
【0021】演算手段7は、算術平均手段10からの信
号S1を受けてこれを起点にして、(1)式による指数
化平均演算を開始する。なお、この信号S1を受ける以
前は、演算手段7は、その演算動作を停止している。こ
の場合、(1) 式の最初の演算において、P(n−1
)= P(0) を用いる。つまり、図3の例で述べる
と、サンプリングがn=5である時、演算手段7の最初
の演算になるが、その内容は(4) 式である。   P(5)=P(0)+(1/G) ・{b(5) 
−P(0)}                   
               (4)以下、2乗演算
器5から出力があるごとにP(6),P(7),…の算
出については、(1)式の演算を行うので、図3(d)
 の如く、図3(c) の先願の応答波形より速く平均
値P(M)に収斂する。開平演算器9は、演算手段7の
出力P(n)を開平演算し、被測定信号Bの実効値を出
力する。即ち、先願は、サンプリング回数tAの時に、
その実効値を表示するが(図3(c) 参照)、本願は
サンプリング回数tBの時に表示できる(図3(d) 
参照)。
【0022】このように本願によれば先願より速く最終
値に到達ししかも定数(1/G) の値は、先願と同じ
であるため、先願と比較してリプルが増加すると言うこ
とはない。
【0023】図2装置は、先願の構成に対し、平均手段
15を新たに設け、この作用により応答性の改善を図っ
ている。この平均手段15は、2乗演算器5の出力 b
(n) を所定の個数だけ導入し、この中から最大値と
最小値を選び、(最大値+最小値)/2の演算を行うも
のである。 平均手段15には、例えば数値“k”が設定されており
、2乗演算器5から信号 b(1),b(2),b(3
),…が加えられるたびに、kから1ずつ減算し、k=
0になると(5) 式に示す演算を行う。
【0024】即ち、2乗演算器5から、b(1),b(
2),b(3), …,b(k) と、k個の2乗値を
導入し、これの最大値と最小値を見つける。そして最大
値が b(j) 、最小値が b(i)とすれば、   P(0)={b(j)+b(i)}/2     
                         
            (5) のデジタル演算を行
い、この結果を指数化平均の初期値 P(0) として
、メモリ8に格納する。また、(5) 式の初期値 P
(0) が得られると、算術平均手段10と同様に、こ
の値P(0)の出力と共に、演算手段7へ初期値P(0
)を出力した旨を知らせる信号S1を出力する。なお、
図2装置によれば、繰り返し波形であるアナログの被測
定信号波形(図4の(a) )の1/4周期内において
、最大値と最小値を把握すれば、初期値 P(0) を
得るためのサンプリングは、それ以上必要ない。
【0025】このような図2装置によれば、図4(b)
 に示した例では、最大値=b(3)であり、最小値=
b(1)である。その結果、(5) 式で得られる初期
値 P(0) は、図4(d)に示す P(0) とな
り、この図4(d) と図4(c) を比較すると分か
るように、(5)式で得られるP(0)を初期値とした
指数化平均は、通常の指数化平均演算による(1) 式
のカーブ(図4(C) …先願)と比較して格段に立ち
上がりが速い(図4(d)…本願)。なお、図4(d)
 のTUは、(5) 式で示す初期値 P(0) を算
出するデータを取込む期間である。開平演算器9は、演
算手段7の出力P(n)を開平演算し、被測定信号Bの
実効値を出力する。即ち、先願は、サンプリング回数t
Aの時に、その実効値を表示するが(図4(c) 参照
)、本願はサンプリング回数tcの時に表示できる(図
4(d) 参照)。
【0026】
【発明の効果】以上説明したように、本発明では、測定
開始直後から得られる僅かなサンプル数の値より、2乗
値の平均値により近い初期値 P(0) を得て、これ
に基づいて演算手段にて指数化平均演算を加えるので、
短時間に所望の実効値が得られる。しかも、定数(1/
G) の値は、先願と同じであるため、先願と比較して
リプルが増加すると言うことはない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る実効値測定装置を示す図
【図2】
本発明に係る別の実効値測定装置を示す図
【図3】図1
装置各部のタイムチャート
【図4】図2装置各部のタイ
ムチャート
【符号の説明】
1  AD変換手段 3  クロック発生器 5  2乗演算器 7  演算手段 8  メモリ 9  開平演算器 10  算術平均手段 12  CPU 13  表示器 15  平均手段

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】アナログの被測定信号を或る周期でサンプ
    リングし、このサンプリング値をデジタル信号へ変換す
    るAD変換手段(1) と、このAD変換手段のデジタ
    ル出力信号を2乗演算する2乗演算器(5) と、この
    2乗演算器の出力データの所定の個数の値を算術平均す
    る算術平均手段(10)と、2乗演算器が前記所定の個
    数の出力データを出力した後の出力データ{b(n)}
    を導入し、前記算術平均手段で得られた算術平均値を初
    期値として、指数化平均演算を加える演算手段(7) 
    と、この演算手段の出力を導入し、これの開平演算を行
    う開平演算器と、を備えたことを特徴とする実効値測定
    装置。
  2. 【請求項2】アナログの被測定信号を或る周期でサンプ
    リングし、このサンプリング値をデジタル信号へ変換す
    るAD変換手段(1) と、このAD変換手段のデジタ
    ル出力信号を2乗演算する2乗演算器(5) と、この
    2乗演算器の出力データの所定の個数の中から最大値と
    最小値をとり、(最大値+最小値)/2の演算を行う平
    均手段(15)と、2乗演算器が前記所定の個数の出力
    データを出力した後の出力データ{b(n)}を導入し
    、前記平均手段で得られた(最大値+最小値)/2の値
    を初期値として、指数化平均演算を加える演算手段と、
    この演算手段の出力を導入し、これの開平演算を行う開
    平演算器と、を備えたことを特徴とする実効値測定装置
JP5120891A 1991-03-15 1991-03-15 実効値測定装置 Pending JPH04286965A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11202003A (ja) * 1997-11-10 1999-07-30 Fluke Corp rmsコンバータ、電力線信号のrms値を計算するための方法および電力線信号の高速rms測定を得るための測定計器
JP2001133488A (ja) * 1999-11-08 2001-05-18 Kawamura Electric Inc 交流電圧測定装置及び方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11202003A (ja) * 1997-11-10 1999-07-30 Fluke Corp rmsコンバータ、電力線信号のrms値を計算するための方法および電力線信号の高速rms測定を得るための測定計器
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