JPH04259908A - 磁気ディスク基板 - Google Patents
磁気ディスク基板Info
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- JPH04259908A JPH04259908A JP2220091A JP2220091A JPH04259908A JP H04259908 A JPH04259908 A JP H04259908A JP 2220091 A JP2220091 A JP 2220091A JP 2220091 A JP2220091 A JP 2220091A JP H04259908 A JPH04259908 A JP H04259908A
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Landscapes
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- Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、金属スパッタ型磁気
ディスクなどに用いられる、磁気ディスク基板に関する
ものである。
ディスクなどに用いられる、磁気ディスク基板に関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】近年、情報量の増大に伴い、磁気ディス
クの高容量化及びその記録媒体(磁性膜)の高密度化が
図られている。記録密度向上のためには、磁気ヘッドの
浮上高さを極力小さくする必要があり、このため、磁気
ディスクの基板には、磁気ヘッドの低浮上化に対処し得
る表面粗度(表面平滑度)が求められている。例えば、
現在、磁気ヘッド浮上高さとしては 0.1μm以下を
実現することが要請されており、この場合、磁気ディス
ク基板に要求される表面粗度は、この浮上高さの1/1
0以下程度にすることが必要であるとされている。
クの高容量化及びその記録媒体(磁性膜)の高密度化が
図られている。記録密度向上のためには、磁気ヘッドの
浮上高さを極力小さくする必要があり、このため、磁気
ディスクの基板には、磁気ヘッドの低浮上化に対処し得
る表面粗度(表面平滑度)が求められている。例えば、
現在、磁気ヘッド浮上高さとしては 0.1μm以下を
実現することが要請されており、この場合、磁気ディス
ク基板に要求される表面粗度は、この浮上高さの1/1
0以下程度にすることが必要であるとされている。
【0003】また、記録密度向上のためには記録媒体(
磁性膜)の厚みを薄くすることが必要であり、この点か
ら、媒体膜厚減少に限界がみられる、アルミニウム合金
基板上にコーティング記録媒体(塗布型記録媒体)を塗
布した構造の塗布型磁気ディスクに代わるものとして、
基板上にめっき法によって金属磁性膜を形成した構造の
めっき型磁気ディスク、あるいは、基板上にスパッタ法
によって金属磁性膜を形成した構造の金属スパッタ型磁
気ディスクなどの薄膜磁気ディスクが注目されており、
その一部は実用に供されている。
磁性膜)の厚みを薄くすることが必要であり、この点か
ら、媒体膜厚減少に限界がみられる、アルミニウム合金
基板上にコーティング記録媒体(塗布型記録媒体)を塗
布した構造の塗布型磁気ディスクに代わるものとして、
基板上にめっき法によって金属磁性膜を形成した構造の
めっき型磁気ディスク、あるいは、基板上にスパッタ法
によって金属磁性膜を形成した構造の金属スパッタ型磁
気ディスクなどの薄膜磁気ディスクが注目されており、
その一部は実用に供されている。
【0004】このような薄膜磁気ディスクの基板として
は、良好な研磨性を確保して表面粗度を小さくするため
に、アルミニウム合金よりなる基体(アルミニウム合金
基板)の表面に厚み10〜15μm程度の無電解NiP
めっき膜を施した、いわゆるNiP めっき基板が用
いられている。
は、良好な研磨性を確保して表面粗度を小さくするため
に、アルミニウム合金よりなる基体(アルミニウム合金
基板)の表面に厚み10〜15μm程度の無電解NiP
めっき膜を施した、いわゆるNiP めっき基板が用
いられている。
【0005】一方、磁気ディスク装置においては、磁気
ヘッド浮揚面と磁気ディスク表面が極めて平滑で微小間
隔で対面していると、その間がO2、N2、H2O 等
の分子により埋めつくされて界面張力による大きな吸着
力が発生し、ディスク静止時に磁気ヘッド浮揚面と磁気
ディスク表面との吸着が生じることがある。この吸着が
生じると、磁気ディスク装置のモータ起動時に多大の電
力を消費し、最悪の場合には磁気ヘッドが破壊するなど
の回復不可能な障害に至ることにもなる。
ヘッド浮揚面と磁気ディスク表面が極めて平滑で微小間
隔で対面していると、その間がO2、N2、H2O 等
の分子により埋めつくされて界面張力による大きな吸着
力が発生し、ディスク静止時に磁気ヘッド浮揚面と磁気
ディスク表面との吸着が生じることがある。この吸着が
生じると、磁気ディスク装置のモータ起動時に多大の電
力を消費し、最悪の場合には磁気ヘッドが破壊するなど
の回復不可能な障害に至ることにもなる。
【0006】この磁気ヘッド吸着を防止するため、磁気
ディスク基板としては、研磨を施した表面に同心円状の
条こん(同心円状の溝)をつけて基板表面を微小粗さに
調整し粗面化するテクスチャー加工(処理)が施された
、いわゆるテクスチャー付き磁気ディスク基板が用いら
れている。そして、このようなテクスチャー加工が施さ
れたNiP めっき基板上にCo合金系の磁性層(磁性
膜)をスパッタ法によって形成した磁気ディスクにおい
ては、結晶磁気異方性により円周方向の磁気特性が向上
することが知られている。
ディスク基板としては、研磨を施した表面に同心円状の
条こん(同心円状の溝)をつけて基板表面を微小粗さに
調整し粗面化するテクスチャー加工(処理)が施された
、いわゆるテクスチャー付き磁気ディスク基板が用いら
れている。そして、このようなテクスチャー加工が施さ
れたNiP めっき基板上にCo合金系の磁性層(磁性
膜)をスパッタ法によって形成した磁気ディスクにおい
ては、結晶磁気異方性により円周方向の磁気特性が向上
することが知られている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この従
来のNiP めっき基板では、さらに磁気特性を向上さ
せるために、例えば、基板温度を 300℃程度以上に
高めてスパッタ法によって磁性層を形成しようとすると
、めっき層のNiP の結晶化により磁性を帯びるとい
う欠点がある。
来のNiP めっき基板では、さらに磁気特性を向上さ
せるために、例えば、基板温度を 300℃程度以上に
高めてスパッタ法によって磁性層を形成しようとすると
、めっき層のNiP の結晶化により磁性を帯びるとい
う欠点がある。
【0008】この発明は、上記のような点に鑑みてなさ
れたものであって、磁性膜の形成時などにおける磁気特
性向上のための高温加熱処理が可能であるとともに、磁
気ディスクとされた際の磁気ヘッド吸着防止性に優れ、
記録密度向上の要請に応えることのできる、磁気ディス
ク基板の提供を目的とする。
れたものであって、磁性膜の形成時などにおける磁気特
性向上のための高温加熱処理が可能であるとともに、磁
気ディスクとされた際の磁気ヘッド吸着防止性に優れ、
記録密度向上の要請に応えることのできる、磁気ディス
ク基板の提供を目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、この発明による磁気ディスク基板は、シリコンよ
りなるディスク基体の表面にその半径方向の表面粗度が
Ra10〜 500Åとなるように同心円状の条こんを
形成してなることを特徴とするものである。
めに、この発明による磁気ディスク基板は、シリコンよ
りなるディスク基体の表面にその半径方向の表面粗度が
Ra10〜 500Åとなるように同心円状の条こんを
形成してなることを特徴とするものである。
【0010】
【作用】シリコンよりなるディスク基体は、耐熱性に優
れ非磁性であり、高温加熱処理されても磁化されること
はない。さらに、ディスク基体の表面にその半径方向の
表面粗度がRa10〜 500Åとなるように同心円状
の条こんが形成されているので、磁気ディスクとされた
際の円周方向の磁気特性が向上するとともに、磁気ヘッ
ド吸着を防止できる。
れ非磁性であり、高温加熱処理されても磁化されること
はない。さらに、ディスク基体の表面にその半径方向の
表面粗度がRa10〜 500Åとなるように同心円状
の条こんが形成されているので、磁気ディスクとされた
際の円周方向の磁気特性が向上するとともに、磁気ヘッ
ド吸着を防止できる。
【0011】この場合、基板半径方向の表面粗度(表面
粗さ)は、Ra10〜 500Åの範囲が適当である。 表面粗度がRa10Åより小さいと、磁気ヘッド吸着防
止効果、円周方向の磁気特性向上効果が十分ではなく、
Ra 500Åを超えると、表面が粗くなり過ぎて磁気
ヘッドの浮上動作が不安定となり易いためである。
粗さ)は、Ra10〜 500Åの範囲が適当である。 表面粗度がRa10Åより小さいと、磁気ヘッド吸着防
止効果、円周方向の磁気特性向上効果が十分ではなく、
Ra 500Åを超えると、表面が粗くなり過ぎて磁気
ヘッドの浮上動作が不安定となり易いためである。
【0012】
【実施例】以下、実施例に基づいてこの発明を説明する
。まず、板厚1.30mmのシリコンウエハー材を外径
95mm、内径25mmのドーナツ形状に加工した後、
これに所定の端面加工および表面鏡面仕上げを施して、
板厚1.27mm、表面粗度がRa=3Åの3.5 イ
ンチ用のシリコンディスク基体とした。
。まず、板厚1.30mmのシリコンウエハー材を外径
95mm、内径25mmのドーナツ形状に加工した後、
これに所定の端面加工および表面鏡面仕上げを施して、
板厚1.27mm、表面粗度がRa=3Åの3.5 イ
ンチ用のシリコンディスク基体とした。
【0013】次に、このシリコンディスク基体を回転さ
せた状態で、砥粒が付着された研磨テープをテープ裏面
側からロールで押し付けながらこの基体の半径方向に接
触移動させ、基体表面に同心円状の条こんをつけて基体
表面を粗面化するテクスチャー加工を施し、テクスチャ
ー付きのシリコン磁気ディスク基板を作製した。
せた状態で、砥粒が付着された研磨テープをテープ裏面
側からロールで押し付けながらこの基体の半径方向に接
触移動させ、基体表面に同心円状の条こんをつけて基体
表面を粗面化するテクスチャー加工を施し、テクスチャ
ー付きのシリコン磁気ディスク基板を作製した。
【0014】この場合の加工条件は、研磨テープ:60
00番、回転数:800 rpm 、ロール硬度:90
、押し付け荷重:0.5 〜2Kg/cm2 、加工処
理時間:1分間、研削剤:ユシロケンMIC−5 (ユ
シロ化学製)の 5%水溶液、とした。
00番、回転数:800 rpm 、ロール硬度:90
、押し付け荷重:0.5 〜2Kg/cm2 、加工処
理時間:1分間、研削剤:ユシロケンMIC−5 (ユ
シロ化学製)の 5%水溶液、とした。
【0015】作製したシリコン磁気ディスク基板の基板
半径方向の表面粗度Raを表面粗さ計によって測定した
。 その測定結果を表1に示す。そして、このような基板半
径方向の表面粗度Raを有するそれぞれのシリコン磁気
ディスク基板上に、厚み3000ÅのCr下地層と、厚
み 600ÅのCo62.5Ni30Cr7.5 磁性
層と、厚み 300ÅのC保護層とをD.C.マグネト
ロンスパッタ装置を用いて順次形成して磁気ディスクを
作製した。なお、基板温度は 300℃とした。これら
の磁気ディスクの円周方向及び半径方向の保磁力を振動
試料型磁力計(VSM)を用いて測定した。 さらに、磁気ヘッドに対する吸着防止性を評価するため
、温度65℃、湿度85%の高温高湿度の雰囲気におい
て10日間の磁気ヘッド吸着試験を行った。
半径方向の表面粗度Raを表面粗さ計によって測定した
。 その測定結果を表1に示す。そして、このような基板半
径方向の表面粗度Raを有するそれぞれのシリコン磁気
ディスク基板上に、厚み3000ÅのCr下地層と、厚
み 600ÅのCo62.5Ni30Cr7.5 磁性
層と、厚み 300ÅのC保護層とをD.C.マグネト
ロンスパッタ装置を用いて順次形成して磁気ディスクを
作製した。なお、基板温度は 300℃とした。これら
の磁気ディスクの円周方向及び半径方向の保磁力を振動
試料型磁力計(VSM)を用いて測定した。 さらに、磁気ヘッドに対する吸着防止性を評価するため
、温度65℃、湿度85%の高温高湿度の雰囲気におい
て10日間の磁気ヘッド吸着試験を行った。
【0016】保磁力の測定結果及び吸着試験の結果を表
1に示す。なお、比較のため、テクスチャー加工なしの
上記のシリコンディスク基体上にも上記と同様の各層を
形成して比較用の磁気ディスクを作製し、保磁力測定及
び吸着試験を実施して比較例とした。
1に示す。なお、比較のため、テクスチャー加工なしの
上記のシリコンディスク基体上にも上記と同様の各層を
形成して比較用の磁気ディスクを作製し、保磁力測定及
び吸着試験を実施して比較例とした。
【0017】
【表1】
【0018】表1から理解されるように、この発明によ
るシリコン磁気ディスク基板を用いることにより、磁気
ヘッドに対する吸着防止性に優れ、円周方向の保磁力が
向上した磁気ディスクを得ることができた。
るシリコン磁気ディスク基板を用いることにより、磁気
ヘッドに対する吸着防止性に優れ、円周方向の保磁力が
向上した磁気ディスクを得ることができた。
【0019】
【発明の効果】以上説明したように、この発明による磁
気ディスク基板は、そのディスク基体がシリコンよりな
るものであるから、耐熱性に優れ、磁性膜形成時に基体
が従来のNiP めっき基板で生じるような磁性を帯び
ることなく磁性膜の磁気特性を向上させるための高温加
熱処理が可能である。さらに、ディスク基体の表面にそ
の半径方向の表面粗度がRa10〜 500Åとなるよ
うに同心円状の条こんが形成されているので、磁気ディ
スクとされた際に円周方向の保磁力が向上するとともに
、磁気ヘッドに対する吸着現象を防止することができる
。
気ディスク基板は、そのディスク基体がシリコンよりな
るものであるから、耐熱性に優れ、磁性膜形成時に基体
が従来のNiP めっき基板で生じるような磁性を帯び
ることなく磁性膜の磁気特性を向上させるための高温加
熱処理が可能である。さらに、ディスク基体の表面にそ
の半径方向の表面粗度がRa10〜 500Åとなるよ
うに同心円状の条こんが形成されているので、磁気ディ
スクとされた際に円周方向の保磁力が向上するとともに
、磁気ヘッドに対する吸着現象を防止することができる
。
Claims (1)
- 【請求項1】 シリコンよりなるディスク基体の表面
にその半径方向の表面粗度がRa10〜 500Åとな
るように同心円状の条こんを形成してなることを特徴と
する磁気ディスク基板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2220091A JPH04259908A (ja) | 1991-02-15 | 1991-02-15 | 磁気ディスク基板 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2220091A JPH04259908A (ja) | 1991-02-15 | 1991-02-15 | 磁気ディスク基板 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04259908A true JPH04259908A (ja) | 1992-09-16 |
Family
ID=12076158
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2220091A Withdrawn JPH04259908A (ja) | 1991-02-15 | 1991-02-15 | 磁気ディスク基板 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04259908A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0702360A1 (en) | 1994-09-13 | 1996-03-20 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Magnetic recording medium |
US6236542B1 (en) * | 1994-01-21 | 2001-05-22 | International Business Machines Corporation | Substrate independent superpolishing process and slurry |
US6956233B2 (en) | 2002-08-26 | 2005-10-18 | Sin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Plated substrate for hard disk medium |
US7238384B2 (en) | 2002-08-26 | 2007-07-03 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Substrate for perpendicular magnetic recording hard disk medium and method for producing the same |
US7476454B2 (en) | 2004-03-03 | 2009-01-13 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Substrate for magnetic recording medium |
-
1991
- 1991-02-15 JP JP2220091A patent/JPH04259908A/ja not_active Withdrawn
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6236542B1 (en) * | 1994-01-21 | 2001-05-22 | International Business Machines Corporation | Substrate independent superpolishing process and slurry |
EP0702360A1 (en) | 1994-09-13 | 1996-03-20 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Magnetic recording medium |
US6956233B2 (en) | 2002-08-26 | 2005-10-18 | Sin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Plated substrate for hard disk medium |
US7238384B2 (en) | 2002-08-26 | 2007-07-03 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Substrate for perpendicular magnetic recording hard disk medium and method for producing the same |
US7476454B2 (en) | 2004-03-03 | 2009-01-13 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Substrate for magnetic recording medium |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19980514 |