JP2017067746A - 相関顕微鏡 - Google Patents

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Abstract

【課題】 光学顕微鏡と電子顕微鏡において高い精度で同一位置での観察が行える相関顕微鏡を提供する。
【解決手段】 2つの顕微鏡1,2にそれぞれ位置決めされたときの同一の試料台6の画像及び試料7の観察対象組織35を含む第1領域抽出窓37と第1試料台座標31と第2試料台座標32と第2領域抽出窓38の座標とをそれぞれ取得し、第1試料台座標と第2試料台座標との差を基に第2試料台座標を補正して、第2領域抽出窓の補正後の座標を取得し、補正後の座標を基に、第2位置決め部を、第2非観察位置から、第1領域抽出窓の座標位置に対応する位置に第2領域抽出窓が位置している第2観察位置に移動させる。
【選択図】図4

Description

本発明は、電子顕微鏡とレーザ顕微鏡とを非同軸に配置した状態で搬送装置により試料を両顕微鏡にそれぞれ搬送して観察することができる相関顕微鏡に関する。
疾病診断方法の開発等の医療バイオ分野では、生体組織を蛍光色素で免疫染色を行った後、蛍光顕微鏡を用いて観察している。しかし、この方法では1000倍程度の解像度が限界である。それに対し、蛍光色素で標識された生体組織からなる試料の分析点を高倍率で観察する方法として、走査型電子顕微鏡(以下、SEMという。)の電子線を試料に照射して蛍光を発生させ(カソードルミネッセンス)、その蛍光を観察する方法が提案されている(例えば、特許文献1)。
また、半導体ウェハ等の分析に関するものではあるが、荷電粒子による試料励起と光による試料励起を一つの装置で行うようSEMと光学顕微鏡とを組み合わせて、試料の分析点のX線分光スペクトルと蛍光スペクトルとを測定する表面分析装置も提案されている(例えば、特許文献2)。
このように、SEMと光学顕微鏡とを組み合わせて、蛍光色素で標識された生体組織からなる試料の分析点を即座にSEMで観察することにより、その分析点の形態的特徴から対象物を短時間で同定できることが期待できる。
しかしながら、この場合、SEMと光学顕微鏡とに同一試料をそれぞれ搬送して同一箇所を観察しようとしても、搬送による位置決め精度が悪く、高い精度で同一箇所を観察することができなかった。
そこで、半導体素子に関するものではあるが、走査型電子顕微鏡に試料を搬送する搬送装置としては、特許文献3及び4のような構成が知られている。
特開平11−260303号公報 特開平5−113418号公報 特開2014−86419号公報 特開平8−273572号公報
しかしながら、前記従来の公報においては、オリフラを基準に位置決めされるため、生体試料に対しては、そのようなオリフラによる位置決め方法を適用することができず、高い精度で同一位置での観察が行える相関顕微鏡の開発が望まれていた。
従って、本発明の目的は、前記問題を解決することにあって、高い精度で同一位置での観察が行える相関顕微鏡を提供することにある。
前記目的を達成するために、本発明は以下のように構成する。
本発明の第1の態様によれば、第1顕微鏡と、
前記第1顕微鏡とは光軸が非同軸で配置された第2顕微鏡と、
試料が保持された試料台を試料台位置決め保持部に位置決め保持した状態で前記第1顕微鏡から前記第2顕微鏡へ前記試料台を搬送する搬送装置と、
前記第1顕微鏡に配置されて、少なくとも第1観察位置と第1非観察位置との間で移動可能でかつ前記試料台を位置決め保持する第1位置決め部を有するとともに、前記第1位置決め部が前記第1非観察位置に位置したときに前記第1位置決め部と前記搬送装置の前記試料台位置決め保持部との間で前記試料台を受渡しする第1位置決め装置と、
前記第1位置決め部が前記第1観察位置及び前記第1非観察位置にそれぞれ位置したとき、前記第1位置決め部に位置決めされた前記試料台の画像を取得して、前記試料台の前記試料の観察対象組織を含む第1領域抽出窓の画像を取得する第1画像取得部と、
前記第1位置決め部が前記第1非観察位置に位置したときに前記第1画像取得部で取得した画像を基に、前記第1位置決め部に位置決めされた前記試料台の第1試料台座標の座標位置を取得する第1座標取得部と、
前記第1位置決め部が前記第1非観察位置に位置したときに前記第1画像取得部で取得した前記第1領域抽出窓の画像と前記第1座標取得部で取得した前記試料台の前記第1試料台座標の座標位置とに基づいて、前記第1試料台座標における前記第1領域抽出窓の座標位置を取得する第1抽出窓座標取得部と、
前記第2顕微鏡に配置されて、少なくとも第2観察位置と第2非観察位置との間で移動可能でかつ前記試料台を位置決め保持する第2位置決め部を有するとともに、前記第2位置決め部が前記第2非観察位置に位置したときに前記第2位置決め部と前記搬送装置の前記試料台位置決め保持部との間で前記試料台を受渡しする第2位置決め装置と、
前記第2位置決め部が前記第2観察位置及び前記第2非観察位置にそれぞれ位置したとき、前記第2位置決め部に位置決めされた前記試料台の画像を取得して、前記試料台の前記第1領域抽出窓に対応する第2領域抽出窓の画像を取得する第2画像取得部と、
前記第2位置決め部が前記第2非観察位置に位置したときに前記第2画像取得部で取得した画像を基に、前記第2位置決め部に位置決めされた前記試料台の第2試料台座標の座標位置を取得する第2座標取得部と、
前記第2位置決め部が前記第2非観察位置に位置したときに前記第2画像取得部で取得した前記第2領域抽出窓の画像と前記第2座標取得部で取得した前記試料台の前記第2試料台座標の座標位置とに基づいて、前記第2試料台座標における前記第2領域抽出窓の座標位置を取得するとともに、前記第1座標取得部で取得した前記第1試料台座標の前記座標位置と前記第2座標取得部で取得した前記第2試料台座標の前記座標位置との差を取得して、取得した差を基に、前記第2試料台座標の前記座標位置を補正して、前記第1領域抽出窓に対応する前記第2領域抽出窓の補正後の座標位置を取得する第2抽出窓座標取得部とを備えて、
前記第2位置決め装置は、前記第2抽出窓座標取得部で取得した前記第2領域抽出窓の補正後の座標位置に基づいて、前記第2位置決め部を、前記第2非観察位置から、前記第1領域抽出窓の前記座標位置に対応する位置に前記第2領域抽出窓が位置している前記第2観察位置に移動させるとともに、
前記第1顕微鏡と前記第2顕微鏡とは、いずれか一方の顕微鏡が光学顕微鏡であり、他方の顕微鏡が電子顕微鏡である、相関顕微鏡を提供する。
また、本発明の第2の態様によれば、第1の態様において、前記第1位置決め部が前記第1観察位置に位置したときに前記第1画像取得部で取得された前記第1領域抽出窓の画像から抽出された前記観察対象組織の複数個の特徴部に基づき、前記第1位置決め部が前記第1観察位置に位置したときに前記第1画像取得部で取得された前記第1領域抽出窓の前記画像と前記第2位置決め部が前記第2観察位置に位置したときに前記第2画像取得部で取得された前記第2領域抽出窓の画像とのパターンマッチングを行う画像処理部と、
前記画像処理部での前記パターンマッチングの結果と、前記第1座標取得部で取得した前記第1試料台座標の座標位置と、前記第2抽出窓座標取得部で取得した第2領域抽出窓の前記補正後の座標位置とを基に、前記第1領域抽出窓の画像と前記第2領域抽出窓の画像とを重ね合わせる画像合成部とをさらに備えることもできる。
本発明の前記第1の態様によれば、2つの顕微鏡にそれぞれ位置決めされたときの同一の試料台の画像及び試料の観察対象組織を含む第1領域抽出窓と第1試料台座標と第2試料台座標と第2領域抽出窓の座標とをそれぞれ取得し、第1試料台座標と第2試料台座標との差を基に第2試料台座標を補正して、第2領域抽出窓の補正後の座標を取得し、補正後の座標位置を基に、第2位置決め装置は、第2位置決め部を、第2非観察位置から、第1領域抽出窓の座標位置に対応する位置に第2領域抽出窓が位置している第2観察位置に移動させる。この結果、高い精度で同一位置での観察を行うことができる。
また、本発明の前記第2の態様によれば、第1領域抽出窓画像に対応する第2領域抽出窓画像に対してパターンマッチングを行い、第1領域抽出窓画像と第2領域抽出窓画像とを重ね合わせた合成画像を生成することができる。この結果、高い精度で同一位置での合成画像を取得して観察することができる。
本発明の1つの実施形態にかかる相関顕微鏡の概略正面図 実施形態にかかる相関顕微鏡の平面図 相関顕微鏡の正面図 相関顕微鏡のブロック図 相関顕微鏡の試料台の平面図 相関顕微鏡の試料台の底面図 相関顕微鏡の試料台の斜視図 相関顕微鏡の搬送装置の部分の平面図 相関顕微鏡の搬送装置の部分の斜視図 相関顕微鏡の搬送装置の試料台位置決め保持部付近の斜視図 相関顕微鏡の搬送装置の周辺の斜視図 相関顕微鏡の第1位置決め装置の斜視図 相関顕微鏡の第1顕微鏡、搬送装置、及び試料台投入装置の平面図 相関顕微鏡の第1位置決め装置の第1位置決め部の拡大平面図 相関顕微鏡の第1位置決め装置での第1試料台座標と第2位置決め装置での第2試料台座標との関係及びテンプレートマッチングを説明するための説明図 相関顕微鏡の第2顕微鏡及びロードロック室ユニットの平面図 相関顕微鏡のロードロック室内での受渡しを説明するための拡大平面図 相関顕微鏡の回転搬送装置の斜視図 相関顕微鏡の回転搬送装置の平面図 相関顕微鏡のロードロック室ユニット及び第2顕微鏡の真空室内の斜視図 相関顕微鏡の第2位置決め装置の第2位置決め部の拡大平面図 相関顕微鏡の搬送装置の搬送動作のフローチャート 相関顕微鏡の試料の第1例にかかる合成前後の画像の説明図 相関顕微鏡の試料の第2例にかかる合成前後の画像の説明図 相関顕微鏡の試料の第3例にかかる合成前後の画像の説明図 相関顕微鏡の試料の第4例にかかる合成前後の画像の説明図 従来の2つの顕微鏡間での位置合わせの状態を説明するための説明図 実施形態にかかる相関顕微鏡での位置合わせの状態を説明するための説明図 前記実施形態の変形例にかかる相関顕微鏡の試料台の平面図 前記実施形態の変形例にかかる相関顕微鏡の試料台の正面図 前記実施形態の変形例にかかる相関顕微鏡の試料台の斜視図 前記実施形態の変形例にかかる相関顕微鏡の試料台に挿入可能な標準試料台の斜視図 前記実施形態の変形例にかかる相関顕微鏡の試料台に標準試料台が挿入された状態での斜視図
以下、図面を参照して本発明における第1実施形態を詳細に説明する。
図1は、本発明の第1の実施形態にかかる相関顕微鏡10の概略構成図である。図2及び図3は、一例として、相関顕微鏡10の配置を示す平面図及び正面図である。
本発明の第1の実施形態にかかる相関顕微鏡10は、図1〜図3に示すように、少なくとも、第1顕微鏡1と、第2顕微鏡2と、搬送装置5と、第1位置決め装置8と、第2位置決め装置9と、制御部11と備えている。必要に応じて、相関顕微鏡10は、モニタ4、記憶部50、試料台投入装置69、免振台3なども備えている。モニタ4は、観察結果を表示するディスプレイである。記憶部50は、制御部11の各部又は各種検出部又はリニアスケールなどで取得した情報を記憶する。試料台投入装置69は試料台6を投入のため準備する装置である。免振台3は、各種装置等を載置して、相関顕微鏡10の外部から相関顕微鏡10に伝達される振動を防止するための装置である。
第1顕微鏡1と第2顕微鏡2とは、いずれか一方の顕微鏡が光学顕微鏡であり、他方の顕微鏡が電子顕微鏡である。一例として、この第1実施形態では、第1顕微鏡1は、光学顕微鏡の一例である共焦点顕微鏡とする。また、第2顕微鏡2は、電子顕微鏡の一例である走査型電子顕微鏡とし、共焦点顕微鏡1とは光軸が非同軸で配置されている。以下の説明では、第1顕微鏡1の例である共焦点顕微鏡に最初に試料台6を搬送したのち、第2顕微鏡2の例である走査型電子顕微鏡に試料台6を搬送しているが、この順序に限定されるものではなく、逆の順序で試料台6を搬送してもよい。
図4に示すように、詳しくは後述するが、制御部11は、少なくとも、第1座標取得部21と、第2座標取得部22と、第1抽出窓座標取得部23と、第2抽出窓座標取得部24と、第1画像取得部41と、第2画像取得部42と、画像処理部46と、画像合成部47とを備えている。制御部11の動作制御部49は、第1顕微鏡1と、第2顕微鏡2と、搬送装置5と、第1位置決め装置8と、第2位置決め装置9と、ロードロック室ユニット60と、回転搬送装置66となどの各種駆動装置、及び、制御部11の第1座標取得部21から画像合成部47までのそれぞれの動作を制御している。
第1顕微鏡1と第2顕微鏡2との間で搬送装置5により試料台6が搬送されている。試料台6には、試料7が保持されている。
図5A〜図5Cに示すように、試料台6は、例えば銅などの非磁性体の円板状部材で構成されている。試料台6の表面には、試料載置領域6aと、試料載置領域6aの近傍でかつ試料載置領域6a外に2つの基準点6b,6cが配置されている。各基準点6b,6cは、例えば、直径1mm程度の小さな円形凹部で形成されている。試料台6は、その側面に、90度毎に周囲の四隅に湾曲した切欠部6d,…,6dを有するとともに、隣接する2つの切欠部6d,6dの中間に円形の位置決め切欠6eを有する。また、試料台6の裏面中央には、円形の位置決め凹部6fを有している。試料台6の全周囲の側面下部には、上向き傾斜防止用の鍔部6hを有している。試料載置領域6aには、観察対象組織35を含む生体試料7が両面接着テープなどにより固定されている。観察対象組織35の例は、1つの細胞又は器官、又は、1つの細胞又は器官の一部などである。
搬送装置5は、少なくとも試料台位置決め保持部25を有して、試料台6を試料台位置決め保持部25に位置決め保持した状態で、第1顕微鏡1から第2顕微鏡2へ試料台6を搬送する。具体的には、図6〜図9に示すように、搬送装置5は、モータなどで正逆回転駆動される回転装置5aと、回転装置5aで正逆回転する搬送アーム5bと、搬送アーム5bの先端に取り付けられた試料台位置決め保持部25と、試料台位置決め保持部25を搬送アーム5bの軸方向に進退させる進退装置5cと、搬送アーム5bを上下動させる昇降装置5dとを備えている。進退装置5cと昇降装置5dとは、それぞれ、例えば、案内機構で案内しつつ正逆回転モータなどで1つの軸方向に進退駆動させる公知の駆動装置である。よって、試料台位置決め保持部25を回転装置5aの回転軸の周りに正逆回転させるとともに、昇降装置5dで搬送アーム5bを上下動させ、進退装置5cで試料台位置決め保持部25を搬送アーム5bの軸方向に進退可能として、第1位置決め装置8及び第2位置決め装置9に対して、試料台6を自在に位置調整可能としている。
試料台位置決め保持部25は、図8に示すように、搬送アーム5bの先端に固定されたL字状の保持枠部25aと、保持枠部25aの下部中央部に立設した第1位置決めピン25bと、第1位置決めピン25bの両側に張り出して試料台6の裏面を支持する一対の支持台部25cと、保持枠部25aの基端側で一方の支持台部25cから立設した第2位置決めピン25dとを備えている。よって、第1位置決めピン25bは、試料台6の裏面中央の位置決め凹部6fに嵌合するとともに、第2位置決めピン25dは、試料台6の位置決め切欠6eに嵌合して、試料台6を試料台位置決め保持部25に対して位置決めした状態で、一対の支持台部25cで試料台6の裏面を支持して保持できるようにしている。
第1位置決め装置8は、第1顕微鏡1の下部に配置されている。図10に示すように、第1位置決め装置8は、例えば、XYZステージ8aと、リニアスケール8bと、第1位置決め制御部8gとで構成されている。
XYZステージ8aは、X軸ステージ8xとY軸ステージ8yとZ軸ステージ8zとで構成されている。XYZステージ8aは、X軸ステージ8xでX軸方向に進退可能であり、Y軸ステージ8yでY軸方向に進退可能であり、Z軸ステージ8zでZ軸方向に進退可能である。
リニアスケール8bは、XYZステージ8aのX軸ステージ8xとY軸ステージ8yとZ軸ステージ8zとの各軸に配置されて、リニアエンコーダとも呼ばれ、nmオーダの測長器であり、これを用いてPID制御によりXYZステージ8aの位置決めを行っている。各リニアスケール8bは、固定側エンコーダヘッドから可動側ガラススケールにレーザが照射され、可動側ガラススケールで反射されて受光される光を基に可動側ガラススケールの目盛を固定側エンコーダヘッドでnm精度で取得する。すなわち、各軸の位置座標を固定側エンコーダヘッドでnm精度で取得できるように構成している。従って、第1顕微鏡1のXYZステージ8aのステージ座標系分解能と位置精度、すなわち、第1顕微鏡1のXYZステージ8aの後述する装置座標(XY座標)58と装置座標原点58oとがnm精度で繰り返し一致するような、XY座標58と装置座標原点58oとを有している。
第1位置決め制御部8gは、リニアスケール8bの情報を基に、各ステージのモータなどの駆動装置8xa,8ya,8zaを駆動制御する。すなわち、第1位置決め制御部8gにより、リニアスケール8bの情報を基に、X軸ステージ8xとY軸ステージ8yとZ軸ステージ8zとは、互いに直交するX軸とY軸とZ軸とにnm精度例えば10nm分解能のサーボ制御にて移動可能としている。
第1位置決め装置8は、試料台6を位置決め保持する第1位置決め部28を有するとともに、第1位置決め部28が受渡し位置Iに位置したのち、第1位置決め部28と搬送装置5の試料台位置決め保持部25との間で試料台6を受渡しする。第1位置決め部28は、試料台6の受渡しを行う受渡し位置Iの他に、座標位置を取得する第1基準マーク撮像基準位置と、観察を行う単数又は複数の第1観察位置とにそれぞれ移動可能としている。本実施形態では、受渡し位置Iと第1基準マーク撮像基準位置とが第1非観察位置の例である。非観察位置とは、観察位置以外の位置であって、試料台6の受渡し動作又は装置座標等を取得する動作を行うための位置である。第1位置決め部28の第1基準マーク撮像基準位置は、第1位置決め装置8において予め決められており、例えば、座標計算を簡単にするため、2つの基準点6b,6cの中間にY軸が位置し、X軸が試料載置領域6aを横切るような位置(図13の左側の座標を参照)などに決めればよい。
第1位置決め部28は、図11及び図12に示すように、第1位置決め部28に対する搬送装置5による搬入方向(図12の左方向)の先端の一対の切欠部6dにそれぞれ係合可能な一対の位置決め突起28aと、試料台6の搬入方向と交差する方向の一対の端部の裏面を支持する一対の支持部28b,28cと、搬入方向の後端の1つの切欠部6dに係合可能なロック部28d先端に有して支持軸28f周りに正逆回転可能なレバー28eと、レバー28eを正逆回転駆動するモータなどのロック部駆動装置28hと、試料台位置決め保持部25による試料台搬入搬出用の開口部28gとを有している。
よって、試料台位置決め保持部25から第1位置決め部28に試料台6を渡すときは、以下のように動作する。
まず、第1位置決め部28が受渡し位置Iに位置したのち、搬送装置5の試料台位置決め保持部25の第1位置決めピン25bと第2位置決めピン25dとで位置決めされつつ支持台部25cで下から支持されている状態の試料台6が、試料台位置決め保持部25と共に搬入方向から第1位置決め部28の上方まで進退装置5cで移動する。
次いで、昇降装置5dで試料台6と共に試料台位置決め保持部25が下降して、試料台位置決め保持部25が開口部28g内に入るとともに、試料台6の搬入方向と交差する方向の一対の端部の裏面を、第1位置決め部28の一対の支持部28b,28cで支持したのち、昇降装置5dによる試料台位置決め保持部25の下降を停止する。
次いで、第1位置決め部28のレバー28eをロック部駆動装置28hにより一点鎖線の退避位置から反時計周りに回転させて、搬入方向の後端の1つの切欠部6dに係合させるとともに、第1位置決め部28の一対の位置決め突起28aを、試料台6の搬入方向の先端の一対の切欠部6dに係合させる。この結果、試料台6を第1位置決め部28に位置決め保持する。
次いで、搬送装置5の試料台位置決め保持部25を搬送装置5の昇降装置5dによりさらに下降させて、支持台部25cによる試料台6の支持を解除したのち、進退装置5cで試料台位置決め保持部25を第1位置決め部28の開口部28gから反搬入方向に退避することにより、試料台6を試料台位置決め保持部25から第1位置決め部28に渡すことができる。
その後、第1位置決め装置8の駆動により、まず、第1基準マーク撮像基準位置に第1位置決め部28を位置決めして、第1基準マーク撮像基準位置での試料台6の画像を第1画像取得部41で取得したのち、第1位置決め部28を第1観察位置まで移動させて、第1顕微鏡1で観察を行う。
逆に、第1位置決め部28から試料台位置決め保持部25に試料台6を受け取るときは、以下のように動作する。
まず、第1位置決め装置8の駆動により、第1位置決め部28を試料台受渡し位置Iまで移動させたのち、進退装置5cで試料台位置決め保持部25を第1位置決め部28の下方まで搬入方向に移動させる。
次いで、昇降装置5dで試料台位置決め保持部25を上昇させて開口部28g内に入り込ませて、支持台部25cにより試料台6を下から支持する。
次いで、第1位置決め部28のレバー28eをロック部駆動装置28hにより切欠部6dに係合した位置から一点鎖線の退避位置まで時計周りに回転させて、係合解除する。
次いで、さらに、昇降装置5dで試料台6と共に試料台位置決め保持部25を上昇させれば、試料台6を第1位置決め部28の位置決め保持状態から解除することができる。
次いで、進退装置5cで試料台6と共に試料台位置決め保持部25を第1位置決め部28の開口部28gから反搬入方向に退避することにより、試料台6を第1位置決め部28から試料台位置決め保持部25に受け取ることができる。
なお、試料台位置決め保持部25の支持台部25cは、試料台6の裏面の搬入方向の前後の端部を支持する一方、支持部28b,28cは、搬入方向と交差する方向の一対の端部を支持するため、支持台部25cと支持部28b,28cとが当接することなく、試料台6を第1位置決め部28と試料台位置決め保持部25との間で円滑に受渡しすることができる。
第1画像取得部41は、蛍光選択フィルタ(不図示)と観察用カメラ(例えば、CCDカメラ)とを有しており、蛍光選択フィルタでの波長選択により目的の波長で表示された蛍光画像をCCDカメラで検出してデジタル信号を取得する。第1位置決め部28が第1基準マーク撮像基準位置に位置決めされたとき、及び、第1位置決め部28が単数又は複数の第1観察位置に位置決めされたとき、第1画像取得部41は、取得したデジタル信号を基に、第1位置決め部28に位置決めされた試料台6の画像をそれぞれ取得して、試料台6の試料載置領域6aに載置された試料7の観察対象組織35を含む第1領域抽出窓37の画像をそれぞれ取得する。取得した画像は、記憶部50に記憶する。ここで、第1領域抽出窓37は、試料載置領域6内に位置し、かつ、単数又は複数の観察対象組織35を含むように、ユーザが、キーボード又はマウス又は音声入力などの入出力装置48により設定できる。第1領域抽出窓37の一例としては、4個の頂点の座標位置を指定することにより定義できる、四角形の仮想の領域抽出窓である。実際の例としては、ユーザに、第1領域抽出窓37を設定するように促す抽出窓設定部70を制御部11に備えるようにしてもよい。第1位置決め部28が第1基準マーク撮像基準位置に位置決めされたときには、第1位置決め装置8の装置座標原点58oに対する装置座標58を取得するための試料台6の画像と共に、第1基準マーク撮像基準位置での第1領域抽出窓37の画像も第1画像取得部41で取得する。
第1座標取得部21は、第1画像取得部41で取得した第1基準マーク撮像基準位置での試料台6の画像から、試料台6の第1試料台座標31の座標位置を取得する。具体的には、第1座標取得部21においては、第1基準マーク撮像基準位置での試料台6の画像から、パターンマッチングなどにより、試料台6の2つの基準点6b,6cの位置を抽出して、抽出した2つの基準点6b,6cの座標位置を求める。ここでの座標位置は、図13に示すように、第1位置決め装置8の装置座標原点58oに対する装置座標58の座標位置である。なお、装置座標58はx軸58x及びy軸58yで構成されている。これらの2つの基準点6b,6cの座標位置のうち、一方の基準点(例えば、搬入方向先端側の基準点)6bの座標位置を第1試料台座標31の原点位置31oとし、2つの基準点6b,6cの座標位置を結ぶ線31xを第1試料台座標31のx軸とする。第1試料台座標31の原点位置31oを通りかつ第1試料台座標31のx軸31xと直交する軸が、第1試料台座標31のy軸31yとなる。このようにして、原点位置31oとx軸31xとy軸31yとにより第1試料台座標31が定義できる。取得した第1試料台座標31の座標位置などの情報は、記憶部50に記憶する。
第1抽出窓座標取得部23は、第1画像取得部41で取得した第1基準マーク撮像基準位置での試料台6の画像、及び、例えば、ユーザが指定した第1領域抽出窓37の4個の頂点の位置を基に、第1基準マーク撮像基準位置での試料台6の第1試料台座標31における試料台6の試料7の第1領域抽出窓37の4個の頂点の座標位置を取得する。取得した情報及び設定した情報は、記憶部50に記憶する。
共焦点顕微鏡は、大気中で試料7を観察可能であるが、走査型電子顕微鏡は、真空中で試料7を観察するため、気圧調整のためのロードロック室ユニット60と回転搬送装置66とが必要となる。この実施形態では、第2顕微鏡2の一例が走査型電子顕微鏡であるため、図2、図3、及び図14に示すように、第2顕微鏡2に隣接してロードロック室ユニット60と回転搬送装置66とを配置している。詳しくは以下に詳述するが、ロードロック室ユニット60内には、搬送部材61を備えて、搬送装置5の試料台位置決め保持部25と搬送部材61との間で試料台6を受渡しし、ロードロック室ユニット60のロードロック室60aを大気圧から真空圧まで減圧したのちは、搬送部材61と回転搬送装置66との間で試料台6を受渡しするとともに、第2顕微鏡2の真空室2a内の回転搬送装置66の回転搬送アーム67と第2顕微鏡2の第2位置決め装置9との間で試料台6を受渡しする。
ロードロック室ユニット60は、図14及び図15に示すように、搬送部材61と、搬送部材駆動装置62と、真空吸引装置63と、大気側の第1開閉装置64と、真空側の第2開閉装置65とを備えている。搬送部材61は、ロードロック室60a内で、搬送装置5の試料台位置決め保持部25との間で試料台6を受渡し可能とするとともに、後述する回転搬送アーム67との間でも試料台6を受渡し可能としている。搬送部材駆動装置62は、搬送部材61を長手軸方向沿いに進退駆動する、エアシリンダ又はモータとギヤとの組み合わせなどで構成される。
搬送部材61は、先端部が二股部61aに分岐して、分岐した隙間61bに、試料台位置決め保持部25の第1位置決めピン25b及び回転搬送アーム67の第1位置決めピン61bがそれぞれ挿入可能としている。
よって、試料台位置決め保持部25から搬送部材61に試料台6を渡すときは、試料台位置決め保持部25がロードロック室60a内に入って後述する受渡し位置IIIに位置したのち、搬送部材61が退避位置から受渡し位置IIIに移動して、搬送部材61の二股部61aが試料台位置決め保持部25の試料台6と試料台位置決め保持部25との隙間内に入り込み、搬送部材61の分岐した隙間61bに試料台位置決め保持部25の第1位置決めピン25bが挿入される。その後、試料台位置決め保持部25が下降する。すると、搬送部材61の二股部61aで試料台6の裏面が支持可能となり、試料台位置決め保持部25から試料台6を回転搬送アーム67の保持枠部67aに受け取ることができる。その後、試料台6を支持した搬送部材61が退避位置まで移動したのち、試料台位置決め保持部25がロードロック室60aから退避する。
一方、搬送部材61から回転搬送アーム67に試料台6を渡すときは、回転搬送アーム67の保持枠部67aがロードロック室60a内に入ってきて、受渡し位置IIIに位置した搬送部材61の下方に、回転搬送アーム67の第1位置決めピン67bが位置したのち、回転搬送アーム67の保持枠部67aが上昇すると、搬送部材61の分岐した隙間61bに回転搬送アーム67の第1位置決めピン67bが挿入される。すると、二股部61aで支持されていた試料台6の裏面を、回転搬送アーム67の一対の支持台部67cで支持可能となり、搬送部材61から試料台6を回転搬送アーム67に受け取ることができる。その後、搬送部材61が退避位置まで移動したのち、試料台6を支持した試料台位置決め保持部25がロードロック室60aから退避する。
逆に、回転搬送アーム67から搬送部材61が試料台6を受け取るときは、搬送部材61が退避位置に位置した状態で、試料台6を支持した回転搬送アーム67の保持枠部67aがロードロック室60a内に入ってきて、受渡し位置IIIに位置する。次いで、搬送部材61が退避位置から受渡し位置IIIに移動して、搬送部材61の二股部61aで試料台6の裏面を支持したのち、回転搬送アーム67の保持枠部67aが下降する。すると、試料台6は搬送部材61の二股部61aでのみ支持された状態となり、回転搬送アーム67の保持枠部67aはロードロック室60aから退避する。
さらに、搬送部材61から試料台位置決め保持部25に試料台6を渡すときは、試料台6を支持した搬送部材61が退避位置に位置した状態で、試料台位置決め保持部25がロードロック室60a内に入ってきて、受渡し位置IIIでかつ搬送部材61の下方に位置する。次いで、試料台位置決め保持部25が上昇して、試料台位置決め保持部25で試料台6を支持する。その後、搬送部材61が退避位置に移動すると、試料台位置決め保持部25でのみ試料台6を支持することになる。その後、試料台6を支持した試料台位置決め保持部25がロードロック室60aから退避する。
搬送部材駆動装置62は、搬送部材61を長手方向に進退駆動させて、搬送部材61の先端部に支持した試料台6の、試料台位置決め保持部25との受渡し位置IIIと、回転搬送アーム67との受渡し位置IIIと、退避位置とに搬送部材61がそれぞれ移動可能としている。この例では、試料台位置決め保持部25との受渡し位置IIIと回転搬送アーム67との受渡し位置IIIとは同一位置としているが、異なる位置としてもよい。搬送部材61の退避位置では、搬送部材61が試料台位置決め保持部25及び回転搬送アーム67と接触しない位置としている。
ロードロック室60aの搬送装置側すなわち大気側の第1開閉ドア64aを第1開閉装置64で開閉可能としている。また、ロードロック室60aの搬送アーム側すなわち真空側の第2開閉ドア65aを第2開閉装置65で開閉可能としている。
ロードロック室60aの大気側の第1開閉ドア64aを開閉するときは、搬送部材61を受渡し位置III又は退避位置に位置させた状態で、ロードロック室60aの圧力を大気圧まで上昇させたのち、大気側の第1開閉ドア64aを開ける。その後、ロードロック室60aの大気側の第1開閉ドア64aを開けた状態で、搬送装置5の試料台位置決め保持部25がロードロック室60a内に入り込んで試料台6を受渡しし、試料台位置決め保持部25がロードロック室60aから取り出されたのち、大気側の第1開閉ドア64aを閉じる。その後、ロードロック室60aを真空にするときは、真空吸引装置63を駆動する。真空になったのちは、ロードロック室60aの真空側の第2開閉ドア65aを開けて、回転搬送アーム67の保持枠部67aがロードロック室60a内に入り込んで、搬送部材61を受渡し位置IIIに位置させた状態で試料台6を受渡しし、回転搬送アーム67の保持枠部67aと共に試料台6がロードロック室60aから取り出されたのち、真空側の第2開閉ドア65aを閉じる。
逆に、真空から大気圧にするときは、図示しない開放弁を動作制御部49で動作制御して、大気圧に開放する。
回転搬送装置66は、図16〜図17に示すように、C字状に屈曲した回転搬送アーム67と、回転搬送アーム67を正逆回転する回転搬送駆動装置68とで構成されている。回転搬送駆動装置68は、正逆回転駆動するモータ68aと、ウォーム68bと、ギア68cと、回転軸68dと、昇降装置68eとで構成されている。モータ68aが正逆回転駆動されると、モータ68aの回転軸に固定されたウォーム68bが正逆回転し、ウォーム68bと噛み合ったギア68cに固定された回転軸68dが正逆回転する。
回転搬送アーム67は、C字状の保持枠部67aと、保持枠部67aの下部中央部に立設した第1位置決めピン67bと、第1位置決めピン67bの両側に張り出して試料台6の裏面を支持する一対の支持台部67cとを備えている。
よって、第1位置決めピン67bは、試料台6の裏面中央の位置決め凹部6fに嵌合した状態で、一対の支持台部67cで試料台6の裏面を支持して保持できるようにしている。
回転搬送アーム67は、回転搬送アーム67の保持枠部67aがロードロック室60a内に入り込んで搬送部材61との間で試料台6を受渡しする位置と、第2顕微鏡2の第2位置決め装置9との間で試料台6を受渡しする位置との間で回転移動可能としている。昇降装置68eは、エアシリンダ等で構成され、回転搬送アーム67を回転軸方向沿いに昇降可能としている。
第2位置決め装置9は、第2顕微鏡2の下部に配置されている。図18に示すように、第2位置決め装置9は、例えば、XYZステージ9aと、リニアスケール9bと、第2位置決め制御部9gとで構成されている。
XYZステージ9aは、X軸ステージ9xとY軸ステージ9yとZ軸ステージ9zとで構成されている。XYZステージ9aは、X軸ステージ9xでX軸方向に進退可能であり、Y軸ステージ9yでY軸方向に進退可能であり、Z軸ステージ9zでZ軸方向に進退可能である。
リニアスケール9bは、XYZステージ9aのX軸ステージ9xとY軸ステージ9yとZ軸ステージ9zとの各軸に配置されて、リニアエンコーダとも呼ばれ、nmオーダの測長器であり、これを用いてPID制御によりXYZステージ9aの位置決めを行っている。各リニアスケール9bは、固定側エンコーダヘッドから可動側ガラススケールにレーザが照射され、可動側ガラススケールで反射されて受光される光を基に可動側ガラススケールの目盛を固定側エンコーダヘッドでnm精度で取得する。すなわち、各軸の位置座標を固定側エンコーダヘッドでnm精度で取得できるように構成している。従って、第2顕微鏡2のXYZステージ9aのステージ座標系分解能と位置精度、すなわち、第2顕微鏡2のXYZステージ9aの後述する装置座標(XY座標)59と装置座標原点59oとがnm精度で繰り返し一致するような、XY座標59と装置座標原点59oとを有している。
よって、第1顕微鏡1のXYZステージ8aの装置座標(XY座標)58と装置座標原点58oとに対する試料台6の2つの基準点6b,6cの座標位置は、第2顕微鏡2のXYZステージ9aの装置座標(XY座標)59と装置座標原点59oとに対する試料台6の2つの基準点6b,6cの座標位置とnm精度で一致させれば、後は、装置座標(XY座標)58と装置座標原点58oに対する第1領域抽出窓37の座標位置と、装置座標(XY座標)59と装置座標原点59oに対する第2領域抽出窓38の座標位置とをnm精度で一致させるように位置制御すれば、同一観察位置を観察することが可能になる。
第1位置決め制御部9gは、リニアスケール9bの情報を基に、各ステージのモータなどの駆動装置9xa,9ya,9zaを駆動制御する。すなわち、第1位置決め制御部9gにより、リニアスケール9bの情報を基に、X軸ステージ9xとY軸ステージ9yとZ軸ステージ9zとは、互いに直交するX軸とY軸とZ軸とにnm精度例えば10nm分解能のサーボ制御にて移動可能としている。
第2位置決め装置9は、試料台6を位置決め保持する第2位置決め部29を有するとともに、第2位置決め部29が受渡し位置IIに位置したのち、第2位置決め部29と搬送装置5の試料台位置決め保持部25との間で試料台6を受渡しする。第2位置決め装置9の一例としては、第1位置決め装置8と同様なXYZステージである。第2位置決め部29は、試料台6の受渡しを行う受渡し位置IIの他に、座標位置を取得する第2基準マーク撮像基準位置と、観察を行う単数又は複数の第2観察位置とにそれぞれ移動可能としている。本実施形態では、受渡し位置IIと第2基準マーク撮像基準位置とが第2非観察位置の例である。第2位置決め部29の第2基準マーク撮像基準位置は、第2位置決め装置9において予め決められており、例えば、座標計算を簡単にするため、第1基準マーク撮像基準位置と同様に、2つの基準点6b,6cの中間にY軸が位置し、X軸が試料載置領域6aを横切るような位置などに決めればよい。
第2位置決め部29は、図14及び図19に示すように、一対の位置決め突起29aをC字状先端に有するスライド板部材29dと、スライド板部材29dの先端に対向する3枚の屈曲した係止面29cと、試料台6の一対の端部の裏面を支持する一対の支持部29bと、スライド板駆動装置29eと、回転搬送アーム67による試料台搬入搬出用の開口部29gを有している。スライド板部材29dは、超音波モータやシールド型磁気モータなどのスライド板駆動装置29eにより長手軸方向沿いに退避位置と係合位置との間で進退駆動される。
受渡し位置IIの第2位置決め部29に対して、試料台6を保持した回転搬送アーム67の下降により試料台6が搬入されるとき、試料台6の回転搬送アーム67の先端軸方向と交差する方向(図19の左右方向)の一対の端部の裏面は、一対の支持部29bで支持される状態となる。この状態で、回転搬送アーム67の先端軸方向と交差する方向(例えば、図19の左方向に)にスライド板部材29dが退避位置から係合位置に向けて移動すれば、一対の位置決め突起29aが、試料台6の片側の一対の(図19では右側の一対の)切欠部6dにそれぞれ係合するとともに、回転搬送アーム67の先端軸方向と交差する方向(図19の左方向に)に試料台6をスライド板部材29dで押すことができる。この押す動作により、試料台6の他方の片側の鍔部6hが、屈曲した係止面29cに向かって押し付けられて係止される。3枚の屈曲した係止面29cは、平面的にはスライド板部材29dの中心軸に対して線対称に配置され、等脚台形の上底と一対の斜辺である脚とを構成するように平面的に配置され、かつ、上下方向に対しては、回転搬送アーム67の先端軸方向と交差する方向(図19の左方向に)に向かうに従い下向きに傾斜する傾斜面で構成されている。従って、スライド板部材29dで試料台6を押すと、試料台6の鍔部6hが屈曲した係止面29cのうちの中央を除く両側の2枚の係止面29cに押し当てられて、平面的には2枚の係止面29cでセンタリングされることになり、常に一定位置に試料台6が位置決めされる一方、2枚の係止面29cで鍔部6hが下向きに押し付けられて、スライド板部材29dでの押圧時に、回転搬送アーム67の先端軸方向と交差する方向に対して鍔部6hが上向きに跳ね上がるのを防止することができる。
よって、搬送アーム67から第2位置決め部29に試料台6を渡すときは、以下のように動作する。
まず、第2位置決め部29が受渡し位置IIに位置したのち、搬送アーム67の第1位置決めピン67bで位置決めされつつ支持台部67cで下から支持されている状態の試料台6が、保持枠部67aと共に第2位置決め部29の上方まで回転搬送駆動装置68により回転移動する。
次いで、回転搬送アーム67の保持枠部67aが試料台6と共に昇降装置68eにより下降して、保持枠部67aが開口部29g内に入り、試料台6の回転搬送アーム67の先端軸方向と交差する方向の一対の端部の裏面を、第2位置決め部29の一対の支持部29bで支持したのち、昇降装置68eによる下降を停止する。
次いで、第2位置決め部29のスライド板部材29dをスライド板駆動装置29eにより退避位置から係合位置に向けて移動させて、一対の位置決め突起29aを回転搬送アーム67の先端軸方向において片端側の一対の切欠部6dに係合させるとともに、スライド板部材29dで試料台6を押す。この結果、回転搬送アーム67の先端軸方向において他方の片端側の試料台6の鍔部6hを係止面29cに向かって押し付けてセンタリングしつつ係止する。この状態で、試料台6は、係止面29cと一対の位置決め突起29aとの間で位置決め保持されている。
次いで、昇降装置68eによる搬送アーム67のさらなる下降により、支持台部67cでの試料台6の支持を解除し、搬送アーム67の保持枠部67aが第2位置決め部29の開口部29gから離れる方向に回転移動させることにより、試料台6を搬送アーム67から第2位置決め部29に渡すことができる。
その後、第2位置決め装置9の駆動により、まず、第2基準マーク撮像基準位置に第2位置決め部29を位置決めして、第2基準マーク撮像基準位置での試料台6の画像を第2画像取得部42で取得したのち、第2位置決め部29を第2観察位置まで移動させて、第2顕微鏡2で観察を行う。
逆に、第2位置決め部29から搬送アーム67に試料台6を受け取るときは、以下のように動作する。
まず、第2位置決め装置9の駆動により、第2位置決め部29を試料台受渡し位置IIまで移動させたのち、搬送アーム67の保持枠部67aを第2位置決め部29の下方まで回転移動させる。
次いで、搬送アーム67の保持枠部67aを昇降装置68eで上昇させて開口部29g内に入り込ませて、支持台部67cにより試料台6を下から支持する。
次いで、第2位置決め部29のスライド板部材29dをスライド板駆動装置29eにより係合位置から退避位置に向けて移動させて、一対の位置決め突起29aを回転搬送アーム67の先端軸方向において片端側の一対の切欠部6dから係合解除させる。
次いで、さらに、試料台6と共に保持枠部67aを昇降装置68eで上昇させれば、試料台6を第2位置決め部29の位置決め保持状態から解除することができる。
次いで、回転搬送駆動装置68により試料台6と共に搬送アーム67の保持枠部67aを第2位置決め部29の開口部29gから退避するように搬送アーム67を回転移動することにより、試料台6を第2位置決め部29から保持枠部67aに受け取ることができる。
なお、搬送アーム67の保持枠部67aの支持台部67cは、試料台6の裏面の回転搬送アーム67の先端軸方向と交差する方向の前後の端部を支持する一方、第2位置決め部29の支持部29bは、回転搬送アーム67の先端軸方向の一対の端部を支持するため、支持台部67cと支持部29bとが当接することなく、試料台6を第2位置決め部29と保持枠部67aとの間で円滑に受渡しすることができる。
第2画像取得部42は、一例として、第2位置決め部29に位置決めされた試料台6に対して電子線を走査制御して得られた二次電子等を検出部(不図示)で検出して、I−Vアンプ(不図示)にて電気信号に変え、A・Dコンバータ(不図示)で変換して、SEM画像を取得する。第2位置決め部29が第2基準マーク撮像基準位置に位置決めされたとき、及び、第2位置決め部29が単数又は複数の第2観察位置に位置決めされたとき、第2画像取得部42は、さらに、取得した試料台6の画像を基に、試料台6の第1領域抽出窓37に対応する第2領域抽出窓38の画像をそれぞれ取得する。取得した画像は、記憶部50に記憶する。ここで、第2領域抽出窓38は、第1領域抽出窓37と同じ大きさで、試料台6に対して第1領域抽出窓37と同じ位置に位置している。第2位置決め部29が第2基準マーク撮像基準位置に位置決めされたときには、第2基準マーク撮像基準位置での第2領域抽出窓38の座標位置を第2画像取得部42で取得する。
第2座標取得部22は、第2画像取得部42で取得した第2基準マーク撮像基準位置での試料台6の画像から、試料台6の第2試料台座標32の座標位置を取得する。具体的には、第2座標取得部22においては、第1座標取得部21と同様に、第2基準マーク撮像基準位置での試料台6の画像から、パターンマッチングなどにより、試料台6の2つの基準点6b,6cの位置を抽出して、抽出した2つの基準点6b,6cの座標位置を求める。ここでの座標位置は、図19に示すように、第2位置決め装置9の装置座標原点59oに対する装置座標59の座標位置である。なお、装置座標59はx軸59x及びy軸59yで構成されている。これらの2つの基準点6b,6cの座標位置のうち、一方の基準点(例えば、搬入方向先端側の基準点)6bの座標位置を第2試料台座標32の原点位置32oとし、2つの基準点6b,6cの座標位置を結ぶ線32xを第2試料台座標32のx軸とする。第2試料台座標32の原点位置32oを通りかつ第2試料台座標32のx軸32xと直交する軸が、第2試料台座標32のy軸32yとなる。このようにして、原点位置32oとx軸32xとy軸32yとにより第2試料台座標32が定義できる。取得した第2試料台座標32の座標位置などの情報は、記憶部50に記憶する。
第2抽出窓座標取得部24は、記憶部50に記憶されかつ第1座標取得部21で取得した第1試料台座標31の座標位置と第2座標取得部22で取得した第2試料台座標32の座標位置との差を記憶部50からそれぞれ取得する。このとき、第1試料台座標31のx軸31xと第2試料台座標32のx軸32xとでなす回転角度θも求めて、第1試料台座標31に対する第2試料台座標32の回転角度も、差の一部とする。取得した差を基に、第2試料台座標32の座標位置を補正して、第1領域抽出窓37に対応する第2領域抽出窓38の補正後の座標位置を取得する。取得した情報は、記憶部50に記憶する。
特徴部記憶部45は、第1画像取得部41で取得された第1領域抽出窓37の画像のうちの観察対象組織35の複数個の特徴部44を記憶する。特徴部44の例としては、ユーザが指定する組織35の部分的な外形形状、全体的な形状、濃度などが例示できる。抽出した情報は、記憶部50に記憶する。
画像処理部46は、特徴部記憶部45に記憶した複数個の特徴部44を持つテンプレート33を作成し、このテンプレート33に基づき、第2画像取得部42で取得された第2領域抽出窓38の画像でパターンマッチングを行う。パターンマッチングでテンプレート33が第2領域抽出窓38の画像中の組織35bに一致すると判定されると、その結果情報は、記憶部50に記憶する。
画像合成部47は、画像処理部46でのパターンマッチングの結果を基に、第1領域抽出窓37の画像のうちの観察対象組織35と第2領域抽出窓38の画像中の組織35bとが一致するように、第1領域抽出窓37の画像と第2領域抽出窓38の画像とを重ね合わせて合成する。合成した画像情報は、記憶部50に記憶する。
必要に応じて、動作制御部49は、合成した画像をモニタ4に表示する。表示された画像は、形状が明瞭でかつ蛍光部分が重ねて合成されて表示されている。この結果、組織の輪郭等の形状の明確な把握と、蛍光部分による組織の機能評価とが同時に行うことができる。
試料7の例としては、以下の試料7を使用することができる。
試料作製 参考例
(試料作製)
ラットの神経組織であるアストロサイトに対し、以下の手順により免疫染色を行った。
1)4%パラフォルムアルデヒドを含む0.1M PB(Phosphate Buffer)で還流固定後、浸漬固定した(3時間)。
2)20%シュークロースを含む0.1M PBで洗浄した(4℃、一晩)。
3)a.カミソリによる切断、b.SEM用凍結割断、c.ビブラトーム切片(100μm厚)などの、各用途に応じた技法により神経(脊髄)組織を小さな試料に分けた。
4)0.1M PB洗浄(5分×3回)
5)0.8% fish gelatin、1% 牛血清アルブミン, 0.2%Triton X-100を含む0.1M PBS(PBSTBF)でブロッキングした(室温、1時間)。
6)抗グリア線維性酸性蛋白Glial fibrillary acidic protein (GFAP)マウスモノクローナル抗体(1: 20,000; Sigma) in PBSTBF(4℃、14時間)。コントロールはPBSTBFのみでインキュベートした。
7)0.1M PB洗浄(5分×3回)
8)ビオチン標識抗マウス抗体(1: 400; Jackson Lab) in PBSTBF(室温、90分)
9)0.1M PB洗浄(5分×3回)
10)Fluolid-labeled streptavidin in 10m M HEPES, 0.15M NaCl (pH7.3), 室温, 90分AMCA(7-amino-4-methylcoumarine-3-acetic acid)標識ストレプトアビジン(1: 200; Jackson Lab) in PBSTBF, 室温,90分。
但し、希釈倍率はFluolidの製作過程により変動する。
11)0.1M PB洗浄(5分×3回)
なお、本参考例及び以下の参考例中、Fluolidとは、国際公開第2008/013260号パンフレットに記載された蛍光色素を指す。
参考例3)c.ビブラトーム切片による試料
(試料作製)
ラットの腎(尿細管)に対し、以下の手順により免疫染色を行った。
1)2.8%パラホルムアルデヒド−0.2%ピクリン酸−0.06%グルタールアルデヒド−0.1MPBで還流固定後、4%パラホルムアルデヒドin PBにて後固定を行い、4℃で保存した。
2)ビブラトームで1mmの試料を作製し、PBS (0.01M)で洗浄した(4℃、1日)。
3) Biotinylated Peanut Agglutinin(PNA)(Vector)in PBS (4℃、4日)(1:100)
4)PBS洗浄(4℃、20分×3)
5)蛍光色素付加(4℃、1日)
Streptavidin-Fluolid-W-Orange in PBS(1:10)
6)PBS洗浄(4℃,20分×3)
7)アセトン脱水 (50-75-85-95-100 %上昇系脱水)
8)標識・脱水後の試料を親水性プラスチック(テクノビット8100)にて包埋後、光顕用ダイヤモンドナイフとウルトラミクロトームを用い約2μm厚の切片を作製した。
9)試料搭載用の板に、ウェハ用Si基板を3mm角程度に割ったものを用い、その上に試料を載せた。
10)基板試料にイオンエッチングを行い切片試料とした。イオンエッチング(真空デバイス社製PIB−10)を用い、ソフトモードで3分、ハードモードで3分を3回で行った。
11)試料をオスミウムプラズマコーター(真空でバイス社製:HCP1SW)にて2.5nm厚の金属コーティング行った。
試料台投入装置69は、開口部69bを挟んで一対の支持部69aを有して、試料台6の裏面の一対の端部を支持している。開口部69bには、搬送装置5の搬送アーム5bの試料台位置決め保持部25が挿入可能である。ユーザが、試料7を固定した試料台6を一対の支持部69aで、試料台6の4つの切欠き部6dを利用しつつ位置決め支持するように、試料台投入装置69にセットする。
このようにセットされると、一対の支持部69aで試料台6の裏面の一対の端部を支持している状態となっており、試料台位置決め保持部25が開口部69bの下方に移動して、昇降装置5dで上昇すると、試料台位置決め保持部25の保持枠部25aの第1位置決めピン25bと第2位置決めピン25dとで位置決めしつつ一対の支持台部25cで、一対の支持部69aで支持されていない試料台6の裏面の端部を支持する。さらに、昇降装置5dで上昇すると、一対の支持部69aでの支持が解除されて、試料台位置決め保持部25で試料台6が保持されることになる。その後、第1及び第2顕微鏡1,2に対して搬送を開始する。第1及び第2顕微鏡1,2での観察が終了すると、搬送装置5により、試料台投入装置69に試料台6を戻す。
試料台投入装置69に試料台6を戻すときは、試料台位置決め保持部25と共に試料台6が開口部69bの上方に位置したのち、下降する。すると、一対の支持部69aで試料台6の裏面の一対の端部が支持されるようになり、さらに下降すると、一対の支持台部25cでの支持が解除されて、試料台位置決め保持部25から試料台投入装置69に試料台6を戻すことができる。
以下、前記構成にかかる相関顕微鏡10の動作について、説明する。なお、ユーザの動作を除く以下の動作は、動作制御部49で全て動作制御される。
まず、最初に、試料7を両面テープなどで試料台6の試料載置領域6aに貼り付けた試料台6を、ユーザが試料台投入装置69にセットする(図20のステップS1参照)。
次いで、ユーザが、第1顕微鏡1と第2顕微鏡2との観察順序に基づく搬送ルートを選択して、入出力装置48で動作制御部49に入力する(図20のステップS2参照)。ここでは、搬送ルートは、第1顕微鏡1から第2顕微鏡2に向かう第1搬送ルートと、第2顕微鏡2から第1顕微鏡1に向かう第2搬送ルートとのいずれかを選択する。
次いで、搬送装置5の搬送アーム5bの試料台位置決め保持部25が、試料台投入装置69から試料台6を取り出して、搬送ルートに基づいて顕微鏡に向かう。ここでは、第1顕微鏡1に最初に搬送すると決定されたと仮定して、第1顕微鏡1に向けて搬送する。
次いで、搬送装置5の搬送アーム5bの試料台位置決め保持部25に保持された試料台6を、第1顕微鏡1の第1位置決め装置8の第1位置決め部28に受け渡す。このとき、第1位置決め部28は、受渡し位置Iまで予め移動して待機している。第1位置決め部28の受渡し位置Iの上方に搬送装置5の試料台位置決め保持部25を位置させたのち下降して、搬送装置5の試料台位置決め保持部25から第1位置決め部28に試料台6を渡して、試料台6を第1位置決め部28で位置決め保持する。その後、試料台位置決め保持部25は第1位置決め装置8から退避する。
次いで、第1位置決め装置8の駆動により、第1位置決め部28で位置決め保持された試料台6を、まず、受渡し位置Iから第1基準マーク撮像基準位置に位置決めしたのち、第1画像取得部41で第1位置決め部28に位置決めされた試料台6の画像を取得して、試料台6の試料載置領域6aに載置された試料7の観察対象組織35を含む第1領域抽出窓37の画像を取得する。取得した画像は、記憶部50に記憶する。
その後、第1画像取得部41で取得した試料台6の画像から、試料台6の第1試料台座標31の座標位置を第1座標取得部21で取得し、記憶部50に記憶する。
次いで、ユーザが指定した第1領域抽出窓37の4個の頂点の位置を基に、第1基準マーク撮像基準位置での試料台6の第1試料台座標31における試料台6の試料7の第1領域抽出窓37の4個の頂点の座標位置を第1抽出窓座標取得部23で取得し、記憶部50に記憶する。
これらの試料7の第1領域抽出窓37の頂点の座標位置の取得動作の後に、又は、座標位置の取得動作と同時的に、第1位置決め装置8の駆動により、第1位置決め部28で位置決め保持された試料台6を、第1基準マーク撮像基準位置から、ユーザが所望する第1観察位置まで移動させたのち、第1顕微鏡1で観察を行う(図20のステップS3参照)。観察時、第1画像取得部41で第1位置決め部28に位置決めされた試料台6の画像を取得して、試料台6の試料載置領域6aに載置された試料7の観察対象組織35を含む第1領域抽出窓37の画像を取得する。取得した画像は、記憶部50に記憶する。必要に応じて、複数枚の画像取得を行う。異なる第1観察位置毎に、観察及び画像取得を繰り返す。
次いで、第1顕微鏡1での観察終了後、第2顕微鏡2に向けて試料台6の搬送を行う(図20のステップS4及びステップS5参照)。すなわち、まず、第1位置決め部28は、受渡し位置Iまで移動して待機する。
次いで、搬送装置5の駆動により、試料台位置決め保持部25を、第1位置決め部28の受渡し位置Iの下方に位置させたのち上昇させて、第1位置決め部28の受渡し位置Iで、第1位置決め部28から搬送装置5の試料台位置決め保持部25に試料台6を渡して、試料台位置決め保持部25で試料台6を位置決め保持する。
次いで、搬送装置5の駆動により、試料台位置決め保持部25が第1位置決め装置8から退避する。
次いで、搬送装置5の駆動により、試料台位置決め保持部25がロードロック室60aに向かい、ロードロック室60aの大気側の第1開閉ドア64aを第1開閉装置64で開けたのち、ロードロック室60a内に入る。
次いで、ロードロック室60a内で、試料台6を支持している試料台位置決め保持部25を受渡し位置IIIに位置させたのち、搬送部材61を退避位置から受渡し位置IIIに移動させる。その後、試料台位置決め保持部25を下降させて、試料台位置決め保持部25から搬送部材61に試料台6を渡す。その後、試料台位置決め保持部25をロードロック室60a内から退避させる。
次いで、ロードロック室60aの大気側の第1開閉ドア64aを第1開閉装置64で閉じたのち、真空吸引装置63を駆動してロードロック室60a内を真空にする。
次いで、ロードロック室60aの真空側の第2開閉ドア65aを開けて、第2顕微鏡2の真空室2a内から回転搬送アーム67の保持枠部67aがロードロック室60a内に入り込んで受渡し位置IIIに位置したのち、回転搬送アーム67の保持枠部67aが上昇して、受渡し位置IIIの搬送部材61から回転搬送アーム67の保持枠部67aに試料台6を渡す。
次いで、搬送部材61が退避位置に移動し、試料台6を支持した回転搬送アーム67の保持枠部67aがロードロック室60aから取り出されたのち、真空側の第2開閉ドア65aを閉じる。
次いで、第2顕微鏡2の真空室2a内で、試料台6を支持した回転搬送アーム67が回転して、その保持枠部67aが第2位置決め装置9の第2位置決め部29に向かう。
次いで、回転搬送アーム67に支持された試料台6を、第2顕微鏡2の第2位置決め装置9の第2位置決め部29に受け渡す。このとき、第2位置決め部29は、受渡し位置IIまで予め移動して待機している。第2位置決め部29の受渡し位置IIの上方に回転搬送アーム67の保持枠部67aを位置させたのち下降して開口部29g内に入り、保持枠部67aから第2位置決め部29に試料台6を渡して、試料台6を第2位置決め部29で位置決め保持する。その後、保持枠部67aは第2位置決め装置9から退避する。
次いで、第2位置決め装置9の駆動により、第2位置決め部29で位置決め保持された試料台6を、まず、受渡し位置IIから第2基準マーク撮像基準位置に位置決めしたのち、第2画像取得部42で第2位置決め部29に位置決めされた試料台6の画像を取得して、試料台6の試料載置領域6aに載置された試料7の観察対象組織35を含む第2領域抽出窓38の画像を取得する。取得した画像は、記憶部50に記憶する。
その後、第2画像取得部42で取得した第2基準マーク撮像基準位置での試料台6の画像から、試料台6の第2試料台座標32の座標位置を第2座標取得部22で取得し、記憶部50に記憶する。
次いで、第1顕微鏡1のXYZステージ8aの装置座標(XY座標)58と装置座標原点58oと、第2顕微鏡2のXYZステージ9aの装置座標(XY座標)59と装置座標原点59oとが同じであると仮定し、第2抽出窓座標取得部24は、記憶部50に記憶されかつ第1座標取得部21で取得した第1試料台座標31の座標位置と第2座標取得部22で取得した第2試料台座標32の座標位置との差を記憶部50からそれぞれ取得する。このとき、第1試料台座標31のx軸31xと第2試料台座標32のx軸32xとでなす回転角度θも求める。この結果、取得した差として、第1試料台座標31の座標位置と第2試料台座標32の座標位置との差、及び、第1試料台座標31に対する第2試料台座標32の回転角度を基に、第2試料台座標32の座標位置を補正して、第1領域抽出窓37に対応する第2領域抽出窓38の座標を第2抽出窓座標取得部24で取得し、記憶部50に記憶する。前記差に関する情報も、記憶部50に記憶する。
記憶部50に記憶された情報を基に、第2位置決め装置9の第2位置決め制御部9gの駆動制御により、第2位置決め部29で位置決め保持された試料台6を、第2基準マーク撮像基準位置から、第1位置決め装置8の装置座標58に対する第1領域抽出窓37とほぼ同じ位置に、第2位置決め装置9の装置座標59に対して第2領域抽出窓38が位置するように、nm精度で位置制御する。この位置制御動作により、第1顕微鏡1で観察した第1観察位置に非常に近い位置まで第2領域抽出窓38が自動的に移動することになる。従って、ユーザは、容易に、第1顕微鏡1で観察した第1観察位置と同一位置又は第1顕微鏡1で観察した第1観察位置のnmオーダで非常に近い位置の第2観察位置で、第2顕微鏡2による観察を行うことができる(図20のステップS3参照)。観察時、第2画像取得部42で第2位置決め部29に位置決めされた試料台6の画像を取得して、試料台6の試料載置領域6aに載置された試料7の観察対象組織35を含む第2領域抽出窓38の画像を取得する。取得した画像は、記憶部50に記憶する。必要に応じて、複数枚の画像取得を行う。異なる第2観察位置毎に、観察及び画像取得を繰り返す。
次いで、第2顕微鏡2での観察終了後、試料台投入装置69に向けて試料台6の搬送を行う(図20のステップS4及びステップS6参照)。すなわち、まず、第2位置決め部29は、受渡し位置IIまで移動して待機する。
次いで、回転搬送アーム67の保持枠部67aが開口部29g内に入ったのち上昇して、第2位置決め部29から保持枠部67aに試料台6を渡す。その後、回転搬送アーム67が回転して、その保持枠部67aがロードロック室60aに向かう。
次いで、ロードロック室60aの真空側の第2開閉ドア65aを開けたのち、保持枠部67aが受渡し位置IIIに位置したのち、搬送部材61が退避位置から受渡し位置IIIに位置して、試料台6を支持する。
次いで、回転搬送アーム67の保持枠部67aがロードロック室60aから取り出されたのち、真空側の第2開閉ドア65aを閉じる。
次いで、ロードロック室60aの真空を開放して大気圧としたのち、ロードロック室60aの大気側の第1開閉ドア64aを第1開閉装置64で開ける。
次いで、搬送装置5の駆動により、試料台位置決め保持部25がロードロック室60a内に入って受渡し位置IIIに位置したのち、受渡し位置IIIに位置した搬送部材61から試料台位置決め保持部25に試料台6を渡す。
次いで、搬送装置5の駆動により、試料台6を支持した試料台位置決め保持部25がロードロック室60a内から取り出されたのち、第1開閉ドア64aを第1開閉装置64で閉める。
次いで、搬送装置5の駆動により、試料台6を支持した試料台位置決め保持部25が試料台投入装置69に移動して、試料台6を試料台投入装置69に支持させる。
これで、相関顕微鏡10の一連の動作が終了する。
前記観察の結果として取得した画像については、以下のように処理を行う。この処理は、前記動作と同時的に行うことも可能である。
まず、第1位置決め部28が第1観察位置に位置したときに第1画像取得部41で取得された第1領域抽出窓37の画像のうちの観察対象組織35の複数個の特徴部44を特徴部記憶部45に記憶する。一例として、具体的には、観察対象組織35の特徴的な部分的な外形形状、全体的な形状、又は、濃度などをユーザが入出力装置48を利用して複数個指定することにより、複数個の特徴部44を特徴部記憶部45に記憶することができる。
次いで、画像処理部46は、特徴部記憶部45に記憶した複数個の特徴部44を持つテンプレート33を作成する(図13参照)。このテンプレート33に基づき、第2位置決め部29が第2観察位置に位置したときに第2画像取得部42で取得された第2領域抽出窓38の画像でパターンマッチングを行って、複数個の特徴部44を持つ組織35bを探し出す。パターンマッチングでテンプレート33が第2領域抽出窓38の画像中の組織35bに一致すると判定されると、その結果情報は、記憶部50に記憶する。もし、一致しない判定されたときは、特徴部44の個数又は特徴部44自体を再検討して、パターンマッチングを行い、第2領域抽出窓38の画像中の組織35bに一致するとの判定を取得する。
次いで、画像処理部46でのパターンマッチングの一致判定結果と、第1座標取得部21で取得した第1試料台座標31の座標位置と、第2抽出窓座標取得部24で取得した第2領域抽出窓38の補正後の座標位置とを基に、画像合成部47により、第1領域抽出窓37の画像のうちの観察対象組織35と第2領域抽出窓38の画像中の組織35bとが一致するように、第1領域抽出窓37の画像と第2領域抽出窓38の画像とを重ね合わせて合成する。合成した画像情報は、記憶部50に記憶する。
次いで、モニタ4に合成した画像を表示する。
試料7の第1例として、図21に、合成前後の画像を示す。図21の(a)は、第1画像取得部41で取得された第1領域抽出窓37の画像であって、蛍光顕微鏡で取得した画像である。(b)は、第2画像取得部42で取得された第2領域抽出窓38の画像であって、電子顕微鏡で取得した画像である。(c)は(a)の画像と(b)の画像とを合成した合成画像である。(a)の蛍光顕微鏡で取得した画像のうち、白い部分は、蛍光色素で標識された生体組織の部分である。(b)の電子顕微鏡で取得した画像では、組織の輪郭が明確に把握できる。これらを合成した(c)の合成画像では、輪郭が明確に把握できる組織において、蛍光部分を明確に把握することができる。
また、試料7の第2例として、図22に、腎臓の尿細管の組織の合成前後の画像を示す。図22の(a)は、第1画像取得部41で取得された第1領域抽出窓37の画像であって、蛍光顕微鏡で取得した画像である。(b)は、第2画像取得部42で取得された第2領域抽出窓38の画像であって、電子顕微鏡で取得した画像である。(c)は(a)の画像と(b)の画像とを合成した合成画像である。(a)の蛍光顕微鏡で取得した画像のうち、白い部分は、蛍光色素で標識された生体組織の部分である。特に、太くて短い白の矢印で示した部分は、蛍光色素で標識された生体組織(腎臓の尿細管内の刷子縁)の部分である。細くて長い白の矢印部分は、各図で同一の組織を示す。(b)の電子顕微鏡で取得した画像では、組織の輪郭が明確に把握できる。これらを合成した(c)の合成画像では、輪郭が明確に把握できる組織において、蛍光部分を明確に把握することができる。
また、試料7の第3例として、図23に、人工繊維とゲルとの合成前後の画像を示す。図23の(a)は、第1画像取得部41で取得された第1領域抽出窓37の画像であって、蛍光顕微鏡で取得した画像である。(b)は、第2画像取得部42で取得された第2領域抽出窓38の画像であって、電子顕微鏡で取得した画像である。(c)は(a)の画像と(b)の画像とを合成した合成画像である。(a)の蛍光顕微鏡で取得した画像のうち、白い部分は、水で大きくなるゲルを示しているが、人工繊維が映っていないため、人工繊維との関係が不明瞭である。(b)の電子顕微鏡で取得した画像では、人工繊維は明確に把握できるが、水で大きくなるゲルは全く把握できない。(c)の合成画像では、人工繊維と水で大きくなるゲルとの両方が明確に把握でき、人工繊維に対して、どの部分に水で大きくなるゲルが存在するかがわかる。特に、白の矢印で示した部分は、水で大きくなるゲルである。(b)では、同じ場所を白の矢印で示しても、全くわからない状態である。
また、試料7の第4例として、図24に、マウスの尾骨の組織の合成前後の画像を示す。図24の(a)は、第1画像取得部41で取得された第1領域抽出窓37の画像であって、蛍光顕微鏡で取得した画像である。(b)は、第2画像取得部42で取得された第2領域抽出窓38の画像であって、電子顕微鏡で取得した画像である。(c)は(a)の画像と(b)の画像とを合成した合成画像である。(a)の蛍光顕微鏡で取得した画像のうち、白の矢印で示した白い部分は、蛍光色素で標識された生体組織の部分である。(b)の電子顕微鏡で取得した画像では、組織の輪郭が明確に把握できるが、蛍光色素で標識された生体組織は全くわからない。これらを合成した(c)の合成画像では、輪郭が明確に把握できる組織において、蛍光部分を明確に把握することができる。(d)は拡大前の電子顕微鏡で取得した画像である。
前記実施形態によれば、2つの顕微鏡1,2にそれぞれ位置決めされたときの同一の試料台6の画像及び試料7の観察対象組織35を含む第1領域抽出窓37と第1試料台座標31と第2試料台座標32と第2領域抽出窓38の座標とをそれぞれ取得し、第1試料台座標31と第2試料台座標32との差を基に第2試料台座標32を補正して、第2領域抽出窓38の補正後の座標位置を取得し、補正後の座標位置を基に、第2位置決め装置9は、第2位置決め部29を、第2非観察位置から、第1領域抽出窓37の座標位置に対応する位置に第2領域抽出窓38が位置している第2観察位置に移動させる。この結果、高い精度で同一位置での観察を行うことができる。
また、第1領域抽出窓画像に対応する第2領域抽出窓画像に対してパターンマッチングを行い、第1領域抽出窓画像と第2領域抽出窓画像とを重ね合わせた合成画像を生成することができる。この結果、高い精度で同一位置での合成画像を取得して観察することができる。
すなわち、前記実施形態によれば、以下の優れた効果を奏することができる。
蛍光標識された試料7について光学顕微鏡で例えば数百倍程度の観察倍率で観察を行うことにより、機能情報が得られ、さらに所望の試料領域について走査型電子顕微鏡を用いてさらに高倍率の観察を行うことにより、形態情報が得られる。これらの情報を両方含んだ正確に合成した画像を生成することができる。この結果、完全同一の組織(細胞、器官、細胞又は器官の一部など)において、形態と機能とを明確に特定することができる。すなわち、高い精度(すなわち、nm精度)で同一位置での観察が行える相関顕微鏡を提供することができる。
一般に、試料7中には、多数の類似する細胞があり、かつ、それらの細胞には、観察対象組織の一例である細胞35と、変形により酷似する細胞35h(図13参照)とを含むことが多い。例えば、観察対象の細胞は、観察する度に異なり、観察対象の1つの細胞35と類似する細胞35hが、数千個も含まれる場合がある。また、生体組織ゆえ、観察途中で変形してしまい、観察対象では無かった細胞が、観察対象の細胞と酷似するように変形する場合もある。よって、試料7の全体の画像において、単にパターンマッチングを行うだけでは、間違った数千個の細胞を抽出してしまうこともある。
また、図25に示すように、2つの位置決め装置間の座標の位置合わせの精度が悪い場合には、(a)の蛍光顕微鏡で見たときの画像エリアと、(b)の電子顕微鏡で見たときの画像エリアとは、全く異なる位置となってしまい、試料7のどの位置を観察しているか不明となってしまう。これに対して、本実施形態では、2つの位置決め装置8,9間の座標の位置合わせの精度が非常に良い場合には、(a)の蛍光顕微鏡で見たときの画像エリアと、(b)の電子顕微鏡で見たときの画像エリアとはナノオーダレベルで一致し、同一の観察が行える。
すなわち、前記実施形態では、座標同士の位置関係をサブミクロンオーダで正確に位置合わせすることができる上に、試料7の全体の画像ではなく、試料7中に予め設定した小さな抽出窓37,38内での観察対象組織35を指定し、その指定した組織35から複数の特徴部44を抽出し、抽出した複数の特徴部44を基に、抽出窓37,38内でパターンマッチングを行うことにより、間違って数千個の細胞を抽出するような課題を解消している。
さらに、このように精度良く抽出作業を行うことにより、一つの細胞の内外の蛍光状態すなわち機能情報を把握できるような合成画像が取得でき、細胞の内外での例えば試薬の効果の違い等を明確に把握することができる(図22参照)。
これに対して、従来は、組織等の同一位置での比較を行うことができず、互いに類似している細胞から電子顕微鏡用の試料と、光学顕微鏡用の試料とをそれぞれ別箇に用意して、それぞれ観察したのち、両者の観察結果を比較検討していた。これでは、それぞれの試料を用意するのが煩雑であり、かつ、100%同一の細胞又は細胞の部分ではないので、確実性に欠けるとの指摘があった。
本実施形態は、これらの課題を全て解決できる優れた効果を有するものである。
なお、本発明は前記実施形態に限定されるものではなく、その他種々の態様で実施できる。
例えば、図1及び図2に一点鎖線で示すように、相関顕微鏡10の全てをクリーンルームの暗室55内に配置するようにしてもよい。モニタ4以外の相関顕微鏡10の全体をクリーンルームの暗室55内に配置するとともに、試料台投入装置69へ試料台6をセットするための開閉ドア55aを設けるようにしてもよい。このように構成すれば、その暗室55から一度も一般環境に暴露することなく、試料台搬送を実現することができる。
また、試料台6は、90度毎に周囲の四隅に湾曲した切欠部6d,…,6dを有しているが、これに限られるものではない。例えば、試料台6は、3か所又は5カ所以上に切欠部6dを有していてもよい。
また、本実施形態では、受渡し位置Iと第1基準マーク撮像基準位置とが第1位置決め部28の第1非観察位置の例であるとともに、受渡し位置IIと第2基準マーク撮像基準位置とが第2位置決め部29の第2非観察位置の例としているが、これに限られるものではなく、受渡し位置Iと第1基準マーク撮像基準位置とを一つの位置とし、当該位置を第1位置決め部28の第1非観察位置の例とするとともに、受渡し位置IIと第2基準マーク撮像基準位置とを一つの位置とし、当該位置を第2位置決め部29の第2非観察位置の例とするようにしてもよい。
また、試料台は、1つの部材で構成されるものに限らず、前記実施形態の変形例として、以下のような複数の部材で構成してもよい。すなわち、図27A〜図27Cは、それぞれ、前記実施形態の変形例にかかる相関顕微鏡の試料台6Dの平面図、正面図、及び、斜視図である。図27Dは、試料台6Dの試料台枠体6Bに挿入可能な標準試料台の一例としての試料載置台6Cの斜視図である。図27Eは、試料台6Dの試料台枠体6Bに試料載置台6Cが挿入された状態での斜視図である。なお、試料台枠体6Bの底面図は、図5Bの相関顕微鏡の試料台6の底面図と同じであるため、図示を省略する。
試料台6Dは、試料台枠体6Bと、試料載置台6Cとで構成している。
試料台枠体6Bは、切欠部6dと切欠6eと鍔部6hとなどの外形形状は図5Aの試料台6と同様であるが、試料載置領域に、大略円筒状の側壁6Bdで囲まれた、有底の円形凹部6Baを有している点が異なっている。
試料載置台6Cは、試料台枠体6Bの円形凹部6Baに着脱可能に挿入される円柱体であって、その上面に、試料7として生体組織を載置する円形の試料載置領域6aを有している。試料載置領域6aには、観察対象組織35を含む生体試料7を両面接着テープなどにより固定することができる。試料載置領域6aの高さは、側壁6Bdの高さと同じか、側壁6Bdよりも少し高くなっている。
側壁6Bdには、一カ所、貫通したネジ穴6Bgを有して、このネジ穴6Bgにネジ6Bhをねじ込み可能としている。よって、円形凹部6Baに試料載置台6Cを挿入したのち、ネジ6Bhをねじ込んで試料載置台6Cを係止することにより、試料載置台6Cを円形凹部6Ba内に固定するようにしている。
なお、側壁6Bdには、側壁6Bdの上端面から下向きに延びた1個又は複数個の切欠きを形成して、切欠き内にピンセットなどを挿入可能として、円形凹部6Baに対して試料載置台6Cを着脱しやすくするようにしてもよい。
このように試料台6Dを、標準試料台の一例としての試料載置台6Cと、試料台枠体6Bとの複数の部材で構成することにより、汎用されている標準試料台を使用することができ、汎用性に富んだものとすることができる。よって、複数の試料を観察するときに、複数の特別な試料台6を予め用意するのではなく、標準試料台の一例としての試料載置台6Cのみを複数個用意して、試料台枠体6Bに対して試料載置台6Cのみを交換すればよく、より利便性の高いものとすることができる。
この結果、ユーザは、先の実施形態にかかる専用の試料台6と、標準試料台を使用可能な変形例にかかる試料台6Dとのいずれかを1つを選択して、相関顕微鏡に使用することができる。
なお、前記様々な実施形態又は変形例のうちの任意の実施形態又は変形例を適宜組み合わせることにより、それぞれの有する効果を奏するようにすることができる。また、実施形態同士の組み合わせ又は実施例同士の組み合わせ又は実施形態と実施例との組み合わせが可能であると共に、異なる実施形態又は実施例の中の特徴同士の組み合わせも可能である。
本発明にかかる相関顕微鏡は、共焦点レーザ顕微鏡と走査型電子顕微鏡との両方で高い精度で同一位置で観察を行うことができ、蛍光試薬などの開発において使用される相関顕微鏡等として有用である。
1 レーザ顕微鏡
2 電子顕微鏡
2a 真空室
3 免振台
4 モニタ
5 搬送装置
5a 回転装置
5b 搬送アーム
5c 進退装置
5d 昇降装置
6 試料台
6B 試料台枠体
6Ba 円形凹部
6Bd 側壁
6Bg ネジ穴
6Bh ネジ
6C 試料載置台
6D 試料台
6a 試料載置領域
6b,6c 2つの基準点(円形凹部)
6d 切欠部
6e 位置決め切欠
6f 位置決め凹部
6h 鍔部(上向き傾斜防止用)
7 試料
8 第1位置決め装置
8a XYZステージ
8b リニアスケール
8g 第1位置決め制御部
9 第2位置決め装置
9a XYZステージ
9b リニアスケール
9g 第2位置決め制御部
10 相関顕微鏡
11 制御部
21 第1座標取得部
22 第2座標取得部
23 第1抽出窓座標取得部
24 第2抽出窓座標取得部
25 試料台位置決め保持部
25a 保持枠部
25b 第1位置決めピン
25c 支持台部
25d 第2位置決めピン
28 第1位置決め部
28a 位置決め突起
28b,28c 支持部
28d ロック部
28e レバー
28f 支持軸
28g 開口部
28h ロック部駆動装置
29 第2位置決め部
29a 位置決め突起
29b 支持部
29c 係止面
29d スライド板部材
29e スライド板駆動装置
29g 開口部
31 第1試料台座標
31o 第1試料台座標の原点位置
31x 第1試料台座標のx軸
31y 第1試料台座標のy軸
32 第2試料台座標
32o 第2試料台座標の原点位置
32x 第2試料台座標のx軸
32y 第2試料台座標のy軸
33 テンプレート
35 試料の観察対象組織
35a 第2領域抽出窓内での観察対象組織
37 第1領域抽出窓
38 第2領域抽出窓
41 第1画像取得部
42 第2画像取得部
44 特徴部
45 特徴部記憶部
46 画像処理部
47 画像合成部
48 入出力装置
49 動作制御部
50 記憶部
55 暗室
55a 開閉ドア
58 第1位置決め装置の装置座標
58o 装置座標原点
58x 装置座標のx軸
58y 装置座標のy軸
59 第2位置決め装置の装置座標
59o 装置座標原点
59x 装置座標のx軸
59y 装置座標のy軸
60 ロードロック室ユニット
60a ロードロック室
61 搬送部材
61a 二股部
61b 第1位置決めピン
62 搬送部材駆動装置
63 真空吸引装置
64 第1開閉装置
64a 第1開閉ドア
65 第2開閉装置
65a 第2開閉ドア
66 回転搬送装置
67 回転搬送アーム
67a 保持枠部
67b 第1位置決めピン
67c 支持台部
68 回転搬送駆動装置
68a モータ
68b ウォーム
68c ギア
68d 回転軸
68e 昇降装置
69 試料台投入装置
69a 支持部
69b 開口部
70 抽出窓設定部

Claims (6)

  1. 第1顕微鏡(2,1)と、
    前記第1顕微鏡とは光軸が非同軸で配置された第2顕微鏡(1,2)と、
    試料(7)が保持された試料台(6)を試料台位置決め保持部(25)に位置決め保持した状態で前記第1顕微鏡から前記第2顕微鏡へ前記試料台を搬送する搬送装置(5)と、
    前記第1顕微鏡に配置されて、少なくとも第1観察位置と第1非観察位置との間で移動可能でかつ前記試料台を位置決め保持する第1位置決め部(28)を有するとともに、前記第1位置決め部が前記第1非観察位置に位置したときに前記第1位置決め部と前記搬送装置の前記試料台位置決め保持部との間で前記試料台を受渡しする第1位置決め装置(8)と、
    前記第1位置決め部が前記第1観察位置及び前記第1非観察位置にそれぞれ位置したとき、前記第1位置決め部に位置決めされた前記試料台の画像を取得して、前記試料台の前記試料の観察対象組織(35)を含む第1領域抽出窓(37)の画像を取得する第1画像取得部(41)と、
    前記第1位置決め部が前記第1非観察位置に位置したときに前記第1画像取得部で取得した画像を基に、前記第1位置決め部に位置決めされた前記試料台の第1試料台座標(31)の座標位置を取得する第1座標取得部(21)と、
    前記第1位置決め部が前記第1非観察位置に位置したときに前記第1画像取得部で取得した前記第1領域抽出窓の画像と前記第1座標取得部で取得した前記試料台の前記第1試料台座標の座標位置とに基づいて、前記第1試料台座標における前記第1領域抽出窓の座標位置を取得する第1抽出窓座標取得部(23)と、
    前記第2顕微鏡に配置されて、少なくとも第2観察位置と第2非観察位置との間で移動可能でかつ前記試料台を位置決め保持する第2位置決め部(29)を有するとともに、前記第2位置決め部が前記第2非観察位置に位置したときに前記第2位置決め部と前記搬送装置の前記試料台位置決め保持部との間で前記試料台を受渡しする第2位置決め装置(9)と、
    前記第2位置決め部が前記第2観察位置及び前記第2非観察位置にそれぞれ位置したとき、前記第2位置決め部に位置決めされた前記試料台の画像を取得して、前記試料台の前記第1領域抽出窓に対応する第2領域抽出窓(38)の画像を取得する第2画像取得部(42)と、
    前記第2位置決め部が前記第2非観察位置に位置したときに前記第2画像取得部で取得した画像を基に、前記第2位置決め部に位置決めされた前記試料台の第2試料台座標(32)の座標位置を取得する第2座標取得部(22)と、
    前記第2位置決め部が前記第2非観察位置に位置したときに前記第2画像取得部で取得した前記第2領域抽出窓の画像と前記第2座標取得部で取得した前記試料台の前記第2試料台座標の座標位置とに基づいて、前記第2試料台座標における前記第2領域抽出窓の座標位置を取得するとともに、前記第1座標取得部で取得した前記第1試料台座標の前記座標位置と前記第2座標取得部で取得した前記第2試料台座標の前記座標位置との差を取得して、取得した差を基に、前記第2試料台座標の前記座標位置を補正して、前記第1領域抽出窓に対応する前記第2領域抽出窓の補正後の座標位置を取得する第2抽出窓座標取得部(24)とを備えて、
    前記第2位置決め装置は、前記第2抽出窓座標取得部で取得した前記第2領域抽出窓の補正後の座標位置に基づいて、前記第2位置決め部を、前記第2非観察位置から、前記第1領域抽出窓の前記座標位置に対応する位置に前記第2領域抽出窓が位置している前記第2観察位置に移動させるとともに、
    前記第1顕微鏡と前記第2顕微鏡とは、いずれか一方の顕微鏡が光学顕微鏡であり、他方の顕微鏡が電子顕微鏡である、相関顕微鏡。
  2. 前記第1位置決め部が前記第1観察位置に位置したときに前記第1画像取得部で取得された前記第1領域抽出窓の画像から抽出された前記観察対象組織(35)の複数個の特徴部(44)に基づき、前記第1位置決め部が前記第1観察位置に位置したときに前記第1画像取得部で取得された前記第1領域抽出窓の前記画像と前記第2位置決め部が前記第2観察位置に位置したときに前記第2画像取得部で取得された前記第2領域抽出窓の画像とのパターンマッチングを行う画像処理部(46)と、
    前記画像処理部での前記パターンマッチングの結果と、前記第1座標取得部で取得した前記第1試料台座標の座標位置と、前記第2抽出窓座標取得部で取得した第2領域抽出窓の前記補正後の座標位置とを基に、前記第1領域抽出窓の画像と前記第2領域抽出窓の画像とを重ね合わせる画像合成部(47)とをさらに備える、
    請求項1に記載の相関顕微鏡。
  3. 前記試料の前記観察対象組織(35)を含む前記第1領域抽出窓(37)を設定する抽出窓設定部(70)を有する、
    請求項1又は2に記載の相関顕微鏡。
  4. 前記試料台は、前記試料として生体組織を載置する試料載置領域(6a)と、前記試料載置領域以外の領域に配置された2つの基準点(6b,6c)とを有し、
    前記第1座標取得部は、前記第1位置決め部が前記第1非観察位置に位置するときの前記試料台の前記第1試料台座標の前記座標位置として、前記第1位置決め装置の装置座標原点に対する前記試料台の前記2つの基準点のそれぞれの座標位置を取得し、
    前記第2座標取得部は、前記第2位置決め部が前記第2非観察位置に位置するときの前記試料台の前記第2試料台座標の前記座標位置として、前記第2位置決め装置の装置座標原点に対する前記試料台の前記2つの基準点のそれぞれの座標位置を取得するとともに、前記第1座標取得部で取得した前記2つの基準点のそれぞれの座標位置を結ぶ線と、前記第2座標取得部で取得した前記2つの基準点のそれぞれの座標位置を結ぶ線とでなす角度も、前記第1試料台座標に対する前記第2試料台座標の回転角度として取得して、
    前記第1座標取得部で取得した前記第1試料台座標の前記座標位置と第2座標取得部で取得した前記第2試料台座標の前記座標位置との前記差として、前記第1座標取得部で取得した前記2つの基準点のそれぞれの座標位置と前記第2座標取得部で取得した前記2つの基準点のそれぞれの座標位置との差と、前記回転角度とを基に、前記第2試料台座標の前記座標位置を補正して、前記第1領域抽出窓に対応する前記第2領域抽出窓の補正後の座標位置を取得する、
    請求項1〜3のいずれか1つに記載の相関顕微鏡。
  5. 前記第1位置決め装置及び前記第2位置決め装置は、それぞれ、XYZステージであり、
    各XYZステージは、X軸ステージ(8x,9x)とY軸ステージ(8y,9y)とZ軸ステージ(8z,9z)との各軸にnm精度で位置検出可能なリニアスケール(8b,9b)が配置されているとともに、
    前記第2位置決め部を前記第2観察位置に位置させるとき、前記第2位置決め装置は、前記第2抽出窓座標取得部で取得した前記第2領域抽出窓の前記補正後の座標位置に前記第2領域抽出窓が位置するように位置制御する、
    請求項1〜4のいずれか1つに記載の相関顕微鏡。
  6. 前記試料台は、
    前記試料載置領域に凹部(6Ba)を有する試料台枠体(6B)と、
    前記試料台枠体の前記凹部に着脱可能に挿入され、前記試料載置領域を上面に有する試料載置台(6C)とで構成される、
    請求項4に記載の相関顕微鏡。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109407298A (zh) * 2017-08-15 2019-03-01 卡尔蔡司显微镜有限责任公司 具有显微镜的显微术布置及其操作方法
WO2019190576A3 (en) * 2017-06-13 2019-12-19 The Trustees Of Princeton University Fully automatic, template -free particle picking for electron microscopy
KR20210059973A (ko) * 2019-11-18 2021-05-26 한양대학교 산학협력단 연계형 현미경의 동일 위치 추적을 위한 시스템 및 그의 동작 방법
US11227403B2 (en) 2017-04-24 2022-01-18 The Trustees Of Princeton University Anisotropic twicing for single particle reconstruction using autocorrelation analysis
WO2023238287A1 (ja) * 2022-06-08 2023-12-14 株式会社日立ハイテク 検査装置、検査素子および検査方法

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3053139B1 (en) * 2013-10-01 2020-10-21 Ventana Medical Systems, Inc. Line-based image registration and cross-image annotation devices, systems and methods
WO2020206362A1 (en) 2019-04-04 2020-10-08 Inscopix, Inc. Multi-modal microscopic imaging
US10386623B2 (en) * 2016-09-13 2019-08-20 Inscopix, Inc. Adapter for microscopic imaging
DE102019102438B3 (de) * 2019-01-31 2020-07-09 Leica Mikrosysteme Gmbh Verfahren zur mikroskopischen Bilderzeugung und System hierfür sowie Verwendung

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5590046A (en) * 1978-12-28 1980-07-08 Internatl Precision Inc Electronic microscope equipped with optical microscope provided with x-ray shielding device
JPH0427908A (ja) * 1990-05-23 1992-01-30 Fuji Photo Film Co Ltd 走査型顕微鏡の視野探し装置
JPH0541194A (ja) * 1991-08-02 1993-02-19 Sumitomo Electric Ind Ltd 観察装置
JP2003140053A (ja) * 2001-11-05 2003-05-14 Olympus Optical Co Ltd 光学顕微鏡別軸一体型走査型プローブ顕微鏡
JP2012009247A (ja) * 2010-06-24 2012-01-12 Topcon Corp 電子顕微鏡装置

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3003708B2 (ja) 1990-12-25 2000-01-31 株式会社島津製作所 表面分析装置
JPH06160054A (ja) * 1992-11-17 1994-06-07 Shinko Electric Ind Co Ltd 画像処理装置
JPH08273572A (ja) 1995-03-30 1996-10-18 Jeol Ltd 試料搬送装置
JPH11260303A (ja) 1998-03-09 1999-09-24 Hitachi Ltd 電子顕微鏡及びその蛍光集光方法
US9207549B2 (en) * 2011-12-29 2015-12-08 Nikon Corporation Exposure apparatus and exposure method, and device manufacturing method with encoder of higher reliability for position measurement
JP5640027B2 (ja) * 2012-02-17 2014-12-10 株式会社日立ハイテクノロジーズ オーバーレイ計測方法、計測装置、走査型電子顕微鏡およびgui
EP2722866A1 (en) 2012-10-22 2014-04-23 Fei Company Configurable charged-particle beam apparatus
NL2013783B1 (en) * 2014-11-12 2016-10-07 Phenom-World Holding B V Sample stage.

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5590046A (en) * 1978-12-28 1980-07-08 Internatl Precision Inc Electronic microscope equipped with optical microscope provided with x-ray shielding device
JPH0427908A (ja) * 1990-05-23 1992-01-30 Fuji Photo Film Co Ltd 走査型顕微鏡の視野探し装置
JPH0541194A (ja) * 1991-08-02 1993-02-19 Sumitomo Electric Ind Ltd 観察装置
JP2003140053A (ja) * 2001-11-05 2003-05-14 Olympus Optical Co Ltd 光学顕微鏡別軸一体型走査型プローブ顕微鏡
JP2012009247A (ja) * 2010-06-24 2012-01-12 Topcon Corp 電子顕微鏡装置

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11227403B2 (en) 2017-04-24 2022-01-18 The Trustees Of Princeton University Anisotropic twicing for single particle reconstruction using autocorrelation analysis
WO2019190576A3 (en) * 2017-06-13 2019-12-19 The Trustees Of Princeton University Fully automatic, template -free particle picking for electron microscopy
US11557034B2 (en) 2017-06-13 2023-01-17 The Trustees Of Princeton University Fully automatic, template-free particle picking for electron microscopy
CN109407298A (zh) * 2017-08-15 2019-03-01 卡尔蔡司显微镜有限责任公司 具有显微镜的显微术布置及其操作方法
CN109407298B (zh) * 2017-08-15 2022-08-09 卡尔蔡司显微镜有限责任公司 具有显微镜的显微术布置及其操作方法
KR20210059973A (ko) * 2019-11-18 2021-05-26 한양대학교 산학협력단 연계형 현미경의 동일 위치 추적을 위한 시스템 및 그의 동작 방법
KR102280538B1 (ko) * 2019-11-18 2021-07-22 한양대학교 산학협력단 연계형 현미경의 동일 위치 추적을 위한 시스템 및 그의 동작 방법
WO2023238287A1 (ja) * 2022-06-08 2023-12-14 株式会社日立ハイテク 検査装置、検査素子および検査方法

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