JPH04247898A - Plating current controller - Google Patents

Plating current controller

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Publication number
JPH04247898A
JPH04247898A JP2037791A JP2037791A JPH04247898A JP H04247898 A JPH04247898 A JP H04247898A JP 2037791 A JP2037791 A JP 2037791A JP 2037791 A JP2037791 A JP 2037791A JP H04247898 A JPH04247898 A JP H04247898A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
plating
current
cells
line speed
acceleration
Prior art date
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Pending
Application number
JP2037791A
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Japanese (ja)
Inventor
Akihiko Yoshida
昭彦 吉田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPH04247898A publication Critical patent/JPH04247898A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To controll the current density of a plating cell to a specified range. CONSTITUTION:The traveling distance of a strip passing through plating cells 3a-3c is detected by a distance detector 14. According to the detected distance and the referential current, the optimum number of plating cells, timing for acceleration of the line, and timing to switch into the referential plating current are determined by a computing device 15.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】0001

【産業上の利用分野】この発明は、ライン加速中のメッ
キ電流密度が所定範囲へ収まるように制御するメッキ電
流制御装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a plating current control device for controlling plating current density during line acceleration so that it falls within a predetermined range.

【0002】0002

【従来の技術】図3は従来のメッキ電流制御装置を示し
、図において、1は図示矢印方向に進行するメッキ対象
のストリップ、2はストリップ1のライン速度検出器、
3a〜3cはストリップ1にメッキをするメッキセル、
4a〜4cはメッキセル3a〜3cに供給されるメッキ
電流の電流検出器、5a〜5cはメッキ電流を供給する
整流器、6a〜6cは整流器5a〜5cを介してメッキ
セル3a〜3cに供給される電流が所定値となるように
制御されるコントローラ、7a〜7cはメッキ電流を分
配してコントローラ6a〜6cに供給する分配器、8は
電流検出器4a〜4cの出力によりメッキ電流の総和を
求める加算器、9はPI(比例積分)コントローラであ
り、出力信号を分配器7a〜7cに供給する。10は計
算回路であり、ライン速度検出器2を介して得たストリ
ップ1のライン速度と、電流基準との差を求め比較器1
0aに供給する。比較器10aは加算器8で得たメッキ
電流の総和と計算回路10の出力との差を求め、PIコ
ントローラに供給する。11は目付量、板幅、電極効率
及びライン速度から総合電流基準を計算し、これを計算
回路10に供給する電流基準回路である。
2. Description of the Related Art FIG. 3 shows a conventional plating current control device, in which numeral 1 indicates a strip to be plated which moves in the direction of the arrow shown, numeral 2 indicates a line speed detector for the strip 1;
3a to 3c are plating cells that plate strip 1;
4a to 4c are current detectors for plating current supplied to plating cells 3a to 3c, 5a to 5c are rectifiers for supplying plating current, and 6a to 6c are currents supplied to plating cells 3a to 3c via rectifiers 5a to 5c. 7a to 7c are distributors that distribute the plating current and supply it to the controllers 6a to 6c, and 8 is an adder for calculating the sum of the plating currents based on the outputs of the current detectors 4a to 4c. 9 is a PI (proportional integral) controller, which supplies output signals to distributors 7a to 7c. 10 is a calculation circuit which calculates the difference between the line speed of the strip 1 obtained through the line speed detector 2 and the current reference, and calculates the difference between the line speed of the strip 1 obtained through the line speed detector 2 and the current reference;
Supply to 0a. The comparator 10a determines the difference between the total plating current obtained by the adder 8 and the output of the calculation circuit 10, and supplies the difference to the PI controller. Reference numeral 11 denotes a current reference circuit that calculates a total current reference from the basis weight, plate width, electrode efficiency, and line speed, and supplies this to the calculation circuit 10.

【0003】次に動作について説明する。各メッキセル
3a〜3cに供給されるメッキ電流は電流検出器4a〜
4cにより検出され、加算器8により加算される。これ
により求められたメッキ電流の総和は、比較器10aに
おいて計算回路10からの総合電流基準との差が求めら
れ、PIコントローラ9に供給される。PIコントロー
ラ9は比較器10aからの電流基準を分配器7a〜7c
に供給する。分配器7a〜7cはメッキ電流を各コント
ローラ6a〜6c、整流器5a〜5c及び電流検出器4
a〜4cを介してメッキセル3a〜3cに供給する。こ
こで、ライン速度検出器2によって検出されたストリッ
プ1のライン速度は、計算回路10に入力され、計算回
路10はこのライン速度の増減に従い、電流基準回路1
1により設定された総合電流基準を増減させる。例えば
、ライン速度が増大したときは、総合電流基準を増加さ
せる。ところで、このようなメッキ電流検出装置では、
ライン加速中は厳密なメッキ電流密度の制御をすること
なく、もっぱらメッキセル総合電流の制御を行うもので
あった。メッキ電流密度は各メッキセルの電流値とその
電極長及び板幅から計算され、また総合電流は目付量、
板幅、電極効率及びライン速度から計算される。これら
のメッキ条件が変化しない限り、総合電流は一定に制御
され、メッキ付着量が一定となるように制御される。し
かし、最新のメッキ処理では、メッキ電流密度をある範
囲内に制御することが要求されるようになった。 これはメッキ面の光沢、電極効率の改善、耐蝕性の向上
等が要求されるようになったことによる。
Next, the operation will be explained. The plating current supplied to each plating cell 3a to 3c is detected by a current detector 4a to
4c and added by adder 8. The difference between the sum of the plating currents thus determined and the total current reference from the calculation circuit 10 is determined in the comparator 10a, and the difference is supplied to the PI controller 9. The PI controller 9 distributes the current reference from the comparator 10a to the distributors 7a to 7c.
supply to. The distributors 7a to 7c distribute the plating current to the respective controllers 6a to 6c, the rectifiers 5a to 5c, and the current detector 4.
It is supplied to the plating cells 3a to 3c via a to 4c. Here, the line speed of the strip 1 detected by the line speed detector 2 is input to the calculation circuit 10, and the calculation circuit 10 calculates the current reference circuit 1 according to the increase or decrease in the line speed.
Increase or decrease the total current reference set by 1. For example, when the line speed increases, the total current reference is increased. By the way, in such a plating current detection device,
During line acceleration, the plating cell total current was solely controlled without strictly controlling the plating current density. The plating current density is calculated from the current value of each plating cell, its electrode length and plate width, and the total current is calculated from the basis weight,
Calculated from plate width, electrode efficiency and line speed. As long as these plating conditions do not change, the total current is controlled to be constant, and the amount of plating deposited is controlled to be constant. However, in the latest plating processes, it has become necessary to control the plating current density within a certain range. This is due to the need for improved gloss of the plated surface, improved electrode efficiency, improved corrosion resistance, etc.

【0004】0004

【発明が解決しようとする課題】従来のメッキ電流制御
装置は以上のように構成されているので、ライン加速中
は、ライン速度検出器2で検出したライン速度に応じて
、計算回路10においてダイナミックにメッキ電流の総
合電流を定め、これによって各メッキセル3a〜3cの
電流密度を変化させなければならず、メッキ電流密度を
所定範囲内に制御するのが困難であるなどの問題点があ
った。
[Problems to be Solved by the Invention] Since the conventional plating current control device is configured as described above, during line acceleration, the calculation circuit 10 performs dynamic control according to the line speed detected by the line speed detector 2. It is necessary to determine the total current of the plating current in order to change the current density of each plating cell 3a to 3c, and there are problems in that it is difficult to control the plating current density within a predetermined range.

【0005】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、ライン加速時において、最適な
加速タイミングと各メッキセルのメッキ電流基準の最適
な切換タイミングとを決定することにより、各メッキセ
ルの電流密度を所定範囲内となるように制御するメッキ
電流制御装置を得ることを目的とする。
The present invention was made to solve the above-mentioned problems, and by determining the optimum acceleration timing and the optimum switching timing of the plating current standard of each plating cell during line acceleration, An object of the present invention is to obtain a plating current control device that controls the current density of each plating cell so that it falls within a predetermined range.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】この発明に係るメッキ電
流制御装置は、メッキセルを通過するストリップの進み
距離を距離検出器で検出し、この検出した距離と電流基
準とにもとづいて、最適なメッキセル数と、ライン加速
タイミングおよびメッキ電流基準の切換タイミングとを
演算装置で決定するようにしたものである。
[Means for Solving the Problems] A plating current control device according to the present invention detects the advancing distance of a strip passing through a plating cell with a distance detector, and determines the optimum plating cell based on the detected distance and current reference. The number, line acceleration timing, and plating current reference switching timing are determined by an arithmetic unit.

【0007】[0007]

【作用】この発明における演算装置は、ライン加速時に
おいて、目標ライン速度に応じた総合電流により最適な
メッキセル数とライン加速およびメッキ電流基準切換の
最適タイミングを決定し、これにより各メッキセルの電
流密度を所定範囲内となるように補償する。
[Operation] During line acceleration, the arithmetic device determines the optimal number of plating cells and the optimal timing for line acceleration and plating current reference switching based on the total current according to the target line speed, and thereby determines the current density of each plating cell. compensation so that it falls within a predetermined range.

【0008】[0008]

【実施例】以下、この発明の一実施例を図について説明
する。図1において、12a〜12cはメッキ電流密度
を所定範囲内に収めるための電流リミッタ、13はスト
リップ1の速度を一定に保つための速度コントローラ、
14はストリップ1の進んだ距離を検出する距離検出器
、15は上記距離及び電流基準にもとづいて最適な加速
タイミング及び最適なメッキ電流基準切換タイミングを
決定する演算装置である。なお、このほかの第3図に示
したものと同一のブロックには同一符号を付して、その
重複する説明を省略する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. In FIG. 1, 12a to 12c are current limiters for keeping the plating current density within a predetermined range; 13 is a speed controller for keeping the speed of the strip 1 constant;
14 is a distance detector that detects the distance traveled by the strip 1, and 15 is an arithmetic unit that determines the optimum acceleration timing and the optimum plating current reference switching timing based on the distance and current reference. Note that other blocks that are the same as those shown in FIG. 3 are given the same reference numerals, and redundant explanation thereof will be omitted.

【0009】また、図2は図1に示すブロック図による
メッキ電流の制御手順を示すフローチャートである。同
図において、ST1は最適なメッキセル数を決定する処
理ステップ、ST2はメッキセル数決定の処理ステップ
ST1に続くメッキセル数増加の判断ステップ、ST3
はメッキセル数増加の判断ステップST2に続くメッキ
電流基準切換の最適タイミングを演算する処理ステップ
、ST4はメッキ電流基準切換タイミング演算処理ステ
ップST3に続くライン加速の最適タイミングを演算す
る処理ステップ、ST5はライン加速タイミング演算処
理ステップST4に続くトラッキングスタートの処理ス
テップ、ST6はトラッキングスタート処理ステップS
T5に続く加速ポイントか否かを判断する判断ステップ
、ST7は加速ポイント判断ステップST6に続くライ
ン加速の処理ステップ、ST8はライン加速処理ステッ
プST7に続く加速完了の判断ステップ、ST9はトラ
ッキングスタート処理ステップST5に続くメッキ電流
基準切換ポイントか否かを判断する判断ステップ、ST
10はメッキ電流基準切換ポイント判断ステップST9
に続くメッキ電流基準切換の処理ステップ、ST11は
メッキ電流基準切換処理ステップST10に続く全メッ
キセルのメッキ電流基準切換完了の判断ステップである
Further, FIG. 2 is a flowchart showing the plating current control procedure according to the block diagram shown in FIG. In the figure, ST1 is a processing step for determining the optimum number of plating cells, ST2 is a judgment step for increasing the number of plating cells following processing step ST1 for determining the number of plating cells, and ST3 is a step for determining the number of plating cells.
ST4 is a processing step for calculating the optimum timing for switching the plating current reference following the step ST2 for determining the increase in the number of plating cells, ST4 is a processing step for calculating the optimum timing for line acceleration following the plating current reference switching timing calculation step ST3, and ST5 is for calculating the optimum timing for line acceleration following the step ST3 for calculating the plating current reference switching timing. Tracking start processing step following acceleration timing calculation processing step ST4, ST6 is tracking start processing step S
A judgment step for determining whether or not it is an acceleration point following T5, ST7 is a line acceleration processing step following the acceleration point judgment step ST6, ST8 is a judgment step for acceleration completion following the line acceleration processing step ST7, and ST9 is a tracking start processing step. Judgment step of determining whether it is the plating current reference switching point following ST5, ST
10 is a plating current reference switching point judgment step ST9
The plating current reference switching processing step ST11 subsequent to plating current reference switching processing step ST10 is a determination step of completion of plating current reference switching for all plating cells.

【0010】次に動作について説明する。まず、電流基
準回路11はメッキ条件、即ち目付量、板幅、電極効率
、ライン速度などにより総合的な電流基準を計算する。 次に、演算したこの電流基準をもとに、メッキセル数を
決定し(ステップST1)、このときメッキセル数が増
加か否かを調べ(ステップST2)、セル数が増加であ
れば、メッキ電流基準切換の最適タイミングを演算し(
ステップST3)、続いて、ライン加速の最適タイミン
グを演算する(ステップST4)。次いで、トラッキン
グをスタートさせ(ステップST5)、加速ポイントか
否かを判断させる(ステップST6)。加速ポイントで
あれば、ライン加速し(ステップST7)、さらに加速
完了となるまで処理ステップST7を繰り返させる(ス
テップST8)。そうでなければ加速ポイントまで状態
を保持する。一方、メッキ電流基準が切換ポイントか否
かを調べ(ステップST9)、切換ポイントであれば、
メッキ電流基準を切換え(ステップST10)、全メッ
キセルのメッキ電流基準切換が完了するまで、処理ステ
ップST10を繰り返す(ステップST11)。そうで
なければ、メッキ電流基準切換ポイントまで状態を保持
する。また、メッキセル数増加の判断ステップST2に
おいて、セル数増加でなければ、処理ステップST7に
おいてライン加速し、さらに判断ステップST8におい
て加速完了となるまで処理ステップST7を繰り返す。
Next, the operation will be explained. First, the current reference circuit 11 calculates a comprehensive current reference based on plating conditions, ie, basis weight, board width, electrode efficiency, line speed, etc. Next, the number of plating cells is determined based on this calculated current standard (step ST1), and it is checked whether the number of plating cells increases (step ST2). If the number of cells increases, the plating current standard Calculate the optimal timing for switching (
Step ST3), then the optimum timing for line acceleration is calculated (step ST4). Next, tracking is started (step ST5), and it is determined whether or not it is an acceleration point (step ST6). If it is an acceleration point, line acceleration is performed (step ST7), and processing step ST7 is repeated until the acceleration is completed (step ST8). Otherwise, hold the state until the acceleration point. On the other hand, it is checked whether the plating current reference is a switching point (step ST9), and if it is a switching point,
The plating current reference is switched (step ST10), and processing step ST10 is repeated until the plating current reference switching for all plating cells is completed (step ST11). Otherwise, hold the state until the plating current reference switching point. If the number of cells is not increased in step ST2, which determines whether the number of plating cells is increased, the line is accelerated in step ST7, and step ST7 is repeated until the acceleration is completed in step ST8.

【0011】[0011]

【発明の効果】以上のように、この発明によれば、メッ
キセルを通過するストリップの進み距離を距離検出器で
検出し、この検出した距離と電流基準とにもとづいて、
最適なメッキセル数と、ライン加速タイミングおよびメ
ッキ電流基準の切換タイミングとを演算装置で決定する
ように構成したので、ライン加速時における各メッキセ
ルの電流密度を所定の範囲内となるように補償でき、こ
の結果、一定の光沢が得られ、電極効率、および耐飾性
がすぐれたメッキを実施できるものが得られる効果があ
る。
As described above, according to the present invention, the traveling distance of the strip passing through the plating cell is detected by the distance detector, and based on the detected distance and the current reference,
Since the optimum number of plating cells, line acceleration timing, and plating current reference switching timing are determined by a calculation device, it is possible to compensate the current density of each plating cell during line acceleration so that it is within a predetermined range. As a result, a certain level of gloss can be obtained, and plating with excellent electrode efficiency and decorative resistance can be achieved.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

【図1】この発明の一実施例によるメッキ電流制御装置
を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a plating current control device according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1のメッキ電流制御装置による電流制御手順
を示すフローチャート図である。
FIG. 2 is a flowchart showing a current control procedure by the plating current control device of FIG. 1;

【図3】従来のメッキ電流制御装置を示すブロック図で
ある。
FIG. 3 is a block diagram showing a conventional plating current control device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1  ストリップ 2  ライン速度検出器 3a  メッキセル 3b  メッキセル 3c  メッキセル 8  加算器 10a  比較器 14  距離検出器 15  演算装置 なお、図中、同一符号は同一または相当部分を示す。 1 Strip 2 Line speed detector 3a Plating cell 3b Plating cell 3c Plating cell 8 Adder 10a Comparator 14 Distance detector 15 Arithmetic device In addition, in the figures, the same reference numerals indicate the same or corresponding parts.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】  ライン速度の加速時において、複数の
メッキセルに供給されるメッキ電流の総和を求める加算
器と、上記メッキセルを通過してメッキされるストリッ
プのライン速度を検出するライン速度検出器と、上記メ
ッキ電流の総和と、上記ライン速度に対応した所定範囲
のメッキ電流密度を得るように設定された電流基準とを
比較し、この比較結果に従って上記メッキセルのメッキ
電流を制御可能にする比較器とを備えたメッキ電流制御
装置において、上記ストリップの進み距離を検出する距
離検出器と、この距離検出器で検出した距離と電流基準
とにもとづいて、最適なメッキセル数とライン加速タイ
ミングおよびメッキ電流基準の切換タイミングとを決定
する演算装置とを設けたことを特徴とするメッキ電流制
御装置。
1. An adder for calculating the sum of plating currents supplied to a plurality of plating cells when the line speed is accelerated; and a line speed detector for detecting the line speed of the strip passing through the plating cells and being plated. , a comparator that compares the sum of the plating currents with a current standard set to obtain a plating current density in a predetermined range corresponding to the line speed, and controls the plating current of the plating cell according to the comparison result. A plating current control device equipped with a distance detector for detecting the advancing distance of the strip, and an optimal number of plating cells, line acceleration timing, and plating current based on the distance detected by the distance detector and a current reference. 1. A plating current control device comprising: a calculation device for determining reference switching timing; and a calculation device for determining reference switching timing.
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Cited By (1)

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JP2008169404A (en) * 2007-01-05 2008-07-24 Jfe Steel Kk Electroplating method

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