JPH04283069A - セラミック基板の研磨方法及びセラミック基板用研磨装置 - Google Patents

セラミック基板の研磨方法及びセラミック基板用研磨装置

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JPH04283069A
JPH04283069A JP3046504A JP4650491A JPH04283069A JP H04283069 A JPH04283069 A JP H04283069A JP 3046504 A JP3046504 A JP 3046504A JP 4650491 A JP4650491 A JP 4650491A JP H04283069 A JPH04283069 A JP H04283069A
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JP
Japan
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ceramic substrate
polishing
surface plate
diamond abrasive
abrasive grains
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Withdrawn
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JP3046504A
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English (en)
Inventor
Tadao Hosoya
細谷 忠緒
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
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  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
  • Grinding-Machine Dressing And Accessory Apparatuses (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はセラミック基板の研磨方
法及びセラミック基板用研磨装置に関する。
【0002】
【従来の技術】セラミックプリント配線板は、セラミッ
クス製の基板(セラミック基板)の表面に導体パターン
層と絶縁層とを多層に積層し、更にその表面にLSIチ
ップ等の表面実装部品を実装したものであって、耐久性
が優れ、しかも、回路密度を非常に高密度にできること
から、将来のコンピュータ等の電子機器の高速化や多機
能化に大きく貢献するものと期待されている。
【0003】上記セラミック基板を作る手順としては、
いわゆる、グリーンシート法が一般的に採用されている
。この方法では、材料となるセラミックス粉粒を粘土状
に練った後、シート状に形成して、いわゆる、グリーン
シートを形成し、グリーンシートを表裏方向に貫通する
直径数十μm〜数百μm程度の多数の微小孔(ビア)を
形成し、更に、その微小孔に粉体状あるいはクリーム状
の導体(ビア導体)を充填し、グリーンシートの片面あ
るいは両面に所定の導体パターンを印刷等の手法によっ
て形成してから他のグリーンシートを積層し、高温で焼
成して1枚板状のセラミック基板を形成する、という手
順が採用される。
【0004】焼成直後のセラミック基板には反りや表面
のうねりがあり、その表面に安定良く導体パターン層、
絶縁層等の薄膜層を付着させることができない。そこで
、この問題を解決するため、表面の導体パターン層、絶
縁層等の薄膜層を形成する前に、焼成されたセラミック
基板の表面が研磨される。研磨方法としては、セラミッ
ク基板の表面は比較的脆いので、研磨材とともに研磨液
を使用する湿式の研磨方法が採用される。すなわち、図
6に示すように、例えばラッピング盤の定盤1の一側部
上にセラミック基板2を載置し、定盤1とセラミック基
板2との間にダイヤモンド砥粒11と研磨液12とを介
在させる一方、セラミック基板2をチャック3を介して
モータ4で縦軸心まわりに回転させるとともに、定盤1
を縦軸心まわりに回転させることにより定盤1とセラミ
ック基板2とを摺り合わせる、という手順で行われる。
【0005】ダイヤモンド砥粒11は、例えば粒径2μ
m程度のものが使用され、純水12aに例えば1リット
ル当たり20カラット程度に分散させて研磨材容器6に
収容し、この研磨材容器6から例えば図示しないマイク
ロチューブポンプで定盤1の上面に供給される。また、
研磨液12としては、油性のものと水溶性のものとがあ
るが、一般には、後に洗浄しやすい水溶性の研磨液12
が使用される。この研磨液12としては、研磨中にビア
導体が酸やアルカリと化合して変質したりすることを防
止するため、例えばエチレングリコール、エタノール等
の有機物の水溶性潤滑剤を純水12aに配合し、研磨液
容器7から例えば図示しない別のマイクロチューブポン
プで定盤1の上面に供給される。
【0006】このダイヤモンド砥粒11及び研磨液12
は、研磨の終了後水洗により除去され、更に、その洗浄
水を乾燥させるため、セラミック基板2が例えば300
℃程度の高温雰囲気中に約2時間にわたって置かれる。 この後、乾燥したセラミック基板2の表面に導体パター
ン層、絶縁層等の薄膜層が形成される。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところで、セラミック
基板2を焼成する時に、セラミックスの微小孔に充填し
た導体も焼結されるが、熱膨張率、焼結による収縮率等
がセラミックスと導体とでは異なるため、例えば図7に
示すように、セラミックス2aと導体2bとの間に数μ
m程度の微細な空隙2cが生じる。上記湿式研磨におい
て使用されている研磨液12に配合されている水溶性潤
滑剤はこのような微細な空隙2cに浸入し易い性質があ
るため、この空隙2cに水溶性潤滑剤を含む研磨液12
が浸入し、水洗時に除去しきれなくなることがある。こ
のように微小孔とそれに充填された導体2bとの間の空
隙2cに研磨液12が残留している状態で、上記の条件
で乾燥させると、水溶性潤滑剤を含む研磨液12がター
ル状になってセラミック基板2の表面に噴出し、セラミ
ック基板2の表面が汚染され、場合によっては導体2b
に導通不良が生じる。この汚染を除去するためには、も
う一度研磨を繰り返す必要があり、再度の研磨後にセラ
ミック基板を乾燥させる時に再び研磨液12による汚染
が繰り返されることも少なくない。その結果、研磨を何
度も繰り返すことになり、寸法不足になって廃却しなけ
ればならない場合も生じている。
【0008】そこで、研磨液12を純水のみで構成し、
その他は同様にして研磨を行ったところ、研磨液12が
十分に定盤1とセラミック基板2との間に浸入せず、例
えば図8に示すように、微小孔の周縁のセラミックス2
aや導体2bの先端が欠けて研磨面が荒れることが分か
った。また、この研磨面の荒れは、研磨の開始後比較的
短時間内に発生していることも分かった。更に、この研
磨面の荒れは、ダイヤモンド砥粒11が凝集して、いわ
ゆる、ダマになり、セラミック基板2への切り込みが過
剰になるため生じていることが分かった。
【0009】本発明は、上記の事情を考慮してなされた
ものであり、研磨後の洗浄が容易に、かつ、安価にでき
、しかも、潤滑材による研磨面の汚染を防止できるよう
にしたセラミック基板の研磨方法及びセラミック基板用
研磨装置を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
にこの発明は、例えば図1に示すように、定盤1上にダ
イヤモンド砥粒11及び研磨液12を介してセラミック
基板2を載置し、定盤1とセラミック基板2とを摺り合
わせる、セラミック基板の研磨方法において、上記研磨
液12として純水12a及び粉粒状潤滑材12bの混合
物を用いるようにしている。上記においてダイヤモンド
砥粒11として多結晶人工ダイヤモンド砥粒を使用する
と、研磨費用を安価にできることになる。また、粉粒状
潤滑材12bとして無機質潤滑材を使用すると、上記の
目的を確実に達成できることになる。
【0011】この、粉粒状潤滑材12bとして、図2(
a)に示すように、セラミック基板2と同質のセラミッ
クス材料からなるダミー基板9を定盤1上に載置し、定
盤1とダミー基板9との間にダイヤモンド砥粒11及び
純水12aを供給するとともに定盤1とセラミック基板
2とを摺り合わすことにより生じたダミー基板9の研磨
屑を使用するのが好ましい。
【0012】上記した方法を実現する具体的手段として
は、例えば図4に示すように、定盤1の上面に多数の孔
1cを開口させ、各孔1cからダイヤモンド砥粒11を
分散させた純水12a、研磨液12、あるいはこれらの
混合液を定盤1とセラミック基板2との間に供給する構
成を用いる。また例えば図5に示すように、上記ダイヤ
モンド砥粒11を純水12aとともに容器6に収容し、
該容器6にバブリング装置6aと超音波装置6bを付設
することによって、該容器6の底部から気泡を噴出する
とともにダイヤモンド砥粒11及び純水12aに超音波
振動を与えて純水12a中にダイヤモンド砥粒11を分
散させた後、該容器6から定盤1上にダイヤモンド砥粒
11及び純水12aを供給し、別に定盤1上に純水12
aを供給してダイヤモンド砥粒11の濃度を調整する構
成を用いる。
【0013】
【作  用】研磨液12として純水及び粉粒状潤滑材の
混合物を用いるので、定盤1とセラミック基板2との間
には研磨液12、特に粉粒状潤滑材12bが介在するこ
とによってセラミック基板2の研磨面にダイヤモンド砥
粒11が過度に切り込むことが防止され、セラミック基
板2に形成した微小孔の周縁部や導体2bの先端が欠け
て研磨面が荒れることが防止される。また、粉粒状潤滑
材12bはセラミックス2aと導体2bとの間に形成さ
れる空隙2cに浸入し難いので、水洗によって容易にセ
ラミック基板2から除去することができ、上記空隙2c
に残留することを防止できる。更に、上記空隙2cに炭
素成分を含む有機物が残留するおそれがないので、水洗
後の高温処理時にタール状になった有機成分が噴出して
セラミック基板2の表面を汚染するおそれもなくなる。
【0014】上記ダイヤモンド砥粒11として多結晶人
工ダイヤモンド砥粒を使用すると、ダイヤモンド砥粒1
1を安価に入手できるうえ、各ダイヤモンド砥粒11の
砥粒としての寿命が単なる結晶タイプのダイヤモンド砥
粒11よりも長くなる。また、粉粒状潤滑材12bとし
て無機質潤滑材を使用すると、有機成分がセラミック基
板2のセラミックス2aと導体2bとの間に形成される
空隙2cに浸入するおそれがなくなり、水洗後の高温処
理時にタール状になった有機成分が噴出してセラミック
基板2の表面を汚染するおそれが確実になくなる。
【0015】また、セラミック基板2の研磨に先立って
ダミー基板9を研磨することにより得られるダミー基板
9の研磨屑を粉粒状潤滑材12bとして用いると、簡単
にセラミック基板2のセラミックス材料と同質のセラミ
ックス材料からなる粉粒状潤滑材12bを供給できるこ
とになる。また、定盤1の上面に多数の孔1cを開口さ
せることによって、各孔1cからダイヤモンド砥粒11
を分散させた純水12a、研磨液12、あるいはこれら
の混合液が定盤1とセラミック基板2との間に供給され
ることになる。
【0016】また、ダイヤモンド砥粒11と純水を収納
する容器6を備え、該容器6に対しバブリング装置6a
及び超音波装置6bを付設することによって、ダイヤモ
ンド砥粒11がバブリングによって容器6内で沈澱する
ことが防止されるとともに、超音波振動によって純水1
2a中に均等に分散されるため、ダイヤモンド砥粒11
が凝集して、いわゆる、ダマが形成されることが防止さ
れる。したがって、ダイヤモンド砥粒11及び純水12
aを容器6に入れる前に超音波振動を与えて分散処理を
する必要がなくなる上、ダマになったダイヤモンド砥粒
11がセラミック基板2に過剰に切り込むことが防止さ
れる。また、純水供給手段13から供給する純水12a
の供給量を制御することにより定盤1上に供給されたダ
イヤモンド砥粒11の濃度を所定の範囲内に制御するこ
とができ、ダイヤモンド砥粒11の乾燥による導体2b
の損傷を防止することができる。
【0017】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づき具体的
に説明する。本発明の一実施例に係るセラミック基板の
研磨方法においては、例えば図1に示すように、定盤1
と定盤1上に載置したセラミック基板2との間に純水1
2aと粉粒状潤滑材12bとを混合した研磨液12及び
ダイヤモンド砥粒11を介在させて、定盤1とセラミッ
ク基板2とを摺り合わせて、セラミック基板2が研磨さ
れる。
【0018】ダイヤモンド砥粒11としては、単結晶タ
イプのものと多結晶タイプのものとがあるが、切刃とな
る角部の数が多く、比較的砥粒としての寿命が長くなる
多結晶タイプのものを使用することが有利である。この
実施例では、多結晶タイプのダイヤモンド砥粒11の中
でも比較的価格が低廉な多結晶人工ダイヤモンド砥粒か
らなるダイヤモンド砥粒11を使用した。
【0019】また、ダイヤモンド砥粒11の粒径は特に
限定されないが、この実施例では従来から多用されてい
る2μm程度のダイヤモンド砥粒11を用いた。このダ
イヤモンド砥粒11は純水12a中に1リットル当たり
10カラット程度に分散させた研磨材として研磨材容器
6から例えば図示しないマイクロチューブポンプで定盤
1の上面に供給される。
【0020】また、研磨液12の粉粒状潤滑材12bは
、例えば窒化硼素(BN)、アルミナ(Al2 O3 
)、シリカ(SiO2 )等の無機質材料で構成する必
要があり、その硬度がダイヤモンド砥粒11の硬度より
も低く、研磨するセラミック基板2の硬度以上であるこ
とが好ましく、研磨するセラミック基板2のセラミック
ス材料と同じセラミックス材料を使用することがより好
ましい。
【0021】この実施例においては、粉粒状潤滑材12
bとして研磨するセラミック基板2のセラミックス材料
と同じセラミックス材料が使用される。また、定盤1と
セラミック基板2との間にダイヤモンド砥粒11、純水
12a及び粉粒状潤滑材12bを供給する手順としては
、例えば、図2(a)に示すように、セラミック基板2
を研磨する前に、研磨するセラミック基板2と同質のセ
ラミックス材料からなるダミー基板9をラッピング装置
のチャック3に保持し、研磨材容器6からダイヤモンド
砥粒11を含む研磨材を定盤1上に供給するとともに、
研磨液容器7から純水12aを定盤1上に滴下して、ダ
イヤモンド砥粒11の濃度を所定の範囲内に保持しなが
ら、モータ4でダミー基板9を縦軸心まわりに回転させ
、同時に定盤1を縦軸心まわりに回転させて定盤1とダ
ミー基板9とを摺り合わせる、という手順が採用される
。この手順において生じたダミー基板9の研磨屑はその
ままダイヤモンド砥粒11及び純水12aに混合されて
粉粒状潤滑材12bを構成することになる。
【0022】この摺り合わせによって定盤1の上面にダ
ミー基板9の研磨屑からなる粉粒状潤滑材12bと、純
水12aと、ダイヤモンド砥粒11との混合物をまんべ
んなく付着させた後、例えば図2(b)に示すように、
ダミー基板9に代えて研磨するセラミック基板2をチャ
ック3に支持させ、必要に応じて研磨材容器6からダイ
ヤモンド砥粒11を定盤1上に供給するとともに、研磨
液容器7から純水12aを定盤1上に滴下して、ダイヤ
モンド砥粒11が乾燥して飛散するのを防止しながら、
モータ4でセラミック基板2を縦軸心まわりに回転させ
、同時に定盤1を縦軸心まわりに回転させて定盤1とセ
ラミック基板2とを摺り合わせることによりセラミック
基板2が研磨される。
【0023】この実施例に係るセラミック基板の研磨方
法においては、定盤1とセラミック基板2との間に粉粒
状潤滑材12bを介在させることによって研磨開始直後
にダイヤモンド砥粒11がセラミック基板2に過剰に切
り込むことを防止でき、セラミック基板2に形成した微
小孔の周縁部や導体2bの先端が欠けて研磨面が荒れる
ことが防止され、後に導体パターン層、絶縁層等の薄膜
を形成するのに適した面粗度(Ra=0.30μm程度
)に仕上げることができる。
【0024】また、粉粒状潤滑材12bはセラミック基
板2のセラミックス2aと導体2bとの間に形成される
空隙2cに浸入し難いので、水洗によって容易にセラミ
ック基板2から除去することができ、上記空隙2cに残
留することを確実に防止できる。したがって、上記空隙
2cに炭素成分を含む有機物が残留するおそれがなくな
るので、水洗後の高温処理時にタール状になった有機成
分が噴出してセラミック基板2の表面を汚染するおそれ
もなくなり、この汚染による導体2bの導通不良の発生
を防止できるとともに、汚染物質を除去するための再研
磨をする必要が無くなり、生産性を高めることができる
とともに、歩留りを高めることができる。
【0025】更に、研磨液12が定盤1に滴下供給され
、ダミー基板9の研磨屑を粉粒状潤滑材12bとして使
用するので、ダイヤモンド砥粒11や粉粒状潤滑材12
bが周囲に粉塵として飛散するおそれがなく、作業環境
が粉塵によって悪化したり、作業員が粉塵の吸引による
呼吸器系の疾病に罹ったりすることを防止できる。本発
明の他の実施例に係るセラミック基板の研磨方法では、
予め粉粒化したセラミックスからなる粉粒状潤滑材12
bが用いられる。
【0026】すなわち、図3に示すように、例えばラッ
ピング盤のチャック3にセラミック基板2を保持し、こ
のセラミック基板2をモータ4で縦軸心まわりに回転さ
せるとともに、定盤1を縦軸心まわりに回転させる。同
時に、研磨材容器6から純水12aに1リットル当たり
20カラット程度に粒径2μm程度のダイヤモンド砥粒
11を分散させた研磨材を定盤1上に滴下供給するとと
もに、研磨液容器7から例えば粒径2μm程度のコロイ
ダルシリカからなる粉粒状潤滑材12bを純水12aに
1リットル当たり10カラット程度に分散させた研磨液
12を滴下供給する。
【0027】このセラミック基板の研磨方法は、定盤1
とセラミック基板2との間にダイヤモンド砥粒11及び
研磨液12を供給する方法が上記の一実施例と異なるだ
けであって、セラミック基板2の研磨のメカニズムは上
記の一実施例と同様である。したがって、この方法でも
上記の一実施例と同様の効果を得ることができる。なお
、この実施例において、粉粒状潤滑材12bの粒径をダ
イヤモンド砥粒11の粒径と同等にしているが、粉粒状
潤滑材12bの粒径はダイヤモンド砥粒11の粒径の1
/2程度以上であればよい。
【0028】本発明のまた他の実施例に係るセラミック
基板の研磨方法では、例えば図4に示すように、定盤1
の上面に放射状に溝1aが凹設され、この溝1aに連続
するパイプ1bが埋設されたラッピング装置が使用され
る。このパイプ1bには上向きに開口する多数の孔1c
がその長さ方向に適当な間隔を置いて設けられる。また
、このパイプ1bの一端(始端)はダイヤモンド砥粒1
1及び研磨液12を収容する混合液容器8に図示しない
マイクロチューブポンプを介して接続され、その他端は
閉塞されている。
【0029】研磨液12としては純水12aに粒径2μ
m程度のコロイダルシリカからなる粉粒状潤滑材12b
を1リットル当たり10カラット程度混合したものを使
用し、ダイヤモンド砥粒11としては粒径2μm程度の
多結晶人工タイプのものが使用される。このダイヤモン
ド砥粒11は研磨材12の純水12aに1リットル当た
り5〜30カラット(ここでは、1リットル当たり20
カラット)程度混合される。なお、粉粒状潤滑材12b
としては、粒径がダイヤモンド砥粒11の粒径の1/2
ないし同等程度であり、硬度がダイヤモンド砥粒11と
研磨するセラミック基板2との中間程度である無機質材
料を使用することが可能であり、例えばコロイダルシリ
カに代えてアルミナ、窒化硼素等の他のセラミックス材
料の粉粒体、セラミックスの他の無機質材料からなる粉
粒体等を使用することが可能である。  本発明のもう
一つの実施例に係るセラミック基板の研磨方法は、例え
ば図5に示すように、研磨材容器6に、その内底部に気
泡を噴出させるバブリング装置6aと超音波発振装置6
bとが付設された研磨装置を使用し、バブリング装置6
aが放出する気泡の流れによって研磨材容器6内の純水
12a及びダイヤモンド砥粒11を流動させてダイヤモ
ンド砥粒11が研磨材容器6内の底部に沈澱することを
防止するとともに、超音波発振装置6bによって純水1
2a及びダイヤモンド砥粒11を超音波振動させてダイ
ヤモンド砥粒11が凝集することを防止し、純水12a
中に均等に分散されるようにしている。そして、このよ
うにして純粋12a中にダイヤモンド砥粒11を分散さ
せた研磨材を定盤1上に滴下供給するとともに、研磨液
容器7から純水12aを適宜滴下供給して定盤1上のダ
イヤモンド砥粒11の濃度を一定の範囲内に保持するよ
うにしている。
【0030】ダイヤモンド砥粒11を分散させた純水1
2aと研磨液容器7からの純水12aとの最良の供給条
件は、実際にダイヤモンド砥粒11を分散させた純水1
2aの供給量と研磨液容器7からの純水12aの供給量
を異ならせて研磨することによって求められる。即ち、
まず、ダイヤモンド砥粒11を分散させた純水12a(
研磨材という)の滴下量をxcc/min 、研磨材容
器7からの純水12aの噴霧時間をtmin で表すこ
とにする。次に、ある供給条件(x0 ,t0 )で実
際にセラミック基板2を研磨し、仕上がり状態を観察す
る。
【0031】研磨したセラミック基板2の導体2bに損
傷が生じる場合には、ダイヤモンド砥粒11の切れ味が
低下していると考えられるので、研磨材の供給量を増し
、純水12aの供給量を控えた新たな条件(x1 ,t
1 )で実際にセラミック基板2を研磨し、仕上がり状
態を観察する。ここで、x1 >x0 ,t1 <t0
 である。 最初の供給条件(x0 ,t0 )で研磨した研磨液1
2がセラミック基板2の周囲に黒ずんだり、黄ばんだり
して顕れる場合には、ダイヤモンド砥粒11による研磨
が過剰となり、セラミック基板2の研磨屑がその表面に
付着していると考えられるので、研磨材の供給量を減少
させ、純水12aの供給量を増やした別の供給条件(x
2 ,t2 )で実際にセラミック基板2を研磨し、仕
上がり状態を観察する。ここで、x2 〜x0 ,t2
 >t0 である。
【0032】このようにして供給条件を適宜変更して実
際にセラミック基板2を研磨し、仕上がり状態を観察す
ることにより、最適の仕上がり状態が得られる最適の供
給条件を求めることができ、例えば、研磨材を1分間当
たり50滴程度落下供給しながら1分間研磨を行い、1
分間研磨を休止する間に純水12aを噴霧する、という
供給条件が求められる。
【0033】この実施例においては、バブリング装置6
aによって噴出される気泡によって研磨材容器6内が攪
拌され、ダイヤモンド砥粒11が研磨材容器6内で沈澱
することが防止され、更に、超音波振動によってダイヤ
モンド砥粒11どうしが静電吸着作用によって互いに凝
集することが防止される。その結果、ダイヤモンド砥粒
11が純水12a中で凝集することなく十分均等に分散
されてから定盤1上に供給され、凝集したダイヤモンド
砥粒11がセラミック基板2の研磨面に過剰に切り込ん
で大きな損傷を与えることが防止される。
【0034】また、この実施例では、特に粉粒状潤滑材
12bを使用しない点で前の各実施例と大きく異なって
おり、研磨後の水洗が一層容易になるうえ、有機質材料
がセラミック基板2のセラミックス2aと導体2bとの
間の形成された空隙2cに浸入するおそれが全く無くな
り、更にその後の高温処理時に該空隙2cに浸入した有
機質材料がタール状になって噴出するおそれも全くなく
なる。したがって、このタール状の有機質材料によるセ
ラミック基板2の汚染や、この汚染に起因する導体2b
の導通不良が発生するおそれは全くなくなり、再研磨が
不要になって生産性を高められるとともに、歩留りを高
めることができる。
【0035】
【発明の効果】以上のように、本発明に係るセラミック
基板の研磨方法によれば、有機質の水溶性潤滑剤を使用
せず、粉粒状潤滑材を使用するので、焼成時に発生する
セラミック基板の空隙に有機質材料が浸入するおそれが
なくなり、研磨後に水洗処理によって容易に、かつ、安
価に潤滑材やダイヤモンド砥粒を研磨屑とともに洗い落
とすことができる。また、研磨及び水洗後の高温処理時
にタール状になって噴出する有機質材料でセラミック基
板の表面が汚染されるおそれや、その汚染により導通不
良が発生するおそれもなくなる。その結果、再研磨が不
要になって生産性が高められるとともに、歩留りが高め
られる。
【0036】本発明方法において、特に、ダイヤモンド
砥粒として多結晶人工ダイヤモンド砥粒を使用する場合
には、砥粒の寿命が比較的長いうえ、価格的にも安価で
あるので、研磨費用を安価にできる。また、本発明方法
において、特に、粉粒状潤滑材として無機質潤滑材を使
用する場合には、上記の効果をより確実に得ることがで
きる。
【0037】また、本発明方法において、特に、セラミ
ック基板の研磨に先立ってダミー基板を純水中に分散さ
せたダイヤモンド砥粒と純水とだけを用いて研磨し、こ
の研磨屑を粉粒状潤滑材として使用する場合は、周囲に
ダイヤモンド砥粒や研磨屑の粉塵を放散するおそれがな
くなり、作業環境の衛生性を高めることができる。更に
、本発明に係るセラミック基板用研磨装置は、定盤のセ
ラミック基板1と摺り合わされる面にダイヤモンド砥粒
を分散させた純水、研磨液もしくはこれらの混合液を供
給する孔を設けているので、この孔からダイヤモンド砥
粒を分散させた純水、有機物を含まない研磨液もしくは
これらの混合液を供給する研磨を行うことができ、研磨
後の洗浄が一層容易になる上、確実にセラミック基板の
汚染やこれによる導通不良の発生を防止でき、生産性及
び歩留りをより確実に高めることができる。
【0038】また、本発明に係る他のセラミック基板用
研磨装置は定盤のセラミック基板と摺り合わされる面に
供給されるダイヤモンド砥粒と純水とを収容する容器と
、上記定盤のセラミック基板と摺り合わされる面に純水
を供給する純水供給手段とを備え、上記容器に、これの
内底部に気泡を噴出するバブリング装置と、該容器内の
ダイヤモンド砥粒及び純水に超音波振動を与える超音波
発振装置とを付設しているので、バブリングと超音波に
よってダイヤモンド砥粒を凝集させることなく定盤上に
供給することができ、凝集したダイヤモンド砥粒によっ
てセラミック基板の研磨面を傷つけることなく研磨でき
る上、研磨後の洗浄が一層容易になるとともに、確実に
セラミック基板の汚染やこれによる導通不良の発生を防
止でき、生産性及び歩留りをより確実に高めることがで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の研磨方法の原理図である。
【図2】本発明の一実施例の研磨方法及び装置の構成図
である。
【図3】本発明の他の実施例の研磨方法及び装置の構成
図である。
【図4】本発明のまた他の実施例の装置の要部斜視図で
ある。
【図5】本発明のもう一つの実施例の研磨方法及び装置
の構成図である。
【図6】従来の研磨方法及び装置の構成図である。
【図7】研磨後のセラミック基板の断面を示す模式図で
ある。
【図8】研磨によるセラミック基板の面荒れの状態を示
す模式図である。
【符号の説明】
1  定盤 1c  孔 2  セラミック基板 6  研磨材容器 6a  バブリング装置 6b  超音波発振装置 9  ダミー基板 11  ダイヤモンド砥粒 12  研磨液 12a  純水 12b  粉粒状潤滑材

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  定盤(1) と定盤(1) 上に載置
    したセラミック基板(2) との間にダイヤモンド砥粒
    (11)及び研磨液(12)を介在させて、定盤(1)
     とセラミック基板(2) とを摺り合わせる、セラミ
    ック基板の研磨方法において、上記研磨液(12)とし
    て純水(12a) と粉粒状潤滑材(12b) との混
    合物を用いることを特徴とする、セラミック基板の研磨
    方法。
  2. 【請求項2】  上記ダイヤモンド砥粒(11)として
    多結晶人工ダイヤモンド砥粒を使用することを特徴とす
    る請求項1に記載のセラミック基板の研磨方法。
  3. 【請求項3】  上記粉粒状潤滑材(12b) として
    無機質潤滑材を使用することを特徴とする請求項1に記
    載のセラミック基板の研磨方法。
  4. 【請求項4】  上記粉粒状潤滑材(12b) として
    セラミック基板(2) と同質のセラミックス材料から
    なるダミー基板(9) を定盤(1) 上に載置し、定
    盤(1) とダミー基板(9) との間にダイヤモンド
    砥粒(11)及び純水(12a) を供給するとともに
    、定盤(1) とセラミック基板(2) とを摺り合わ
    すことにより生じたダミー基板(9) の研磨屑を使用
    することを特徴とする請求項1に記載のセラミック基板
    の研磨方法。
  5. 【請求項5】  セラミック基板(2) と摺り合わさ
    れる定盤(1) を備えるセラミック基板用研磨装置に
    おいて、上記定盤(1) のセラミック基板(1) と
    摺り合わされる面にダイヤモンド砥粒(11)を分散さ
    せた純水(12a) 、研磨液(12)もしくはこれら
    の混合液を供給する孔(1c)を設けたことを特徴とす
    るセラミック基板用研磨装置。
  6. 【請求項6】  セラミック基板(2) と摺り合わさ
    れる定盤(1) と、該定盤(1) のセラミック基板
    (2) と摺り合わされる面に供給されるダイヤモンド
    砥粒(11)と純水(12a) とを収容する研磨材容
    器(6) と、上記定盤(1) のセラミック基板(2
    ) と摺り合わされる面に純水(12a) を供給する
    純水供給手段(13)とを備え、上記容器(6) に、
    これの内底部に気泡を噴出するバブリング装置(6a)
    と、該研磨材容器(6) 内のダイヤモンド砥粒(11
    )及び純水(12a) に超音波振動を与える超音波発
    振装置(6b)とが付設されることを特徴とするセラミ
    ック基板用研磨装置。
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