JPH04276397A - メモリカードシステムの機能検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、外部補助記憶手段とし
てメモリカードを使用したシステムにおける機能検査方
法に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、材料試験機や各種の分析機器、計
測機器などにおいて、多項目にわたる複雑な試験条件や
貴重な試験結果・分析結果等のデータ、あるいはプログ
ラムを、外部補助記憶手段としてのメモリカードに記憶
して保存しておくことが多い。このようなメモリカード
を使用したシステムでは、メモリカードに対して読み書
きを行う前に、メモリカードの機能検査を行うのが普通
である。

【０００３】従来、メモリカードの機能検査は次のよう
に行われている。メモリカードには、内部メモリ（通常
、ＣＭＯＳ　　スタティックＲＡＭ）のデータを維持す
るためのバックアップ用のバッテリが内蔵されており、
このバッテリーに関連して導出されたメモリカードの特
定の外部端子の電圧レベルを検出することによって、メ
モリカードの装着の有無、バッテリの電圧値のチェック
を行っている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな構成を有する従来例の場合には、次のような問題が
ある。すなわち、従来例によれば、メモリカードの装着
の有無や、バッテリの電圧値のチェックを行うことはで
きるが、メモリカードの読み書き機能のチェックや、記
憶されたデータに誤りがないかの信頼性チェックを行う
ことができず、メモリカードの機能検査としては十分な
ものではなかった。

【０００５】この発明は、このような事情に鑑みてなさ
れたものであって、メモリカードの読み書き機能やデー
タの信頼性を比較的簡単に検査することができるメモリ
カードシステムの機能検査方法を提供することを目的と
している。

【０００６】

【課題を解決するための手段】この発明は、このような
目的を達成するために、次のような構成をとる。すなわ
ち、請求項１に記載の発明は、外部補助記憶装置として
メモリカードを用いたシステムの機能検査方法であって
、メモリカードの記憶領域に、保存データを記憶するた
めの読み書き領域と、機能検査用のデータを記憶するた
めのバックアップ番地とを設け、（Ａ）前記メモリカー
ドに保存データを書き込む際には、（１）メモリカード
内の全記憶領域に所定の読み書き検査用データを書き込
み、（２）前記書き込まれたデータを全て読み取り、（
３）読み取られたデータが正常であるかどうかによって
読み書き機能を検査し、（４）読み書き機能が正常であ
れば、メモリカード内の全記憶領域の内容をクリアし、
（５）読み書き領域に保存データを書き込み、（６）前
記保存データの総和を求め、予め定められた基準データ
から前記総和を差し引いた結果を、前記バックアップ番
地に書き込み、（Ｂ）メモリカードから保存データを読
み取る際には、全記憶領域のデータの総和をとり、その
値が前記基準データに一致しているかどうかによって保
存データの信頼性を検査するものである。

【０００７】また、請求項２に記載の発明は、外部補助
記憶装置としてメモリカードを用いたシステムの機能検
査方法であって、メモリカードの記憶領域に、保存デー
タを記憶するための読み書き領域と、機能検査用のデー
タを記憶するためのバックアップ領域とを設け、（Ａ）
前記メモリカードから保存データを読み取る際には、（
１）前記バックアップ領域に予め書き込まれている信頼
性検査用データを読み取り、（２）読み取られデータが
正常であるかどうかによってデータ保存の信頼性を検査
し、（Ｂ）前記検査によりデータ保存に信頼性があると
判断された場合には、（３）前記バックアップ領域に所
定の読み書き検査用データを書き込み、（４）前記書き
込まれた読み書き検査用データを読み取とり、（５）読
み取られたデータが正常であるかどうかによって読み書
き機能を検査し、（６）読み書き機能が正常であると判
断された場合には、前記バックアップ領域に信頼性検査
用データを書き込んでおくものである。

【０００８】

【作用】請求項１に記載の発明の作用は次のとおりであ
る。すなわち、メモリカードの全記憶領域に読み書き検
査用データを書き込み、前記書き込まれたデータを読み
出し、そのデータが正常であるかどうかによってシステ
ムの読み書き機能が検査される。読み書き機能が正常で
あれば、前記記憶領域の内容をクリアして、読み書き領
域に保存データを書き込んだ後、前記保存データの総和
Ｓを求め、予め定められた基準データＤＲ　から前記総
和Ｓを差し引いた結果（ＤＲ　−Ｓ）を、バックアップ
番地に書き込んでおく。メモリカードから保存データを
読み出す際には、前記記憶領域のデータを総和をとる。 データの保存に異常がなければ、前記総和は、Ｓ＋（Ｄ
Ｒ　−Ｓ）＝ＤＲ　になるはずである。したがって、前
記総和が、基準データＤＲ　に一致するかどうかを判断
することによって、保存データの信頼性を検査すること
ができる。

【０００９】請求項２に記載の発明の作用は次のとおり
である。メモリカードに記憶された保存データを読み取
る際には、まず、バックアップ領域に予め書き込まれて
いる信頼性検査用データを読み取り、そのデータが正常
であるかどうかによってデータ保存の信頼性を検査する
。次に、保存データを書き込む前に、バックアップ領域
に読み書き検査用データを書き込み、続いて、そのデー
タを読み出し、そのデータが正常であるかどうかによっ
て読み書き機能の検査を行う。読み書き機能が正常であ
ると判断された場合には、バックアップ領域に信頼性検
査用データを書き込んでおく。そうすることによって、
次回の保存データの読み取りの前に、前記信頼性検査用
データを読み取ることで、データ保存の信頼性を検査す
ることができる。

【００１０】

【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を説明
する。 ＜第１実施例＞図１は、本発明の一実施例に係るメモリ
カードシステムの概略構成を示したブロック図である。 図中、符号１は、後述するメモリカードの機能検査処理
を実行したり、本システムに接続される各種の試験機や
分析機器のデータ処理等を実行するためのＣＰＵ、２は
メモリカードの機能検査プログラムや各種試験・分析等
のプログラムを記憶したＲＯＭ、３はプログラム実行処
理に伴う各種のデータを記憶するＲＡＭ、４はＣＲＴ等
を含む出力装置、５はキーボード等を含むデータ入力装
置、６は試験機や分析機器等を接続するための各種の入
出力インターフェース、７はメモリカード用のインター
フェース、８は試験用のプログラムや試験結果等のデー
タが記憶される外部補助記憶装置としてのメモリカード
である。

【００１１】メモリカード８には、図２に示すように、
試験用のプログラムや試験結果等のデータを記憶するた
めの読み書き（Ｒ／Ｗ）領域と、データの信頼性を評価
するために特に設けられたバックアップ（Ｂ／Ｕ）番地
とがある。なお、本実施例では、バックアップ番地を最
終番地に設定しているが、これはメモリ中のどの番地に
設定してもよい。また、本実施例で使用されるメモリカ
ード８は、各番地ごとに８ビットのデータが格納される
ようになっているが、これは１６ビット、あるいは３２
ビット等であってもよい。

【００１２】以下、図３および図４に示したフローチャ
ートを参照して、本システムにおけるメモリカードの読
み書き機能の検査処理の手順を説明する。ステップＳ１
では、本システムにメモリカード８が装着されているか
どうかを判断する。具体的には、例えばメモリカード８
の電源端子に接続するインターフェース７の端子電圧を
チェックすること等によって、メモリカード８が装着さ
れているかどうかを判断する。メモリカードが装着され
ていなければ、ステップＳ２に進んで、メモリカードが
装着されていないことをＣＲＴに表示する。

【００１３】メモリカードが装着されていれば、ステッ
プＳ３〜Ｓ５による第１回目の読み書き検査を行う。具
体的には、メモリカードの先頭番地から最終番地に至る
全領域に、読み書き検査用データとして、１６進データ
“５５”と１６進データ“ＡＡ”を交互に書き込み、続
いて、そのデータを読み出し、読み出されたデータが正
常であるかどうか（書き込んだデータと一致するかどう
か）を判断する。

【００１４】データが異常であればステップＳ６に進み
、メモリカードの書き込み禁止（Ｗ／Ｐ）スイッチがＯ
Ｎ状態になっていないかどうかをオペレータに確認する
ようにＣＲＴに表示する。なお、本実施例では、Ｗ／Ｐ
スイッチの状態をオペレータに問い合わせるように構成
したが、ハード構成によって、Ｗ／Ｐスイッチの状態を
自動的に読み取るように構成してもよい。Ｗ／Ｐスイッ
チがＯＦＦ状態になっているという情報が、オペレータ
によって入力されれば、メモリカードが書き込み可能で
あるにもかかわらず、正常に読み書きできないものと判
断して、読み書き機能に異常があることをＣＲＴに表示
する（ステップＳ７，Ｓ８）。一方、Ｗ／Ｐスイッチが
ＯＮ状態になっているという情報が、オペレータによっ
て入力されれば、ステップＳ９に進んで、Ｗ／Ｐスイッ
チをＯＦＦ状態にするようにＣＲＴに表示してステップ
Ｓ３に戻り、再度、第１回目の読み書き検査を行う。

【００１５】前記ステップＳ５において、読み出された
データが正常であると判断されると、ステップＳ１０〜
Ｓ１２による第２回目の読み書き検査を行う。第２回目
の読み書き検査では、メモリカードの全領域に先頭番地
から順に、第１回目の読み書き検査とは逆に、１６進デ
ータ“ＡＡ”と１６進データ“５５”とを交互に書き込
んだ後、そのデータを読み出し、読み出されたデータが
正常であるかどうかを判断する。データが異常であれば
、前述したステップＳ８に進んで読み書き機能に異常が
あることをＣＲＴに表示する。一方、データが正常であ
れば、ステップＳ１３に進んで、読み書き機能が正常で
あることをＣＲＴに表示する。

【００１６】以上の各読み書き検査において、最初の読
み書き検査で１６進データ“５５”と１６進データ“Ａ
Ａ”を交互に書き込み、次の読み書き検査で１６進デー
タ“ＡＡ”と１６進データ“５５”とを交互に書き込ん
だのは次の理由による。１６進データ“５５”は２進デ
ータで〔０１０１０１０１〕であり、１６進データ“Ａ
Ａ”は２進データで〔１０１０１０１０〕である。した
がって、同じ番地内および隣合う番地で隣接するビット
は〔１〕，

〔０〕の関係になるはずであるが、何らかの
原因で前記隣合うビットの素子間が短絡していると、両
方のビットが

〔０〕または〔１〕になるので、素子間の
異常を検出することができる。また、２回目の読み書き
検査で、１回目の読み書き検査とは逆に、１６進データ
“ＡＡ”と１６進データ“５５”とをその順に交互に書
き込んだのは、前回の読み書き検査で〔１〕または〔０
〕が書き込まれた素子に、

〔０〕または〔１〕を書き込
んで、両データが正しく書き込まれるかを確認するため
である。

【００１７】なお、読み書き検査用データは任意に定め
ることができ、例えば、１回目の読み書き検査において
は、全記憶領域に１６進データ“５５”を書き込み、２
回目の読み書き検査においては、１６進データ“ＡＡ”
を書き込むようにしてもよい。

【００１８】読み書き検査の結果が正常である場合は、
ステップＳ１４に進んで、上述した読み書き検査のため
にメモリカード内に書き込んだ全データをクリアする。 次に、Ｒ／Ｗ領域に、保存用データを書き込む（ステッ
プＳ１５）。そして、Ｒ／Ｗ領域に書き込んだ全データ
の総和Ｓを求め、基準データとしての例えば１６進デー
タ“ＡＡ”から前記総和Ｓを減算した結果を求め、その
減算結果のデータＸをＢ／Ｕ領域に書き込む（ステップ
Ｓ１６）。このデータＸは、次に、メモリカードに書き
込まれた保存データを読み出すときに、保存データの信
頼性の検査のために用いられる。

【００１９】次に、図５を参照して、メモリカードに記
憶された保存データを読み出す際に行われる保存データ
の信頼性の検査処理手順を説明する。まず、図３のステ
ップＳ１，Ｓ２と同様に、本システムにメモリカードが
装着されているかどうかを確認し、装着されていなけれ
ば、ＣＲＴにメモリカードが装着されていないことを表
示する（ステップＳ２１，Ｓ２２）。

【００２０】メモリカードが装着されていれば、次のス
テップＳ２３で、メモリカードの先頭番地から最終番地
までの全領域のデータの総和を求める。上述した読み書
き検査のステップＳ１６で、Ｒ／Ｗ領域に書き込んだ全
データの総和Ｓを１６進データ“ＡＡ”から減算して得
られたデータＸがＢ／Ｕ番地に書き込まれてあるので、
Ｒ／Ｗ領域とＢ／Ｕ番地の全データの総和をとると、各
データが正常に保存されている限り、前記総和は“ＡＡ
”（Ｓ＋Ｘ＝Ｓ＋（“ＡＡ”−Ｓ）＝“ＡＡ”）になる
はずである。

【００２１】したがって、次のステップＳ２４では、メ
モリカードの全領域のデータの総和が、１６進データ“
ＡＡ”に一致するかどうかを判断する。一致していなけ
れば、保存データが異常であることをＣＲＴに表示する
（ステップＳ２５）。異常発生の原因としては、例えば
、バックアップ用のバッテリの消耗、メモリカード用の
インターフェースの異常（例えば、接続端子の接触不良
等）が考えられる。

【００２２】データの総和が１６進データ“ＡＡ”に一
致すれば、保存データが正常であるとして、ステップＳ
２６に進み、Ｒ／Ｗ領域の保存データを読み取る。

【００２３】＜第２実施例＞次に、本発明の第２実施例
に係るメモリカードシステムの機能検査方法を説明する
。システムのハード構成は第１実施例と同様であるから
、ここでの説明は省略する。以下、図６および図７に示
したフローチャートを参照する。

【００２４】本システムが起動されると、ＣＰＵに一定
時間ごとの割り込みが発生して、後述の機能検査が行わ
れる。ステップＮ１，Ｎ２では、第１実施例と同様にメ
モリカードが装着されているかどうかの確認を行う。

【００２５】メモリカードが装着されていれば、ステッ
プＮ３に進み、メモリカードのＢ／Ｕ領域のデータを読
み取る。本実施例では、メモリカード内に保存データを
書き込むためのＲ／Ｗ領域と、機能検査を行うために最
終番地から１０バイトの領域にわたってＢ／Ｕ領域が設
定されている。そして、後述するように、そのメモリカ
ードが以前に使用された段階において、前記Ｂ／Ｕ領域
に、信頼性検査用データとして１６進データ“ＡＡ”と
“５５”とが交互に書き込まれるようになっている。

【００２６】ステップＮ４では、メモリカードのＢ／Ｕ
領域から読み取ったデータが正常であるかどうか（すな
わち、１６進データ“ＡＡ”と“５５”が交互に書き込
まれているかどうか）を判断する。データが正常でなけ
れば、装着されたメモリカードが使用済みのものか、あ
るいは未使用のものであるかをＣＲＴに表示してオペレ
ータに問い合わせる（ステップＮ５）。オペレータが、
使用済みであるという情報を入力すれば、データ保存に
異常がある旨をＣＲＴに表示する（ステップＮ６，Ｎ７
）。

【００２７】ステップＮ４でデータが正常であると判断
される場合や、ステップＮ６でメモリカードが未使用で
あるとい情報が入力された場合には、ステップＮ８に進
む。ここでは、メモリカードのＷ／Ｐスイッチの状態を
問い合わせる表示を行う。Ｗ／ＰスイッチがＯＮ状態で
あるという情報が入力されると（ステップＮ９）、ＣＲ
Ｔに、そのメモリカードが書き込み可能であるならばＷ
／ＰスイッチをＯＦＦ状態にするようにＣＲＴに表示す
る（ステップＮ１０）。

【００２８】Ｗ／ＰスイッチがＯＦＦ状態にセットされ
ていると、ステップＮ１１以降の読み書き機能検査を行
う。すなわち、ステップＮ１１では、Ｂ／Ｕ領域に、読
み書き検査用データとして１６進データ“５５”，“Ａ
Ａ”を交互に書き込み、続いてそのデータを読み出し（
ステップＮ１２）、読み出されたデータが正常であるか
どうかを判断する（ステップＮ１３）。データが異常で
あれば、ステップＮ１７に進んで、読み書き機能が異常
である旨をＣＲＴに表示する。

【００２９】ステップＮ１３でデータが正常であると判
断されると、ステップＮ１４に進み、Ｂ／Ｕ領域に、ス
テップＮ１１の場合とは逆の１６進データ“５５”，“
ＡＡ”を交互に書き込み、続いてそのデータを読み出し
（ステップＮ１５）、読み出されたデータが正常である
かどうかを判断する（ステップＮ１６）。データが異常
であれば、ステップＮ１７に進む。データが正常であれ
ば、ステップＮ１８に進み、そのメモリカードが使用可
能であることを表示する。

【００３０】使用可能であると判断されたメモリカード
のＢ／Ｕ領域には、信頼性検査用データとしての１６進
データ“５５”，“ＡＡ”が交互に書き込まれているの
で、次回に、そのメモリカードを使用する際に、Ｂ／Ｕ
領域のデータを読み出し、そのデータが“５５”，“Ａ
Ａ”の順に交互に並んでいるかを判断することによって
、そのメモリカードのデータ保存の信頼性を検査するこ
とができる（上述したステップＮ３，Ｎ４）。

【００３１】なお、上述の各実施例では、メモリカード
の機能検査のために、１６進データ“５５”，“ＡＡ”
を用いたが、１６進データ“００”，“ＦＦ”など適宜
なデータを使用することができる。

【００３２】

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば次のような効果を奏する。すなわち、請求項１
に記載の発明によれば、メモリカードの全記憶領域に対
して読み書き機能の検査およびデータ保存の信頼性の検
査を簡単に行うことができる。

【００３３】また、請求項２に記載の発明によれば、メ
モリカード内に設定されたバックアップ領域を使ったデ
ータチェックによって、メモリカードの読み書き機能お
よびデータ保存の信頼性の評価を簡単に行うことができ
る。

【００３４】したがって、上記いずれの発明によっても
、メモリカードシステムの信頼性、安定性を容易に確認
でき、ユーザーは安心してシステムを利用することがで
きる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る機能検査方法を使用したメモリカ
ードシステムの一実施例の概略構成を示したブロック図
である。

【図２】メモリカードのメモリ・マップを示した図であ
る。

【図３】第１実施例における読み書き機能検査の手順を
示したフローチャートである。

【図４】第１実施例における読み書き機能検査の手順を
示したフローチャートである。

【図５】第１実施例における保存データの信頼性検査の
手順を示したフローチャートである。

【図６】第２実施例における機能検査の手順を示したフ
ローチャートである。

【図７】第２実施例における機能検査の手順を示したフ
ローチャートである。

【符号の説明】

１…ＣＰＵ　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
　　２…ＲＯＭ３…ＲＡＭ　　　　　　　　　　　　　
　　　　　　　　　４…出力装置（ＣＲＴ） ５…入力装置（キーボード）　　　　　　６…入出力イ
ンターフェース ７…メモリカード用インターフェース ８…メモリカード

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】　　外部補助記憶装置としてメモリカード
   を用いたシステムの機能検査方法であって、メモリカー
   ドの記憶領域に、保存データを記憶するための読み書き
   領域と、機能検査用のデータを記憶するためのバックア
   ップ番地とを設け、（Ａ）前記メモリカードに保存デー
   タを書き込む際には、（１）メモリカード内の全記憶領
   域に所定の読み書き検査用データを書き込み、（２）前
   記書き込まれたデータを全て読み取り、（３）読み取ら
   れたデータが正常であるかどうかによって読み書き機能
   を検査し、（４）読み書き機能が正常であれば、メモリ
   カード内の全記憶領域の内容をクリアし、（５）読み書
   き領域に保存データを書き込み、（６）前記保存データ
   の総和を求め、予め定められた基準データから前記総和
   を差し引いた結果を、前記バックアップ番地に書き込み
   、（Ｂ）メモリカードから保存データを読み取る際には
   、全記憶領域のデータの総和をとり、その値が前記基準
   データに一致しているかどうかによって保存データの信
   頼性を検査することを特徴とするメモリカードシステム
   の機能検査方法。
2. 【請求項２】　　外部補助記憶装置としてメモリカード
   を用いたシステムの機能検査方法であって、メモリカー
   ドの記憶領域に、保存データを記憶するための読み書き
   領域と、機能検査用のデータを記憶するためのバックア
   ップ領域とを設け、（Ａ）前記メモリカードから保存デ
   ータを読み取る際には、（１）前記バックアップ領域に
   予め書き込まれている信頼性検査用データを読み取り、
   （２）読み取られデータが正常であるかどうかによって
   データ保存の信頼性を検査し、（Ｂ）前記検査によりデ
   ータ保存に信頼性があると判断された場合には、（３）
   前記バックアップ領域に所定の読み書き検査用データを
   書き込み、（４）前記書き込まれた読み書き検査用デー
   タを読み取とり、（５）読み取られたデータが正常であ
   るかどうかによって読み書き機能を検査し、（６）読み
   書き機能が正常であると判断された場合には、前記バッ
   クアップ領域に信頼性検査用データを書き込んでおくこ
   とを特徴とするメモリカードシステムの機能検査方法。