JPH07166396A - Plating current controller - Google Patents
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- JPH07166396A JPH07166396A JP31658293A JP31658293A JPH07166396A JP H07166396 A JPH07166396 A JP H07166396A JP 31658293 A JP31658293 A JP 31658293A JP 31658293 A JP31658293 A JP 31658293A JP H07166396 A JPH07166396 A JP H07166396A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】この発明は、鉄鋼圧延のプロセス
ラインに関し、圧延されたストリップをメッキする場合
に、ストリップに付着するメッキ付着量をメッキ電流で
制御することにより最適なメッキ付着量を得るメッキ電
流制御装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a steel rolling process line, and when a rolled strip is plated, an optimum plating deposition amount is obtained by controlling a plating deposition amount deposited on the strip by a plating current. The present invention relates to a plating current control device.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来のメッキ電流制御装置は、ストリッ
プにメッキを行う複数のメッキセルの総合電流(メッキ
電流)を制御することにより、ストリップに対して最適
なメッキを行っていた。図6は従来のメッキ電流制御装
置のシステム構成図である。図において、1はM方向
(図の矢印方向)にストリップライン上を進行するメッ
キの対象となるストリップ、2はストリップ1のストリ
ップラインのライン速度を検出する速度検出器、3a〜
3cはストリップ1を電解液でメッキするメッキセルで
ある。4a〜4cはメッキセル3a〜3cに供給される
メッキ電流を検出する電流検出器であり、例えば変流器
(CT)である。整流器5a〜5cはサイリスタ等のス
イッチング素子から構成され、そのスイッチング素子の
点弧角を制御することにより例えば直流電流を制御し、
その電流をメッキ電流としてメッキセル3a〜3cに供
給する整流器、6a〜6cは整流器5a〜5cのサイリ
スタ等のスイッチング素子に点弧角制御をするパルスを
与えて整流器5a〜5cを制御し、メッキセル3a〜3
cに供給する電流が所定値(設定値)になるように制御
するコントローラである。7a〜7cはメッキ電流を分
配し、この分配したメッキ電流をコントローラ6a〜6
cに供給する分配器、8a,8bは電流検出器4a〜4
bの検出信号からメッキ電流の総和を求める加算器であ
る。例えば、加算器8aは電流検出器4aと4bとの電
流を加算している。9a,9bはメッキ電流のフィード
バック制御をP(比例)要素とI(積分)要素に基づい
て行うPIコントローラであり、出力信号を分配器7a
〜7cに供給する。10c,10dは計算回路であり、
速度検出器2から得た速度の検出値(電流又は電圧のア
ナログ値)、すなわち、ストリップ1のライン速度と電
流基準値との差を求め加算器10a,10bに供給す
る。加算器10a,10bは加算器8a,8bのメッキ
電流の総和と計算回路10c,10dの出力との差を求
め、PIコントローラ9a,9bに供給する。11はス
トリップに対する目付量,板幅、メッキを行う電極の電
極効率及びライン速度から総合電流基準(値)を計算
し、この値を計算回路10c,10dに供給する電流基
準回路である。2. Description of the Related Art A conventional plating current control device performs optimum plating on a strip by controlling the total current (plating current) of a plurality of plating cells for plating the strip. FIG. 6 is a system configuration diagram of a conventional plating current control device. In the figure, 1 is a strip to be plated which travels on the strip line in the M direction (arrow direction in the figure), 2 is a speed detector for detecting the line speed of the strip line of strip 1, 3a-
3c is a plating cell for plating the strip 1 with an electrolytic solution. Reference numerals 4a to 4c are current detectors for detecting the plating current supplied to the plating cells 3a to 3c, and are current transformers (CT), for example. The rectifiers 5a to 5c are composed of switching elements such as thyristors, for example, direct current is controlled by controlling the ignition angle of the switching elements,
Rectifiers 6a to 6c supply the current to the plating cells 3a to 3c as plating currents, and 6a to 6c control the rectifiers 5a to 5c by applying a pulse for controlling the firing angle to switching elements such as thyristors of the rectifiers 5a to 5c. ~ 3
This is a controller that controls the current supplied to c to a predetermined value (set value). 7a to 7c distribute the plating current, and the distributed plating current is distributed to the controllers 6a to 6c.
Distributors 8a and 8b for supplying current to the c are current detectors 4a to 4
It is an adder for obtaining the sum of plating currents from the detection signal of b. For example, the adder 8a adds the currents of the current detectors 4a and 4b. Reference numerals 9a and 9b denote PI controllers that perform feedback control of the plating current based on P (proportional) element and I (integral) element, and output signals to the distributor 7a.
Supply to ~ 7c. 10c and 10d are calculation circuits,
The speed detection value (analog value of current or voltage) obtained from the speed detector 2, that is, the difference between the line speed of the strip 1 and the current reference value is obtained and supplied to the adders 10a and 10b. The adders 10a and 10b find the difference between the sum of the plating currents of the adders 8a and 8b and the outputs of the calculation circuits 10c and 10d, and supply the difference to the PI controllers 9a and 9b. Reference numeral 11 is a current reference circuit that calculates a total current reference (value) from the basis weight of the strip, the plate width, the electrode efficiency of the electrode to be plated, and the line speed, and supplies this value to the calculation circuits 10c and 10d.
【0003】次にこの従来のメッキ電流制御装置の動作
について説明する。各メッキセル3a〜3cに供給され
るメッキ電流は電流検出器4a〜4bにより検出され、
加算器8a,8bにより加算される。例えば、加算器8
aは電流検出器4aと4bとの検出値の総和を求め、こ
の総和を加算器10aに出力する。また、加算器8bは
電流検出器4cだけが接続されているので、電流検出器
4cの検出値を加算器10aに出力する。加算器10
a,10bは加算器8a,8bでそれぞれ求められたメ
ッキ電流の総和と計算回路10c,10dでそれぞれ算
出された総合電流基準(値)との差を求め、これらの結
果を、それぞれのPIコントローラ9a,9bに出力す
る。PIコントローラ9a,9bは加算器10a,10
bから与えられるメッキ電流の総和と総合電流基準
(値)との差に基づき分配された電流基準値を分配器7
a〜7cに供給する。分配器7a〜7cはメッキ電流を
各コントローラ6a〜6c、整流器5a〜5c、電流検
出器4a〜4cの1次側を介してメッキセル3a〜3c
に供給する。速度検出器2によって検出されたストリッ
プ1のライン速度は、計算回路10c,10dに入力さ
れ、計算回路10c,10dはこの速度検出器2のライ
ン速度の増減にしたがって電流基準回路11により設定
された総合電流基準(値)を増減させる。すなわち、例
えば、ストリップラインのライン速度が増大したとき
は、総合電流基準(値)は増加される。Next, the operation of this conventional plating current controller will be described. The plating current supplied to each plating cell 3a-3c is detected by the current detectors 4a-4b,
It is added by the adders 8a and 8b. For example, adder 8
a calculates the sum of the detected values of the current detectors 4a and 4b, and outputs the sum to the adder 10a. Since only the current detector 4c is connected to the adder 8b, the value detected by the current detector 4c is output to the adder 10a. Adder 10
a and 10b obtain the difference between the total sum of the plating currents obtained by the adders 8a and 8b and the total current reference (value) obtained by the calculation circuits 10c and 10d, respectively. It outputs to 9a and 9b. The PI controllers 9a and 9b are adders 10a and 10
The current reference value distributed based on the difference between the total plating current given from b and the total current reference (value) is applied to the distributor 7
a to 7c. The distributors 7a to 7c supply the plating current to the plating cells 3a to 3c via the controllers 6a to 6c, the rectifiers 5a to 5c, and the primary sides of the current detectors 4a to 4c.
Supply to. The line speed of the strip 1 detected by the speed detector 2 is input to the calculation circuits 10c and 10d, and the calculation circuits 10c and 10d are set by the current reference circuit 11 according to the increase or decrease of the line speed of the speed detector 2. Increase or decrease the total current reference (value). That is, for example, when the strip line speed increases, the total current reference (value) is increased.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】従来のメッキ電流制御
装置は以上のように構成されているので、ストリップに
対する目付量,板幅、メッキを行う電極の電極効率及び
ライン速度等のメッキ条件が変化した場合に、最適なメ
ッキ付着量を確保して、メッキ電流を制御することは困
難であるという問題がある。すなわち、従来のメッキ電
流制御装置は、ライン速度をフィードバックすることに
より、総合電流基準値を計算してメッキセルへの電流設
定を行っているが、オープンループで制御しており、実
際のメッキ付着量を検出していない。したがって、スト
リップへの実際の付着量と設定されたメッキ付着量との
間にかなりの誤差を生じる。このため、メッキ条件が変
化した場合は最適なメッキ付着量が困難である。Since the conventional plating current control device is constructed as described above, the plating conditions such as the basis weight of the strip, the plate width, the electrode efficiency of the electrode to be plated and the line speed are changed. In that case, there is a problem that it is difficult to control the plating current by ensuring the optimum amount of deposited plating. That is, the conventional plating current control device calculates the total current reference value by feeding back the line speed to set the current to the plating cell, but it controls in an open loop, and the actual plating adhesion amount. Is not detected. Therefore, there will be a considerable error between the actual deposit on the strip and the set deposit. Therefore, when the plating conditions change, it is difficult to obtain the optimum plating adhesion amount.
【0005】この発明は上記のような課題を解決するた
めになされたものであり、メッキ諸条件が変化しても、
最適なメッキ付着量を確保することができるメッキ電流
制御装置を得ることを目的とする。The present invention has been made in order to solve the above problems, and even if the plating conditions are changed,
It is an object of the present invention to obtain a plating current control device capable of ensuring an optimum plating adhesion amount.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】この請求項1の発明に係
わるメッキ電流制御装置は、メッキセルでメッキされる
ストリップのストリップラインにおいて、上記ストリッ
プラインの所定の位置に設けられたメッキ付着量の検出
装置と、この検出装置から検出されたメッキ付着量に基
づいてメッキ電流を補正するためのメッキ電流補正量を
演算して、メッキ電流を補正する補正回路とを備える構
成とした。A plating current control apparatus according to the invention of claim 1 detects a deposit amount of plating provided at a predetermined position of the strip line in a strip line of a strip plated by a plating cell. An apparatus and a correction circuit for correcting the plating current by calculating a plating current correction amount for correcting the plating current based on the plating adhesion amount detected by the detection device are provided.
【0007】この請求項2の発明に係わるメッキ電流制
御装置は、上記メッキ電流の供給系統を上記検出装置の
前段側と後段側とに区分し、上記補正回路により上記前
段側の供給系統を補正するようにした。In the plating current control device according to the second aspect of the present invention, the plating current supply system is divided into a front stage side and a rear stage side of the detection device, and the correction circuit corrects the front side supply system. I decided to do it.
【0008】この請求項3の発明に係わるメッキ電流制
御装置は、上記補正回路により上記後段側の供給系統を
補正するようにした。In the plating current controller according to the invention of claim 3, the correction circuit corrects the supply system on the rear stage side.
【0009】この請求項4の発明に係わるメッキ電流制
御装置は、上記メッキ電流の供給系統を複数のセル毎に
区分し、上記供給系統の複数のセルに供給するメッキ電
流を複数のセル毎の使用負荷に応じて補正するようにし
た。In the plating current control device according to the invention of claim 4, the plating current supply system is divided into a plurality of cells, and the plating current supplied to the plurality of cells of the supply system is divided into a plurality of cells. The correction was made according to the usage load.
【0010】[0010]
【作用】この請求項1の発明によるメッキ電流制御装置
では、上記ストリップラインの所定の位置にメッキ付着
量を検出する検出装置を設ける。そして、この検出装置
から検出されたメッキ付着量に基づいて、補正回路によ
り、メッキ電流を補正するためのメッキ電流補正量を演
算して、このメッキ電流補正量で設定された総合電流基
準値を補正することにより、ストリップへの適正なメッ
キ付着量を得る。In the plating current control device according to the present invention, the detection device for detecting the plating adhesion amount is provided at a predetermined position of the strip line. Then, based on the plating adhesion amount detected by this detection device, the correction circuit calculates the plating current correction amount for correcting the plating current, and the total current reference value set by this plating current correction amount is calculated. By correcting, an appropriate amount of plating adhered to the strip is obtained.
【0011】この請求項2の発明によるメッキ電流制御
装置では、メッキセルへのメッキ電流の供給系統を上記
検出装置の前段側と後段側とに区分する。このように区
分した後、上記補正回路により、上記前段側の供給系統
を補正して適正なメッキ付着量を得る。In the plating current control device according to the second aspect of the present invention, the system for supplying the plating current to the plating cell is divided into the front stage side and the rear stage side of the detection device. After the division as described above, the correction circuit corrects the supply system on the preceding stage side to obtain an appropriate amount of plating deposition.
【0012】この請求項3の発明によるメッキ電流制御
装置では、上記補正回路により、上記後段側の供給系統
のメッキ電流を補正するようにして、適正なメッキ付着
量を得る。In the plating current control device according to the third aspect of the present invention, the correction circuit corrects the plating current of the supply system on the latter stage side to obtain an appropriate amount of deposited plating.
【0013】この請求項4の発明によるメッキ電流制御
装置では、上記メッキ電流の供給系統を複数のセル毎に
区分し、上記供給系統の複数のセルに供給するメッキ電
流を複数のセル毎の使用負荷に応じて補正し、適正なメ
ッキ付着量を得る。In the plating current controller according to the present invention, the plating current supply system is divided into a plurality of cells and the plating current supplied to the plurality of cells of the supply system is used for each of the plurality of cells. Correct according to the load to obtain a proper amount of plating.
【0014】[0014]
【実施例】以下、この発明の実施例を図に基づいて説明
する。 実施例1.図1はこの発明の実施例1を示すメッキ電流
制御装置のシステム構成図、図2はこの実施例1のメッ
キ電流制御装置の動作を説明するフローチャートであ
る。なお、この実施例では、上述した従来例と同じ機能
を持つ部分に図6と同じ符号を用いている。図1におい
て、12はストリップ1へのメッキ付着量を放射線等を
用いて検出するメッキ付着量検出装置である。ストリッ
プ1のストリップラインには、そのストリップ1を電流
でメッキするための複数のメッキセル3a〜3cが一直
線状に並べられて設けられており、メッキ付着量検出装
置12は、一直線状に並べられた複数のメッキセルのほ
ぼ中央に位置するメッキセルと、このメッキセルの隣の
メッキセルとの間に、ストリップ1に近い位置に設けら
れている。メッキ付着量検出装置12から出力される検
出信号は、例えばアナログ信号であり、メッキ付着量と
比例した電圧値を出力する。中央演算処理装置13,1
6はメッキ付着量検出装置12からのフィードバック値
とストリップラインの速度検出器2からのフィードバッ
ク値より、フィードフォワード制御により必要なメッキ
電流補正量(値)を算出する中央演算処理装置である。
これらの中央演算処理装置13,16の入力側には、例
えばA\D(アナログ\ディジタル)変換器が設けられ
ている。そして、このA\D変換器により、メッキ付着
量検出装置12で検出されたメッキ付着量を示すアナロ
グ量(電圧値)は基準となる電圧と比較されてディジタ
ル値に変換され、上記フィードバック値として用いられ
る。同様にして、速度検出器2からの速度検出量もA\
D変換器でディジタル値に変換されフィードバック値と
して用いられる。14,17は計算回路10c,10d
からの出力と中央演算処理装置13,16からの出力と
を加算する加算器である。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. Example 1. 1 is a system configuration diagram of a plating current control device showing a first embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a flow chart for explaining the operation of the plating current control device of the first embodiment. In this embodiment, the same reference numerals as those in FIG. 6 are used for the parts having the same functions as the above-mentioned conventional example. In FIG. 1, reference numeral 12 is a plating adhesion amount detecting device for detecting the adhesion amount of plating on the strip 1 by using radiation or the like. The strip line of the strip 1 is provided with a plurality of plating cells 3a to 3c arranged in a straight line for plating the strip 1 with an electric current, and the plating adhesion amount detection device 12 is arranged in a straight line. It is provided at a position close to the strip 1 between a plating cell located substantially in the center of the plurality of plating cells and a plating cell adjacent to this plating cell. The detection signal output from the plating adhesion amount detection device 12 is, for example, an analog signal and outputs a voltage value proportional to the plating adhesion amount. Central processing unit 13, 1
Reference numeral 6 denotes a central processing unit that calculates a necessary plating current correction amount (value) by feedforward control from a feedback value from the plating adhesion amount detection device 12 and a feedback value from the stripline speed detector 2.
An A \ D (analog \ digital) converter, for example, is provided on the input side of these central processing units 13 and 16. With this A \ D converter, the analog amount (voltage value) indicating the plating adhesion amount detected by the plating adhesion amount detection device 12 is compared with a reference voltage and converted into a digital value, which is used as the feedback value. Used. Similarly, the speed detection amount from the speed detector 2 is also A \
It is converted into a digital value by the D converter and used as a feedback value. 14 and 17 are calculation circuits 10c and 10d
Is an adder for adding the outputs from the central processing units 13 and 16.
【0015】次にこの実施例1の装置の動作について説
明する。メッキ付着量検出装置12は、ストリップ1へ
のメッキ付着量を検出すると(ステップS10)、この
検出値を中央演算処理装置13,16へのフィードバッ
ク値として出力する。一方、速度検出器2はストリップ
ラインの速度を検出して(ステップS11)、この検出
値を中央演算処理装置13,16にへのフィードバック
値として出力する。中央演算処理装置13,16は総合
電流基準(値)を算出し(ステップS12)、メッキ付
着量、ライン速度の検出値、設定された総合電流基準値
を総合的に判断して、現在のストリップ1へのメッキ付
着量がメッキ条件と対応した最適なものであるか否かを
判断する(ステップS13)。そして、中央演算処理装
置13はそのメッキ付着量が最適なものであれば(ステ
ップS13でYES)、メッキ電流1の補正を行わない
で、補正なしのメッキ電流をメッキセル3a〜3cに供
給して、ストリップ1へのメッキを行わせる。また、そ
のメッキ付着量が最適なものでないときは(ステップS
13でNO)、補正電流値を算出する。すなわち、中央
演算処理装置13,16はメッキ付着量のストリップラ
インの速度検出器2からの速度のフィードバック値か
ら、最も適切なフィードフォワードによる補正電流値
(メッキ電流補正値)を算出する(ステップS14)。
そして、その算出値を加算器14,17に出力する。加
算器14,17は、計算回路10c,10dで出力され
た全メッキセルの総合電流基準(値)に、中央演算処理
装置13,16で算出されたメッキ電流補正値を加算し
(ステップS15)、加算器10a,10bに出力し
て、メッキセルのメッキ電流制御を行う(ステップS1
6)。Next, the operation of the apparatus according to the first embodiment will be described. When the plating adhesion amount detection device 12 detects the plating adhesion amount on the strip 1 (step S10), it outputs this detection value as a feedback value to the central processing units 13 and 16. On the other hand, the speed detector 2 detects the speed of the strip line (step S11) and outputs the detected value as a feedback value to the central processing units 13 and 16. The central processing units 13 and 16 calculate a total current reference (value) (step S12), comprehensively judge the amount of plating adhered, the detected value of the line speed, and the set total current reference value to determine the current strip. It is determined whether or not the amount of plating adhered to No. 1 is the optimum one corresponding to the plating conditions (step S13). If the amount of deposited plating is optimum (YES in step S13), the central processing unit 13 does not correct the plating current 1 and supplies the uncorrected plating current to the plating cells 3a to 3c. , Strip 1 is plated. If the amount of deposited plating is not optimal (step S
No in 13), and the correction current value is calculated. That is, the central processing units 13 and 16 calculate the most appropriate feedforward correction current value (plating current correction value) from the feedback value of the speed from the speed detector 2 of the stripline of the amount of plating adhesion (step S14). ).
Then, the calculated value is output to the adders 14 and 17. The adders 14 and 17 add the plating current correction value calculated by the central processing units 13 and 16 to the total current reference (value) of all plating cells output by the calculation circuits 10c and 10d (step S15). Output to the adders 10a and 10b to control the plating current of the plating cell (step S1).
6).
【0016】実施例2.図3はこの発明の実施例2を示
すメッキ電流制御装置のシステム構成図である。上記実
施例1では、メッキ付着量検出装置12で実際のメッキ
付着量を検出し、中央演算処理装置でそのメッキ付着量
からメッキ電流補正値を算出し、このメッキ電流補正値
をメッキセル3a〜3cにメッキ電流を供給し、すべて
のメッキ電流の供給系統を補正するようにした。この実
施例2では、その供給系統を、メッキセル3a,3bに
メッキ電流を供給する前段側30と、メッキセル3cに
メッキ電流を供給する後段側に分けた。そして、メッキ
付着量検出装置12と、中央演算処理装置16と、加算
器17だけ設け、前段側のメッキ電流の供給系統を補正
するようにした。すなわち、中央演算処理装置16は、
メッキ付着量検出装置12からのフィードバック値と、
速度検出器2からの速度のフィードバック値からメッキ
電流補正(値)を算出する。加算器17は中央演算処理
装置16からのメッキ電流補正(値)を計算回路10c
からの総合電流基準(値)に加えて補正し、この補正し
た電流値を計算回路10cに出力して、前段側30のメ
ッキ電流の供給系統を補正する。このようにして、この
実施例2では、メッキ付着量検出装置12で検出したメ
ッキ付着量の過不足量を、前段側のメッキ電流の供給系
統(整流器5a,5bの出力)を変えることにより、ス
トリップラインのM方向の入口のメッキセルより後段側
のメッキセル3a,3bの位置のストリップ1に対する
供給系統に対して、補償することができる。Example 2. Second Embodiment FIG. 3 is a system configuration diagram of a plating current control device showing a second embodiment of the present invention. In the first embodiment, the plating amount detector 12 detects the actual amount of plating, and the central processing unit calculates a plating current correction value from the plating amount. The plating current correction value is used as the plating cells 3a to 3c. The plating current is supplied to the device and all the plating current supply systems are corrected. In the second embodiment, the supply system is divided into a front stage side 30 for supplying a plating current to the plating cells 3a and 3b and a rear stage side for supplying a plating current to the plating cells 3c. Then, only the plating adhesion amount detection device 12, the central processing unit 16 and the adder 17 are provided to correct the plating current supply system on the preceding stage side. That is, the central processing unit 16 is
A feedback value from the plating amount detection device 12,
The plating current correction (value) is calculated from the speed feedback value from the speed detector 2. The adder 17 calculates the plating current correction (value) from the central processing unit 16 by the calculation circuit 10c.
In addition to the total current reference (value) from (1), the corrected current value is output to the calculation circuit 10c to correct the plating current supply system on the front side 30. In this way, according to the second embodiment, the excess or deficiency of the plating adhesion amount detected by the plating adhesion amount detection device 12 is changed by changing the supply system (outputs of the rectifiers 5a and 5b) of the plating current on the preceding stage side. It is possible to compensate for the supply system for the strip 1 at the positions of the plating cells 3a and 3b on the rear side of the plating cell at the inlet of the strip line in the M direction.
【0017】実施例3.図4はこの発明の実施例3を示
すメッキ電流制御装置のシステム構成図である。上記実
施例2では、メッキ電流の供給系統を前段側と後段側に
分け、速度検出器2の速度のフィードバック値からメッ
キ電流補正値を算出して、このメッキ電流補正値によ
り、前段側のメッキ電流の供給系統を補正するようにし
た。この実施例3では、そのメッキ電流補正値で後段側
のメッキ電流の供給系統を補正するようにした。すなわ
ち、メッキ付着量検出装置12と、中央演算処理装置1
3と、加算器14だけ設け、後段側のメッキ電流の供給
系統を補正するようにした。すなわち、中央演算処理装
置13は、メッキ付着量検出装置12からのフィードバ
ック値と、速度検出器2からの速度のフィードバック値
からメッキ電流補正値を算出する。加算器14は中央演
算処理装置13からのメッキ電流補正値を計算回路10
dからの総合電流基準(値)に加えて補正し、この補正
した電流値を加算器10bに出力して、後段側31のメ
ッキ電流の供給系統を補正する。このようにして、この
実施例2では、メッキ付着量検出装置12で検出したメ
ッキ付着量の過不足量を、後段側のメッキ電流の供給系
統(整流器5cの出力)を変えることにより、ほぼ中央
のメッキセルより後段側のメッキセル3cの位置のスト
リップ1に対して、補償することができる。Embodiment 3. Fourth Embodiment FIG. 4 is a system configuration diagram of a plating current control device showing a third embodiment of the present invention. In the second embodiment, the system for supplying the plating current is divided into the front stage side and the rear stage side, the plating current correction value is calculated from the speed feedback value of the speed detector 2, and the plating current correction value is used to perform the plating on the front stage side. The current supply system was corrected. In the third embodiment, the plating current correction value is used to correct the plating current supply system on the subsequent stage. That is, the plating adhesion amount detection device 12 and the central processing unit 1
3 and the adder 14 are provided to correct the plating current supply system on the subsequent stage side. That is, the central processing unit 13 calculates the plating current correction value from the feedback value from the plating adhesion amount detection device 12 and the speed feedback value from the speed detector 2. The adder 14 calculates the plating current correction value from the central processing unit 13 by the calculation circuit 10.
In addition to the total current reference (value) from d, the corrected current value is output to the adder 10b to correct the plating current supply system on the rear side 31. In this way, in the second embodiment, the excess or deficiency of the plating deposition amount detected by the plating deposition amount detection device 12 is changed to approximately the center by changing the plating current supply system (output of the rectifier 5c) on the subsequent stage side. It is possible to compensate for the strip 1 at the position of the plating cell 3c on the rear side of the plating cell of No.
【0018】実施例4.図5はこの発明の実施例4を示
すメッキ電流制御装置のシステム構成図である。なお、
上記実施例1,2又は3では、メッキ付着量検出装置1
2で実際のメッキ付着量を検出し、中央演算処理装置1
3,16でそのメッキ付着量から補正量を算出し、この
補正量をメッキセル3a〜3cのメッキ電流の供給系統
のすべて、前段30側又は後段31側を補正するように
した。この実施例4では、使用負荷分担制御回路15a
〜15cをPIコントローラ9a,9bと分配器7a〜
7cとの間に設けた。このようにすることにより、PI
コントローラ9a,9bの出力信号を、メッキ電流の使
用負荷率によって微調整することにより、さらに細かな
メッキ付着量の制御を行う。すなわち、メッキセル3a
〜3cのそれぞれのメッキ溶液の濃度等により、各メッ
キ電流に対する負荷率を変えることにより、ストリップ
1に対するメッキ付着量を均一にすることができる。Example 4. Fourth Embodiment FIG. 5 is a system configuration diagram of a plating current control device showing a fourth embodiment of the present invention. In addition,
In the first, second or third embodiment, the plating adhesion amount detection device 1
The central processing unit 1 detects the actual amount of plating deposited in 2
In 3 and 16, a correction amount is calculated from the plating adhesion amount, and this correction amount is corrected for all of the plating current supply systems of the plating cells 3a to 3c, the front stage 30 side or the rear stage 31 side. In the fourth embodiment, the load sharing control circuit 15a is used.
15c to PI controllers 9a and 9b and distributor 7a
It was provided between 7c and 7c. By doing this, the PI
By finely adjusting the output signals of the controllers 9a and 9b according to the usage load factor of the plating current, the amount of deposited plating can be controlled more finely. That is, the plating cell 3a
By changing the load factor for each plating current according to the concentration of each plating solution of 3c to 3c, the amount of plating adhered to the strip 1 can be made uniform.
【0019】以上説明したようにこの実施例4では、使
用負荷分担制御回路15a〜15cを設け、各メッキセ
ル3a〜3cのメッキ電流の使用負荷率の設定値に従
い、各メッキセルのメッキ電流基準を演算するようにし
た。また、同時にメッキ付着量のフィードバック信号に
より、メッキ付着量を検出するメッキ付着量検出装置1
2より後段側の各メッキセルの総合電流基準を補償する
ようにしたので、メッキ溶液の濃度等のメッキ条件に応
じたメッキ電流が設定でき、また、ストリップに対する
目付量,板幅、メッキする電極の電極効率及びライン速
度等のメッキ条件の変化に対しても、より最適なメッキ
付着量を確保できる。上記実施例4では、後段側のメッ
キ電流の供給系統に使用負荷分担制御回路を設けて、補
正する例について説明したが、もちろん、上記実施例
1,2のようにすべて又は前段側のメッキ電流の供給系
統に使用負荷分担制御回路を設けても同じ効果が得られ
る。As described above, in the fourth embodiment, the use load sharing control circuits 15a to 15c are provided, and the plating current reference of each plating cell is calculated according to the set value of the use load ratio of the plating current of each plating cell 3a to 3c. I decided to do it. Further, at the same time, a plating adhesion amount detection device 1 for detecting the plating adhesion amount by a feedback signal of the plating adhesion amount 1
Since the total current reference of each plating cell on the rear side of 2 is compensated, the plating current can be set according to the plating conditions such as the concentration of the plating solution, and the weight per unit area of the strip, the plate width, and the electrode to be plated. Even when the plating conditions such as the electrode efficiency and the line speed are changed, it is possible to secure a more optimal amount of the deposited plating. In the above-mentioned fourth embodiment, an example in which the used load sharing control circuit is provided in the plating current supply system on the rear stage side and the correction is made has been described. The same effect can be obtained by providing a use load sharing control circuit in the supply system.
【0020】[0020]
【発明の効果】請求項1による発明では、実際のストリ
ップへのメッキ付着量を検出装置で検出して、その検出
値から補正量を算出するようにしたので、メッキ条件が
変化しても最適なメッキ付着量を確保できる。According to the first aspect of the present invention, the actual amount of plating adhered to the strip is detected by the detection device, and the correction amount is calculated from the detected value. Therefore, it is optimal even if the plating conditions change. A large amount of plating can be secured.
【0021】請求項2による発明では、上記メッキ電流
の供給系統を上記検出装置の前段側と後段側とに区分
し、上記補正回路により前段側のメッキ電流の供給系統
を補正するようにしたので、ストリップに対する目付
量,板幅、メッキする電極の電極効率及びストリップの
ライン速度等のメッキ条件の変化に対してより最適なメ
ッキ付着量を確保できる。In the invention according to claim 2, the supply system of the plating current is divided into a front stage side and a rear stage side of the detection device, and the correction circuit corrects the plating current supply system on the front stage side. It is possible to secure a more optimal plating adhesion amount against changes in plating conditions such as the basis weight of the strip, the plate width, the electrode efficiency of the electrode to be plated, and the line speed of the strip.
【0022】請求項3による発明では、上記補正回路に
より上記後段側のメッキ電流の供給系統を補正できるよ
うにしたので、ストリップに対する目付量,板幅、メッ
キする電極の電極効率及びストリップのライン速度等の
メッキ条件の変化に対してより最適なメッキ付着量を確
保できる。In the invention according to claim 3, since the correction circuit can correct the plating current supply system on the latter stage side, the basis weight of the strip, the plate width, the electrode efficiency of the electrode to be plated, and the strip line speed. It is possible to secure a more optimal amount of plating adhered to changes in plating conditions such as.
【0023】請求項4による発明では、上記メッキ電流
の供給系統を複数のセル毎に区分し、上記供給系統の複
数のセルに供給するメッキ電流を複数のセル毎の使用負
荷に応じて補正するようにしたので、メッキ溶液の濃度
等のメッキ条件に応じたメッキ電流が設定でき、また、
ストリップに対する目付量,板幅、メッキする電極の電
極効率及びストリップのライン速度等のメッキ条件の変
化に対してより最適なメッキ付着量を確保できる。In the invention according to claim 4, the plating current supply system is divided into a plurality of cells, and the plating current supplied to the plurality of cells of the supply system is corrected in accordance with the usage load of each of the plurality of cells. As a result, the plating current can be set according to the plating conditions such as the concentration of the plating solution.
It is possible to secure a more optimal plating adhesion amount against changes in plating conditions such as the basis weight of the strip, the plate width, the electrode efficiency of the electrode to be plated, and the strip line speed.
【図1】この発明の実施例1を示すメッキ電流制御装置
のシステム構成図である。FIG. 1 is a system configuration diagram of a plating current control device showing a first embodiment of the present invention.
【図2】図1のメッキ電流制御装置の動作を説明するフ
ローチャートである。FIG. 2 is a flowchart illustrating an operation of the plating current control device of FIG.
【図3】この発明の実施例2を示すメッキ電流制御装置
のシステム構成図である。FIG. 3 is a system configuration diagram of a plating current control device showing a second embodiment of the present invention.
【図4】この発明の実施例3を示すメッキ電流制御装置
のシステム構成図である。FIG. 4 is a system configuration diagram of a plating current control device showing a third embodiment of the present invention.
【図5】この発明の実施例4を示すメッキ電流制御装置
のシステム構成図である。FIG. 5 is a system configuration diagram of a plating current control device showing a fourth embodiment of the present invention.
【図6】従来のメッキ電流制御装置のシステム構成図で
ある。FIG. 6 is a system configuration diagram of a conventional plating current control device.
1 ストリップ 2 速度検出器 3a〜3c メッキセル 4a〜4b 電流検出器 5a〜5c 整流器 6a〜6c コントローラ 7a〜7c 分配器 8a,8b,10a,10b,14,17 加算器 9a,9b PIコントローラ 11 電流基準回路 12 メッキ付着量検出装置 15a〜15c 使用負荷分担制御回路 13,16 中央演算処理装置 1 strip 2 speed detector 3a-3c plating cell 4a-4b current detector 5a-5c rectifier 6a-6c controller 7a-7c distributor 8a, 8b, 10a, 10b, 14, 17 adder 9a, 9b PI controller 11 current reference Circuit 12 Plating adhesion amount detection device 15a to 15c Working load sharing control circuit 13 and 16 Central processing unit
Claims (4)
流と、メッキされるストリップのラインのライン速度に
対応して最適なメッキ付着量を得るように設定された電
流基準値とを比較し、この比較結果に基づいて、各メッ
キセルのメッキ電流を制御するメッキ電流制御装置にお
いて、上記ストリップラインの所定の位置に設けられた
メッキ付着量の検出装置と、この検出装置から検出され
たメッキ付着量に基づいてメッキ電流を補正するための
メッキ電流補正量を演算して、メッキ電流を補正する補
正回路とを設けたことを特徴とするメッキ電流制御装
置。1. A plating current supplied to a plurality of plating cells is compared with a current reference value set so as to obtain an optimum plating deposition amount corresponding to a line speed of a strip line to be plated. Based on the comparison result, in the plating current control device for controlling the plating current of each plating cell, the plating adhesion amount detection device provided at a predetermined position of the strip line and the plating adhesion amount detected from this detection device A plating current control device, comprising: a correction circuit for calculating a plating current correction amount for correcting the plating current based on the calculated value to correct the plating current.
置の前段側と後段側とに区分し、上記補正回路により上
記前段側の供給系統を補正するようにしたことを特徴と
する請求項第1項記載のメッキ電流制御装置。2. The plating current supply system is divided into a front stage side and a rear stage side of the detection device, and the correction circuit corrects the supply system on the front stage side. The plating current control device according to item 1.
統を補正するようにしたことを特徴とする請求項第2項
記載のメッキ電流制御装置。3. The plating current control device according to claim 2, wherein the correction circuit corrects the supply system on the rear stage side.
毎に区分し、上記供給系統の複数のセルに供給するメッ
キ電流を複数のセル毎の使用負荷に応じて補正するよう
にしたことを特徴とする請求項第1,第2又は第3項記
載のメッキ電流制御装置。4. The plating current supply system is divided into a plurality of cells, and the plating current supplied to the plurality of cells of the supply system is corrected according to the usage load of each of the plurality of cells. 4. The plating current control device according to claim 1, 2 or 3.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31658293A JPH07166396A (en) | 1993-12-16 | 1993-12-16 | Plating current controller |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31658293A JPH07166396A (en) | 1993-12-16 | 1993-12-16 | Plating current controller |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07166396A true JPH07166396A (en) | 1995-06-27 |
Family
ID=18078697
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP31658293A Pending JPH07166396A (en) | 1993-12-16 | 1993-12-16 | Plating current controller |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07166396A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2016049588A1 (en) * | 2014-09-26 | 2016-03-31 | Sunpower Corporation | Current monitoring for plating |
-
1993
- 1993-12-16 JP JP31658293A patent/JPH07166396A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2016049588A1 (en) * | 2014-09-26 | 2016-03-31 | Sunpower Corporation | Current monitoring for plating |
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