JPH0426943A - 光磁気ディスクの性能指数測定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、光磁気ディスクの性能指数を測定するための
性能指数測定方法に関する。

［従来の技術］ 般に、光磁気ディスクの性能評価の一つとして、性能指
数が知られている。この性能指数としては、い（つかの
定義があるが、現在のところ光磁気ディスクの反射率Ｒ
と、カー回転角θ８の積で定義するのが一般的である。

このような性能指数を得るためには、まず反射率Ｒは分
光光度計で測定し、カー回転角θうは種々の公知の方法
で測定し、得られた反射率、カー回転角を乗算していた
。なお、カー回転角の測定方法については、文献、光と
磁気（朝食書店、佐藤勝昭著）に詳しく記載されている
。

［発明が解決しようとしている課題］ しかしながら、このような従来の測定方法では、カー回
転角を測定する場合、光磁気ディスクに磁場を印加して
磁化の方向を反転させる必要があるが、保磁力の大きな
光磁気ディスクでは磁化反転のための装置が大がかりに
なってしまう。また、一般に光磁気ディスクには、トラ
ッキングガイド用の案内溝あるいは案内ビット列が形成
されているため、これらの回折の影響で正確な測定が行
えない問題があった。

本発明は、このような問題点を解消するためになされた
もので、その目的は簡単かつ高精度で性能指数を測定す
るようにした光磁気ディスクの性能指数測定方法を提供
することにある。

〔課題を解決するための手段〕

上記目的を達成するため、光磁気ディスクの情報を記録
する情報記録バンド及びその両側の情報記録バンド分離
用のガードバンドに、両バンドの磁化の方向は同じであ
って、両バンドの長手方向に沿って交互に磁化の方向が
異なる測定用パターンを形成し、この後前記情報記録バ
ンドにレーザ光を照射して測定用パターンを再生し、得
られた再生信号の振幅レベルから性能指数を算出するこ
とを特徴とする光磁気ディスクの性能指数測定方法が提
供される。

〔作用〕

本発明によれば、情報記録バンドとその両側のガードバ
ンドに測定用パターンを形成し、情報記録バンドを再生
して得られた再生信号の振幅レベルから性能指数を算出
することにより、パターンの形成条件などに影響を受け
ることな（、高精度で性能指数を測定するようにしたも
のである。

〔実施例〕

以下、本発明の実施例について、図面を参照しながら詳
細に説明する。第１図は光磁気ディスクの性能指数を測
定するための装置を示した図である。なお、本実施例は
光ヘッドなどの光磁気ディスク装置内の既存の装置を利
用して、性能指数を測定するものである。

第１図において、１は測定対象であるところの光磁気デ
ィスクであり、その中心部はスピンドルモータ２の回転
軸に回転自在に支持されている。

光磁気ディスク１としては、例えばプラスチックの基板
上に磁性膜を形成し、更にその表面を保護膜で覆った構
造である。光磁気ディスク１の上面には、磁性膜にバイ
アス磁界を印加するバイアス磁石３が配設されている。

また、光磁気ディスク１の下面には、半導体レーザ、各
種光学部品などを内蔵した光ヘッド４が配設され、磁性
膜にレーザ光を照射するようになっている。

本実施例の光磁気ディスク装置は、光磁気ディスク１に
情報を記録する方式として、光磁気ディスク１に一定強
度の磁界を与え、またレーザ光の強度をビット情報に応
じて変える光変調方式を採用している。従って、バイア
ス磁石３、光ヘッド４の磁界印加動作及びレーザ光の変
調動作により、磁性膜の磁化の方向をビット情報に対応
して変え、これによってビット情報を記録する。

次に、光磁気ディスクの性能指数の測定方法について説
明する。

まず、性能指数を測定するに当り、光磁気ディスク１に
第２図に示すような測定用パターンを記録する。第２図
中、６は情報を記録するための情報記録バンド（トラッ
ク）、７は情報記録バンド６の間に設けられた情報記録
バンド分離用のガードバンドである。光磁気ディスク１
には、このような情報記録バンド６とガードバンド７が
、スパイラル状あるいは同容円状に設けられている。

本実施例の測定用パターンは、情報記録バンド６及びそ
の両側のガードバンド７の磁化の方向が一定間隔毎に変
わるように形成されている。第２図中、Ａとして示す白
抜きの領域は、磁化の方向が下向きであり、Ｂとして示
す斜線の領域は磁化の方向が上向きである。このように
、測定用パターンとして、情報記録バンド６とガードバ
ンド７に、その長手方向に沿って磁化の方向が一定間隔
毎に交互に反転したパターンを記録する。

この測定用パターンを形成するには、まず光磁気ディス
ク１をスピンドルモータ２によって回転させる。次に、
光磁気ディスク１の情報記録バンド６に、バイアス磁石
３からバイアス磁界を印加し、また光ヘッド４から変調
レーザ光を照射して、第２図にＡ、Ｂとして示したよう
に、磁化の方向を交互に反転させた測定用パターンを記
録する。次に、ガードバンド７にレーザ光を照射して、
前記と全く同様の測定用パターンを記録する。この場合
、情報記録バンド６にＡ、Ｂとして記録した各領域に対
応してガードバンド７の領域も、Ａ、Ｂの領域と磁化の
方向が同じになるようにパターンを記録する。

また、測定用パターンの記録の際は、第１図に示す回転
位置検出機構５から出力されるスピンドルモータ２の回
転位置検出信号を用いる。測定用パターンは、前述した
ように、磁化の方向が異なる領域が一定間隔毎に交互に
記録されているので、回転位置検出信号を有効に利用し
、それに同期してレーザ光を変調することにより、測定
用パターンを容易に記録することができる。

次に、測定用パターンの記録が終了した後、まず光ヘッ
ド４のレーザパワーを再生パワーに切換える。そして、
光ヘッド４からレーザ光を情報記録バンド６に照射し、
このバンド上をトレースする。このレーザ照射の反射光
を差動検出系で再生し、その再生信号の振幅レベルを測
定する。得られた結果を、第３図に１０として示す。第
３図から明らかなように、記録時のレーザパワーが一定
値以上になると、再生信号の振幅レベルはほぼ一定とな
る。つまり、情報記録バンド６とその両側のガードバン
ド７に磁化の方向が同じパターンを記録しているため、
パターンの形成条件や光磁気ディスク１の記録感度に左
右されず、一定出力が得られる。従って、光磁気ディス
クの性能指数であるＲ・θ、に比例した出力が得られ、
この出力に所定の係数を乗算することによって、正確な
性能指数を得ることができる。

これに対し、情報記録バンド６だけに測定用パターンを
記録した場合、第３図に１１として示すような結果が得
られた。この図から明らかなように、レーザパワーの変
化に伴ない、振幅レベルが変化するため、正確な性能指
数を得ることは困難である。即ち、パターン形成時のフ
ォーカス、トラッキングサーボの誤差や、光磁気ディス
クの記録感度のバラツキなどによって誤差が生じ、これ
によって振幅レベルが変化する。

なお、以上の実施例では、測定用パターンの記録を行う
場合、回転位置検出機構から出力される信号を用いた例
を説明したが、これに限ることなく、例えば光磁気ディ
スクに記録されているセクタマークの検出信号を用いて
もよい。また、それ専用の測定パターン記録信号発生装
置を作製してももちろんよい。

光磁気ディスクの基板として、ポリカーボネイトなどの
複屈折の大きな材料を用いた場合、再生信号の周波数が
低いと雑音が大きくなる。また、前述した回転位置検出
信号やセクタマ〜りの検出信号などを使用した場合、測
定用パターンの記録周波数に限界があるため、雑音の影
響を受ける。

この点、専用の測定用パターン記録信号発生装置によっ
て、記録周波数を高くすれば、複屈折の大きな基板の光
磁気ディスクであっても、雑音の影響を受けることなく
、正確な測定を行うことができる。

本実施例では、光磁気ディスク装置内のバイアス磁石、
光ヘッドなどの既存の部品を使用して性能指数を測定す
るため、特殊な測定装置が不要であり、簡単に性能指数
の測定を行うことができる。特に、保磁力の大きな光磁
気ディスクでは、磁化反転のための装置が大がかりであ
ったが、バイアス磁石と光ヘッドを有効に利用したため
、簡単にパターンの記録を行える。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明によれば、情報記録バンドだ
けでなく、その両側のガードバンドにも磁化の方向が同
じ測定用パターンを形成するので、パターン形成条件や
光磁気ディスクの記録感度、あるいはトラッキングガイ
ド用の案内溝や案内ビット列などに左右されず、高精度
で光磁気ディスクの性能指数を測定できるという効果が
ある。

【図面の簡単な説明】

第１図は光磁気ディスク装置の構成を概略的に示す構成
図、第２図は光磁気ディスクに記録した測定用パターン
を模式的に示す説明図、第３図は測定用パターンを情報
記録バンドとガードバンドに記録、情報記録バンドだけ
に記録した場合とで、再生信号の振幅レベルとレーザ記
録パワーとの関係を比較して示す特性図である。 １・・・光磁気ディスク、３・・・バイアス磁石、４・
・・光ヘッド、６・・・情報記録バンド、７・・・ガー
ドバンド。 第 図 第 図 第 図 記τ東バワ−

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 光磁気ディスクの情報を記録する情報記録バンド及びそ
   の両側の情報記録バンド分離用のガードバンドに、両バ
   ンドの磁化の方向は同じであつて、両バンドの長手方向
   に沿って交互に磁化の方向が異なる測定用パターンを形
   成し、この後前記情報記録バンドにレーザ光を照射して
   測定用パターンを再生し、得られた再生信号の振幅レベ
   ルから性能指数を算出することを特徴とする光磁気ディ
   スクの性能指数測定方法。