JPH04253371A - マスタスライス方式の半導体集積回路装置 - Google Patents

マスタスライス方式の半導体集積回路装置

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JPH04253371A
JPH04253371A JP3026846A JP2684691A JPH04253371A JP H04253371 A JPH04253371 A JP H04253371A JP 3026846 A JP3026846 A JP 3026846A JP 2684691 A JP2684691 A JP 2684691A JP H04253371 A JPH04253371 A JP H04253371A
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JP
Japan
Prior art keywords
wiring
layer
integrated circuit
semiconductor integrated
circuit device
Prior art date
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Pending
Application number
JP3026846A
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English (en)
Inventor
Hirotoshi Mine
浩利 峯
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH04253371A publication Critical patent/JPH04253371A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体基板に予め設け
られた基本セルを利用して所望の論理機能を実現するマ
スタスライス方式の半導体集積回路装置に関し、特に、
論理機能ブロック内配線として微小振幅信号が流れる信
号線を有する半導体集積回路装置に好適のマスタスライ
ス方式の半導体集積回路装置に関する。
【0002】
【従来の技術】マスタスライス方式の半導体集積回路装
置においては、半導体基板に設けられた1個又は複数個
の基本セルを利用し、基本セル間を配線で接続すること
により所望の論理機能を有する論理機能ブロックを構成
する。そして、この論理機能ブロック間を配線すること
により、半導体集積回路装置を完成するようになってい
る。
【0003】この場合に、特定の論理機能ブロック(以
下、マクロという)については、予め配線パターンのレ
イアウトが設計されており、ライブラリとして用意され
ている。従って、これらのマクロについては、マクロ内
配線を新たに設計する必要がない。
【0004】マスタスライス方式の半導体集積回路装置
においては、所望の機能を有する半導体集積回路装置を
製造する場合に、先ず、前記所望の機能に応じて、予め
用意されたライブラリに登録されている複数のマクロを
利用して論理設計を行なう。次いで、この論理設計に基
づいて、論理機能ブロック内及び論理機能ブロック間等
の配線パターンを設計する。この場合に、マクロの動作
速度等のデータを基に、マクロの配置、マクロ間の配線
パターン並びに装置のテストパターン及びテストプログ
ラムを電子計算機を使用して決定する。このようにして
、複雑な論理機能及び記憶機能等の機能を実現すること
ができる。
【0005】マスタスライス方式の半導体集積回路装置
には、上述の如く、基本セル及びライブラリに登録され
たマクロを利用して半導体集積回路の設計を行なうため
、短時間で製品を完成させることができるという長所が
ある。
【0006】図2は従来のマスタスライス方式の半導体
集積回路装置を示す平面図である。論理機能ブロック1
は、予めライブラリに登録されている2層配線を使用し
たマクロである。この論理機能ブロック1の半導体基板
(以下、ウェハーという)上には、第1の絶縁膜(図示
せず)を介して第1の配線層が設けられており、この第
1の配線層上には、第2の絶縁膜(図示せず)を介して
第2の配線層が設けられている。前記第1の配線層には
、第1層配線2,3が第1のパターンで形成されており
、第2の配線層には第2層配線4が第2のパターンで形
成されている。そして、例えばこの第2層配線4と第1
層配線2,3とは、前記第2の絶縁膜に選択的に設けら
れたコンタクトホールを介して電気的に接続されている
。このマクロ内の配線2,3,4は、そのデータが予め
ライブラリに用意されており、電子計算機によりその位
置が自動的に決定される。
【0007】第2の配線層上には、第3の絶縁膜(図示
せず)を介して第3の配線層が設けられている。この第
3の配線層には、電子計算機によりそのパターンが決定
されたマクロ間配線用の第3層配線6が形成されている
(日経マイクロデバイス  第65〜80頁  198
6年 9月号  日経マグロウヒル社発行)。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
マスタスライス方式の半導体集積回路装置においては、
以下に示す問題点がある。即ち、RAM( Rando
m Access Memory )マクロにおけるデ
ィジット線のように、マクロ内配線として微小振幅の信
号が流れる配線がある場合、電子計算機を使用して自動
配線を実施すると、この微小振幅信号配線の直上域にマ
クロ間を接続する配線が配置されることがある。そうす
ると、例えば、図2において第1層配線3が微小振幅信
号配線であるとすると、この第1層配線3の直上域には
論理機能ブロック間を接続する第3層配線6が配置され
ているため、第3層配線6と第1層配線3との間にクロ
ストークが発生し、第3層配線6の電位の変化に伴って
第1層配線3の電位が変化してしまう。これにより、半
導体集積回路装置の誤動作を招来する。
【0009】本発明はかかる問題点に鑑みてなされたも
のであって、マクロ間配線と微小振幅信号が流れるマク
ロ内配線との間のクロストークを抑制し、クロストーク
に起因する半導体集積回路装置の誤動作を回避できるマ
スタスライス方式の半導体集積回路装置を提供すること
を目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明に係るマスタスラ
イス方式の半導体集積回路装置は、半導体基板に設けら
れた複数個の基本セルと、この基本セル間を電気的に接
続することにより特定の論理機能ブロックを構成する論
理機能ブロック内配線とを有するマスタスライス方式の
半導体集積回路装置において、前記論理機能ブロック内
配線は、前記半導体基板上に第1の絶縁膜を介して設け
られた第1の配線層に第1のパターンで形成された第1
層配線と、この第1の配線層上に第2の絶縁膜を介して
設けられた第2の配線層に第2のパターンで形成された
第2層配線とを備え、前記第2の配線層には前記第2層
配線が設けられた領域を除く領域の適所に特定の電位に
保持されるシールド部が設けられていることを特徴とす
る。
【0011】
【作用】本発明においては、論理機能ブロック内配線が
第1の配線層及び第2の配線層に形成されており、この
第2の配線層の第2層配線が設けられた領域を除く領域
の適所には、特定の電位に保持されるシールド部が設け
られている。つまり、本発明に係るマスタスライス方式
の半導体集積回路装置においては、例えば、第1の配線
層に論理機能ブロック内配線として微小振幅信号が流れ
る信号線が設けられている場合に、第2の配線層におい
て第2層配線が設けられている領域を除く領域の適所(
即ち、前記微小振幅信号線の上方)に、特定の電位に保
持されるシールド部が設けられている。これにより、第
2の配線層上にその電位が比較的大きく変動する論理機
能ブロック間配線を配置しても、第1の配線層に形成さ
れた論理機能ブロック内配線とこの論理機能ブロック間
配線との間にはシールド部が介在するため、論理機能ブ
ロック内配線と論理機能ブロック間配線との間のクロス
トークは著しく低減される。従って、クロストークに起
因する半導体集積回路装置の誤動作を回避することがで
きる。
【0012】
【実施例】次に、本発明の実施例について添付の図面を
参照して説明する。
【0013】図1は本発明の実施例に係るマスタスライ
ス方式の半導体集積回路装置を示す平面図である。
【0014】論理機能ブロック1はマスタウェハーに設
けられた基本セルを利用して形成されたマクロである。 そして、マスタウェハー上には、第1の絶縁膜(図示せ
ず)を介して第1の配線層が設けられている。この第1
の配線層には、マクロ内の基本セル間の配線としての第
1層配線2,3が第1のパターンで形成されている。な
お、第1層配線3は、微小振幅信号が流れる信号線であ
る。
【0015】第1の配線層上には、第2の絶縁膜(図示
せず)を介して第2の配線層が設けられている。この第
2の配線層には、マクロ内の配線としての第2層配線4
が第2のパターンで形成されていると共に、この第2層
配線4が形成された領域及びその周囲の領域を除く論理
機能ブロック1の大部分の領域を覆うシールド部5が形
成されている。なお、このシールド部5は、この半導体
集積回路装置において使用される最高電位、最低電位又
は接地電位に保持されるようになっている。
【0016】第2の配線層上には、第3の絶縁膜(図示
せず)を介して第3の配線層が第3のパターンで設けら
れている。この第3の配線層には、論理機能ブロック間
を接続する第3層配線6が形成されている。
【0017】この論理機能ブロック1は、予めライブラ
リとして、第2の配線層まで(即ち、第1層配線2,3
並びに第2層配線4及びシールド部5)が用意されてお
り、ユーザが所望する論理機能に基づいて、第3層配線
6のパターンが決定される。この第3層配線6のパター
ンは、電子計算機により自動的に決定される。
【0018】この場合に、図1に示すように、微小振幅
信号が流れるマクロ内の第1層配線3の直上域にその電
位が激しく変動する第3層配線6が配置されたとしても
、第2の配線層にシールド部5が設けられているため、
第1層配線3と第3層配線6との間のクロストークを抑
制できる。従って、配線間のクロストークに起因する半
導体集積回路装置の誤動作を回避することができる。
【0019】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、論
理機能ブロック内配線が第1及び第2の配線層に形成さ
れており、この第2の配線層の第2層配線が設けられた
領域を除く領域の適所には特定の電位に保持されるシー
ルド部が設けられているから、論理機能ブロック間を接
続する配線と論理機能ブロック内の微小振幅信号が流れ
る配線との間のクロストークを抑制でき、半導体集積回
路装置の誤動作を回避することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例に係るマスタスライス方式の半
導体集積回路装置を示す平面図である。
【図2】従来のマスタスライス方式の半導体集積回路装
置を示す平面図である。
【符号の説明】
1;論理機能ブロック 2,3;第1層配線 4;第2層配線 5;シールド部 6;第3層配線

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  半導体基板に設けられた複数個の基本
    セルと、この基本セル間を電気的に接続することにより
    特定の論理機能ブロックを構成する論理機能ブロック内
    配線とを有するマスタスライス方式の半導体集積回路装
    置において、前記論理機能ブロック内配線は、前記半導
    体基板上に第1の絶縁膜を介して設けられた第1の配線
    層に第1のパターンで形成された第1層配線と、この第
    1の配線層上に第2の絶縁膜を介して設けられた第2の
    配線層に第2のパターンで形成された第2層配線とを備
    え、前記第2の配線層には前記第2層配線が設けられた
    領域を除く領域の適所に特定の電位に保持されるシール
    ド部が設けられていることを特徴とするマスタスライス
    方式の半導体集積回路装置。
JP3026846A 1991-01-28 1991-01-28 マスタスライス方式の半導体集積回路装置 Pending JPH04253371A (ja)

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JP3026846A JPH04253371A (ja) 1991-01-28 1991-01-28 マスタスライス方式の半導体集積回路装置

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JP3026846A JPH04253371A (ja) 1991-01-28 1991-01-28 マスタスライス方式の半導体集積回路装置

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ID=12204642

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JP3026846A Pending JPH04253371A (ja) 1991-01-28 1991-01-28 マスタスライス方式の半導体集積回路装置

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JP (1) JPH04253371A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6630704B2 (en) 2000-09-05 2003-10-07 Seiko Epson Corporation Semiconductor device

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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