JPH04236517A - デジタル制御形温度補償水晶発振器 - Google Patents
デジタル制御形温度補償水晶発振器Info
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- JPH04236517A JPH04236517A JP1675491A JP1675491A JPH04236517A JP H04236517 A JPH04236517 A JP H04236517A JP 1675491 A JP1675491 A JP 1675491A JP 1675491 A JP1675491 A JP 1675491A JP H04236517 A JPH04236517 A JP H04236517A
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- JP
- Japan
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- data
- temperature
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- crystal oscillator
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- 239000013078 crystal Substances 0.000 title claims abstract description 21
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 18
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims abstract description 9
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 16
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 abstract 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Oscillators With Electromechanical Resonators (AREA)
- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は温度検出手段のばらつき
を補償したデジタル制御形温度補償水晶発振器に関する
。
を補償したデジタル制御形温度補償水晶発振器に関する
。
【0002】
【従来の技術】従来のデジタル制御形温度補償水晶発振
器は図3に示す如く温度検出器1の温度検出出力をアド
レス変換回路2でアドレスデ−タに変換し、温度補償デ
−タを格納したメモリ3のアドレス指定を、変換回路2
で変換したアドレスデ−タによって行ってメモリ3から
温度補償デ−タを読み出して、読み出した温度補償デ−
タをD/A変換器4によってアナログ電圧に変換し、変
換アナログ電圧を発振周波数制御電圧として電圧制御水
晶発振器5に印加して、電圧制御水晶発振器5の発振周
波数の温度補償を行っていた。
器は図3に示す如く温度検出器1の温度検出出力をアド
レス変換回路2でアドレスデ−タに変換し、温度補償デ
−タを格納したメモリ3のアドレス指定を、変換回路2
で変換したアドレスデ−タによって行ってメモリ3から
温度補償デ−タを読み出して、読み出した温度補償デ−
タをD/A変換器4によってアナログ電圧に変換し、変
換アナログ電圧を発振周波数制御電圧として電圧制御水
晶発振器5に印加して、電圧制御水晶発振器5の発振周
波数の温度補償を行っていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし上記した従来の
デジタル制御形温度補償水晶発振器においては温度検出
器からの検出温度出力はアドレスデ−タに変換されて、
変換されたアドレスデ−タをそのままメモリのアドレス
デ−タとしている。しかるに温度検出器は、一般的に電
気系の電流−電圧変換器などに比べばらつきが多い。こ
のため検出温度から変換されたアドレスデ−タもばらつ
くことになる。アドレスデ−タがばらつくと必要なメモ
リ容量が増加するという問題点があった。またメモリ容
量が増加するとデジタル制御形温度補償水晶発振器が高
価なものになるという問題点があった。またこれを避け
るために、温度検出器を高精度のものにすると、温度検
出器が高価なものとなり、さらに温度検出器が大型化す
るという問題点があった。
デジタル制御形温度補償水晶発振器においては温度検出
器からの検出温度出力はアドレスデ−タに変換されて、
変換されたアドレスデ−タをそのままメモリのアドレス
デ−タとしている。しかるに温度検出器は、一般的に電
気系の電流−電圧変換器などに比べばらつきが多い。こ
のため検出温度から変換されたアドレスデ−タもばらつ
くことになる。アドレスデ−タがばらつくと必要なメモ
リ容量が増加するという問題点があった。またメモリ容
量が増加するとデジタル制御形温度補償水晶発振器が高
価なものになるという問題点があった。またこれを避け
るために、温度検出器を高精度のものにすると、温度検
出器が高価なものとなり、さらに温度検出器が大型化す
るという問題点があった。
【0004】本発明は温度検出器のばらつきを補償する
ためのオフセットアドレスデ−タをメモリに格納してお
き、始動時にラッチして、温度検出器の出力を変換した
アドレスデ−タと加算して、加算出力デ−タでメモリを
アクセスすることによって、温度検出器のばらつきによ
る影響をなくしたデジタル制御形温度補償水晶発振器を
提供することを目的とする。
ためのオフセットアドレスデ−タをメモリに格納してお
き、始動時にラッチして、温度検出器の出力を変換した
アドレスデ−タと加算して、加算出力デ−タでメモリを
アクセスすることによって、温度検出器のばらつきによ
る影響をなくしたデジタル制御形温度補償水晶発振器を
提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明のデジタル制御形
温度補償水晶発振器は、温度検出手段と、温度補償デ−
タおよび温度検出手段のばらつきを補償するためのオフ
セットアドレスデ−タを格納したメモリと、温度検出手
段からの出力をアドレスデ−タに変換する変換回路と、
メモリに格納されたオフセットアドレスデ−タを始動時
にラッチするラッチ回路と、アドレス変換回路から出力
されたアドレスデ−タとラッチ回路にラッチされたオフ
ッセトアドレスデ−タとを加算し、かつ加算出力デ−タ
をメモリから温度補償デ−タ読み出しのためのアドレス
デ−タとする加算回路と、読み出された温度補償デ−タ
をD/A変換し、かつ変換出力を電圧制御水晶発振器の
発振周波数制御電圧とするD/A変換器とを備えたこと
を特徴とする。
温度補償水晶発振器は、温度検出手段と、温度補償デ−
タおよび温度検出手段のばらつきを補償するためのオフ
セットアドレスデ−タを格納したメモリと、温度検出手
段からの出力をアドレスデ−タに変換する変換回路と、
メモリに格納されたオフセットアドレスデ−タを始動時
にラッチするラッチ回路と、アドレス変換回路から出力
されたアドレスデ−タとラッチ回路にラッチされたオフ
ッセトアドレスデ−タとを加算し、かつ加算出力デ−タ
をメモリから温度補償デ−タ読み出しのためのアドレス
デ−タとする加算回路と、読み出された温度補償デ−タ
をD/A変換し、かつ変換出力を電圧制御水晶発振器の
発振周波数制御電圧とするD/A変換器とを備えたこと
を特徴とする。
【0006】
【作用】本発明のデジタル制御形温度補償水晶発振器に
おいては、メモリに温度補償デ−タのほかに温度検出手
段のばらつきを補償するためのオフセットアドレスデ−
タが格納されており、始動時にオフセットアドレスデ−
タがラッチされて、ラッチされたオフセットアドレスデ
−タと温度検出手段からの出力を変換したアドレスとが
加算されて、加算されたアドレスデ−タでメモリのアド
レス指定がされるため、温度検出手段のばらつきが勘案
された温度補償デ−タがメモリから読み出されることに
なって、温度検出手段のばらつきも補償される。
おいては、メモリに温度補償デ−タのほかに温度検出手
段のばらつきを補償するためのオフセットアドレスデ−
タが格納されており、始動時にオフセットアドレスデ−
タがラッチされて、ラッチされたオフセットアドレスデ
−タと温度検出手段からの出力を変換したアドレスとが
加算されて、加算されたアドレスデ−タでメモリのアド
レス指定がされるため、温度検出手段のばらつきが勘案
された温度補償デ−タがメモリから読み出されることに
なって、温度検出手段のばらつきも補償される。
【0007】
【実施例】以下本発明を実施例により説明する。図1は
本発明の一実施例の構成を示すブロック図である。本実
施例のデジタル制御形温度補償水晶発振器においては、
温度検出器1は温度を検出し、検出温度に応じた電圧の
温度検出出力を発生する。温度検出器1からの温度検出
出力はアドレス変換回路2に供給して、変換回路2で温
度検出出力に応答するアドレスデ−タに変換する。した
がってアドレスデ−タは検出温度に対応している。メモ
リ3Aには検出温度に対応させた温度補償デ−タおよび
温度検出器1のばらつきを補償するためのオフセットア
ドレスデ−タが格納してあり、オフセットアドレスデ−
タは始動時に読み出して、読み出したオフセットアドレ
スデ−タはラッチ回路6でラッチする。ラッチ回路6で
ラッチされたオフセットアドレスデ−タは温度検出器1
のバラツキに対応している。ラッチ回路6でラッチされ
たオフセットアドレスデ−タと変換回路2で変換された
アドレスデ−タとは加算回路7に供給して加算する。し
たがって、加算回路7の加算出力デ−タは、温度検出器
1による検出温度に対応したアドレスデ−タを温度検出
器1のばらつきにより補正したアドレスデ−タとなって
いる。
本発明の一実施例の構成を示すブロック図である。本実
施例のデジタル制御形温度補償水晶発振器においては、
温度検出器1は温度を検出し、検出温度に応じた電圧の
温度検出出力を発生する。温度検出器1からの温度検出
出力はアドレス変換回路2に供給して、変換回路2で温
度検出出力に応答するアドレスデ−タに変換する。した
がってアドレスデ−タは検出温度に対応している。メモ
リ3Aには検出温度に対応させた温度補償デ−タおよび
温度検出器1のばらつきを補償するためのオフセットア
ドレスデ−タが格納してあり、オフセットアドレスデ−
タは始動時に読み出して、読み出したオフセットアドレ
スデ−タはラッチ回路6でラッチする。ラッチ回路6で
ラッチされたオフセットアドレスデ−タは温度検出器1
のバラツキに対応している。ラッチ回路6でラッチされ
たオフセットアドレスデ−タと変換回路2で変換された
アドレスデ−タとは加算回路7に供給して加算する。し
たがって、加算回路7の加算出力デ−タは、温度検出器
1による検出温度に対応したアドレスデ−タを温度検出
器1のばらつきにより補正したアドレスデ−タとなって
いる。
【0008】加算回路7の加算出力デ−タはメモリ3A
に読み出しアドレスデ−タとして供給し、メモリ3Aか
ら温度補償デ−タを読み出す。読み出された温度補償デ
−タはD/A変換器4に供給してアナログ電圧に変換し
、変換されたアナログ電圧は発振周波数制御電圧として
電圧制御水晶発振器5に印加して、電圧制御水晶発振器
5の発振周波数の制御を行う。しかるに、変換アナログ
電圧は温度検出器によって検出された温度に対応しかつ
温度検出器1のばらつきの補正が行われた値であり、電
圧制御水晶発振器5の発振周波数は、検出温度に対する
補償が行われ、かつ温度検出器1のばらつきも補償され
た周波数となる。
に読み出しアドレスデ−タとして供給し、メモリ3Aか
ら温度補償デ−タを読み出す。読み出された温度補償デ
−タはD/A変換器4に供給してアナログ電圧に変換し
、変換されたアナログ電圧は発振周波数制御電圧として
電圧制御水晶発振器5に印加して、電圧制御水晶発振器
5の発振周波数の制御を行う。しかるに、変換アナログ
電圧は温度検出器によって検出された温度に対応しかつ
温度検出器1のばらつきの補正が行われた値であり、電
圧制御水晶発振器5の発振周波数は、検出温度に対する
補償が行われ、かつ温度検出器1のばらつきも補償され
た周波数となる。
【0009】次ぎに、オフセットアドレスデ−タの決定
方法について説明する。変換回路2から出力される温度
補償範囲におけるアドレスデ−タの範囲がメモリアドレ
スの範囲となるようにオフセットアドレスデ−タを決定
する。例えば、変換回路2から出力される温度補償範囲
におけるアドレスの変化が10〜110、メモリ3Aの
アドレスが0〜100であったとすると、オフセットア
ドレスデ−タは−10に設定する。ここで従来例の場合
は、メモリの容量はばらつきを考慮して0〜110のア
ドレスのものが必要になる。これに対して本例では0〜
100のアドレスのものですむ。また、オフセットアド
レスデ−タのビット数は何ビットであってもよい。
方法について説明する。変換回路2から出力される温度
補償範囲におけるアドレスデ−タの範囲がメモリアドレ
スの範囲となるようにオフセットアドレスデ−タを決定
する。例えば、変換回路2から出力される温度補償範囲
におけるアドレスの変化が10〜110、メモリ3Aの
アドレスが0〜100であったとすると、オフセットア
ドレスデ−タは−10に設定する。ここで従来例の場合
は、メモリの容量はばらつきを考慮して0〜110のア
ドレスのものが必要になる。これに対して本例では0〜
100のアドレスのものですむ。また、オフセットアド
レスデ−タのビット数は何ビットであってもよい。
【0010】次ぎに本発明の他の実施例について説明す
る。図2は本発明の他の実施例の構成を示すブロック図
である。本他の実施例では、変換回路2で補正できない
ばらつきを補正するために、第1補正デ−タと第2補正
デ−タとをメモリ3Aに予め格納しておき、前記一実施
例におけるラッチ回路6に代わって、ラッチ回路6A、
6Bを設け、始動時に第1補正デ−タおよび第2補正デ
−タを読み出して、ラッチ回路6A、6Bにそれぞれラ
ッチし、変換回路2で変換したアドレスデ−タとラッチ
回路6A、6Bにラッチした第1および第2補正デ−タ
とを、加算回路7に代わって設けた演算回路7Aで補正
されたアドレスデ−タを演算して、演算アドレスデ−タ
をメモリ3Aの読み出しアドレスとする。したがって0
次(定数項)のばらつきの補正ができた前記一実施例の
場合よりも、本他の実施例においてはより複雑な高次の
ばらつきの補正が可能となる。
る。図2は本発明の他の実施例の構成を示すブロック図
である。本他の実施例では、変換回路2で補正できない
ばらつきを補正するために、第1補正デ−タと第2補正
デ−タとをメモリ3Aに予め格納しておき、前記一実施
例におけるラッチ回路6に代わって、ラッチ回路6A、
6Bを設け、始動時に第1補正デ−タおよび第2補正デ
−タを読み出して、ラッチ回路6A、6Bにそれぞれラ
ッチし、変換回路2で変換したアドレスデ−タとラッチ
回路6A、6Bにラッチした第1および第2補正デ−タ
とを、加算回路7に代わって設けた演算回路7Aで補正
されたアドレスデ−タを演算して、演算アドレスデ−タ
をメモリ3Aの読み出しアドレスとする。したがって0
次(定数項)のばらつきの補正ができた前記一実施例の
場合よりも、本他の実施例においてはより複雑な高次の
ばらつきの補正が可能となる。
【0011】
【発明の効果】以上説明した如く本発明によれば、温度
検出器のばらつきを補償するためのオフセットアドレス
デ−タをメモリに格納しておき、始動時にラッチして、
温度検出器の出力を変換したアドレスデ−タと加算して
、加算出力デ−タでメモリをアクセスし、メモリに格納
した温度補償デ−タを読み出し、読み出された温度補償
デ−タをD/A変換して、D/A変換出力を電圧制御水
晶発振器の発振周波数制御電圧としたため、温度検出器
のばらつきが補償されて、温度検出器のばらつきによる
影響を無くすことができる効果がある。
検出器のばらつきを補償するためのオフセットアドレス
デ−タをメモリに格納しておき、始動時にラッチして、
温度検出器の出力を変換したアドレスデ−タと加算して
、加算出力デ−タでメモリをアクセスし、メモリに格納
した温度補償デ−タを読み出し、読み出された温度補償
デ−タをD/A変換して、D/A変換出力を電圧制御水
晶発振器の発振周波数制御電圧としたため、温度検出器
のばらつきが補償されて、温度検出器のばらつきによる
影響を無くすことができる効果がある。
【図1】本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。
る。
【図2】本発明の他の実施例の構成を示すブロック図で
ある。
ある。
【図3】従来例の構成を示すブロック図である。
1 温度検出器
2 変換回路
3A メモリ
4 D/A変換器
5 電圧制御水晶発振器
6、6Aおよび6B ラッチ回路
7 加算回路
7A 演算回路
Claims (1)
- 【請求項1】 温度検出手段と、温度補償デ−タおよ
び温度検出手段のばらつきを補償するためのオフセット
アドレスデ−タを格納したメモリと、温度検出手段から
の出力をアドレスデ−タに変換する変換回路と、メモリ
に格納されたオフセットアドレスデ−タを始動時にラッ
チするラッチ回路と、アドレス変換回路から出力された
アドレスデ−タとラッチ回路にラッチされたオフッセト
アドレスデ−タとを加算し、かつ加算出力デ−タをメモ
リから温度補償デ−タ読み出しのためのアドレスデ−タ
とする加算回路と、読み出された温度補償デ−タをD/
A変換し、かつ変換出力を電圧制御水晶発振器の発振周
波数制御電圧とするD/A変換器とを備えたことを特徴
とするデジタル制御形温度補償水晶発振器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1675491A JP2621058B2 (ja) | 1991-01-18 | 1991-01-18 | デジタル制御形温度補償水晶発振器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1675491A JP2621058B2 (ja) | 1991-01-18 | 1991-01-18 | デジタル制御形温度補償水晶発振器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04236517A true JPH04236517A (ja) | 1992-08-25 |
JP2621058B2 JP2621058B2 (ja) | 1997-06-18 |
Family
ID=11925037
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1675491A Expired - Lifetime JP2621058B2 (ja) | 1991-01-18 | 1991-01-18 | デジタル制御形温度補償水晶発振器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2621058B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6337603B1 (en) | 1999-06-30 | 2002-01-08 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Temperature detector circuit having function for restricting occurrence of output error caused by dispersion in element manufacture |
US7003273B1 (en) * | 1999-06-22 | 2006-02-21 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Temperature compensating circuit, electronic apparatus and radio unit having temperature compensating function |
WO2006102741A1 (en) * | 2005-03-29 | 2006-10-05 | Sirific Wireless Corporation | Circuit and method for automatic gain control |
US7573340B2 (en) | 2005-11-09 | 2009-08-11 | Hynix Semiconductor Inc. | Temperature detecting apparatus |
JP2012120074A (ja) * | 2010-12-03 | 2012-06-21 | Seiko Epson Corp | 温度補償型圧電発振器、周波数補正システム、周波数ドリフト補正方法 |
-
1991
- 1991-01-18 JP JP1675491A patent/JP2621058B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7003273B1 (en) * | 1999-06-22 | 2006-02-21 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Temperature compensating circuit, electronic apparatus and radio unit having temperature compensating function |
US6337603B1 (en) | 1999-06-30 | 2002-01-08 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Temperature detector circuit having function for restricting occurrence of output error caused by dispersion in element manufacture |
WO2006102741A1 (en) * | 2005-03-29 | 2006-10-05 | Sirific Wireless Corporation | Circuit and method for automatic gain control |
US7265629B2 (en) | 2005-03-29 | 2007-09-04 | Sirific Wireless Corporation | Circuit and method for automatic gain control |
US7573340B2 (en) | 2005-11-09 | 2009-08-11 | Hynix Semiconductor Inc. | Temperature detecting apparatus |
JP2012120074A (ja) * | 2010-12-03 | 2012-06-21 | Seiko Epson Corp | 温度補償型圧電発振器、周波数補正システム、周波数ドリフト補正方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2621058B2 (ja) | 1997-06-18 |
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