JPH04273050A - ガスセンサ - Google Patents
ガスセンサInfo
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- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims abstract description 31
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 18
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 16
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 claims description 15
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 claims description 15
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 claims description 4
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 9
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 5
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 abstract description 5
- 239000010931 gold Substances 0.000 abstract description 5
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 4
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 abstract description 2
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 29
- 239000010408 film Substances 0.000 description 15
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 7
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 4
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 238000007733 ion plating Methods 0.000 description 1
- 238000004518 low pressure chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 239000000178 monomer Substances 0.000 description 1
- 125000002524 organometallic group Chemical group 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 1
- 230000000379 polymerizing effect Effects 0.000 description 1
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- LYRCQNDYYRPFMF-UHFFFAOYSA-N trimethyltin Chemical compound C[Sn](C)C LYRCQNDYYRPFMF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Fluid Adsorption Or Reactions (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ガスセンサに関する。
更に詳しくは、温度センサと一体化されたガスセンサに
関する。
関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、ガスセンサとしてSnO2な
どの金属酸化物半導体の焼結体を用いたものが開発され
てきた。近年は更に、それの高感度化および小型集積化
といった性能向上を目的としたガスセンサの薄膜化の検
討が行われている。
どの金属酸化物半導体の焼結体を用いたものが開発され
てきた。近年は更に、それの高感度化および小型集積化
といった性能向上を目的としたガスセンサの薄膜化の検
討が行われている。
【0003】ところで、金属酸化物半導体ガスセンサは
、約300〜500℃といった高温に加熱して用いなけ
ればならないため、信頼できる出力を得るためには、そ
の温度制御が正確でなければならない。通常は、センサ
自体が内蔵しているヒータの駆動電力を一定に保つこと
で温度の制御を行っており、実際のセンサ温度を測定す
ることは行われていない。
、約300〜500℃といった高温に加熱して用いなけ
ればならないため、信頼できる出力を得るためには、そ
の温度制御が正確でなければならない。通常は、センサ
自体が内蔵しているヒータの駆動電力を一定に保つこと
で温度の制御を行っており、実際のセンサ温度を測定す
ることは行われていない。
【0004】前述のセンサの薄膜化は、ガス感度の向上
には有効であるが、その反面測定温度の変化に対しても
敏感であるという面を持っている。この場合、従来技術
でのように、ヒータの駆動電力を一定に保つだけでは、
測定雰囲気の温度変化の影響を受けてしまい、正確な温
度制御は困難である。
には有効であるが、その反面測定温度の変化に対しても
敏感であるという面を持っている。この場合、従来技術
でのように、ヒータの駆動電力を一定に保つだけでは、
測定雰囲気の温度変化の影響を受けてしまい、正確な温
度制御は困難である。
【0005】そのためには、センサ自身の温度を常にモ
ニターしながら、これが一定となるようヒータ電力を常
に自動的に調整する方法が最も確実であり、温度センサ
との組合せが必要となるが、新たに温度センサを取り付
けたのでは、コストの低減や検出部の小型化に支障がみ
られるようになる。
ニターしながら、これが一定となるようヒータ電力を常
に自動的に調整する方法が最も確実であり、温度センサ
との組合せが必要となるが、新たに温度センサを取り付
けたのでは、コストの低減や検出部の小型化に支障がみ
られるようになる。
【0006】そこで、ガスセンサとの一体化が望まれる
が、これとて従来の薄膜型温度センサを同一基板内に形
成するには、複雑な工程が必要となってくる。
が、これとて従来の薄膜型温度センサを同一基板内に形
成するには、複雑な工程が必要となってくる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、比較
的単純な工程で作製できる、温度センサと一体化された
ガスセンサを提供することにある。
的単純な工程で作製できる、温度センサと一体化された
ガスセンサを提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】かかる本発明の目的は、
同一基板の表面上に同じ金属酸化物半導体薄膜で覆われ
た2組の対向電極を設け、その内の1組の対向電極を覆
った金属酸化物半導体薄膜上にガスバリヤ性の耐熱絶縁
性薄膜を積層して被覆し、基板裏面側には薄膜状ヒータ
を設けたガスセンサによって達成される。
同一基板の表面上に同じ金属酸化物半導体薄膜で覆われ
た2組の対向電極を設け、その内の1組の対向電極を覆
った金属酸化物半導体薄膜上にガスバリヤ性の耐熱絶縁
性薄膜を積層して被覆し、基板裏面側には薄膜状ヒータ
を設けたガスセンサによって達成される。
【0009】図面を参照しながら、本発明を説明すると
、図1は本発明に係るガスセンサの一態様の斜視図であ
り、同一基板1の表面上に2組の対向電極2a,2bと
3a,3bとが設けられており、これらの対向電極は同
じ金属酸化物半導体薄膜4で覆われている。その内の1
組の対向電極3a,3bは、それを覆っている金属酸化
物半導体薄膜4の部分が、更にガスバリヤ性の耐熱絶縁
性薄膜5を積層し、被覆されており、一方基板裏面側6
には薄膜状ヒータが設けられている。
、図1は本発明に係るガスセンサの一態様の斜視図であ
り、同一基板1の表面上に2組の対向電極2a,2bと
3a,3bとが設けられており、これらの対向電極は同
じ金属酸化物半導体薄膜4で覆われている。その内の1
組の対向電極3a,3bは、それを覆っている金属酸化
物半導体薄膜4の部分が、更にガスバリヤ性の耐熱絶縁
性薄膜5を積層し、被覆されており、一方基板裏面側6
には薄膜状ヒータが設けられている。
【0010】センサ基板としては、アルミナ、窒化アル
ミニウムなどの耐熱性および絶縁性にすぐれた基板が用
いられる。2組の対向電極は、一般にくし形電極として
、例えば金ペーストの厚膜を所定形状に印刷するなどの
方法で形成させる。
ミニウムなどの耐熱性および絶縁性にすぐれた基板が用
いられる。2組の対向電極は、一般にくし形電極として
、例えば金ペーストの厚膜を所定形状に印刷するなどの
方法で形成させる。
【0011】同一基板の表面上に形成させたこれらの対
向電極を覆う金属酸化物半導体薄膜としては、膜厚が約
10nm〜1μmのSnO2などの金属酸化物の半導体
薄膜が用いられる。半導体薄膜の形成は、真空蒸着法、
スパッタリング法、イオンプレーティング法などにより
SnO2膜などを直接形成させる方法、金属Sn膜など
を形成させた後、熱処理して酸化する方法あるいはSn
を含む有機金属モノマーをプラズマ重合させてプラズマ
重合膜を形成させ、これを熱処理する方法(特開昭63
−261148号公報)などによって行われる。
向電極を覆う金属酸化物半導体薄膜としては、膜厚が約
10nm〜1μmのSnO2などの金属酸化物の半導体
薄膜が用いられる。半導体薄膜の形成は、真空蒸着法、
スパッタリング法、イオンプレーティング法などにより
SnO2膜などを直接形成させる方法、金属Sn膜など
を形成させた後、熱処理して酸化する方法あるいはSn
を含む有機金属モノマーをプラズマ重合させてプラズマ
重合膜を形成させ、これを熱処理する方法(特開昭63
−261148号公報)などによって行われる。
【0012】対向電極の内の1組を覆っている金属酸化
物半導体薄膜上に積層され、これを被覆する膜厚が約5
0nm〜1μmのガスバリヤ性の耐熱絶縁性薄膜として
は、ガスセンサの動作温度が約300〜500℃程度で
あることから、絶縁性でかつ気体透過性を有しないとい
う特性に加えて、高温でも化学的に安定な膜、例えば窒
化けい素、窒化アルミニウム、酸化アルミニウムなどの
セラミックス系薄膜が好適に用いられる。
物半導体薄膜上に積層され、これを被覆する膜厚が約5
0nm〜1μmのガスバリヤ性の耐熱絶縁性薄膜として
は、ガスセンサの動作温度が約300〜500℃程度で
あることから、絶縁性でかつ気体透過性を有しないとい
う特性に加えて、高温でも化学的に安定な膜、例えば窒
化けい素、窒化アルミニウム、酸化アルミニウムなどの
セラミックス系薄膜が好適に用いられる。
【0013】こうした耐熱絶縁性の緻密な薄膜の形成は
、減圧CVD法、プラズマCVD法などによって行われ
る。 その際、他方の一組の対向電極側の金属酸化物半導体薄
膜部分は、予め金属マスクで覆っておき、後でそれを除
去する方法あるいは全面に耐熱絶縁性薄膜を形成させた
後ドライエッチングする方法などを適用することによっ
て、耐熱絶縁性薄膜による被覆が行われない。
、減圧CVD法、プラズマCVD法などによって行われ
る。 その際、他方の一組の対向電極側の金属酸化物半導体薄
膜部分は、予め金属マスクで覆っておき、後でそれを除
去する方法あるいは全面に耐熱絶縁性薄膜を形成させた
後ドライエッチングする方法などを適用することによっ
て、耐熱絶縁性薄膜による被覆が行われない。
【0014】また、基板の裏面側には、金、白金などの
ペーストから、膜厚約100nm〜1μm程度の薄膜状
のヒーターが設けられる。
ペーストから、膜厚約100nm〜1μm程度の薄膜状
のヒーターが設けられる。
【0015】
【作用】このようにして構成される本発明のガスセンサ
は、金属酸化物半導体薄膜がその半導体的性質から、温
度変化に対してもその導電率が変化するが、ガスバリヤ
性の耐熱絶縁性薄膜によって雰囲気酸素や被検ガスとの
接触を阻止するようにしているので、その導電率は温度
のみによって変化することになり、温度センサとして使
用することができる。
は、金属酸化物半導体薄膜がその半導体的性質から、温
度変化に対してもその導電率が変化するが、ガスバリヤ
性の耐熱絶縁性薄膜によって雰囲気酸素や被検ガスとの
接触を阻止するようにしているので、その導電率は温度
のみによって変化することになり、温度センサとして使
用することができる。
【0016】しかも、このとき温度センサとして、ガス
センサと同じ金属酸化物半導体薄膜を用いているため、
両センサを同時に形成させることができ、また両センサ
の温度特性が等しいため、温度補償が容易かつ高精度と
なる利点もみられる。
センサと同じ金属酸化物半導体薄膜を用いているため、
両センサを同時に形成させることができ、また両センサ
の温度特性が等しいため、温度補償が容易かつ高精度と
なる利点もみられる。
【0017】
【発明の効果】本発明により、比較的単純な工程で作製
でき、しかも温度補償を容易にし、高精度な温度センサ
と一体化されたガスセンサが得られる。
でき、しかも温度補償を容易にし、高精度な温度センサ
と一体化されたガスセンサが得られる。
【0018】
【実施例】アルミナ基板の表面上に、金ペ−ストの厚膜
からなる2組の対向電極を設け、これらの対向電極を覆
うように、金属酸化物半導体薄膜として酸化錫膜(膜厚
約1500Åのトリメチル錫のプラズマ重合膜を熱処理
したもの)を形成させた。
からなる2組の対向電極を設け、これらの対向電極を覆
うように、金属酸化物半導体薄膜として酸化錫膜(膜厚
約1500Åのトリメチル錫のプラズマ重合膜を熱処理
したもの)を形成させた。
【0019】次に、その内の1組の対向電極を覆った酸
化錫膜上をアルミニウム箔で覆った後、プラズマCVD
法により、窒化けい素の膜(膜厚約6000Å)を全面
に形成させた。
化錫膜上をアルミニウム箔で覆った後、プラズマCVD
法により、窒化けい素の膜(膜厚約6000Å)を全面
に形成させた。
【0020】反応ガス流量:SiH415cc/分、N
H330cc/分、N2150cc/分 圧力 :0.5Torr高周波電力
:150W 堆積時間 :20分間 基板温度 :250℃
H330cc/分、N2150cc/分 圧力 :0.5Torr高周波電力
:150W 堆積時間 :20分間 基板温度 :250℃
【0021】その後、金属マスクとして用いられたアル
ミニウム箔を剥離し、アルミニウム箔でマスキングされ
なかった部分の酸化錫膜上に窒化けい素膜を形成させた
。また、基板の裏面側には、金ペ−ストを用いて、膜厚
約1μmの膜状ヒ−タを形成させた。
ミニウム箔を剥離し、アルミニウム箔でマスキングされ
なかった部分の酸化錫膜上に窒化けい素膜を形成させた
。また、基板の裏面側には、金ペ−ストを用いて、膜厚
約1μmの膜状ヒ−タを形成させた。
【0022】以上のようにして作製されたガスセンサに
ついて、窒化けい素膜で覆った方の電極出力で温度補償
を行った場合のメタノ−ルガスに対するガス感度特性を
、素子温度を400℃とし雰囲気温度20℃(○)また
は50℃(●)で測定すると、図2に示されるような結
果が得られた。
ついて、窒化けい素膜で覆った方の電極出力で温度補償
を行った場合のメタノ−ルガスに対するガス感度特性を
、素子温度を400℃とし雰囲気温度20℃(○)また
は50℃(●)で測定すると、図2に示されるような結
果が得られた。
【0023】また、温度補償が行われない場合(ヒ−タ
温度を素子温度ではなく、10Vのヒ−タ電圧のみで制
御した場合)には、図3に示されるような結果が得られ
、雰囲気温度50℃とした場合に感度が低下するのは、
メタノ−ルガスに対するガス感度の温度依存性によるも
のと考えられる。
温度を素子温度ではなく、10Vのヒ−タ電圧のみで制
御した場合)には、図3に示されるような結果が得られ
、雰囲気温度50℃とした場合に感度が低下するのは、
メタノ−ルガスに対するガス感度の温度依存性によるも
のと考えられる。
【0024】このように、これら図2〜3の結果から、
本発明のガスセンサでは温度補償が適切に行われている
ことが分る。
本発明のガスセンサでは温度補償が適切に行われている
ことが分る。
【図1】本発明に係るガスセンサの一態様の斜視図であ
る。
る。
【図2】本発明に係るガスセンサを用いたときのメタノ
−ルガス濃度と感度との関係を示すグラフである。
−ルガス濃度と感度との関係を示すグラフである。
【図3】温度補償が行れないときのメタノ−ルガス濃度
と感度との関係を示すグラフである。
と感度との関係を示すグラフである。
1 基板
2a,2b 対向電極
3a,3b 対向電極
Claims (1)
- 【請求項1】 同一基板の表面上に同じ金属酸化物半
導体薄膜で覆われた2組の対向電極を設け、その内の1
組の対向電極を覆った金属酸化物半導体薄膜上にガスバ
リヤ性の耐熱絶縁性薄膜を積層して被覆し、基板裏面側
には薄膜状ヒータを設けてなるガスセンサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3058001A JP2993156B2 (ja) | 1991-02-28 | 1991-02-28 | ガスセンサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3058001A JP2993156B2 (ja) | 1991-02-28 | 1991-02-28 | ガスセンサ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04273050A true JPH04273050A (ja) | 1992-09-29 |
JP2993156B2 JP2993156B2 (ja) | 1999-12-20 |
Family
ID=13071755
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3058001A Expired - Fee Related JP2993156B2 (ja) | 1991-02-28 | 1991-02-28 | ガスセンサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2993156B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1997013143A1 (en) * | 1995-10-06 | 1997-04-10 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Electrochemical sensors for gas detection |
JP2005265548A (ja) * | 2004-03-17 | 2005-09-29 | Tdk Corp | ガスセンサ |
CN105181754A (zh) * | 2015-06-29 | 2015-12-23 | 电子科技大学 | 补偿型电阻式集成气体传感器阵列及其制备方法 |
WO2016100210A1 (en) * | 2014-12-15 | 2016-06-23 | Robert Bosch Gmbh | Nanolaminate gas sensor and method of fabricating a nanolaminate gas sensor using atomic layer deposition |
KR20210157546A (ko) * | 2020-06-22 | 2021-12-29 | 아주대학교산학협력단 | 수소 검출 센서 및 이의 제조방법 |
-
1991
- 1991-02-28 JP JP3058001A patent/JP2993156B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1997013143A1 (en) * | 1995-10-06 | 1997-04-10 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Electrochemical sensors for gas detection |
JP2005265548A (ja) * | 2004-03-17 | 2005-09-29 | Tdk Corp | ガスセンサ |
WO2016100210A1 (en) * | 2014-12-15 | 2016-06-23 | Robert Bosch Gmbh | Nanolaminate gas sensor and method of fabricating a nanolaminate gas sensor using atomic layer deposition |
US10571420B2 (en) | 2014-12-15 | 2020-02-25 | Robert Bosch Gmbh | Nanolaminate gas sensor and method of fabricating a nanolaminate gas sensor using atomic layer deposition |
CN105181754A (zh) * | 2015-06-29 | 2015-12-23 | 电子科技大学 | 补偿型电阻式集成气体传感器阵列及其制备方法 |
KR20210157546A (ko) * | 2020-06-22 | 2021-12-29 | 아주대학교산학협력단 | 수소 검출 센서 및 이의 제조방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2993156B2 (ja) | 1999-12-20 |
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