JPH04265835A - ダスト発生量測定装置 - Google Patents

ダスト発生量測定装置

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Publication number
JPH04265835A
JPH04265835A JP2629291A JP2629291A JPH04265835A JP H04265835 A JPH04265835 A JP H04265835A JP 2629291 A JP2629291 A JP 2629291A JP 2629291 A JP2629291 A JP 2629291A JP H04265835 A JPH04265835 A JP H04265835A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
dust
suction port
stage
test sample
air
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2629291A
Other languages
English (en)
Inventor
Takahiro Ishizaki
石崎 恭弘
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP2629291A priority Critical patent/JPH04265835A/ja
Publication of JPH04265835A publication Critical patent/JPH04265835A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、駆動機構およびその部
品などについてダスト発生量の評価を行う装置に関する
。LSIパターンの微細化が進み、半導体製造装置の駆
動機構などから発生したダストが製品デバイスに与える
影響が問題となっている。
【0002】
【従来の技術】従来のダスト発生量測定装置は、図2に
示すように、送風口にファン1とフィルタ2を設けた試
験試料設置室3、縮流部4、および排風口をあけたダス
ト採取室5を連通させた包囲体と、ダスト採取室5内に
配置したダスト吸引口7に連通するダストカウンタ6と
を有する。試験試料3′を設置して稼働させ、発生した
ダストを送風気流に載せ、この気流を縮流部4で絞り、
ダスト採取室5内のダスト吸引口7から吸引し、ダスト
カウンタ6で計測する。ダストカウンタは吸引式の光散
乱式ダストカウンタである。このときダスト吸引口7に
向けて流れる気流の風速がダスト吸引口7における吸引
速度に等しいことが必要である。もし前者が後者より大
きければ、ダスト量が過大に測定され、反対の場合には
、ダスト量が過小となって測定される。従来は、手動で
ファンモータへの供給電圧を制御して、気流の風速が、
ダスト吸引口の吸引速度と等しくなるように調節してい
た。
【0003】なお試験試料の大きさおよび形状に応じて
、送風気流で運ばれるダスト量が、ダスト採取位置によ
って変化する。従来は、ダスト吸引口の位置を変える操
作も手動で行っており、そのため実験の精度や再現性が
悪く、さらにダスト採取室の排風口から排出されるダス
トが装置の使用環境を汚染する欠点があった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、ダスト発生
量測定装置において、ダストカウンタに連通するダスト
吸引口の位置における気流の風速がダスト吸引口の吸引
速度に等しいように制御することを主要な課題とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記課題は、試験試料か
ら発生したダストを同伴した気流に対面するダスト吸引
口7に隣接して、風速センサ8を設け、このセンサ8で
測定した気流の風速が、ダストカウンタ6に連通するダ
スト吸引口7の吸引速度に等しいように、送風ファン1
の送風量を調節する制御装置9を設けたことを特徴とす
るダスト発生量測定装置によって解決することができる
【0006】
【作用】本発明は、ファン制御装置によりダスト採取位
置における気流の風速とダストカウンタの吸引速度が常
に等しくなるようにファンを制御することで、ダスト採
取位置が変っても等速度吸引による測定を行うことがで
きる。なおダスト採取位置をステージにより移動するこ
とにより、測定精度、再現性を向上させ、また試験試料
の発生ダストをダスト採取室の排風口に装着したフィル
タで捕集して、ダストが装置外に流出することを防止し
て装置使用環境の清浄度を保つことができる。
【0007】
【実施例】図1は、本発明のダスト発生量測定装置の実
施態様を示す断面図である。従来の装置と相違する点を
記載する。ファン制御装置9を設け、これにダストカウ
ンタ6に連通するダスト吸引口7における吸引速度を入
力する。ファン制御装置9は風速センサ処理部とファン
モータ制御部とで構成され、処理部は風速センサ8が感
知した気流の風速をダスト吸引口7の吸引速度と比較し
、その結果にもとずいてファンモータ制御部が送風ファ
ン1を駆動する図示しないパルスモータに信号を送り、
ダスト採取位置における気流の風速がダスト吸引口7の
吸引速度に等しいように、制御する。
【0008】ファン1により装置に送られた空気は、試
験試料設置室3内で試験試料3′に触れ、試験試料3′
から発生したダストを同伴し、縮流部4を経てダスト採
取室5に入り、ここでダスト吸引口7および風速センサ
8に流れつく。ダスト吸引口7は可撓性導管によってダ
ストカウンタ6に連通している。ダストを含む気流の風
速はダスト吸引口7の吸引速度と等速度であり、気流中
のダスト量を正確に測定できる。
【0009】またダスト採取室5内に、ダスト吸引口7
と風速センサ8とを支持するステージ10を設け、この
ステージ10をステージ駆動制御装置11で精度および
再現性よくXY方向に移動させながらダストを採取する
ことができる。なお、ダスト採取室5の排風口には、フ
ィルタ12を設けて、作業室内へのダストの放出を防止
することができる。
【0010】
【発明の効果】本発明によれば、常に等速度吸引により
ダスト発生量を精度高くかつ再現性良く測定することが
できるので、半導体製造装置などにおける駆動機構製作
の際、防塵効果の高い材質、構造の選定に有用なもので
ある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のダスト発生量測定装置の実施態様の断
面図である。
【図2】従来技術のダスト発生量測定装置の断面図であ
る。
【符号の説明】
1…ファン 2,12…フィルタ 3…試験試料設置室 3′…試験試料 4…縮流部 5…ダスト採取室 6…ダストカウンタ 7…ダスト吸引口 8…風速センサ 9…ファン制御装置 10…ステージ 11…ステージ駆動制御装置

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  送風口にファンとフィルタを設けたダ
    スト発生試験試料設置室、縮流部、および排風口をあけ
    たダスト採取室を順次連通させた包囲体と、ダスト採取
    室内のダスト吸引口に連通し、吸引ファンを有するダス
    トカウンタとを含むダスト発生量測定装置であって、試
    験試料から発生したダストを同伴した気流に対面するダ
    スト吸引口(7)に隣接して、風速センサ(8)を設け
    、このセンサ(8)で測定した風速が、ダストカウンタ
    (6)に連通するダスト吸引口(7)の吸引速度に等し
    いように、送風ファン(1)の送風量を調節する制御装
    置(9)を設けたことを特徴とする装置。
  2. 【請求項2】  ダスト吸引口(7)と風速センサ(8
    )とを支持するステージ(10)およびこれを移動させ
    るステージ駆動制御装置(11)を設けた、請求項1に
    記載の装置。
  3. 【請求項3】  ダスト採取室(5)にあけた排風口に
    フィルタ(12)を設けた、請求項1または2に記載の
    装置。
JP2629291A 1991-02-20 1991-02-20 ダスト発生量測定装置 Withdrawn JPH04265835A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI611172B (zh) * 2016-10-27 2018-01-11 財團法人成大研究發展基金會 一種具均勻分布機制之落塵檢測機

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI611172B (zh) * 2016-10-27 2018-01-11 財團法人成大研究發展基金會 一種具均勻分布機制之落塵檢測機

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