JPH0423746B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0423746B2
JPH0423746B2 JP59054658A JP5465884A JPH0423746B2 JP H0423746 B2 JPH0423746 B2 JP H0423746B2 JP 59054658 A JP59054658 A JP 59054658A JP 5465884 A JP5465884 A JP 5465884A JP H0423746 B2 JPH0423746 B2 JP H0423746B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
bottle
light
inspected
guide tube
convergent
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP59054658A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS60198438A (ja
Inventor
Yukio Saito
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kamaya Kagaku Kogyo Co Ltd
Original Assignee
Kamaya Kagaku Kogyo Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kamaya Kagaku Kogyo Co Ltd filed Critical Kamaya Kagaku Kogyo Co Ltd
Priority to JP5465884A priority Critical patent/JPS60198438A/ja
Publication of JPS60198438A publication Critical patent/JPS60198438A/ja
Publication of JPH0423746B2 publication Critical patent/JPH0423746B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/90Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
    • G01N21/9072Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents with illumination or detection from inside the container
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/90Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
    • G01N21/9054Inspection of sealing surface and container finish

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 本発明は、透光性を有するガラス瓶の欠陥を光
学的に検査するガラス瓶の欠陥検査方法およびそ
の装置に関する。
「従来技術」 ガラス瓶の欠陥の中でも、一般に「びり」と称
されているひび割れを検査する方法として、例え
ば瓶の検査部分に対し外部から光を照射し、そこ
に欠陥が存在すればその欠陥部分により発生する
異常反射光を受光装置で捉らえることによつて、
その欠陥の有無を判別する方法が知られている。
しかしながら、このように外部から光を照射す
る方法では、特に瓶口の外周におねじやリングな
どが設けられている場合、これらが凹凸面を形成
するため、その部分の表面で照射光が乱反射する
結果、それらの乱反射光が受光装置にノイズとし
て作用し、しかも欠陥部が小さい場合にはこれに
より発生する異常反射光が乱反射光の中に投入し
てしまうなどの現象により、欠陥部だけを精度よ
く判別することは困難であつた。
そこで、光を被検査瓶の口元から内部に投光
し、外部に配した受光装置で異常反射光を受光す
る方法も提案されているが、この方法では瓶口が
小さくなるにしたがい投光可能な範囲も狭くなる
ため、瓶口の大きさによつてはこれを充分な範囲
にわたつて検査することができないばかりでな
く、瓶の胴部や底部などの部分については当然な
がら検査不可能であつた。
「発明の目的」 本発明は、以上のような点を考慮してなされた
もので、ねじ部やリング部あるいはその近傍に発
生している判別困難な大小の欠陥(びり)を高精
度に検知でき、かつ被検査瓶全体にわたつて充分
に検査し得るガラス瓶の欠陥検査方法およびその
装置を提供しようとするものである。
「発明の構成」 本発明によるガラス瓶の欠陥検査方法は、光源
と光学的に接続された導光筒の出光部を被検査瓶
内に挿入し、その出光部から被検査瓶の内面に向
けて収束光を照射し、被検査瓶の外部に出た光を
受光してこれを電気信号に変換する受光装置の出
力に基づいて被検査瓶の欠陥を検知するガラス瓶
の欠陥検査方法であつて、前記被検査瓶をその中
心軸回りに回転させる工程と、前記収束光による
照射位置を被検査瓶の周方向に沿つて回転させる
工程と、前記収束光による照射位置を被検査瓶の
軸方向に沿つて移動させる工程とを有する点に特
徴がある。また、この方法を実施するための装置
としては、被検査瓶をその中心軸回りに回転させ
るための駆動装置付きターンテーブルと、被検査
瓶の上方に配され、昇降装置によつて被検査瓶の
中心軸方向に昇降移動可能な可動台と、一端が光
源に接続され他端が前記可動台にホルダを介して
固定された光学フアイバと、この光学フアイバと
光学的に接続された状態で自身の軸回りに回転自
在なように前記可動台に支持され、かつ、光源か
らの光を被検査瓶内に導いてそこから収束光とし
て照射するための出光部を有する導光筒と、この
導光筒をその軸回りに回転させるための駆動モー
タと、被検査瓶の外部に出た光を受光してこれを
電気信号に変換する受光装置とを具備する構成で
ある。
「実施例」 以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて詳
述する。
第1図は、本発明による方法を実施する際に利
用される装置の具体例を示すもので、同図におい
て符号1は、被検査瓶Aをその縦中心軸回りに回
転させるためのターンテーブルである、このター
ンテーブル1は、実施例では回転軸2を有し、こ
の回転軸2には、駆動モータ3の出力軸に設けら
れたピニオン4と噛合するギヤ5が設けられてい
る。また、ターンテーブル1上には被検査瓶Aを
ターンテーブル1の回転中心上に位置決めするた
めのガイド部6が設けられている。
被検査瓶Aの上方には、昇降装置7によつて被
検査瓶Aの中心軸方向に昇降移動可能な可動台8
が設けられる。昇降装置7は、可動台8の一部に
設けられたねじ穴7aと、このねじ穴7aに螺合
するねじ棒7bと、このねじ棒7bを回転駆動す
るモータ7cとから構成される。なお、可動台8
は図示しないガイド機構によりねじ棒7bの軸回
りの回転を規制された状態でねじ棒7bの軸方向
にのみ摺動可能に支持される。
可動台8には、一端が光源9に接続された光学
フアイバ10の他端がフアイバホルダ11を介し
て固定される。そしてさらに、この可動台8に
は、光学フアイバ10と光学的に接続された状態
で自身の軸回りに回転自在なようにベアリング1
2およびターンホルダ13を介して支持される導
光筒14が設けられる。この導光筒14を支持す
るターンホルダ13にはギヤ15が設けられ、こ
のギヤ15に歯合するピニオン16を有する駆動
モータ17が可動台8に取り付けられる。導光筒
14は、被検査瓶A内に挿入可能な外径に形成さ
れ、その先端部(図中下端部)には光源から導い
た光を収束光として被検査瓶の内面へ向けてある
所定の角度で照射するための出光部が設けられ
る。そして、被検査瓶Aの周囲のうち予め決めら
れた位置に、すなわち被検査瓶Aに欠陥が存在す
るときの反射光を受光し得るような位置に、光電
変換素子を内蔵する受光装置18が配される。こ
の受光装置18としては、平面的に配列された多
くの微小な光電変換素子(画素)をもついわゆる
2次元エリアセンサなどが好適である。受光装置
18の前には必要に応じてスリツト板や偏光板な
どのフイルタ19が配される。フイルタ19が、
配列された多数のスリツトを有するスリツト板で
ある場合について述べると、スリツト自体の幅お
よびスリツト相互の間隔等は、欠陥部よりの反射
光の断面径とほぼ等しいか若干大き目程度に設定
される。受光装置18から出力される電気信号
は、特に図示していないが、その電気信号レベル
に基づいて欠陥の判別を行なう電子回路等に供給
され、欠陥が存在すれば欠陥信号として取り出す
ことができるように設計される。
第2図は、前記導光筒14の出光部の構成例を
示すもので、導光筒14の先端開口を閉じる着脱
自在な栓体14aが設けられ、また導光筒14の
先端近くの周壁には開口14bが設けられ、そし
て、、前記栓体14aの内端面に、光源からの光
イを屈折させて開口14bから出光させるための
反射鏡14cが設けられる。なお開口14bに
は、必要に応じ収束レンズや偏光板などのフイル
タ20が着脱可能なように取り付けられる。ここ
で、反射鏡14cの取付角度θとしては、55゜〜
75゜の範囲が好ましいが、実験の結果65゜程度が最
良であつた。すなわち、瓶A内面に対する入射角
が臨界角に近い40゜程度のとき、欠陥部が最も良
好に検知された。したがつて、瓶A内面の傾斜が
異なる部分を検査する場合には反射鏡14cの取
付角度θをそれに対応させて変えた他の栓体14
aと交換して使用される。
以上の如く構成された検査装置を利用して被検
査瓶Aの欠陥を検査する場合について第1図を参
照して述べる。
被検査瓶Aの例えばねじ部あたりを検査する場
合には、駆動モータ17の駆動により可動台8の
昇降位置を調整し、第1図に示す如く、導光筒8
の出光部を被検査瓶A内におけるそのねじ部の近
くに位置させ、被検査瓶Aの内面に向け収束光を
照射する。そして、この状態において被検査瓶A
(以下単に瓶Aと呼ぶ)をその中心軸回りに、例
えば図中矢印Pで示す方向に回転させる。ここ
で、出光部から照射された収束光は瓶Aの被検査
部分を透過し、その一部は受光装置により受光さ
れて電気信号として出力されるが、この際、その
被検査部分に欠陥が存在しない場合には当然その
欠陥信号は出力されないが、欠陥が存在する場合
には欠陥信号が出力される。
第3図は瓶Aの被検査部分に存在している欠陥
とその位置や形状を示し、第4図はこの第3図の
欠陥に対応して得られた受光装置18(エリアセ
ンサ)の出力を例示したものである。これらの図
においてそれぞれ同一符号で示されるものが互い
に対応する欠陥とその出力である。
ところで、瓶Aのみを回転させた場合、次のよ
うな不具合が生じることがある。例えば第5図に
示すように出光部より照射された収束光ロが瓶A
を透過する際に欠陥で反射されて反射光ハの如
く屈折した場合には受光装置18の図示する位置
ではその反射光ハを受光することができない。そ
して瓶Aが矢汁方向に回転しても、収束光ロの照
射方向は一定であるため今度は反射光が得られな
くなり、何れにしても受光されない。したがつ
て、これを受光できるよう受光装置の数を増やす
必要がある。このような不具合は反射光ハが瓶A
の周方向に大きく屈折する場合のときだけでな
く、瓶Aの軸方向に大きく屈折した場合にも生じ
る。
しかるに、本発明によれば、導光筒14自体も
回転可能および軸方向に移動可能に構成されてい
るため、例えば第5図において鎖線で示す如く導
光体14を回転させることにより収束光ロの照射
方向を変えれば、その欠陥による反射光ハは受
光装置18により受光させることになる。
なお、導光筒14をその軸方向に移動させてそ
の出光部を瓶Aの口元から底部まで往復移動させ
れば瓶Aのほぼ全体にわたつて検査可能となる。
また導光筒14を瓶Aの回転方向と逆方向に回転
させればその分、検査速度を早くすることが可能
となる。
なお、瓶Aを回転させるための駆動モータ3、
導光筒14を回転および軸方向に移動させる駆動
モータ17および7cの駆動制御は、瓶Aの被検
査部分に自動的に対応するよう、予めプログラミ
ングされた制御装置によりそれぞれ制御するよう
にしても良い。
以上詳述したように、本発明によれば、導光筒
の出光部を被検査瓶内に挿入し、その出光部から
被検査瓶の内面に向けて収束光を照射し、被検査
瓶の外部に出た光を受光するようにしているので
ねじ部やリングなどによる乱反射光が効果的に抑
制され、このため判別困難な部位にある大小の欠
陥でも効果的に検知でき、さらに導光筒自体も回
転および軸方向へ移動させるようにしているか
ら、被検査瓶の回転のみならず、導光筒を回転お
よび軸方向へ移動させることにより、被検査瓶の
回転に合わせて、収束光の反射方向を適宜変え
て、被検査瓶の欠陥により屈折した反射光を常に
受光装置に受光させることができ、これにより被
検査瓶全体にわたつて充分にかつ漏れなく確実に
検査できる。また、導光筒を被検査瓶の回転方向
と逆方向に回転させればその分、検査速度を早く
することができるなどの優れた効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第5図は、本発明の実施例を示すもの
で、第1図は検査装置の概略断面図、第2図は導
光筒先端の出光部の断面図、第3図は被検査瓶に
存在する欠陥を示す部分正面図、第4図は受光装
置の出力電気信号を示す線図、第5図は欠陥によ
る反射光例を示す作用説明図である。 A……被検査瓶、1……ターンテーブル、3…
…駆動モータ、7……昇降装置、8……可動台、
9……光源、10……光学フアイバ、11……フ
アイバホルダ、14……導光筒、17……駆動モ
ータ、18……受光装置。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 光源と光学的に接続された導光筒の出光部を
    被検査瓶内に挿入し、その出光部から被検査瓶の
    内面に向けて収束光を照射し、被検査瓶の外部に
    出た光を受光してこれを電気信号に変換する受光
    装置の出力に基づいて被検査瓶の欠陥を検知する
    ガラス瓶の欠陥検査方法であつて、前記被検査瓶
    をその中心軸回りに回転させる工程と、前記収束
    光による照射位置を被検査瓶の周方向に沿つて回
    転させる工程と、前記収束光による照射位置を被
    検査瓶の軸方向に沿つて移動させる工程とを有す
    るガラス瓶の欠陥検査方法。 2 被検査瓶をその中心軸回りに回転させるため
    の駆動装置付きターンテーブルと、被検査瓶の上
    方に配され、昇降装置によつて被検査瓶の中心軸
    方向に昇降移動可能な可動台と、一端が光源に接
    続され他端が前記可動台にホルダを介して固定さ
    れた光学フアイバと、この光学フアイバと光学的
    に接続された状態で自身の軸回りに回転自在なよ
    うに前記可動台に支持され、かつ、光源からの光
    を被検査瓶内に導いてそこから収束光として照射
    するための出光部を有する導光筒と、この導光筒
    をその軸回りに回転させるための駆動モータと、
    被検査瓶の外部に出た光を受光してこれを電気信
    号に変換する受光装置とを具備するガラス瓶の欠
    陥検査装置。
JP5465884A 1984-03-22 1984-03-22 ガラス瓶の欠陥検査方法およびその装置 Granted JPS60198438A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5465884A JPS60198438A (ja) 1984-03-22 1984-03-22 ガラス瓶の欠陥検査方法およびその装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5465884A JPS60198438A (ja) 1984-03-22 1984-03-22 ガラス瓶の欠陥検査方法およびその装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS60198438A JPS60198438A (ja) 1985-10-07
JPH0423746B2 true JPH0423746B2 (ja) 1992-04-23

Family

ID=12976883

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5465884A Granted JPS60198438A (ja) 1984-03-22 1984-03-22 ガラス瓶の欠陥検査方法およびその装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS60198438A (ja)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4786801A (en) * 1987-07-21 1988-11-22 Emhart Industries Inc. Finish Leak Detector having vertically movable light source
JP2781184B2 (ja) * 1988-10-06 1998-07-30 大日本印刷株式会社 合成樹脂製容器の肉厚検査装置
FR2719119B1 (fr) * 1994-04-20 1996-07-19 Souchon Neuvesel Verreries Dispositif pour détecter par traitement d'images des défauts réfléchissant la lumière et présentés par un objet creux transparent.
JP2009085597A (ja) * 2007-09-27 2009-04-23 Toyo Seikan Kaisha Ltd 検査装置及び検査方法
JP5298327B2 (ja) * 2008-08-26 2013-09-25 キリンテクノシステム株式会社 異物検査装置及び異物検査システム
JP6182722B2 (ja) * 2013-07-17 2017-08-23 キリンテクノシステム株式会社 容器の検査装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4733351U (ja) * 1971-05-06 1972-12-14
JPS52135788A (en) * 1976-05-07 1977-11-14 Sony Corp Detection of impurities

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4733351U (ja) * 1971-05-06 1972-12-14
JPS52135788A (en) * 1976-05-07 1977-11-14 Sony Corp Detection of impurities

Also Published As

Publication number Publication date
JPS60198438A (ja) 1985-10-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4626101A (en) Surface defect inspecting apparatus
US20110128368A1 (en) Hole Inspection Method and Apparatus
JPS59136640A (ja) 半透明容器の検査装置および検査方法
JP5043571B2 (ja) 内面検査装置
JPH0423746B2 (ja)
JP5743565B2 (ja) 転がり軸受の表面検査装置
JP4813437B2 (ja) 容器内の異物検出装置および異物検出方法
US3180994A (en) Method and apparatus for inspecting glass containers
KR900007148B1 (ko) 반도체웨이퍼표면검사용 레이저빔의 주사장치 및 주사방법
JP2001033394A (ja) 非接触式表面検査方法および非接触式表面検査装置
JPH09318550A (ja) 管又は棒状物の外観検査装置
JPH02116742A (ja) ガラス瓶の欠陥検査装置
JP3618545B2 (ja) 欠陥検査方法
JP2518967Y2 (ja) 円筒内壁面の欠陥検査用撮像装置
JP2016085221A (ja) 容器検査方法及び装置
JPH06331554A (ja) 円筒部品の内周面検査装置
JPH08193821A (ja) 表面検査装置
CN220438126U (zh) 一种瓶体瑕疵的检测装置
JPH11287764A (ja) 欠陥検査方法
JPH1062359A (ja) 欠陥検査方法およびその装置
JP2011053202A (ja) ガラス管の外表面欠陥検査方法及び外表面欠陥検査装置
JP5638195B2 (ja) 表面検査装置の検査ヘッド
CN106645202B (zh) 检测装置
JPH0120373B2 (ja)
JPS6180009A (ja) 磁気デイスクの表面欠陥検査方法および装置