JPH04247716A - Ecl信号をcmos信号へ変換する装置及び方法 - Google Patents
Ecl信号をcmos信号へ変換する装置及び方法Info
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- JPH04247716A JPH04247716A JP3241782A JP24178291A JPH04247716A JP H04247716 A JPH04247716 A JP H04247716A JP 3241782 A JP3241782 A JP 3241782A JP 24178291 A JP24178291 A JP 24178291A JP H04247716 A JPH04247716 A JP H04247716A
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 37
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 claims description 27
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
- H03K3/02—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
- H03K3/353—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
- H03K3/356—Bistable circuits
- H03K3/356104—Bistable circuits using complementary field-effect transistors
- H03K3/356113—Bistable circuits using complementary field-effect transistors using additional transistors in the input circuit
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
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- H03K—PULSE TECHNIQUE
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- H03K3/02—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
- H03K3/353—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
- H03K3/356—Bistable circuits
- H03K3/356017—Bistable circuits using additional transistors in the input circuit
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- General Engineering & Computer Science (AREA)
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- Logic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はエミッタ結合論理(EC
L)から相補的金属酸化物半導体(CMOS)への変換
器に関するものであって、更に詳細には、内部的に発生
されるダイナミック基準電圧を使用する改良された高速
のECL−CMOS変換器に関するものである。
L)から相補的金属酸化物半導体(CMOS)への変換
器に関するものであって、更に詳細には、内部的に発生
されるダイナミック基準電圧を使用する改良された高速
のECL−CMOS変換器に関するものである。
【0002】
【従来の技術】バイポーラ技術とCMOS技術の両方の
利点を単一の半導体集積回路(IC)上に組合わせたB
iCMOS技術の出現により、ECL−CMOS変換器
は、ECL論理レベルからCMOS論理レベルへ信号を
変換することが必要とされる。例えば、ECL−CMO
S変換器は、ECL論理レベルにある相補的信号を対応
するCMOS論理レベルにある相補的信号へ変換するた
めに使用することが可能である。
利点を単一の半導体集積回路(IC)上に組合わせたB
iCMOS技術の出現により、ECL−CMOS変換器
は、ECL論理レベルからCMOS論理レベルへ信号を
変換することが必要とされる。例えば、ECL−CMO
S変換器は、ECL論理レベルにある相補的信号を対応
するCMOS論理レベルにある相補的信号へ変換するた
めに使用することが可能である。
【0003】ECL回路は、4.5乃至5V電圧差の間
で動作し且つ上側電圧よりも−0.8V低い電圧から下
側電圧よりも2.0V高い電圧の範囲内の論理的スイン
グ(振れ)を有している。例えば、電圧差が−4.5V
から0.0Vへセットされる場合、−0.8Vから0.
0Vの範囲内の電圧を有する信号は論理高であり、且つ
−4.5Vから−1.6Vの範囲内の電圧を有する信号
は論理低である。
で動作し且つ上側電圧よりも−0.8V低い電圧から下
側電圧よりも2.0V高い電圧の範囲内の論理的スイン
グ(振れ)を有している。例えば、電圧差が−4.5V
から0.0Vへセットされる場合、−0.8Vから0.
0Vの範囲内の電圧を有する信号は論理高であり、且つ
−4.5Vから−1.6Vの範囲内の電圧を有する信号
は論理低である。
【0004】CMOS回路も4.5乃至5Vの電圧差の
間で動作し、且つ上側電圧よりも1.5V低い電圧から
下側電圧よりも1.5V高い電圧の範囲内の論理的スイ
ングを有している。例えば、電圧差が−4.5Vから0
.0Vにセットされると、−1.5Vから0.0Vの範
囲内の電圧を有する信号は論理高であり、且つ−4.5
Vから−3.0Vの範囲内の電圧を有する信号は論理低
である。
間で動作し、且つ上側電圧よりも1.5V低い電圧から
下側電圧よりも1.5V高い電圧の範囲内の論理的スイ
ングを有している。例えば、電圧差が−4.5Vから0
.0Vにセットされると、−1.5Vから0.0Vの範
囲内の電圧を有する信号は論理高であり、且つ−4.5
Vから−3.0Vの範囲内の電圧を有する信号は論理低
である。
【0005】図1を参照すると、従来技術に基づく公知
のECL−CMOS変換器回路が示されている。変換器
10は、入力回路12と、リセット回路14と、相補的
出力回路16及び17とを有している。変換器10は、
ECL論理回路18とCMOS論理回路20との間に結
合されている。
のECL−CMOS変換器回路が示されている。変換器
10は、入力回路12と、リセット回路14と、相補的
出力回路16及び17とを有している。変換器10は、
ECL論理回路18とCMOS論理回路20との間に結
合されている。
【0006】2つのエミッタホロワトランジスタ26及
び28を使用して、ECL回路18からの相補的ECL
出力信号を、入力回路12の入力端において夫々ノード
をB及びAへ供給している。第一エミッタホロワトラン
ジスタ26は、そのベースをECL回路出力ノード24
へ結合しており、そのコレクタをVccへ結合しており
、且つそのエミッタをノードBへ結合している。第二エ
ミッタホロワトランジスタ28は、そのベースをECL
回路出力端22へ結合しており、そのコレクタをVcc
へ結合しており、且つそのエミッタをノードAへ結合し
ている。Vccは、本回路の最も高い供給電圧に等しく
、それは、この例においては、0.0Vに等しい。
び28を使用して、ECL回路18からの相補的ECL
出力信号を、入力回路12の入力端において夫々ノード
をB及びAへ供給している。第一エミッタホロワトラン
ジスタ26は、そのベースをECL回路出力ノード24
へ結合しており、そのコレクタをVccへ結合しており
、且つそのエミッタをノードBへ結合している。第二エ
ミッタホロワトランジスタ28は、そのベースをECL
回路出力端22へ結合しており、そのコレクタをVcc
へ結合しており、且つそのエミッタをノードAへ結合し
ている。Vccは、本回路の最も高い供給電圧に等しく
、それは、この例においては、0.0Vに等しい。
【0007】変換入力回路12は第一エンハンスメント
PチャンネルトランジスタM1及び第二エンハンスメン
トPチャンネルトランジスタM2を有している。トラン
ジスタM1は、そのソースSをノードAへ結合しており
、且つそのドレインDをノードCへ結合している。トラ
ンジスタM2はそのソースSをノードBへ結合しており
、且つそのドレインDをノードDへ結合している。トラ
ンジスタM1及びM2のゲートは、外部電圧基準回路3
0によって発生される共通基準電圧Vref へ結合さ
れる。
PチャンネルトランジスタM1及び第二エンハンスメン
トPチャンネルトランジスタM2を有している。トラン
ジスタM1は、そのソースSをノードAへ結合しており
、且つそのドレインDをノードCへ結合している。トラ
ンジスタM2はそのソースSをノードBへ結合しており
、且つそのドレインDをノードDへ結合している。トラ
ンジスタM1及びM2のゲートは、外部電圧基準回路3
0によって発生される共通基準電圧Vref へ結合さ
れる。
【0008】リセット回路14は、第一Nチャンネルエ
ンハンスメントトランジスタM3と、第二Nチャンネル
エンハンスメントトランジスタM4と、第三Nチャンネ
ルエンハンスメントトランジスタM5と、第四Nチャン
ネルエンハンスメントトランジスタM6とを有している
。M3は、そのドレインDをノードCへ結合しており、
そのゲートをノードBへ結合しており、且つそのソース
SをノードEへ結合している。M4は、そのドレインD
をノードDへ結合しており、そのゲートをノードAへ結
合しており、且つそのソースSをノードFへ結合してい
る。トランジスタM5は、そのドレインDをノードEへ
結合しており、そのゲートをノードDへ結合しており且
つそのソースSを接地へ結合している。トランジスタM
6は、そのドレインDをノードEへ結合しており、その
ゲートをノードDへ結合しており、且つそのソースSを
接地へ結合している。
ンハンスメントトランジスタM3と、第二Nチャンネル
エンハンスメントトランジスタM4と、第三Nチャンネ
ルエンハンスメントトランジスタM5と、第四Nチャン
ネルエンハンスメントトランジスタM6とを有している
。M3は、そのドレインDをノードCへ結合しており、
そのゲートをノードBへ結合しており、且つそのソース
SをノードEへ結合している。M4は、そのドレインD
をノードDへ結合しており、そのゲートをノードAへ結
合しており、且つそのソースSをノードFへ結合してい
る。トランジスタM5は、そのドレインDをノードEへ
結合しており、そのゲートをノードDへ結合しており且
つそのソースSを接地へ結合している。トランジスタM
6は、そのドレインDをノードEへ結合しており、その
ゲートをノードDへ結合しており、且つそのソースSを
接地へ結合している。
【0009】出力回路16及び17は公知のCMOSイ
ンバータであり、Vccと接地とのCMOS論理範囲の
間で動作する。出力回路16は、Pチャンネルエンハン
スメントトランジスタM7とNチャンネルエンハンスメ
ントトランジスタM8とを有している。トランジスタM
7は、そのソースSをVccへ結合しており、そのゲー
トをノードCへ結合しており、且つそのドレインをVo
ut へ結合している。トランジスタM8は、そのドレ
インDをVout へ結合しており、そのゲートをノー
ドCへ結合しており、且つそのソースSを接地へ結合し
ている。出力回路17は、Pチャンネルエンハンスメン
トトランジスタM22とNチャンネルエンハンスメント
トランジスタM23とを有しており、それらは出力変換
回路16と同一の態様で配設されている。
ンバータであり、Vccと接地とのCMOS論理範囲の
間で動作する。出力回路16は、Pチャンネルエンハン
スメントトランジスタM7とNチャンネルエンハンスメ
ントトランジスタM8とを有している。トランジスタM
7は、そのソースSをVccへ結合しており、そのゲー
トをノードCへ結合しており、且つそのドレインをVo
ut へ結合している。トランジスタM8は、そのドレ
インDをVout へ結合しており、そのゲートをノー
ドCへ結合しており、且つそのソースSを接地へ結合し
ている。出力回路17は、Pチャンネルエンハンスメン
トトランジスタM22とNチャンネルエンハンスメント
トランジスタM23とを有しており、それらは出力変換
回路16と同一の態様で配設されている。
【0010】図2を参照すると、図1に示した回路のE
CL−CMOS変換動作を示したタイミング線図が図示
されている。この線図は、3つのセクションに分割され
ている。第一セクションIにおいては、0.8Vと−2
.0Vとの間のECLノードA及びBのスイッチング動
作が示されている。第二セクションIIにおいては、−
1.0Vと−4.5Vとの間のノードC及びDのスイッ
チング動作が示されている。セクションIIIにおいて
は、Vout 及び[Vout ]における−4.5V
と0.0Vの完全なCMOS論理範囲の間のスイッチン
グ動作が示されている。変換器10の動作期間中、EC
L論理回路18は、夫々、ノード22及び24において
相補的なECL信号を発生する。該ECL信号はエミッ
タホロワトランジスタ26及び28を駆動するために使
用され、該トランジスタは、夫々、ノードB及びAにお
いて低インピーダンスECLレベル信号を供給するため
に使用される。例えば、高ECL信号がノード24にお
いて与えられると、エミッタホロワトランジスタ26は
そのエミッタにおいて高ECL信号を発生し、且つノー
ドBは−VBE(−0.8V)のA VOHへプルア
ップされる。ノード22における相補的低ECL信号は
、ECL装置の利得によって決定される如く、エミッタ
ホロワトランジスタ28及びノードAをAVOL(−2
.0V)へ駆動する。ノードAにおける電圧は、ノード
22における電圧−トランジスタ28のベース・エミッ
タ電圧降下に等しい。ECL論理回路18は約−1.2
Vであり且つトランジスタ28のVBEは約−0.8V
だからである。
CL−CMOS変換動作を示したタイミング線図が図示
されている。この線図は、3つのセクションに分割され
ている。第一セクションIにおいては、0.8Vと−2
.0Vとの間のECLノードA及びBのスイッチング動
作が示されている。第二セクションIIにおいては、−
1.0Vと−4.5Vとの間のノードC及びDのスイッ
チング動作が示されている。セクションIIIにおいて
は、Vout 及び[Vout ]における−4.5V
と0.0Vの完全なCMOS論理範囲の間のスイッチン
グ動作が示されている。変換器10の動作期間中、EC
L論理回路18は、夫々、ノード22及び24において
相補的なECL信号を発生する。該ECL信号はエミッ
タホロワトランジスタ26及び28を駆動するために使
用され、該トランジスタは、夫々、ノードB及びAにお
いて低インピーダンスECLレベル信号を供給するため
に使用される。例えば、高ECL信号がノード24にお
いて与えられると、エミッタホロワトランジスタ26は
そのエミッタにおいて高ECL信号を発生し、且つノー
ドBは−VBE(−0.8V)のA VOHへプルア
ップされる。ノード22における相補的低ECL信号は
、ECL装置の利得によって決定される如く、エミッタ
ホロワトランジスタ28及びノードAをAVOL(−2
.0V)へ駆動する。ノードAにおける電圧は、ノード
22における電圧−トランジスタ28のベース・エミッ
タ電圧降下に等しい。ECL論理回路18は約−1.2
Vであり且つトランジスタ28のVBEは約−0.8V
だからである。
【0011】逆に、ノード22が高ECLレベルにあり
且つノード24が低ECLレベルにある場合には、エミ
ッタホロワトランジスタ28及び26はノードAをVB
E(−0.8V)のVOHへプルアップさせるべく動作
し且つノードBは−2.0Vにおける低状態に留まる。 2個のエミッタホロワトランジスタ26及び28は、夫
々、トランジスタ26及び28のエミッタへ結合されて
いる電流源S1及びS2によって示される如く、電流を
散逸させる。
且つノード24が低ECLレベルにある場合には、エミ
ッタホロワトランジスタ28及び26はノードAをVB
E(−0.8V)のVOHへプルアップさせるべく動作
し且つノードBは−2.0Vにおける低状態に留まる。 2個のエミッタホロワトランジスタ26及び28は、夫
々、トランジスタ26及び28のエミッタへ結合されて
いる電流源S1及びS2によって示される如く、電流を
散逸させる。
【0012】変換入力回路12は、ノードA及びBにお
いて相補的なECL信号を受取り、且つこれら2つの信
号の電圧を、ノードAとBの動作範囲の中間近傍の電圧
に設定されている基準電圧Vref と比較する。その
比較に基づいて、トランジスタM1及びM2が、夫々、
相補的ノードC及びDにおける電圧を制御するために使
用される。ノードC及びDは2つの個別的な状態、即ち
、VAAH (−1.0V)及びVAAL (−4.5
V)で動作する。VAAH の電圧は完全なCMOSレ
ベルの中間である。
いて相補的なECL信号を受取り、且つこれら2つの信
号の電圧を、ノードAとBの動作範囲の中間近傍の電圧
に設定されている基準電圧Vref と比較する。その
比較に基づいて、トランジスタM1及びM2が、夫々、
相補的ノードC及びDにおける電圧を制御するために使
用される。ノードC及びDは2つの個別的な状態、即ち
、VAAH (−1.0V)及びVAAL (−4.5
V)で動作する。VAAH の電圧は完全なCMOSレ
ベルの中間である。
【0013】ノードAにおける電圧がVref +ゲー
トスレッシュホールドVT よりも高い場合には、トラ
ンジスタM1がターンオンされ且つノードCはVAAH
へプルアップされる。逆に、ノードAにおける電圧が
Vref よりも低い場合には、トランジスタM1はタ
ーンオフされる。同様に、ノードBにおける電圧がVr
ef +VT よりも大きい場合には、トランジスタM
2がターンオンされ且つノードDをVAAH へプルア
ップさせる。ノードBにおける電圧信号がVref よ
りも低い場合には、トランジスタM2がターンオフされ
る。
トスレッシュホールドVT よりも高い場合には、トラ
ンジスタM1がターンオンされ且つノードCはVAAH
へプルアップされる。逆に、ノードAにおける電圧が
Vref よりも低い場合には、トランジスタM1はタ
ーンオフされる。同様に、ノードBにおける電圧がVr
ef +VT よりも大きい場合には、トランジスタM
2がターンオンされ且つノードDをVAAH へプルア
ップさせる。ノードBにおける電圧信号がVref よ
りも低い場合には、トランジスタM2がターンオフされ
る。
【0014】リセット回路14は、ノードC及びDに供
給される相補的信号をモニタし、且つトランジスタM1
及びM2が夫々ターンオンする場合にノードC及びDの
電圧を調節する。例えば、トランジスタM1がターンオ
ンする場合、リセット回路14はノードDをVAAL
へプルダウンすべく動作する。ノードB及びDが低電位
であり且つ夫々トランジスタM3及びM5のゲートへ結
合されていると、トランジスタM3及びM5がターンオ
フし且つノードCはトランジスタM1によってVAAH
へプルアップされる。トランジスタM2がターンオフ
されると、トランジスタM3,M4,M5,M6が上述
したものと相補的に動作してノードDをリセット即ちV
AAH へプルアップさせる。
給される相補的信号をモニタし、且つトランジスタM1
及びM2が夫々ターンオンする場合にノードC及びDの
電圧を調節する。例えば、トランジスタM1がターンオ
ンする場合、リセット回路14はノードDをVAAL
へプルダウンすべく動作する。ノードB及びDが低電位
であり且つ夫々トランジスタM3及びM5のゲートへ結
合されていると、トランジスタM3及びM5がターンオ
フし且つノードCはトランジスタM1によってVAAH
へプルアップされる。トランジスタM2がターンオフ
されると、トランジスタM3,M4,M5,M6が上述
したものと相補的に動作してノードDをリセット即ちV
AAH へプルアップさせる。
【0015】出力変換回路16及び17は、夫々、ノー
ドC及びDにおける中間レベル(VAAH 及びVAA
L )相補的電圧信号を受取り、且つそれらを完全なC
MOS論理範囲内における相補的信号へ変換する。変換
回路16の動作期間中、ノードCがVAAL における
低状態であると、トランジスタM7がターンオンされ且
つトランジスタM8がターンオフされる。その結果、V
out はVccと等しくなる。ノードCが高状態であ
ると、トランジスタM7がターンオフされ且つトランジ
スタM8がターンオンされ、且つその結果、Vout
はVssと等しくなる。出力変換回路17は、同一の態
様で動作して、ノードDがVAAH とVAAL との
間でスイッチする場合に、[Vout ]においてCM
OS出力レベル信号を発生する。
ドC及びDにおける中間レベル(VAAH 及びVAA
L )相補的電圧信号を受取り、且つそれらを完全なC
MOS論理範囲内における相補的信号へ変換する。変換
回路16の動作期間中、ノードCがVAAL における
低状態であると、トランジスタM7がターンオンされ且
つトランジスタM8がターンオフされる。その結果、V
out はVccと等しくなる。ノードCが高状態であ
ると、トランジスタM7がターンオフされ且つトランジ
スタM8がターンオンされ、且つその結果、Vout
はVssと等しくなる。出力変換回路17は、同一の態
様で動作して、ノードDがVAAH とVAAL との
間でスイッチする場合に、[Vout ]においてCM
OS出力レベル信号を発生する。
【0016】上述した従来のECL・CMOS変換器は
多数の欠点を有している。第一に、Vref を発生す
るためには、変換器10の回路とは別個の特別の回路が
、変換回路10を包含するダイ上において設計され、レ
イアウトされ且つ製造されることが必要である。従って
、外部基準回路30を付加することは、その他の回路の
ために使用可能なダイ表面積を減少させる。基準回路3
0は、更に、ダイを製造するために必要とされる処理ス
テップの数及び複雑性を増加させ、そのことは、従来の
ECL・CMOS変換器10を有するBiCMOSIC
の歩留りを著しく減少させる場合がある。
多数の欠点を有している。第一に、Vref を発生す
るためには、変換器10の回路とは別個の特別の回路が
、変換回路10を包含するダイ上において設計され、レ
イアウトされ且つ製造されることが必要である。従って
、外部基準回路30を付加することは、その他の回路の
ために使用可能なダイ表面積を減少させる。基準回路3
0は、更に、ダイを製造するために必要とされる処理ス
テップの数及び複雑性を増加させ、そのことは、従来の
ECL・CMOS変換器10を有するBiCMOSIC
の歩留りを著しく減少させる場合がある。
【0017】従来の変換器10に関連する別の問題は、
ECL・CMOS変換に関して必要とされる時間である
。入力、リセット及び出力段12,14,16,17を
有する変換器10は、ECLからCMOSへの変換を完
了するのに多数のゲート遅延を必要とする。一般的に、
従来技術のECLからCMOS変換器10の変換時間は
、約700乃至800ピコ秒の範囲内であり、それは、
現在の高速BiCMOS製品の多くのものにとって比較
的低速である。
ECL・CMOS変換に関して必要とされる時間である
。入力、リセット及び出力段12,14,16,17を
有する変換器10は、ECLからCMOSへの変換を完
了するのに多数のゲート遅延を必要とする。一般的に、
従来技術のECLからCMOS変換器10の変換時間は
、約700乃至800ピコ秒の範囲内であり、それは、
現在の高速BiCMOS製品の多くのものにとって比較
的低速である。
【0018】基準電圧Vref も、変換器10の変換
速度を遅滞化させる。Vref はCMOS動作範囲の
ほぼ中間に設定されるので、トランジスタM1及びM2
は、夫々、ノードA及びBにおける電圧変化に応答して
ターンオン及びターンオフするのにより長い時間を必要
とする。
速度を遅滞化させる。Vref はCMOS動作範囲の
ほぼ中間に設定されるので、トランジスタM1及びM2
は、夫々、ノードA及びBにおける電圧変化に応答して
ターンオン及びターンオフするのにより長い時間を必要
とする。
【0019】従来のECL・CMOS変換器10の別の
問題は、エミッタ・ホロワトランジスタ26及び28の
電流源S1及びS2によって散逸される電流を利用する
ことがないという点である。
問題は、エミッタ・ホロワトランジスタ26及び28の
電流源S1及びS2によって散逸される電流を利用する
ことがないという点である。
【0020】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、ECLレベ
ル信号をCMOSレベル信号へ変換するためにダイナミ
ックな内部的に発生される基準電圧を使用するECL・
CMOSレベル変換器を提供することである。
ル信号をCMOSレベル信号へ変換するためにダイナミ
ックな内部的に発生される基準電圧を使用するECL・
CMOSレベル変換器を提供することである。
【0021】
【課題を解決するための手段】本発明変換器は、ECL
回路に結合された2個のエミッタホロワトランジスタか
らECLレベル信号を受取る入力変換回路を有している
。該入力変換回路は、エミッタホロワトランジスタが高
及び低ECLレベルの間でスイッチする場合に、該2個
のエミッタホロワトランジスタのエミッタ上の変化する
電圧を使用して、該入力変換回路内部においてダイナミ
ックな基準電圧を発生する。このダイナミック基準電圧
は、相補的な出力信号を発生する2個の出力回路を駆動
するために使用される。CMOSレベルにおける変換を
完了し且つ維持するためにリフレッシュフリップフロッ
プ回路が使用されている。
回路に結合された2個のエミッタホロワトランジスタか
らECLレベル信号を受取る入力変換回路を有している
。該入力変換回路は、エミッタホロワトランジスタが高
及び低ECLレベルの間でスイッチする場合に、該2個
のエミッタホロワトランジスタのエミッタ上の変化する
電圧を使用して、該入力変換回路内部においてダイナミ
ックな基準電圧を発生する。このダイナミック基準電圧
は、相補的な出力信号を発生する2個の出力回路を駆動
するために使用される。CMOSレベルにおける変換を
完了し且つ維持するためにリフレッシュフリップフロッ
プ回路が使用されている。
【0022】本発明の変換器は幾つかの利点を与えてい
る。第一に、本変換器外部の回路は、基準電圧を発生す
るために必要とされることはない。従って、外部基準回
路の設計及びレイアウトに関連する全ての問題は排除さ
れている。第二に、そうでなければ無駄にされるエミッ
タホロワトランジスタへ結合されている負荷によって散
逸される電流が、ダイナミックな内部的基準電圧を発生
するために使用される。第三に、変換時間を高速化する
ことに貢献するために、出力回路の状態に依存して、ダ
イナミックな内部的に発生される電圧は最適な電圧に設
定される。第四に、単一の変換器段は最小数のゲートを
有しているので、ECLからCMOSへの変換に必要と
される時間量は改善されている。
る。第一に、本変換器外部の回路は、基準電圧を発生す
るために必要とされることはない。従って、外部基準回
路の設計及びレイアウトに関連する全ての問題は排除さ
れている。第二に、そうでなければ無駄にされるエミッ
タホロワトランジスタへ結合されている負荷によって散
逸される電流が、ダイナミックな内部的基準電圧を発生
するために使用される。第三に、変換時間を高速化する
ことに貢献するために、出力回路の状態に依存して、ダ
イナミックな内部的に発生される電圧は最適な電圧に設
定される。第四に、単一の変換器段は最小数のゲートを
有しているので、ECLからCMOSへの変換に必要と
される時間量は改善されている。
【0023】
【実施例】図3を参照すると、本発明の一実施例に基づ
いて構成されたECL・CMOS変換回路が示されてい
る。変換器50は、入力変換回路60と、2個の相補的
出力トランジスタM10及びM11と、リフレッシュ回
路70とを有している。尚、図1に示したものと同一又
は同様の機能を達成する回路構成部品には図3において
も同一の参照符号で示してある。
いて構成されたECL・CMOS変換回路が示されてい
る。変換器50は、入力変換回路60と、2個の相補的
出力トランジスタM10及びM11と、リフレッシュ回
路70とを有している。尚、図1に示したものと同一又
は同様の機能を達成する回路構成部品には図3において
も同一の参照符号で示してある。
【0024】入力変換回路60は、第一エンハンスメン
トNチャンネルトランジスタM12、第二エンハンスメ
ントNチャンネルトランジスタM13、第三エンハンス
メントNチャンネルトランジスタM14、第四エンハン
スメントNチャンネルトランジスタM15を有している
。トランジスタM12のドレインDはノードAへ結合し
ており、ゲートはノードBへ結合しており、且つソース
SはノードXへ結合している。トランジスタM13のド
レインDはノードBへ結合しており、ゲートはノードA
へ結合しており、且つソースSはノードYへ結合してい
る。トランジスタM4のドレインDはノードXへ結合し
ており、ゲートはノードAへ結合しており、ソースSは
接地へ結合している。トランジスタM15のドレインD
はノードYへ結合しており、ゲートはノードBへ結合し
ており、ソースSは接地へ結合している。
トNチャンネルトランジスタM12、第二エンハンスメ
ントNチャンネルトランジスタM13、第三エンハンス
メントNチャンネルトランジスタM14、第四エンハン
スメントNチャンネルトランジスタM15を有している
。トランジスタM12のドレインDはノードAへ結合し
ており、ゲートはノードBへ結合しており、且つソース
SはノードXへ結合している。トランジスタM13のド
レインDはノードBへ結合しており、ゲートはノードA
へ結合しており、且つソースSはノードYへ結合してい
る。トランジスタM4のドレインDはノードXへ結合し
ており、ゲートはノードAへ結合しており、ソースSは
接地へ結合している。トランジスタM15のドレインD
はノードYへ結合しており、ゲートはノードBへ結合し
ており、ソースSは接地へ結合している。
【0025】リフレッシュ回路70は、2個の基本的な
CMOSインバータ72及び74を有している。第一C
MOSインバータ72は、Pチャンネルエンハンスメン
トトランジスタM16とNチャンネルエンハンスメント
トランジスタM17を有している。トランジスタM16
のソースSはVccへ結合しており、そのドレインDは
ノードTへ結合している。トランジスタM17のドレイ
ンDはノードTへ結合しており、そのソースSは接地へ
結合している。トランジスタM16及びM17のゲート
は、夫々、互いに結合されると共にノードRへ結合して
いる。第二CMOSインバータ74は、Pチャンネルエ
ンハンスメントトランジスタM18とNチャンネルエン
ハンスメントトランジスタM19を有している。トラン
ジスタM18のソースはVccへ結合しており、そのド
レインはノードRへ結合している。トランジスタM19
のドレインDはノードRへ結合しており、且つそのソー
スSは接地へ結合している。トランジスタM18及びM
19のゲートは、夫々、互いに結合されると共にノード
Tへ結合している。
CMOSインバータ72及び74を有している。第一C
MOSインバータ72は、Pチャンネルエンハンスメン
トトランジスタM16とNチャンネルエンハンスメント
トランジスタM17を有している。トランジスタM16
のソースSはVccへ結合しており、そのドレインDは
ノードTへ結合している。トランジスタM17のドレイ
ンDはノードTへ結合しており、そのソースSは接地へ
結合している。トランジスタM16及びM17のゲート
は、夫々、互いに結合されると共にノードRへ結合して
いる。第二CMOSインバータ74は、Pチャンネルエ
ンハンスメントトランジスタM18とNチャンネルエン
ハンスメントトランジスタM19を有している。トラン
ジスタM18のソースはVccへ結合しており、そのド
レインはノードRへ結合している。トランジスタM19
のドレインDはノードRへ結合しており、且つそのソー
スSは接地へ結合している。トランジスタM18及びM
19のゲートは、夫々、互いに結合されると共にノード
Tへ結合している。
【0026】トランジスタM10及びM11はPチャン
ネルエンハンスメントトランジスタである。トランジス
タM10のソースSはノードAへ結合しており、そのゲ
ートはノードXへ結合しており、そのドレインDはダイ
オードD2のカソードへ結合しており、且つダイオード
D2のアノードを介してノードRへ接続している。出力
トランジスタM11は、そのソースSをノードBへ結合
しており、そのゲートをノードYへ結合しており、且つ
そのドレインDをダイオードD1を介してノードTへ結
合している。
ネルエンハンスメントトランジスタである。トランジス
タM10のソースSはノードAへ結合しており、そのゲ
ートはノードXへ結合しており、そのドレインDはダイ
オードD2のカソードへ結合しており、且つダイオード
D2のアノードを介してノードRへ接続している。出力
トランジスタM11は、そのソースSをノードBへ結合
しており、そのゲートをノードYへ結合しており、且つ
そのドレインDをダイオードD1を介してノードTへ結
合している。
【0027】本発明のECL・CMOS変換器50の動
作は、具体的な例を使用して最も良く説明することが可
能である。ノードAにおける電圧が−2.0Vであり、
且つノードDにおける高ECL電圧がVBE=−0.8
Vであると仮定する。以下の説明は、変換回路50が、
どのようにして、ノードVout において低CMOS
レベル出力を与え且つノード[Vout ]において相
補的な高CMOSレベル出力信号を与えるような所望の
出力を発生するかを説明するものである。
作は、具体的な例を使用して最も良く説明することが可
能である。ノードAにおける電圧が−2.0Vであり、
且つノードDにおける高ECL電圧がVBE=−0.8
Vであると仮定する。以下の説明は、変換回路50が、
どのようにして、ノードVout において低CMOS
レベル出力を与え且つノード[Vout ]において相
補的な高CMOSレベル出力信号を与えるような所望の
出力を発生するかを説明するものである。
【0028】図4を参照すると、本発明に基づく図3に
示した回路のECL・CMOS変換動作を示したタイミ
ング線図が示されている。この線図は、3つのセクショ
ンに分割されている。第一セクションIにおいては、−
0.8から−2.0Vの間のECLノードA及びBのス
イッチング動作が示されている。第二セクションIIに
おいては、−3.5Vと−2.5Vとの間の中間ノード
X及びYのスイッチング動作が示されている。第三セク
ションIIIにおいては、−4.5乃至0.0VからV
out 及び[Vout ]の完全なCMOS論理範囲
の間のスイッチング動作が示されている。
示した回路のECL・CMOS変換動作を示したタイミ
ング線図が示されている。この線図は、3つのセクショ
ンに分割されている。第一セクションIにおいては、−
0.8から−2.0Vの間のECLノードA及びBのス
イッチング動作が示されている。第二セクションIIに
おいては、−3.5Vと−2.5Vとの間の中間ノード
X及びYのスイッチング動作が示されている。第三セク
ションIIIにおいては、−4.5乃至0.0VからV
out 及び[Vout ]の完全なCMOS論理範囲
の間のスイッチング動作が示されている。
【0029】トランジスタM12及びM15のゲートへ
印加されるノードBにおける高電圧(VBE=−0.8
V)は、トランジスタM12及びM15において高レベ
ルの導通を確立する。トランジスタM13及びM14の
ゲートへ印加されるノードAにおける低電圧(−2.0
V)は、夫々、トランジスタM13及びM14において
相対的に低レベルの導通を確立する。その結果、ノード
Xは中間電圧VDDH へプルアップされ、それは、ト
ランジスタM14に対しトランジスタM12の相対的に
高い導通によって決定される。同様に、ノードYは中間
電圧VDDL へプルダウンされ、それは、トランジス
タM13に対するトランジスタM15の相対的に大きな
導通によって決定される。
印加されるノードBにおける高電圧(VBE=−0.8
V)は、トランジスタM12及びM15において高レベ
ルの導通を確立する。トランジスタM13及びM14の
ゲートへ印加されるノードAにおける低電圧(−2.0
V)は、夫々、トランジスタM13及びM14において
相対的に低レベルの導通を確立する。その結果、ノード
Xは中間電圧VDDH へプルアップされ、それは、ト
ランジスタM14に対しトランジスタM12の相対的に
高い導通によって決定される。同様に、ノードYは中間
電圧VDDL へプルダウンされ、それは、トランジス
タM13に対するトランジスタM15の相対的に大きな
導通によって決定される。
【0030】好適実施例においては、トランジスタM1
2及びM13は、1.2ミクロンのゲート長及び4.8
ミクロンのゲート幅を有している。トランジスタM14
及びM15は、1.2ミクロンのゲート長を有しており
且つ1.2ミクロンのゲート幅を有している。トランジ
スタM10及びM11は、1.2ミクロンのゲート長を
有しており且つ50ミクロンのゲート幅を有している。 トランジスタM12及びM13がトランジスタM14及
びM15よりも約4倍大きなゲートを有しているので、
トランジスタM12及びM13の導通はトランジスタM
14及びM15の導通よりも約4倍大きなものである。 従って、VDDH は約−2.5Vであり、且つVDD
L は約−3.5Vである。
2及びM13は、1.2ミクロンのゲート長及び4.8
ミクロンのゲート幅を有している。トランジスタM14
及びM15は、1.2ミクロンのゲート長を有しており
且つ1.2ミクロンのゲート幅を有している。トランジ
スタM10及びM11は、1.2ミクロンのゲート長を
有しており且つ50ミクロンのゲート幅を有している。 トランジスタM12及びM13がトランジスタM14及
びM15よりも約4倍大きなゲートを有しているので、
トランジスタM12及びM13の導通はトランジスタM
14及びM15の導通よりも約4倍大きなものである。 従って、VDDH は約−2.5Vであり、且つVDD
L は約−3.5Vである。
【0031】従って、ノードX及びYにおけるダイナミ
ックな内部的に発生される電圧は、夫々、出力トランジ
スタM10及びM11のスイッチング速度を向上させる
電圧に設定される。ノードXがVDDH へプルアップ
されるので、トランジスタM10のゲートへ印加される
基準電圧は、静的な基準電圧をVref よりも大きい
。その結果、ノードAが低電圧にあると、トランジスタ
M10は一層早くスイッチ又はターンオフすべくバイア
スされる。
ックな内部的に発生される電圧は、夫々、出力トランジ
スタM10及びM11のスイッチング速度を向上させる
電圧に設定される。ノードXがVDDH へプルアップ
されるので、トランジスタM10のゲートへ印加される
基準電圧は、静的な基準電圧をVref よりも大きい
。その結果、ノードAが低電圧にあると、トランジスタ
M10は一層早くスイッチ又はターンオフすべくバイア
スされる。
【0032】同様に、ノードYがVDDL へプルダウ
ンされるので、トランジスタM11のゲートへ印加され
る基準電圧は、静的基準電圧Vref よりも一層低い
。ノードBが高電圧にあるので、トランジスタM11は
一層早くスイッチ乃至はターンオンされるべくバイアス
される。 その結果、ノード[Vout ]及びTはプルアップさ
れ、且つ大量の電流がノードTへ流れる。
ンされるので、トランジスタM11のゲートへ印加され
る基準電圧は、静的基準電圧Vref よりも一層低い
。ノードBが高電圧にあるので、トランジスタM11は
一層早くスイッチ乃至はターンオンされるべくバイアス
される。 その結果、ノード[Vout ]及びTはプルアップさ
れ、且つ大量の電流がノードTへ流れる。
【0033】リフレッシュ回路70のインバータ72及
び74は、夫々、トランジスタM10及びM11の出力
状態によって制御される。インバータ72及び74は、
トランジスタM10及びM11によって決定される如く
、それらの夫々の相補的状態において再生的にノードV
out 及び[Vout ]を駆動し且つ維持するため
に使用される。
び74は、夫々、トランジスタM10及びM11の出力
状態によって制御される。インバータ72及び74は、
トランジスタM10及びM11によって決定される如く
、それらの夫々の相補的状態において再生的にノードV
out 及び[Vout ]を駆動し且つ維持するため
に使用される。
【0034】トランジスタM18及びM19のゲートが
ノードTへ結合されているので、トランジスタM19は
ターンオンされ、且つトランジスタM18はターンオフ
され、従ってトランジスタM10がVout をプルダ
ウンし且つノードRをVss=−4.5Vとさせること
に貢献する。ノードRが接地へプルダウンされると、そ
れは、再生的に、トランジスタM16のゲートを駆動し
、トランジスタM16をターンオンさせる。トランジス
タM16がターンオンされるので、それは、トランジス
タM11が[Vout ]をプルアップすることに貢献
し且つノードTを高CMOSレベル(Vcc=0.0V
)とさせることに貢献する。従って、インバータ72及
び74は、夫々、ノードR及びTにおいて、Vout
及び[Vout ]を再生的にリフレッシュする傾向と
なる。
ノードTへ結合されているので、トランジスタM19は
ターンオンされ、且つトランジスタM18はターンオフ
され、従ってトランジスタM10がVout をプルダ
ウンし且つノードRをVss=−4.5Vとさせること
に貢献する。ノードRが接地へプルダウンされると、そ
れは、再生的に、トランジスタM16のゲートを駆動し
、トランジスタM16をターンオンさせる。トランジス
タM16がターンオンされるので、それは、トランジス
タM11が[Vout ]をプルアップすることに貢献
し且つノードTを高CMOSレベル(Vcc=0.0V
)とさせることに貢献する。従って、インバータ72及
び74は、夫々、ノードR及びTにおいて、Vout
及び[Vout ]を再生的にリフレッシュする傾向と
なる。
【0035】一方、ノードAにおける電圧が高であり且
つノードBにおける電圧が低であると、トランジスタM
10乃至M19が上述したものと相補的な態様で動作す
る。従って、Vout がVccへプルアップされ且つ
[Vout ]がVssへプルダウンされる。
つノードBにおける電圧が低であると、トランジスタM
10乃至M19が上述したものと相補的な態様で動作す
る。従って、Vout がVccへプルアップされ且つ
[Vout ]がVssへプルダウンされる。
【0036】本発明回路の平均的な変換時間は、600
乃至700ピコ秒の範囲内であり、それは、従来の変換
器のものよりも速度上の改善を表わしている。本発明の
別の実施例においては、ダイオードD1をトランジスタ
M11のドレインと[Vout ]との間に結合するこ
とが可能であり、且つ第二ダイオードD2をトランジス
タM10のドレインとVout との間に結合すること
が可能である。ダイオードD1及びD2は、双方向のト
ランジスタM10及びM11を介して、リフレッシュ回
路70から、回路70と夫々の出力ノードVout 及
び[Vout ]の間の入力変換回路60のトランジス
タ内へ寄生電流が流れることを排除している。
乃至700ピコ秒の範囲内であり、それは、従来の変換
器のものよりも速度上の改善を表わしている。本発明の
別の実施例においては、ダイオードD1をトランジスタ
M11のドレインと[Vout ]との間に結合するこ
とが可能であり、且つ第二ダイオードD2をトランジス
タM10のドレインとVout との間に結合すること
が可能である。ダイオードD1及びD2は、双方向のト
ランジスタM10及びM11を介して、リフレッシュ回
路70から、回路70と夫々の出力ノードVout 及
び[Vout ]の間の入力変換回路60のトランジス
タ内へ寄生電流が流れることを排除している。
【0037】図5を参照すると、本発明の別の実施例に
基づいたECL・CMOS変換回路が示されている。こ
の回路90は、バイポーラトランジスタ92と、Nチャ
ンネルトランジスタ93と、第二バイポーラトランジス
タ94と、Nチャンネルトランジスタ95とを有してい
る。尚、図3に示したものと同一又は同様の機能を達成
する回路構成部品には図5においても同様の参照符号を
使用している。
基づいたECL・CMOS変換回路が示されている。こ
の回路90は、バイポーラトランジスタ92と、Nチャ
ンネルトランジスタ93と、第二バイポーラトランジス
タ94と、Nチャンネルトランジスタ95とを有してい
る。尚、図3に示したものと同一又は同様の機能を達成
する回路構成部品には図5においても同様の参照符号を
使用している。
【0038】バイポーラトランジスタ92のベースはト
ランジスタM11のドレインDへ結合しており、コレク
タはVccへ結合しており、且つエミッタはノードTへ
結合している。トランジスタ93のチャンネルは、トラ
ンジスタM11のドレインDとVssとの間に結合して
おり、且つそのゲートはノードXへ結合している。バイ
ポーラトランジスタ94のベースはバイポーラトランジ
スタM10のドレインへ結合しており、コレクタはVc
cへ結合しており、且つエミッタはノードRへ結合して
いる。トランジスタ95のチャンネルは、トランジスタ
M10のドレインとVssとの間に結合しており、且つ
そのゲートはノードXへ結合している。
ランジスタM11のドレインDへ結合しており、コレク
タはVccへ結合しており、且つエミッタはノードTへ
結合している。トランジスタ93のチャンネルは、トラ
ンジスタM11のドレインDとVssとの間に結合して
おり、且つそのゲートはノードXへ結合している。バイ
ポーラトランジスタ94のベースはバイポーラトランジ
スタM10のドレインへ結合しており、コレクタはVc
cへ結合しており、且つエミッタはノードRへ結合して
いる。トランジスタ95のチャンネルは、トランジスタ
M10のドレインとVssとの間に結合しており、且つ
そのゲートはノードXへ結合している。
【0039】図5のECL・CMOSインバータ実施例
は、トランジスタ92乃至95を付加するにも拘らず、
回路の全体的なレイアウトスペースを減少させている。 動作期間中、バイポーラトランジスタ92の高電流利得
は、上述したのと同一の態様でノードTを駆動するのに
充分である。トランジスタ92を駆動するのには、僅か
なベース電流IB が必要であるに過ぎないので、トラ
ンジスタM11の寸法は著しく減少させることが可能で
ある。Nチャンネルトランジスタ93は、トランジスタ
92のベースとVssとの間に放電経路を与えている。 トランジスタ94及び95は、上述した如きトランジス
タ92及び93と同一の態様で動作する。好適実施例に
おいては、トランジスタM10及びM11は、0.8ミ
クロンのチャンネル長を有しており且つ1.2ミクロン
のチャンネル幅を有しており、それは、図3の実施例に
関して説明したトランジスタM10及びM11のものと
比較して著しく小型である。
は、トランジスタ92乃至95を付加するにも拘らず、
回路の全体的なレイアウトスペースを減少させている。 動作期間中、バイポーラトランジスタ92の高電流利得
は、上述したのと同一の態様でノードTを駆動するのに
充分である。トランジスタ92を駆動するのには、僅か
なベース電流IB が必要であるに過ぎないので、トラ
ンジスタM11の寸法は著しく減少させることが可能で
ある。Nチャンネルトランジスタ93は、トランジスタ
92のベースとVssとの間に放電経路を与えている。 トランジスタ94及び95は、上述した如きトランジス
タ92及び93と同一の態様で動作する。好適実施例に
おいては、トランジスタM10及びM11は、0.8ミ
クロンのチャンネル長を有しており且つ1.2ミクロン
のチャンネル幅を有しており、それは、図3の実施例に
関して説明したトランジスタM10及びM11のものと
比較して著しく小型である。
【0040】以上、本発明の具体的実施の態様について
詳細に説明したが、本発明は、これら具体例にのみ限定
されるべきものではなく、本発明の技術的範囲を逸脱す
ることなしに種々の変形が可能であることは勿論である
。例えば、本発明の変換回路は、第一電圧範囲内におい
て動作する任意の論理タイプのものからの信号を第二電
圧範囲で動作する第二タイプの論理状態へ変換するため
に使用することが可能である。更に、トランジスタの寸
法は、VDDH 及びVDDL を所望の電圧へ調節す
るために変更することが可能である。
詳細に説明したが、本発明は、これら具体例にのみ限定
されるべきものではなく、本発明の技術的範囲を逸脱す
ることなしに種々の変形が可能であることは勿論である
。例えば、本発明の変換回路は、第一電圧範囲内におい
て動作する任意の論理タイプのものからの信号を第二電
圧範囲で動作する第二タイプの論理状態へ変換するため
に使用することが可能である。更に、トランジスタの寸
法は、VDDH 及びVDDL を所望の電圧へ調節す
るために変更することが可能である。
【図1】 従来技術に基づくECL・CMOS変換回
路を示した概略図。
路を示した概略図。
【図2】 図1の従来技術に基づくECL・CMOS
変換回路の動作を示したタイミング線図。
変換回路の動作を示したタイミング線図。
【図3】 本発明の一実施例に基づくECL・CMO
S変換回路を示した概略図。
S変換回路を示した概略図。
【図4】 図3のECL・CMOS変換回路の動作を
示したタイミング線図。
示したタイミング線図。
【図5】 本発明の別の実施例に基づくECL・CM
OS変換回路を示した概略図。
OS変換回路を示した概略図。
50 ECL・CMOS変換回路
60 入力変換回路
M10,M11 相補的出力トランジスタ70 リ
フレッシュ回路
フレッシュ回路
Claims (9)
- 【請求項1】 第一所定論理レベル範囲内の信号を第
二所定論理レベル範囲へ変換する方法において、前記第
一所定論理レベル範囲内の信号を受取り、変換回路内部
で発生されるダイナミック基準信号で動作する変換回路
で前記第一所定論理レベル範囲内の信号を前記第二論理
レベル範囲へ変換し、前記変換された信号を出力する、
上記各ステップを有することを特徴とする方法。 - 【請求項2】 第一所定レベル範囲内で動作する信号
を第二所定論理レベル範囲へ変換する変換器において、
前記第一所定論理レベル範囲内で動作する信号を受取る
受取り手段、ダイナミック基準信号を発生するための前
記変換器内部の発生手段、前記受取り手段及び前記発生
手段へ結合されており前記第一所定論理レベル範囲内の
前記信号を前記第二所定論理レベル範囲へ変換し前記内
部基準信号で動作する変換手段、前記変換手段へ結合さ
れており前記変換された信号を出力する出力手段、を有
することを特徴とする変換器。 - 【請求項3】 請求項2において、前記受取り手段が
、更に、第一入力信号を受取るために第一エミッタホロ
ワ形態で設けられた第一トランジスタ、前記第一トラン
ジスタに対して相補的であり且つ前記第一入力信号と相
補的な第二入力信号を受取るために第二エミッタホロワ
形態で設けられた第二トランジスタを有することを特徴
とする変換器。 - 【請求項4】 請求項3において、前記変換手段が、
夫々のゲートを前記第一エミッタホロワトランジスタの
第一エミッタへ結合した第一及び第三MOSトランジス
タ、夫々のゲートを前記第二エミッタホロワトランジス
タの第二エミッタへ結合した第二及び第四MOSトラン
ジスタを有することを特徴とする変換器。 - 【請求項5】 請求項2において、前記出力手段が、
前記変換手段へ結合した第一出力トランジスタ、及び前
記変換手段へ結合した第二出力トランジスタを有するこ
とを特徴とする変換器。 - 【請求項6】 請求項2において、更に、前記出力手
段を再生的に駆動するためのリフレッシュ回路を有する
ことを特徴とする変換器。 - 【請求項7】 請求項2において、更に、前記変換手
段と前記出力手段との間に結合したバイポーラトランジ
スタを有することを特徴とする変換器。 - 【請求項8】 高状態と低状態との間を周期的にスイ
ッチする第一論理レベルから第二論理レベル相補的信号
へ変換する変換器において、第一論理レベル内で動作す
る相補的信号を受取るための受取り手段が設けられてお
り、前記受取り手段に結合されており前記相補的信号を
前記第二論理レベルへ変換する変換手段が設けられてお
り、前記変換手段に結合されており第二論理レベルにお
ける前記相補的信号を出力する出力手段が設けられてお
り、前記変換手段に結合されており第一ダイナミック基
準電圧及び第二ダイナミック基準電圧を前記変換手段へ
供給するダイナミック基準電圧手段が設けられており、
前記相補的信号のうちの1つが高状態から低状態へスイ
ッチする場合に前記第一基準電圧が第一電位と第二電位
との間でスイッチし且つ前記相補的信号のうちの別の1
つが低状態から高状態へスイッチする場合に前記第二基
準電圧が前記第二電位と前記第一電位との間でスイッチ
することを特徴とする変換器。 - 【請求項9】 請求項8において、前記第一及び第二
電位が前記第二論理レベルの動作範囲内の個別的な電位
であることを特徴とする変換器。
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