JPH0428013A - 金属薄膜型磁気記録ディスク - Google Patents

金属薄膜型磁気記録ディスク

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Publication number
JPH0428013A
JPH0428013A JP13459590A JP13459590A JPH0428013A JP H0428013 A JPH0428013 A JP H0428013A JP 13459590 A JP13459590 A JP 13459590A JP 13459590 A JP13459590 A JP 13459590A JP H0428013 A JPH0428013 A JP H0428013A
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JP
Japan
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film
magnetic
substrate
disk
nip alloy
Prior art date
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Pending
Application number
JP13459590A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshio Tani
谷 登志夫
Shigeru Tsuboi
壺井 茂
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kubota Corp
Original Assignee
Kubota Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Kubota Corp filed Critical Kubota Corp
Priority to JP13459590A priority Critical patent/JPH0428013A/ja
Publication of JPH0428013A publication Critical patent/JPH0428013A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C3/00Glass compositions
    • C03C3/04Glass compositions containing silica
    • C03C3/076Glass compositions containing silica with 40% to 90% silica, by weight
    • C03C3/11Glass compositions containing silica with 40% to 90% silica, by weight containing halogen or nitrogen
    • C03C3/112Glass compositions containing silica with 40% to 90% silica, by weight containing halogen or nitrogen containing fluorine

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Geochemistry & Mineralogy (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Magnetic Record Carriers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、磁気ヘッドの低フライングハイドでの安定な
フローティングが可能で、記録密度が高く、かつ耐久性
にすぐれた金属薄膜型磁気記録ディスクに関する。
〔従来の技術〕
金属薄膜型磁気記録ディスク(以下、「磁気ディスクJ
)は、非磁性基板と、該基板上に記録層として積層成膜
されるCo系強磁性金属(CoCr、CoNi、CoC
rNi、CoCrNiTa等)の薄膜(以下、「磁性膜
」)を基本要素として構成される。
従来の磁気ディスクは、アルミニウム合金(代表的には
シルミン)板を基板とし、基板表面を、非磁性かつ硬質
のNiP合金膜で被覆し、その膜面にメカニカルテキス
チャを施したうえ、磁性膜に面内異方性をもたせるため
のCr膜、およびそのCr膜を下地層として磁性膜が形
成された積層構造を有している。また、磁気ディスクの
表面にアクセスする磁気ヘッドの接触を滑らかにし、磁
性膜を摩耗・損傷から保護するための炭素質膜(ダイヤ
モンド・ライク・カーボン、グラファイト・カーボン、
アモルファス・カーボン等)に代表される保護潤滑膜が
磁性膜面に形成され、所望により、更にその膜面に液体
潤滑剤が塗布されることもある。
〔発明が解決しようとする課題〕
磁気ディスクの記録密度を高めるには、ディスク表面に
アクセスする磁気ヘッドのグライド高さを可及的に小さ
くし、その低フライングハイドで安定なフローティング
状態を維持し得ることが望ましい。そのためには磁性膜
をより平面性・平行性のすぐれたものとすることが必要
である。また、磁気ヘッドの耐久性を高め、安定な記録
再生機能を維持するには、磁性膜の平面性・平行性の改
善と併せて、ディスク表面に対する磁気ヘッドの吸着と
それによる膜面の損傷を抑制・防止することが必要であ
る。
本発明は、上記に鑑みてなされたものであり、アルミ合
金を基板とする従来の磁気ディスクを凌く低フライング
ハイドとそれによる高密度記録を可能とし、かつ磁気ヘ
ッドの接触による損傷を生じにくい改良された磁気ディ
スクを提供する。
〔課題を解決するための手段および作用〕本発明の金属
薄膜型磁気ディスクは、ガラスを基板とし、基板表面に
NjP合金膜を形成し、その上に磁性膜を面内異方性と
するための金属膜、強磁性金属からなる磁性膜、および
磁性膜を被覆する保護潤滑膜等を積層形成したことを特
徴としている。
本発明において、ガラスを基板としたのは、ガラスは極
めて硬質で、かつ平面性・平行性が高く、従ってその基
板上に積層形成される磁性膜にすくれた平面性・平行性
を付与することができるからである。
また、ガラス基板の表面に、NiP合金膜を形成するこ
ととしたのは、このNiP合金膜にメカニカルテキスチ
ャを施すことにより積層膜の耐久性を確保するためであ
る。すなわち、ガラスは極めて硬質な脆性材料であるた
め、その表面にメカニカルテキスチャを施すことが困難
である。そこで本発明は、ガラス基板の表面にNiP合
金膜を形成し、その膜面にメカニカルテキスチャを施す
ことにより、磁気ヘッドのディスク表面に対する吸着現
象および摩擦特性を改善し、磁気ディスクの耐久性を確
保することを可能としている。
なお、アルミ合金を基板とした従来の磁気ディスクも、
その表面にNiP合金膜を形成しているが、それはアル
ミ合金基板表面の硬度不足を補償するとともに、板面の
平面性・平行性を確保するためであり、その膜面にはボ
リンシュが施される。
従って、本発明のガラス基板にNiP合金膜を形成する
ことは目的効果を異にしている。また、そのNip合金
膜の膜厚も数十μmであって本発明における膜厚(後記
)とは著しく異なっている。
ガラス基板表面のNiP合金は、従来のアルミ合金基板
表面に形成されるそれと異なるものである必要はなく、
その組成は、非磁性、高硬度、および膜強度等の点から
、P含有量が約7〜1331量%のものが好ましい。ま
た、その合金膜は、表面の平滑性の点から、粒界を有し
ない非晶質であることが望ましい。
ガラス基板表面のNiP合金膜の形成は、アルミ合金基
板表面に対するNiP合金膜の形成と同じように無電解
めっき法によることもできるが、基板に対する十分な密
着性を確保する点から、高エネルギのスパッタリングに
よるのが好適である。
ガラス基板表面に形成されるNiP合金膜は、ガラス基
板表面が転写された高度の平面性・平行性を有している
。その膜厚は、メカニカルテキスチャによる積層膜の十
分な密着力を確保するために、約500Å以上とするの
が好ましい。しかし、あまり厚くする利益はなく、膜厚
増大に伴い基板表面の転写効果が減じることにより膜面
の平面性・平行性が低下するので、約4000人までと
するのがよい。
基板表面に形成されたNiP合金膜面のメカニカルテキ
スチャは、アルミ合金基板表面のNiP合金膜の場合と
同様に行えばよい。また、そのテキスチャ加工は、膜面
全体に行って構わないが、磁気ヘッドのランデングゾー
ンのみに行えばさらに記録密度の向上が期待される。
本発明の磁気ディスクは、上記のようにガラスを基板と
し、その表面にNiP合金膜が成膜されている点を除き
、そのNiP合金膜面上の積層膜構造および成膜方法は
従来のそれと異ならず、NiP合金膜面にメカニカルテ
キスチャを施したうえ、スパッタリング、イオンプレー
ティーング、真空蒸着法等の公知の成膜手段を適用し、
まず磁性膜を面内異方性とするためのCrまたはCr合
金からなる金属膜、ついでCO系合金等の強磁性金属か
らなる磁性膜、更にその磁性膜面を保護するための炭素
質膜に代表される固体潤滑膜等を積層成膜することによ
り製造される。むろん、その積層構造は上記に限定され
ず、例えば、耐候性の向上を目的として、磁性膜と保護
潤滑膜との間にCr膜を形成し、また磁気ヘッドに対す
る潤滑特性をより高めるために保護潤滑膜の上に液体潤
滑剤が塗布されることもある。
〔実施例〕
(I)供試磁気ディスクの製作 ガラス基板(珪酸ガラス、平面度:5μ町表面あらさp
a:8A)に、非晶質のNiP合金膜(93N i −
7P、 wt%)を形成し、ランデインタゾーンにメカ
ニカルテキスチャを施したのち、Cr膜、CoCrTa
合金からなる磁性膜、および炭素質膜(グラファイト・
カーボン)をこの順に積層成膜して3.5#型供試磁気
デイスク(供試No。
1)を得た。各層の成膜は、いずれもマグネトロンスパ
ッタリング(雰囲気:0.7X10脣Torr Ar)
により行った。各膜厚は、NtP合金膜3000人、C
r膜1500人、[性膜700人、炭素質膜300人で
ある。
上記供試ディスクNα1(発明例)のほか、比較例とし
て下記供試ディスクNα2〜No、 4を用意した。
供試ディスクNα2(比較例) ガラス基板表面に対するNiP合金膜の形成を省略し、
ガラス表面にメカニカルテキスチャを施した点を除いて
上記供試ディスク陥、1と同じ。
供試ディスクNo、 3 ガラス基板表面に対するメカニカルテキスチャを省略し
た点を除いて供試ディスクNo、 2と同し。
供試ディスクNo、4(比較例) 基板としてアルミ合金(シルミン)板を使用した点を除
いて上記供試ディスクNO61と同し。
(1)グライド試験 第1表に各供試ディスクのグライド試験結果を示す。磁
気ヘッドは、Mn−Zn系モノリシック型を使用した。
(II)CSS試験および摩耗試験 (1) CS S (Contact 5tart a
nd 5top)試験磁気ヘッド(Mn−Zn系モノリ
シック型)を供試ディスクの表面に接触させた状態で、
ディスクドライブ装置の起動と停止を反復し、ディスク
表面に疵が発生(目視観察による)するまでの起動・停
止の反復回数(CSS回数)を求める。
(2)摩耗試験 供試ディスクの表面に磁気ヘッド(Mn−Zn系モノリ
シック型)を接触させた状態(垂直荷重:10g)を保
持し、ディスクを回転(回転速度: 100100rさ
せてディスク表面の疵の有無を目視観察する。
上記試験結果を第2表に示す。第2表中、「疵」はディ
スク最表層の炭素質膜のみの摩耗損傷を意味し、「スジ
」は炭素質膜の下層の磁性膜ないし更にその下側の下地
膜まで摩耗損傷が生じたことを意味している。
第1表に示したように、発明例の供試ディスクNo、 
1は、従来の代表的磁気ディスクであるNo、 4(ア
ルミ合金基板にNiP合金膜を形成)に比し、平面性が
極めて高く、その改良された平面性によりグライド高さ
の大幅な減少効果が得られている。
また、発明例の供試ディスクNo、 1は、第2表から
明らかなように、磁気ヘッドの接触による劣化が少なく
、その耐久性は、アルミ合金基板にNiP合金膜を形成
した供試ディスクNα4と同等である。なお、ガラスを
基板とする場合において、随3のようにNiP合金膜を
形成せず、メカニカルテキスチャを省略した磁気ディス
クの耐久性は著しく低い。その耐久性は、No、 2の
ようにガラス基板表面にメカニカルテキスチャを施すこ
とにより、や)改善されるけれども、なおNiP合金膜
を形成した発明例No、 1の耐久性に遠く及ばない。
このことから、ガラス基板にNiP合金膜を形成したこ
とによる耐久性向上効果の顕著なことがわかる。
〔発明の効果〕
本発明の磁気ディスクは、従来のアルミ合金基板を使用
した磁気ディスクに比べて、ディスク表面の平面性・平
行性にすぐれており、その表面にアクセスする磁気ヘッ
ドの低フライングハイドと安定なフローティングによる
高密度記録を可能とするものであり、また基板に対する
積層膜の密着力が強く耐久性にもすぐれている。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、ガラス基板の表面にNiP合金膜が形成され、その
    上に、磁性膜を面内異方性とするための金属膜、強磁性
    金属からなる磁性膜、磁性膜を被覆する保護潤滑膜等が
    積層成膜されていることを特徴とする金属薄膜型磁気記
    録ディスク。 2、NiP合金膜が非晶質であることを特徴とする請求
    項1に記載の金属薄膜型磁気記録ディスク。 3、NiP合金膜のランデインタゾーンのみにメカニカ
    ルテキスチャが施されていることを特徴とする請求項1
    または請求項2に記載の金属薄膜型磁気記録ディスク。 4、NiP合金膜の膜厚が500Å〜4000Åである
    ことを特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれか1
    つに記載の金属薄膜型磁気記録ディスク。
JP13459590A 1990-05-24 1990-05-24 金属薄膜型磁気記録ディスク Pending JPH0428013A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09167337A (ja) * 1995-12-15 1997-06-24 Nec Corp 磁気ディスクおよびその製造方法
US6740383B2 (en) 1998-05-27 2004-05-25 Fujitsu Limited Magnetic recording medium possessing a ratio of Hc(perpendicular) to Hc(horizontal) that is not more than 0.22 and magnetic recording disk device

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6334816A (ja) * 1986-07-30 1988-02-15 株式会社日立製作所 密閉形メンブレンスイツチ
JPS63316315A (ja) * 1987-06-18 1988-12-23 Asahi Glass Co Ltd 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法
JPH029016A (ja) * 1988-06-28 1990-01-12 Victor Co Of Japan Ltd 薄膜磁気ディスク

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