JPH0427908A - 走査型顕微鏡の視野探し装置 - Google Patents

走査型顕微鏡の視野探し装置

Info

Publication number
JPH0427908A
JPH0427908A JP13279890A JP13279890A JPH0427908A JP H0427908 A JPH0427908 A JP H0427908A JP 13279890 A JP13279890 A JP 13279890A JP 13279890 A JP13279890 A JP 13279890A JP H0427908 A JPH0427908 A JP H0427908A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
scanning
microscope
sample stage
stage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP13279890A
Other languages
English (en)
Inventor
Osamu Iwasaki
修 岩崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Photo Film Co Ltd filed Critical Fuji Photo Film Co Ltd
Priority to JP13279890A priority Critical patent/JPH0427908A/ja
Publication of JPH0427908A publication Critical patent/JPH0427908A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は光学式の走査型顕微鏡において、視野探しを行
なうための装置に関するものである。
(従来の技術) 従来より、照明光を微小な光点に収束させ、この光点を
試料上において2次元的に走査させ、その際該試料を透
過した光あるいはそこで反射した光、さらには試料から
生じた蛍光を光検出器で検出して、試料の拡大像を担持
する電気信号を得るようにした光学式走査型顕微鏡が公
知となっている。なお特開昭82−217218号公報
には、この走査型顕微鏡の一例が示されている。
従来の光学式走査型顕微鏡においては、上記走査機構と
して、照明光ビームを光偏向器によって2次元的に偏向
させる機構が多く用いられていた。
また、照明光ビームは偏向させないで、試料台の方を2
次元的に移動させて照明光光点の走査を行なうことも考
えられている。さらには、本出願人による特願平!−2
46946号明細書に示されるように、送光光学系と受
光光学系とを共通の移動台に搭載し、この移動台を試料
台に対して移動させることにより、照明光光点の走査を
行なうことも考えられている。
(発明が解決しようとする課題) 上述のように光学系と試料台とを相対的に移動させて照
明光光点の走査を行なう場合は、撮像所要時間短縮化の
ために、光学系あるいは試料台を高速で移動させること
が求められる。そのため、この移動用の駆動源として例
えばピエゾ素子や超音波振動子等を利用することが考え
られる。
ところが、そのような素子は一般に、振幅を大きく取る
ことが難しくなっている。この振幅が大きく取れないと
、上記光点の走査幅を小さく設定せざるを得ず、したが
って、試料の狭い範囲についての顕微鏡像しか得られな
いことになる。
このように、試料の狭い範囲についてしか顕微鏡像を再
生できないと、最終的に観察用画像として再生させる部
分を見つける作業、すなわち視野探しが大変煩わしくな
る。
以上、光学系と試料台とを相対的に移動させる場合につ
いて説明したが、照明光ビームを偏向させる場合におい
ても、対物レンズの収差等のために偏向角を大きく取れ
ないこともあり、そのような場合には、視野探しにおい
て上記と同様の問題が生じる。
本発明は上記のような事情に鑑みてなされたものであり
、視野探しを容易に行なうことができる、走査型顕微鏡
の視野探し装置を提供することを目的とするものである
(課題を解決するための手段) 本発明による第1の走査型顕微鏡の視野探し装置は、先
に述べたように試料台に載置された試料上に照明光を走
査させ、この照明光走査を受けた試料の部分からの光を
光電的に検出して試料像を撮像する走査型顕微鏡におい
て、 上記試料の拡大像を結像する非走査型光学顕微鏡と、 試料台を、この非走査型光学顕微鏡の光学系と対向する
モニター位置と、上記走査型顕微鏡の光学系と対向する
撮像位置との間で移動させる試料台移動手段と、 上記モニター位置において試料台を、非走査型光学顕微
鏡の光軸と交わる方向に2次元移動可能に保持する試料
台保持手段と、 上記非走査型光学顕微鏡が結像した試料の拡大像を撮像
する撮像手段と、 この撮像手段が撮像した試料の拡大像を表示する画像表
示手段と、 この画像表示手段による表示画像中の任意点の位置を指
定する入力部を備え、上記試料台移動手段が試料台を上
記モニター位置から撮像位置に移動するとき、上記入力
部により指示された試料上の点が、走査型顕微鏡の光学
系光軸と一致するように、該試料台移動手段の作動を制
御する手段とを設けてなるものである。
また本発明による第2の走査型顕微鏡の視野探し装置は
、上記第1の装置におけるのと同様の非走査型光学顕微
鏡と、試料台移動手段と、試料台保持手段と、撮像手段
と、画像表示手段とに加えて、 上記試料台移動手段が試料台を前記モニター位置から撮
像位置に移動するとき、非走査型光学顕微鏡の光軸と一
致した試料上の点が、走査型顕微鏡の光学系光軸と一致
するように、該試料台移動手段の作動を規定する手段を
設けてなるものである。
(作  用) 上記第1の視野探し装置においては、試料台移動手段に
より試料台をモニター位置に設定して、該試料台上の試
料の拡大像を画像表示手段に表示させることができる。
そこでこのモニター画像を観察しながら試料台を非走査
型光学顕微鏡の光軸と交わる方向に適宜移動させれば(
この移動は手動で行なってもよいし、あるいは駆動手段
により行なってもよい)、走査型顕微鏡により観察した
い試料の部分を探し出すことができる。そこで、表示画
像中におけるこの試料部分の位置を前記入力部によって
入力し、試料台を走査型顕微鏡による撮像位置に移動さ
せれば、試料台上の試料の観察したい部分は、走査型顕
微鏡の光軸と交わる位置に来ることになる。そこで走査
型顕微鏡により試料像を撮像すれば、その像は、上記の
観察したい部分が中央に位置したものとなる。
一方上記第2の視野探し装置においても、上記と同様に
して試料の拡大像を画像表示手段に表示させ、また試料
台を非走査型光学顕微鏡の光軸と交わる方向に適宜移動
させれば、走査型顕微鏡により観察したい試・料の部分
を見つけることができ、また、その部分を表示画面中央
に、つまり非走査型光学顕微鏡の光軸と交わる位置に配
することができる。そして次に、この状態で試料台を走
査型顕微鏡による撮像位置に移動させれば、試料台上の
試料の観察したい部分は、走査型顕微鏡の光軸と交わる
位置に来ることになる。そこで走査型顕微鏡により試料
像を撮像すれば、その像は、上記の観察したい部分が中
央に位置したものとなる。
(実 施 例) 以下、図面に示す実施例に基づいて本発明の詳細な説明
する。
第1図は、本発明の第1実施例による視野探し装置を備
えた走査型顕微鏡を示すものである。この走査型顕微鏡
は、−例として反射型の共焦点走査型顕微鏡である。ま
ず、この共焦点走査型顕微鏡の基本構成について、その
要部を拡大して示す第2図も参照して説明する。
図示されるようにレーザ10からは、照明光としてのレ
ーザビーム11が射出される。この照明光11はビーム
スプリッタ12を透過し、屈折率分布型レンズ13で集
光されてシングルモード光ファイバー14内に入射せし
められる。
この光ファイバー14の一端は移動台15に固定されて
おり、該光フアイバー14内を伝搬した照明光11はこ
の一端から出射する。この際光ファイバー14の一端は
、点光源状に照明光11を発することになる。移動台1
5には、集光レンズ1Bおよび対物レンズ17が、互い
に光軸を一致させて固定されている。照明光11は集光
レンズ16によって平行光とされ、次に対物レンズ17
によって集光されて、試料台22に載置された試料23
上で微小な光点Pに結像する。
試料23で反射した反射光11′ の光束は、対物レン
ズ17によって平行光とされ、次に集光レンズ16によ
って集光されて、シングルモード光ファイバー14の一
端から該光フアイバー14内に入射せしめられる。光フ
アイバー14内を伝搬した反射光11’はその他端から
出射し、屈折率分布型レンズ13によって平行光とされ
る。
この反射光11°はビームスプリッタ12で反射し、ピ
ンホール板25を通して光検出器26によって検出され
る。この光検出器26としては例えばフォトマルチプラ
イヤ−(光電子増倍管)等が用いられ、該光検出器26
からは、試料23の明るさを示す信号Sが出力される。
次に、照明光11の光点Pの2次元走査について説明す
る。第2図に詳しく示されるように、移動台15は架台
32に、主走査用積層ピエゾ素子33を介して保持され
ている。積層ピエゾ素子33はピエゾ素子駆動回路34
から駆動電力を受けて、移動台15を矢印X方向に高速
で往復移動させる。この往復移動の振動数は、例えば1
0k Hzとされる。その場合、主走査幅を100μm
とすると、主走査速度は、 10X103  XLOOXIO°6X2−2m/sと
なる。なお、光ファイバー14は屈曲可能であるので、
照明光11、反射光11′ を伝搬させつつ、移動台1
5の振動を許容する。
一方試料台22は、3次元移動ステージ35に固定され
ている。この3次元移動ステージ35は、上記主走査方
向Xに往復移動可能なX移動ステージ35Xと、矢印Y
方向に往復移動可能なY移動ステージ35Yと、矢印Z
方向に往復移動可能なZ移動ステージ35Zとから構成
されている。i上位のY移動ステージ35Yは、例えば
パルスモータとマイクロメータ等からなり、矢印Y方向
に往復移動される。それにより試料台22は移動台15
に対して相対移動され、照明光光点Pが試料23上を、
前記主走査方向Xと直交するY方向に副走査する。なお
この副走査の所要時間は例えば1/20秒とされ、その
場合、副走査幅を100μmとすると、副走査速度は、 20x 100  x10’ −0,002m/ 5−
2mm/s と、前記主走査速度よりも十分に低くなる。この程度の
副走査速度であれば、試料台22を移動させても、試料
23が飛んでしまうことを防止できる。
以上のようにして光点Pが試料23上を2次元的に走査
することにより、該試料23の2次元像を担持する連続
的な信号Sが得られる。この信号Sは、信号処理器36
において例えば所定周期毎にサンプリングする等により
、画素分割された信号Sdとされる。この信号Sdは、
−例としてCRTからなる画像表示手段37に送られ、
そこにおいて、この信号Sdが担う試料23の顕微鏡像
が表示される。
後述するように、本例においてこの画像表示手段37は
、視野探しのだめの画像表示手段を兼ねている。
なお上記サンプリングの周期は、ピエゾ素子駆動回路3
4から入力される同期信号S2に基づいて規定される。
そしてこのピエゾ素子駆動回路34および信号処ff器
3Gの作動は、図示しない制御部により制御され、また
光検出器26のゲインもこの制御部により最適値に設定
される。
またY移動ステージ35Yは、Z移動ステージ35Zに
より、主、副走査方向と直交する矢印Z方向(すなわち
光学系の光軸方向)に移動される。こうしてY移動ステ
ージ35YをZ方向に所定距離移動させる毎に前記光点
Pの2次元走査を行なえば、合焦点面の情報のみが光検
出器2Gによって検出される。そこで、この光検出器2
6の出力Sをフレームメモリに取り込むことにより、試
料23をZ方向に移動させた範囲内で、全ての面に焦点
が合った画像を担う信号を得ることが可能となる。
次に、視野探し装置について説明する。移動台I5の側
方には、そこに保持された光学系と光軸を平行に揃えた
状態で、一般的な非走査型光学顕微鏡40が配設されて
いる。そしてこの非走査型光学顕微鏡40の上部には、
それにより結像された顕微鏡像を撮像するテレビカメラ
41が取り付けられている。このテレビカメラ41とし
ては、例えばCCD撮像素子を備えたものが好適に用い
られる。
走査型顕微鏡の架台32と非走査型光学顕微鏡40は、
共通の架台42上に保持されている。そしてこの架台4
2上には、図中左右方向に移動する試料台搬送テーブル
44が配設されている。この試料台搬送テーブル44は
、搬送テーブルコントローラ52により作動制御される
。前述した3次元移動ステージ35は、この試料台搬送
テーブル44の上に保持されている。したがって試料台
搬送テーブル44が作動することより試料台22は、移
動台15の光学系に対向する撮像位置(第1図の実線表
示位置)と、非走査型光学顕微鏡40の光学系に対向す
るモニター位置(同じく1点鎖線表示位置)との間で移
動されうる。
また架台32と架台42との間には、3次元移動ステー
ジ45が介設されている。この3次元移動ステージ45
は前述した3次元移動ステージ35と同様、主走査方向
に往復移動可能なX移動ステージ45Xと、副走査方向
に往復移動可能なY移動ステージ45Yと、光軸方向に
往復移動可能なZ移動ステージ45Zとから構成されて
いる。両3次元移動ステージ35.45は、ステージコ
ントローラ46により駆動制御され、そしてこのステー
ジコントローラ46は、モニター位置指示回路47から
の指示に従って作動する。モニター位置指示回路47に
は、例えばマウスやタッチパネル等、画像表示手段37
上の任意点の位置を入力する位置入力部48が接続され
ている。またこのモニター位置指示回路47には、非走
査型光学顕微鏡40の対物レンズ43の切換機構を操作
して、この顕微鏡40の倍率を設定する倍率指示器49
も接続されている。
なおステージコントローラ4Gには、ステージ原点補正
ユニット50.51が接続され、それらにより各々3次
元移動ステージ35.45の原点が所定位置に合わせら
れる。
次に視野探しについて、第3図も参照して説明する。視
野探しを行なうに当たり、3次元移動ステージ45は原
点位置に設定される。この状態においては、第3図に平
面形状を示すように、移動台15の両レンズ16.17
の光軸o1 と非走査型光学顕微鏡40の光軸02とは
、副走査方向Yには一致し、主走査方向Xには距離x□
だけ離れている。
次いで試料台搬送テーブル44により、3次元移動ステ
ージ35が(すなわち試料台22が)非走査型光学顕微
鏡40側に距離X。搬送される。それにより試料台22
は、前述のモニター位置に設定される。
この状態になると、試料台22上の試料23を非走査型
光学顕微鏡40で拡大し、その拡大像をテレビカメラ4
1で撮像して、画像表示手段37に表示することができ
る。この画像表示手段37による試料像の表示範囲を、
第3図に矩形Mで示す。なお表示画像のフォーカス調整
は、ステージコントローラ4Bをマニュアル操作する等
によりZ移動テーブル35Zを駆動させ、試料台22を
Z方向に移動させて行なうことができる。
装置操作者は、こうして画像表示手段37に表示された
顕微鏡像を観察しながら位置入力部48を操作して、表
示画面をスクロールさせることができる。すなわち、位
置入力部48が前述のマウス等からなる場合、画面に表
示されるカーソル37C(第3図参照)を例えば画面右
端に合わせ続けるようにマウス等を操作すれば、X移動
テーブル35Xが第1図中右方に移動し続け、表示画像
は左方にスクロールして、試料23のより左側(表示画
面においては右側)の部分が表示画面に現われるように
なる。表示画面の上下方向へのスクロールは、Y移動テ
ーブル35Yの作動によってなされる。
以上の操作を適宜行えば、走査型顕微鏡により観察した
い試料23の箇所(第3図には、その中心位置Nを示す
)が、表示画面中に存在するようになる。このときの試
料台22の位置を、第3図において破線で示す。なおこ
の際、試料台22の中心Cと非走査型光学顕微鏡40の
光軸02とが主走査方向にXis副走査方向にyl離れ
、また試料23の上記箇所Nと光軸02とが主走査方向
にx2、副走査方向にy2離れているとする。装置操作
者は、表示画面中の上記箇所Nを、位置入力部48を用
いて指定する。この指定位置は、例えば表示画面中央W
を原点とする座標(Xz 、 Y2 )で規定される(
第1図参照)。
モニター位置指示回路47は、こうして指定された座標
(X2 、 Y2 )を、倍率指定器49から入力され
る信号S1が示す非走査型光学顕微鏡40の倍率や、予
め与えられているテレビカメラ41のレンズ焦点距離等
に基づいて、光軸02を原点とする試料23上の座標(
x2.yz)に変換する。
観察したい箇所Nの入力が済むと、試料台搬送テーブル
44が前述の場合とは反対方向に駆動され、試料台22
は第1.3図中左方に距離XO戻されて、前述の撮像位
置(第3図の1点鎖線表示位置)に設定される。このと
き試料台22の中心Cは、光軸01の当初の位置に対し
て、主走査方向にXl、副走査方向にylずれることに
なる。
またそれとともにステージコントローラ4Bは、モニタ
ー位置指示回路47から入力される前記座標(Xz、y
z)の情報に従って、3次元移動ステージ45のX移動
テーブル45XおよびY移動テーブル45Yを駆動させ
、移動台15を主走査方向にx2、副走査方向にy2移
動させる。それにより走査型顕微鏡の光軸01は、第3
図に矢印Fで示すようにX、Y方向にそれぞれXz、Y
z移動し、試料23上の箇所Nと一致するようになる。
この状態において、前述のようにして照明光光点Pの走
査を行ない、試料23の顕微鏡像を撮像すれば、その像
は、試料23の前記箇所Nが中央部分に位置するものと
なる。
なお、試料台22をモニター位置から撮像位置に戻した
際に、3次元移動ステージ35のX移動テーブル35X
およびY移動テーブル35Yを駆動させて、試料台22
を主走査方向に−x2、副走査方向に−y2移動させる
ようにすれば、3次元移動ステージ45を省くことがで
きる。
また、3次元移動ステージ35のX移動テーブル35X
として、移動ストロークが比較的長いものを用いること
により、それを試料台搬送手段として兼用することがで
きる。そうすれば、試料台搬送テーブル44は不要とな
る。
また3次元移動ステージ35は、ただ単に試料台22を
3次元方向に移動可能に保持し、手動操作によりこの移
動を果たす機構に置き換えられてもよい。
次に、第4図を参照して本発明の第2実施例について説
明する。なおこの第4図において、前記第1図中の要素
と同等の要素には同番号を付し、それらについての説明
は特に必要の無い限り省略する(以下、同様)。この装
置において、ステージコントローラ46には位置入力部
60が接続され、この位置入力部60からの入力に応じ
て3次元移動ステージ35が駆動され、試料台22の主
、副走査方向位置が任意に設定されるようになっている
この装置により視野探しを行なう場合、試料台22をモ
ニター位置に設定してから、上記のようにして試料台2
2を移動させれば、走査型顕微鏡により観察したい試料
23の箇所Nを、画像表示手段37に表示させることが
できる。そしてこの場合上記の箇所Nは、表示画像を観
察しながら位置入力部60を操作することにより、表示
画面の中央に位置するようにされる。つまり前記第3図
を参照すれば、必ずX2 ””Y2 ””0とされる。
こうした後に試料台搬送テーブル44を作動させて、試
料台22を第4図中左方に距MXoだけ移動させれば、
上記試料23の箇所Nは、必す走査型顕微鏡の光軸01
と交わる位置に来ることになる。
なお試料台搬送テーブル44は、搬送テーブルコントロ
ーラ52により、テーブル駆動源であるパルスモータの
回転量が常に所定値に規定される等により、右方移動の
際もまた左方移動の際も、移動距離は必ず上記x(、と
される。すなわち本実施例では搬送テーブルコントロー
ラ52が、試料台22が前記モニター位置から撮像位置
に移動するとき、非走査型光学顕微鏡40の光軸02と
一致した試料上の点が、走査型顕微鏡の光学系光軸01
と一致するように、該搬送テーブル44の作動を規定す
る手段を構成している。
なお、以上説明した第1および第2実施例の視野探し装
置は、第5図に示すような透過型の走査゛型顕微鏡に対
しても同様に適用可能である。この第5図の走査型顕微
鏡において、集光レンズ16および対物レンズ17から
なる送光光学系18から射出された照明光1]は、試料
23を透過し、試料台22に形成された開口22aを通
過して、受光光学系21に入射する。
受光光学系21は、対物レンズ19および集光レンズ2
0からなり、試料23を透過した透過光11”を集光し
て、光フアイバー24内に入射させる。この光フアイバ
ー24内を伝搬した透過光11“は、該光ファイバー2
4の先端から出射し、そこに取り付けられた屈折率分布
型レンズ27により平行光とされ、ピンホール板25を
通して光検出器26によって検出される。
また以上説明した2つの実施例においては、照明光11
の副走査を3次元移動ステージ35によって行なうよう
にしているが、この副走査を移動台15の往復移動によ
って行なうことも勿論可能である。
また本発明は、ピエゾ素子によって光学系と試料台とを
相対移動させる走査型顕微鏡に限らず、その他超音波振
動子や音叉等によって上記相対移動を果たすように構成
した走査型顕微鏡に対しても適用可能である。
さらに本発明は、照明光光点Pの主、副走査を、照明光
ビームを偏向させて行なうように構成した走査型顕微鏡
に対しても適用可能である。
(発明の効果) 以上詳細に説明した通り本発明の視野探し装置において
は、試料台を走査型顕微鏡と非走査型光学顕微鏡との間
で移動させ、非走査型光学顕微鏡による試料像をモニタ
ーしながら視野探しを行なえる構成としたので、撮像範
囲の狭い走査型顕微鏡により視野探しを行なう場合に比
べれば、著しく広範囲の試料像を観察しながら視野探し
を行なうことができる。したがって本装置によれば、従
来面倒となっていた視野探しを、容易かつ迅速に実行可
能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の第1実施例による視野探し装置を備
えた走査型顕微鏡を示す概略側面図、第2図は、上記走
査型顕微鏡の一部を示す側面図、 第3図は、本発明装置による視野探し操作を説明する説
明図、 第4図は、本発明の第2実施例による視野探し装置を備
えた走査型顕微鏡を示す概略側面図、第5図は、本発明
の視野探し装置が適用され得る走査型顕微鏡の他の例を
示す側面図である。 lO・・・レーザ      11・・・照明光11゛
 ・・・反射光      11”・・・透過光14.
24・・・光ファイバー  15・・・移動台16.2
0・・・集光レンズ  17.19.43・・・対物レ
ンズ22・・・試料台       23・・・試料2
5・・・ピンホール板    26・・・光検出器33
・・・積層ピエゾ素子  34・・・ピエゾ素子駆動回
路35.45・・・3次元移動ステージ 36・・・信号処理器     37・・・画像表示手
段40・・・非走査型光学顕微m  41・・・テレビ
カメラ44・・・試料台搬送テーブル 46・・・ステージコントローラ 47・・・モニター位置指示回路 48.60・・・位
置入力部49・・・倍率指示器 50.51・・・ステージ原点補正ユニット52・・・
搬送テーブルコントローラ 第 図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)試料台に載置された試料上に照明光を走査させ、
    この照明光走査を受けた試料の部分からの光を光電的に
    検出して試料像を撮像する走査型顕微鏡において、 前記試料の拡大像を結像する非走査型光学顕微鏡と、 前記試料台を、この非走査型光学顕微鏡の光学系と対向
    するモニター位置と、前記走査型顕微鏡の光学系と対向
    する撮像位置との間で移動させる試料台移動手段と、 前記モニター位置において試料台を、非走査型光学顕微
    鏡の光軸と交わる方向に2次元移動可能に保持する試料
    台保持手段と、 前記非走査型光学顕微鏡が結像した試料の拡大像を撮像
    する撮像手段と、 この撮像手段が撮像した試料の拡大像を表示する画像表
    示手段と、 この画像表示手段による表示画像中の任意点の位置を指
    定する入力部を備え、前記試料台移動手段が試料台を前
    記モニター位置から撮像位置に移動するとき、前記入力
    部により指示された試料上の点が、前記走査型顕微鏡の
    光学系光軸と一致するように、該試料台移動手段の作動
    を制御する手段とが設けられてなる走査型顕微鏡の視野
    探し装置。
  2. (2)試料台に載置された試料上に照明光を走査させ、
    この照明光走査を受けた試料の部分からの光を光電的に
    検出して試料像を撮像する走査型顕微鏡において、 前記試料の拡大像を結像する非走査型光学顕微鏡と、 前記試料台を、この非走査型光学顕微鏡の光学系と対向
    するモニター位置と、前記走査型顕微鏡の光学系と対向
    する撮像位置との間で移動させる試料台移動手段と、 前記モニター位置において試料台を、非走査型光学顕微
    鏡の光軸と交わる方向に2次元移動可能に保持する試料
    台保持手段と、 前記非走査型光学顕微鏡が結像した試料の拡大像を撮像
    する撮像手段と、 この撮像手段が撮像した試料の拡大像を表示する画像表
    示手段と、 前記試料台移動手段が試料台を前記モニター位置から撮
    像位置に移動するとき、非走査型光学顕微鏡の光軸と一
    致した試料上の点が、前記走査型顕微鏡の光学系光軸と
    一致するように、該試料台移動手段の作動を規定する手
    段とが設けられてなる走査型顕微鏡の視野探し装置。
JP13279890A 1990-05-23 1990-05-23 走査型顕微鏡の視野探し装置 Pending JPH0427908A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13279890A JPH0427908A (ja) 1990-05-23 1990-05-23 走査型顕微鏡の視野探し装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13279890A JPH0427908A (ja) 1990-05-23 1990-05-23 走査型顕微鏡の視野探し装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0427908A true JPH0427908A (ja) 1992-01-30

Family

ID=15089816

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP13279890A Pending JPH0427908A (ja) 1990-05-23 1990-05-23 走査型顕微鏡の視野探し装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0427908A (ja)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09285739A (ja) * 1996-04-23 1997-11-04 Ooden:Kk 電気集塵ユニット及びその製造方法、並びに、該ユニットを用いる空気清浄機、電気集塵装置及び黒煙捕集装置
US6193788B1 (en) 1997-03-07 2001-02-27 Kabushiki Kaisya O-Den Electric dust collecting apparatus and manufacturing method of the same
US6323498B1 (en) 1998-03-18 2001-11-27 Hitachi, Ltd. Charged particle beam irradiation apparatus and irradiation method using the apparatus
JP2006220953A (ja) * 2005-02-10 2006-08-24 Olympus Corp レーザ光照射装置およびレーザ光照射装置付顕微鏡装置
JP2009025488A (ja) * 2007-07-18 2009-02-05 National Institute Of Information & Communication Technology 顕微鏡及びその観測方法
CN104749759A (zh) * 2015-03-23 2015-07-01 周艳松 一种可调式室外微观影像观测与获取系统
WO2017057729A1 (ja) * 2015-10-01 2017-04-06 学校法人 中村産業学園 相関顕微鏡
JP2017067746A (ja) * 2015-10-01 2017-04-06 学校法人 中村産業学園 相関顕微鏡

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5925170A (en) * 1996-04-23 1999-07-20 Kabushiki Kaisya O-Den Electric dust-collection unit and air-cleaning apparatus using the same
US5928592A (en) * 1996-04-23 1999-07-27 Kabushiki Kaisya O-Den Method of manufacturing an electric dust collection unit
JPH09285739A (ja) * 1996-04-23 1997-11-04 Ooden:Kk 電気集塵ユニット及びその製造方法、並びに、該ユニットを用いる空気清浄機、電気集塵装置及び黒煙捕集装置
US6193788B1 (en) 1997-03-07 2001-02-27 Kabushiki Kaisya O-Den Electric dust collecting apparatus and manufacturing method of the same
DE19911944B4 (de) * 1998-03-18 2009-05-14 Hitachi, Ltd. Vorrichtung zum Abbilden eines Bereichs einer Probe
US6323498B1 (en) 1998-03-18 2001-11-27 Hitachi, Ltd. Charged particle beam irradiation apparatus and irradiation method using the apparatus
US6693288B2 (en) 1998-03-18 2004-02-17 Hitachi, Ltd. Charged particle beam irradiation apparatus and irradiation method using the apparatus
JP2006220953A (ja) * 2005-02-10 2006-08-24 Olympus Corp レーザ光照射装置およびレーザ光照射装置付顕微鏡装置
JP2009025488A (ja) * 2007-07-18 2009-02-05 National Institute Of Information & Communication Technology 顕微鏡及びその観測方法
CN104749759A (zh) * 2015-03-23 2015-07-01 周艳松 一种可调式室外微观影像观测与获取系统
WO2017057729A1 (ja) * 2015-10-01 2017-04-06 学校法人 中村産業学園 相関顕微鏡
JP2017067746A (ja) * 2015-10-01 2017-04-06 学校法人 中村産業学園 相関顕微鏡
US10663708B2 (en) 2015-10-01 2020-05-26 Nakamura Sangyo Gakuen Correlation microscope

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0527177A (ja) 走査型顕微鏡
KR100689319B1 (ko) 주사형 공초점현미경
US20020163717A1 (en) Confocal imaging apparatus and method using linear line-scanning
EP1882967B1 (en) Scanning examination apparatus
JPH0427908A (ja) 走査型顕微鏡の視野探し装置
JPH0540224A (ja) 走査型顕微鏡
JP3896196B2 (ja) 走査型顕微鏡
JPH05224127A (ja) 共焦点走査型微分干渉顕微鏡
JP2000275594A (ja) 基板検査装置
JPH11326778A (ja) 顕微鏡画像観察装置
JPH05288992A (ja) 透過型顕微鏡
KR20110121497A (ko) Pzt 스테이지를 이용한 공초점 현미경 시스템 및 그 스캔방법
EP3677942B1 (en) Observation device, observation method, and observation device control program
KR100519266B1 (ko) 공초점 현미경
JPS60181718A (ja) 同期走査顕微鏡
JPH10260359A (ja) 像回転装置
JP7021870B2 (ja) 顕微鏡装置
JPH10307252A (ja) 自動合焦点光学式テレビカメラ顕微鏡
JP4914567B2 (ja) 走査型共焦点顕微鏡
JP2004177732A (ja) 光学測定装置
JPH03209415A (ja) 顕微鏡像出力方法および走査型顕微鏡
JPH03184010A (ja) 顕微鏡像撮像方法および走査型顕微鏡
JPH05127089A (ja) 走査型顕微鏡
JPH0458208A (ja) 走査型顕微鏡
JP2913807B2 (ja) 電子線照射型分析装置