JPH0971895A - Plating current controller - Google Patents

Plating current controller

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Publication number
JPH0971895A
JPH0971895A JP25192395A JP25192395A JPH0971895A JP H0971895 A JPH0971895 A JP H0971895A JP 25192395 A JP25192395 A JP 25192395A JP 25192395 A JP25192395 A JP 25192395A JP H0971895 A JPH0971895 A JP H0971895A
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JP
Japan
Prior art keywords
plating
current
load balance
cell
plating current
Prior art date
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Pending
Application number
JP25192395A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Akihiko Yoshida
昭彦 吉田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP25192395A priority Critical patent/JPH0971895A/en
Publication of JPH0971895A publication Critical patent/JPH0971895A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To control a plating current by conducting the optimum load balance control for the overall plating current of the plating current of each plating cell in accordance with the concn. of the plating soln. SOLUTION: The concns. of plating cells 3a to 3c are detected by plating soln. concn. detectors 4a to 4c, and the load balance of the plating current is determined by a central processing unit 14 based on the detected concns. The current references of the cells 3a to 3c are calculated by load balance control circuits 9a to 9c from the load balance references of the plating currents of the cells 3a to 3c from the central processing unit 14 and supplied to distributors 8a to 8c.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、各メッキセルの
メッキ電流の使用負荷バランスを考慮し、メッキ電流密
度を所定範囲内に制御するメッキ電流制御装置に関する
ものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a plating current controller for controlling a plating current density within a predetermined range in consideration of a load balance of a plating current of each plating cell.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、この種の制御装置は、各メッキセ
ルの電流負荷バランスを考慮しながら厳密なメッキ電流
密度の制御をすることなく、もっぱらメッキセルの総合
電流の制御を行なうものであった。即ち、従来において
はメッキセルに供給されるメッキ電流は検出器により検
出され、コントローラはメッキ電流をメッキセルに供給
する。又検出器によって検出されたストリップのライン
速度は、計算回路に入力され、計算回路はこのライン速
度の増減に従い電流基準回路により設定された総合電流
基準を増減させる。例えばライン速度が増大したとき
は、総合電流基準は増加される。
2. Description of the Related Art Heretofore, this type of control device has exclusively controlled the total current of the plating cells without strictly controlling the plating current density while considering the current load balance of each plating cell. That is, conventionally, the plating current supplied to the plating cell is detected by the detector, and the controller supplies the plating current to the plating cell. The line speed of the strip detected by the detector is input to the calculation circuit, and the calculation circuit increases or decreases the total current reference set by the current reference circuit according to the increase or decrease of the line speed. For example, when line speed increases, the total current reference is increased.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】従来の制御装置は以上
のように構成されているので、メッキ溶液濃度に応じ
て、各メッキセルのメッキ電流の負荷バランスをとるこ
とができず、メッキ溶液濃度等のメッキ条件が変化した
場合に、各メッキセルの電流負荷バランスを考慮しなが
ら、メッキ電流密度を所定範囲内に制御するのは困難で
あるなどの問題点があった。
Since the conventional control device is constructed as described above, the load of the plating current of each plating cell cannot be balanced according to the concentration of the plating solution, so that the concentration of the plating solution, etc. There is a problem that it is difficult to control the plating current density within a predetermined range while taking into consideration the current load balance of each plating cell when the plating conditions of No. 2 change.

【0004】この発明は上記のような問題点を解決する
ためになされたものであり、メッキ溶液濃度に応じて各
メッキセルのメッキ電流のメッキ総合電流に対する最適
な負荷バランスを決定できるとともに各メッキセルの電
流密度を所定範囲内となるように制御するメッキ電流制
御装置を得ることを目的とする。
The present invention has been made to solve the above problems, and can determine the optimum load balance of the plating current of each plating cell with respect to the total plating current according to the concentration of the plating solution, and at the same time An object of the present invention is to obtain a plating current control device that controls the current density to fall within a predetermined range.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】この発明の請求項1、2
に係るメッキ電流制御装置は、メッキ溶液濃度のフィー
ドバックに従い各メッキセルのメッキ電流の負荷バラン
スを決定することにより、メッキ総合電流に対する負荷
バランス制御を行なうものである。
SUMMARY OF THE INVENTION Claims 1 and 2 of the present invention
The plating current control device according to (1) controls the load balance of the total plating current by determining the load balance of the plating current of each plating cell according to the feedback of the plating solution concentration.

【0006】又、この発明の請求項3によるメッキ電流
制御装置は、負荷バランス制御回路を各メッキセルの使
用、不使用に応じて補正するための補正回路を設けたも
のである。
Further, a plating current control device according to a third aspect of the present invention is provided with a correction circuit for correcting the load balance control circuit according to whether or not each plating cell is used.

【0007】更に、この発明の請求項4、5によるメッ
キ電流制御装置は、メッキ付着量のフィードバック信号
によりメッキ電流基準を補正するようにしたものであ
る。
Further, the plating current control device according to the fourth and fifth aspects of the present invention is such that the plating current reference is corrected by the feedback signal of the plating adhesion amount.

【0008】[0008]

【発明の実施の形態】BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION

実施の形態1.以下、この発明の実施の形態1を図に基
づいて説明する。図1は、実施形態1によるメッキ電流
自動制御装置を示すブロック図であり、図において、1
は図示矢印方向に進行するメッキ対象のストリップ、2
はストリップ1のライン速度を検出する検出器、3a〜
3cはストリップ1にメッキするメッキセル、4a〜4
cは各メッキ溶液濃度を検出する検出器、5a〜5cは
メッキセル3a〜3cに供給されるメッキ電流の検出
器、6a〜6cはメッキ電流を供給する整流器、7a〜
7cは整流器6a〜6cを介してメッキセル3a〜3c
に供給する電流が所定値となるように制御するコントロ
ーラ、8a〜8cはメッキ電流を分配し、コントローラ
7a〜7cに供給する分配器、9a〜9cは各メッキセ
ルのメッキ電流の負荷バランスに従い、メッキ総合電流
に対する負荷バランス制御を行なう制御回路、10は検
出器5a〜5cの出力によりメッキ電流の総和を求める
加算器、11はPI(比較、積分)コントローラであ
り、出力信号を負荷バランス制御回路9a〜9cに供給
する。12は計算回路であり、検出器2を介して得るス
トリップ1のライン速度と、電流基準との差を求め加算
器12aに情報を供給する。加算器12aは加算器10
のメッキ電流の総和と計算回路12の出力との差を求
め、PIコントローラ11に出力を供給する。13は目
付量、板幅、電極効率及びライン速度から総合電流基準
を計算し、これを計算回路12に供給する電流基準回
路、14は各メッキ溶液濃度により、メッキ電流の負荷
バランスを決定する中央演算処理装置である。
Embodiment 1. Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing an automatic plating current controller according to the first embodiment.
Is a strip to be plated that advances in the direction of the arrow in the figure, 2
Is a detector for detecting the line speed of the strip 1, 3a-
3c is a plating cell for plating the strip 1 and 4a to 4a.
c is a detector for detecting the concentration of each plating solution, 5a-5c are detectors for the plating current supplied to the plating cells 3a-3c, 6a-6c are rectifiers for supplying the plating current, and 7a-
7c is the plating cells 3a to 3c via the rectifiers 6a to 6c.
A controller for controlling the current supplied to the controller to a predetermined value, 8a to 8c distributing the plating current, and a distributor supplying to the controllers 7a to 7c, 9a to 9c according to the load balance of the plating current of each plating cell. A control circuit for performing load balance control on the total current, 10 is an adder for obtaining the total sum of plating currents from the outputs of the detectors 5a to 5c, and 11 is a PI (comparison, integral) controller for outputting an output signal to the load balance control circuit 9a. Supply to ~ 9c. Reference numeral 12 denotes a calculation circuit, which calculates the difference between the line speed of the strip 1 obtained via the detector 2 and the current reference and supplies the information to the adder 12a. The adder 12a is the adder 10
Then, the difference between the sum of the plating current and the output of the calculation circuit 12 is obtained, and the output is supplied to the PI controller 11. 13 is a current reference circuit that calculates a total current reference from the basis weight, plate width, electrode efficiency, and line speed, and supplies this to the calculation circuit 12, and 14 is a center that determines the load balance of the plating current depending on the concentration of each plating solution. It is an arithmetic processing unit.

【0009】次に動作について説明する。各メッキセル
3a〜3cに供給されるメッキ電流は検出器5a〜5c
により検出され、加算器10により加算される。これに
より求められたメッキ電流の総和は、加算器12aによ
り計算回路12の総合電流基準との差が求められ、コン
トローラ11に供給される。一方メッキ溶液濃度検出器
4a〜4cは各メッキ溶液濃度を検出し、中央演算処理
装置14へフィードバックする。中央演算処理装置14
は各メッキ溶液濃度のフィードバック信号に従い、各メ
ッキセルのメッキ電流の負荷バランスを演算し、制御回
路9a〜9cへ出力する。負荷バランス制御回路9a〜
9cは、PIコントローラ11からの出力を受けて、中
央演算処理装置14からの各メッキセルのメッキ電流の
負荷バランス基準に従い、各メッキセルのメッキ電流基
準を演算し、分配器8a〜8cに供給する。分配器8a
〜8cはメッキ電流を各コントローラ7a〜7c、整流
器6a〜6c及び検出器5a〜5cを介してメッキセル
3a〜3cに供給する。検出器2によって検出されたス
トリップ1のライン速度は、計算回路12に入力され、
計算回路12はこのライン速度の増減に従い電流基準回
路13により設定された総合電流基準を増減させる。電
流基準回路13は、メッキ条件、即ち目付量、板幅、電
極効率、ライン速度などにより総合的な電流基準を計算
する。
Next, the operation will be described. The plating currents supplied to the respective plating cells 3a to 3c are detected by the detectors 5a to 5c.
Is detected by and is added by the adder 10. The sum of the plating currents thus obtained is calculated by the adder 12a as a difference from the total current reference of the calculation circuit 12, and is supplied to the controller 11. On the other hand, the plating solution concentration detectors 4a to 4c detect the concentration of each plating solution and feed it back to the central processing unit 14. Central processing unit 14
Calculates the load balance of the plating current of each plating cell according to the feedback signal of each plating solution concentration and outputs it to the control circuits 9a to 9c. Load balance control circuit 9a-
9c receives the output from the PI controller 11, calculates the plating current reference of each plating cell according to the load balance reference of the plating current of each plating cell from the central processing unit 14, and supplies it to the distributors 8a to 8c. Distributor 8a
8c supplies the plating current to the plating cells 3a to 3c via the controllers 7a to 7c, the rectifiers 6a to 6c and the detectors 5a to 5c. The line speed of the strip 1 detected by the detector 2 is input to the calculation circuit 12,
The calculation circuit 12 increases or decreases the total current reference set by the current reference circuit 13 as the line speed increases or decreases. The current reference circuit 13 calculates a comprehensive current reference based on the plating conditions, that is, the basis weight, plate width, electrode efficiency, line speed, and the like.

【0010】このようにして各メッキ溶液濃度に応じて
各メッキセル毎にメッキ電流の負荷バランスを決定する
ようにしたので、各メッキ溶液の濃度に応じたメッキ電
流が設定でき、最適なメッキ付着量を確保できる効果が
ある。
In this way, the load balance of the plating current is determined for each plating cell in accordance with the concentration of each plating solution, so that the plating current can be set in accordance with the concentration of each plating solution, and the optimum amount of deposited plating can be set. Is effective.

【0011】実施の形態2.なお、上記実施形態1で
は、各メッキ溶液濃度を検出する検出器4a〜4cによ
りメッキ電流の負荷バランスを決定する場合について述
べたが、実施形態2においては、図2に示すように、補
正回路15を設け、負荷バランス制御回路9a〜9cを
各メッキセルの使用、不使用に応じて補正するようにし
たので、各メッキセルの整流器を入、切した場合でも最
適なメッキ付着量を確保できる。
Embodiment 2. In the first embodiment, the case where the load balance of the plating current is determined by the detectors 4a to 4c that detect the concentration of each plating solution has been described. However, in the second embodiment, as shown in FIG. Since 15 is provided and the load balance control circuits 9a to 9c are corrected depending on the use or non-use of each plating cell, the optimum amount of plating adhesion can be secured even when the rectifier of each plating cell is turned on and off.

【0012】実施の形態3.図3に示すように、メッキ
付着量を検出する検出装置16と、メッキ付着量検出装
置16からのフィードバック値とライン速度検出器2か
らの速度フィードバック値より補正に必要な総合電流値
を算出する中央演算処理装置17と、加算器18を設
け、メッキ付着量のフィードバック信号によりメッキ総
合電流基準を補正するようにしたので、目付量、板幅、
電極効率、ライン速度等のメッキ諸条件の変化に対して
も最適なメッキ付着量を確保できる。
Embodiment 3. As shown in FIG. 3, a total current value required for correction is calculated from a detection device 16 for detecting the amount of plating adhered, a feedback value from the amount of plating adhesion detector 16 and a speed feedback value from the line speed detector 2. Since the central processing unit 17 and the adder 18 are provided and the total plating current reference is corrected by the feedback signal of the plating adhesion amount, the basis weight, the plate width,
It is possible to secure the optimum amount of plating adhered to changes in various plating conditions such as electrode efficiency and line speed.

【0013】[0013]

【発明の効果】以上のように、この発明の請求項1、2
によるメッキ電流制御装置によれば、メッキ溶液濃度の
フィードバックによる負荷バランス回路を付加したの
で、メッキ溶液濃度に応じて各メッキセルのメッキ電流
の負荷バランスを決定することにより、メッキ総合電流
に対する負荷バランス制御を行ない、各メッキセルのメ
ッキ電流値を決定することができる。
As described above, according to the first and second aspects of the present invention,
According to the plating current control device, the load balance circuit by feedback of the plating solution concentration is added, so by determining the load balance of the plating current of each plating cell according to the plating solution concentration, the load balance control for the total plating current can be performed. Then, the plating current value of each plating cell can be determined.

【0014】又、この発明の請求項3によるメッキ電流
制御装置によれば、負荷バランス制御回路を各メッキセ
ルの使用、不使用に応じて補正するための補正回路を設
けたので、各メッキセルの整流器を入、切した場合でも
最適なメッキ付着量を確保することができる。
Further, according to the plating current control device of the third aspect of the present invention, since the load balance control circuit is provided with the correction circuit for correcting whether or not each plating cell is used, the rectifier of each plating cell is provided. Even when turning on and off, the optimum amount of plating can be secured.

【0015】更にこの発明の請求項4、5によるメッキ
電流制御装置によれば、メッキ付着量のフィードバック
信号によりメッキ電流基準を補正するようにしたので、
目付量、板幅、電極効率及びライン速度等のメッキ諸条
件の変化に対しても最適なメッキ付着量を確保すること
ができる。
Further, according to the plating current control device of the fourth and fifth aspects of the present invention, the plating current reference is corrected by the feedback signal of the plating adhesion amount.
It is possible to secure the optimum amount of deposited plating even with respect to changes in various plating conditions such as the basis weight, plate width, electrode efficiency and line speed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 この発明の実施の形態1によるメッキ電流制
御装置を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a plating current control device according to a first embodiment of the present invention.

【図2】 この発明の実施の形態2によるメッキ電流制
御装置を示すブロック図である。
FIG. 2 is a block diagram showing a plating current control device according to a second embodiment of the present invention.

【図3】 この発明の実施の形態3によるメッキ電流制
御装置を示すブロック図である。
FIG. 3 is a block diagram showing a plating current control device according to a third embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ストリップ、2 速度検出器、3a〜3c メッキ
セル、4a〜4cメッキ溶液濃度検出器、8a〜8c
分配器、9a〜9c 負荷バランス制御回路、10,1
2a,18 加算器、12 計算回路、13 電流基準
回路、14,17 中央演算処理装置、15 補正回
路、16 メッキ付着量検出装置。
1 strip, 2 speed detector, 3a to 3c plating cell, 4a to 4c plating solution concentration detector, 8a to 8c
Distributor, 9a to 9c Load balance control circuit, 10, 1
2a, 18 adder, 12 calculation circuit, 13 current reference circuit, 14, 17 central processing unit, 15 correction circuit, 16 plating amount detection device.

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数のメッキセルに供給されるメッキ電
流の総和と、メッキされるストリップのライン速度に対
応して各メッキセルのメッキ電流を制御するメッキ電流
制御装置において、各メッキ溶液濃度を検出し、各メッ
キセルのメッキ電流基準を演算して、これに基づきメッ
キ電流を各メッキセルに供給することを特徴とするメッ
キ電流制御装置。
1. A plating current controller that controls the plating current of each plating cell in accordance with the sum of the plating currents supplied to the plurality of plating cells and the line speed of the strip to be plated, detects the concentration of each plating solution. A plating current control device which calculates a plating current reference for each plating cell and supplies a plating current to each plating cell based on the calculated reference.
【請求項2】 複数のメッキセルに供給されるメッキ電
流の総和を求める第1の加算器と、メッキ条件から総合
電流基準を設定する電流基準回路と、メッキされるスト
リップのライン速度を検出する検出器からの出力を受け
て上記電流基準回路からの総合電流基準を増減する第1
の計算回路と、この第1の計算回路の出力と上記第1の
加算器の出力とに従い上記各メッキセルに供給されるメ
ッキ電流を制御する第2の加算器と、この第2の加算器
で制御されたメッキ電流を上記各メッキセルに均等に割
付ける分配器を有するメッキ電流制御装置において、各
メッキ溶液濃度により、メッキ電流の負荷バランスを決
定する中央演算処理装置と、上記中央演算処理装置から
の各メッキセルのメッキ電流の負荷バランス基準に従
い、各メッキセルの電流基準を演算し、上記分配器に供
給する負荷バランス制御回路とを具備したことを特徴と
するメッキ電流制御装置。
2. A first adder for obtaining a sum of plating currents supplied to a plurality of plating cells, a current reference circuit for setting a total current reference from plating conditions, and a detection for detecting a line speed of a strip to be plated. For increasing or decreasing the total current reference from the current reference circuit in response to the output from the controller
And a second adder that controls the plating current supplied to each plating cell according to the output of the first calculation circuit and the output of the first adder, and the second adder. In a plating current control device having a distributor that evenly distributes the controlled plating current to each of the plating cells, a central processing unit that determines the load balance of the plating current depending on the concentration of each plating solution, and the central processing unit And a load balance control circuit for calculating the current reference of each plating cell according to the load balance reference of the plating current of each plating cell and supplying it to the distributor.
【請求項3】 負荷バランス制御回路を各メッキセルの
使用、不使用に応じて補正するための補正回路を設けた
ことを特徴とする請求項2記載のメッキ電流制御装置。
3. The plating current control device according to claim 2, further comprising a correction circuit for correcting the load balance control circuit according to use or non-use of each plating cell.
【請求項4】 メッキ付着量のフィードバック信号によ
りメッキ電流基準を補正するようにしたことを特徴とす
る請求項1記載のメッキ電流制御装置。
4. The plating current control device according to claim 1, wherein the plating current reference is corrected by a feedback signal of the plating adhesion amount.
【請求項5】 メッキ付着量検出装置と、上記メッキ付
着量検出装置からのフィードバック値とライン速度検出
器からのフィードバック値より補正に必要な総合電流値
を算出する中央演算処理装置と、上記補正値を加算する
第3の加算器とを設けたことを特徴とする請求項2記載
のメッキ電流制御装置。
5. A plating adhesion amount detecting device, a central processing unit for calculating a total current value required for correction from a feedback value from the plating adhesion amount detecting device and a feedback value from a line speed detector, and the correction. The plating current control device according to claim 2, further comprising a third adder for adding values.
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