JPH04235284A - ポリイミド樹脂の溶解方法 - Google Patents
ポリイミド樹脂の溶解方法Info
- Publication number
- JPH04235284A JPH04235284A JP1238691A JP1238691A JPH04235284A JP H04235284 A JPH04235284 A JP H04235284A JP 1238691 A JP1238691 A JP 1238691A JP 1238691 A JP1238691 A JP 1238691A JP H04235284 A JPH04235284 A JP H04235284A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- polyimide resin
- copper
- sodium hypochlorite
- substrate
- dissolving
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 title claims abstract description 60
- 239000009719 polyimide resin Substances 0.000 title claims abstract description 51
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 20
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 45
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims abstract description 44
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims abstract description 44
- 239000005708 Sodium hypochlorite Substances 0.000 claims abstract description 25
- SUKJFIGYRHOWBL-UHFFFAOYSA-N sodium hypochlorite Chemical compound [Na+].Cl[O-] SUKJFIGYRHOWBL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 25
- 238000007772 electroless plating Methods 0.000 claims abstract description 11
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 claims abstract description 9
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 claims abstract description 9
- NWZSZGALRFJKBT-KNIFDHDWSA-N (2s)-2,6-diaminohexanoic acid;(2s)-2-hydroxybutanedioic acid Chemical compound OC(=O)[C@@H](O)CC(O)=O.NCCCC[C@H](N)C(O)=O NWZSZGALRFJKBT-KNIFDHDWSA-N 0.000 claims abstract description 7
- IKDUDTNKRLTJSI-UHFFFAOYSA-N hydrazine monohydrate Substances O.NN IKDUDTNKRLTJSI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 7
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 25
- 238000007747 plating Methods 0.000 claims description 16
- 238000004090 dissolution Methods 0.000 claims description 7
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 7
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 7
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 3
- QWPPOHNGKGFGJK-UHFFFAOYSA-N hypochlorous acid Chemical compound ClO QWPPOHNGKGFGJK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 abstract description 12
- 238000000576 coating method Methods 0.000 abstract description 12
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 37
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 9
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 8
- -1 chlorine ions Chemical class 0.000 description 6
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 6
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 5
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000002845 discoloration Methods 0.000 description 4
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- WQYVRQLZKVEZGA-UHFFFAOYSA-N hypochlorite Inorganic materials Cl[O-] WQYVRQLZKVEZGA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 3
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 3
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 2
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 2
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 description 2
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- ROFVEXUMMXZLPA-UHFFFAOYSA-N Bipyridyl Chemical group N1=CC=CC=C1C1=CC=CC=N1 ROFVEXUMMXZLPA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N Chlorine atom Chemical compound [Cl] ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WSFSSNUMVMOOMR-UHFFFAOYSA-N Formaldehyde Chemical compound O=C WSFSSNUMVMOOMR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910021578 Iron(III) chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-L Sulfate Chemical compound [O-]S([O-])(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 235000010724 Wisteria floribunda Nutrition 0.000 description 1
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 239000011889 copper foil Substances 0.000 description 1
- ARUVKPQLZAKDPS-UHFFFAOYSA-L copper(II) sulfate Chemical compound [Cu+2].[O-][S+2]([O-])([O-])[O-] ARUVKPQLZAKDPS-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910000366 copper(II) sulfate Inorganic materials 0.000 description 1
- JZCCFEFSEZPSOG-UHFFFAOYSA-L copper(II) sulfate pentahydrate Chemical compound O.O.O.O.O.[Cu+2].[O-]S([O-])(=O)=O JZCCFEFSEZPSOG-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- RBTARNINKXHZNM-UHFFFAOYSA-K iron trichloride Chemical compound Cl[Fe](Cl)Cl RBTARNINKXHZNM-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 1
- 229910000000 metal hydroxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004692 metal hydroxides Chemical class 0.000 description 1
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 description 1
- 238000001259 photo etching Methods 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Chemically Coating (AREA)
- Electroplating And Plating Baths Therefor (AREA)
- Cleaning And De-Greasing Of Metallic Materials By Chemical Methods (AREA)
- Manufacturing Of Printed Circuit Boards (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はポリイミド樹脂の表面に
無電解めっき、あるいは引続き電気めっきを施すことに
より、銅被膜を設けた後、次いで熱処理して得た基板を
用いて回路配線板を製造する方法に関する。
無電解めっき、あるいは引続き電気めっきを施すことに
より、銅被膜を設けた後、次いで熱処理して得た基板を
用いて回路配線板を製造する方法に関する。
【0002】
【従来の技術】ポリイミド樹脂は優れた耐熱性を持ち、
機械的、電気的及び化学的特性も他のプラスチック材料
と比較して同等以上の性能を持つので、電気機器等の絶
縁材料としてよく用いられる。例えば、プリント配線板
(PWB)、フレキシブルプリント回路(FPC)、テ
ープ自動ボンディング(TAB)テープ等の回路配線板
はこのポリイミド樹脂表面上に設けられた銅被膜にフォ
トエッチングを施して製造される。
機械的、電気的及び化学的特性も他のプラスチック材料
と比較して同等以上の性能を持つので、電気機器等の絶
縁材料としてよく用いられる。例えば、プリント配線板
(PWB)、フレキシブルプリント回路(FPC)、テ
ープ自動ボンディング(TAB)テープ等の回路配線板
はこのポリイミド樹脂表面上に設けられた銅被膜にフォ
トエッチングを施して製造される。
【0003】TABテープの製造時には、上記工程を経
た後、さらにICチップとボンディングするインナーリ
ード部をポリイミド樹脂から露出させるようにデバイス
ホールを形成する必要があり、当該部分のポリイミド樹
脂をパンチングや溶解により除去する。
た後、さらにICチップとボンディングするインナーリ
ード部をポリイミド樹脂から露出させるようにデバイス
ホールを形成する必要があり、当該部分のポリイミド樹
脂をパンチングや溶解により除去する。
【0004】従来このようなPWBやFPCやTAB用
の素材となる銅ポリイミド基板は一般的にはポリイミド
樹脂と銅箔とを接着剤で貼り合わせるラミネート法によ
って得られていた。しかし、この方法によって得られた
基板では、銅被膜のエッチング処理やフォトレジストの
剥離処理に際して基板の銅被膜とポリイミド樹脂の界面
に存在する接着剤層に塩素イオンや硫酸イオン等の不純
物が吸着され、該基板上に形成された回路間隔が特に狭
い場合には絶縁不良等の障害を起こす恐れがあった。
の素材となる銅ポリイミド基板は一般的にはポリイミド
樹脂と銅箔とを接着剤で貼り合わせるラミネート法によ
って得られていた。しかし、この方法によって得られた
基板では、銅被膜のエッチング処理やフォトレジストの
剥離処理に際して基板の銅被膜とポリイミド樹脂の界面
に存在する接着剤層に塩素イオンや硫酸イオン等の不純
物が吸着され、該基板上に形成された回路間隔が特に狭
い場合には絶縁不良等の障害を起こす恐れがあった。
【0005】このような欠点を解消するためにポリイミ
ド樹脂表面に接着剤等を介在させることなく無電解めっ
きにより直接金属層を形成する方法が提案されている。 例えば、ポリイミド樹脂表面をエッチングして活性化し
た後、該表面に触媒を付与し、次いで無電解めっきを施
し、要すれば引続き電解めっきを施して銅ポリイミド基
板を得、ポリイミド樹脂と銅との高温での密着性と耐薬
品性とを改良するために、該基板を120℃以上で熱処
理を行なうものである。この熱処理によって該基板にお
ける高温での耐熱性、耐薬品性が改良され、基板の本来
有する優れた電気特性や機械的特性が十分に発揮される
ようになったので、該基板を用いてPWBやFPC等を
製造した場合に信頼性の高い製品を得ることが可能とな
った。
ド樹脂表面に接着剤等を介在させることなく無電解めっ
きにより直接金属層を形成する方法が提案されている。 例えば、ポリイミド樹脂表面をエッチングして活性化し
た後、該表面に触媒を付与し、次いで無電解めっきを施
し、要すれば引続き電解めっきを施して銅ポリイミド基
板を得、ポリイミド樹脂と銅との高温での密着性と耐薬
品性とを改良するために、該基板を120℃以上で熱処
理を行なうものである。この熱処理によって該基板にお
ける高温での耐熱性、耐薬品性が改良され、基板の本来
有する優れた電気特性や機械的特性が十分に発揮される
ようになったので、該基板を用いてPWBやFPC等を
製造した場合に信頼性の高い製品を得ることが可能とな
った。
【0006】しかしながら、一方において上記熱処理を
施した基板を使用してTABテープを作製する時には、
以下に示すような新たな問題点が発生した。
施した基板を使用してTABテープを作製する時には、
以下に示すような新たな問題点が発生した。
【0007】すなわち、無電解めっき型の銅ポリイミド
基板を使用して、TABテープを製造する時には、まず
基板の銅めっき被膜表面にめっき用レジストを塗付し、
露光し、現像を行なった後、表面に露出した無電解めっ
き被膜上に銅の電解めっきを施し、次いで先に施したレ
ジスト膜を除去して、不要部の無電解銅めっき被膜を除
去し、その後該基板の全面にポリイミド樹脂エッチング
用レジストを塗付し、所定のマスクをポリイミド樹脂側
のレジスト面に設け、露光し、現像した後に抱水ヒドラ
ジン含有液を用いてポリイミド樹脂の溶解を行なうが、
無電解めっき後に熱処理を施した基板を用いて上記工程
に従いTABテープを製造すると、その最終工程である
ポリイミド樹脂の溶解工程で、ポリイミド樹脂の溶解が
十分に行なわれずに0.01〜10μm程度の樹脂層が
有機被膜として不連続的に銅リード部の裏面となる銅面
に残存するものが発生するという現象が生じた。このよ
うな回路では銅リード部の裏面に金又は錫によるめっき
を完全に施すことが困難となり、その結果、銅リードと
ICチップとのボンディング不良を起こす等の問題を生
ずることがしばしばあった。
基板を使用して、TABテープを製造する時には、まず
基板の銅めっき被膜表面にめっき用レジストを塗付し、
露光し、現像を行なった後、表面に露出した無電解めっ
き被膜上に銅の電解めっきを施し、次いで先に施したレ
ジスト膜を除去して、不要部の無電解銅めっき被膜を除
去し、その後該基板の全面にポリイミド樹脂エッチング
用レジストを塗付し、所定のマスクをポリイミド樹脂側
のレジスト面に設け、露光し、現像した後に抱水ヒドラ
ジン含有液を用いてポリイミド樹脂の溶解を行なうが、
無電解めっき後に熱処理を施した基板を用いて上記工程
に従いTABテープを製造すると、その最終工程である
ポリイミド樹脂の溶解工程で、ポリイミド樹脂の溶解が
十分に行なわれずに0.01〜10μm程度の樹脂層が
有機被膜として不連続的に銅リード部の裏面となる銅面
に残存するものが発生するという現象が生じた。このよ
うな回路では銅リード部の裏面に金又は錫によるめっき
を完全に施すことが困難となり、その結果、銅リードと
ICチップとのボンディング不良を起こす等の問題を生
ずることがしばしばあった。
【0008】又、さらに最近TABの機能の高度化に伴
ってポリイミド樹脂の両面に金属層を形成してビアホー
ルによって両面の導通を図り、これによって信号層とグ
ランド層とを形成して高周波信号伝送時におけるノイズ
の発生を防止することが行なわれているが、この場合に
おいてビアホールの形成はポリイミド樹脂を溶解するこ
とによって行なわれるために、樹脂層が完全に溶解され
ずにその一部でも有機被膜として金属層表面に残存する
と導通不完全になるという問題も生ずる。
ってポリイミド樹脂の両面に金属層を形成してビアホー
ルによって両面の導通を図り、これによって信号層とグ
ランド層とを形成して高周波信号伝送時におけるノイズ
の発生を防止することが行なわれているが、この場合に
おいてビアホールの形成はポリイミド樹脂を溶解するこ
とによって行なわれるために、樹脂層が完全に溶解され
ずにその一部でも有機被膜として金属層表面に残存する
と導通不完全になるという問題も生ずる。
【0009】本発明者らはこの問題を解決する方法とし
て、ポリイミド樹脂表面に無電解めっきを施し、次いで
要すれば引続き電気めっきを施して銅被膜を形成し、そ
の後熱処理を施すことによって得られた銅ポリイミド基
板にパターニング処理を施してリード部を形成し、不要
部の無電解めっき被膜をエッチングした後、該基板の所
望部のポリイミド樹脂を溶解除去することにより回路配
線板を製造する工程において、リード部形成後該基板の
所望分の大部分のポリイミド樹脂を抱水ヒドラジンを含
有する溶液で溶解する第1工程と、第1工程で溶解せず
に残存する有機被膜をアンモニウムイオンを含む溶液、
ハロゲンイオンを含む溶液または銅を溶解する溶液のう
ちの1種又は2種以上を用いて溶解することにより所望
の部分のポリイミドを完全に溶解除去する第2工程とか
らなる方法を提案している。
て、ポリイミド樹脂表面に無電解めっきを施し、次いで
要すれば引続き電気めっきを施して銅被膜を形成し、そ
の後熱処理を施すことによって得られた銅ポリイミド基
板にパターニング処理を施してリード部を形成し、不要
部の無電解めっき被膜をエッチングした後、該基板の所
望部のポリイミド樹脂を溶解除去することにより回路配
線板を製造する工程において、リード部形成後該基板の
所望分の大部分のポリイミド樹脂を抱水ヒドラジンを含
有する溶液で溶解する第1工程と、第1工程で溶解せず
に残存する有機被膜をアンモニウムイオンを含む溶液、
ハロゲンイオンを含む溶液または銅を溶解する溶液のう
ちの1種又は2種以上を用いて溶解することにより所望
の部分のポリイミドを完全に溶解除去する第2工程とか
らなる方法を提案している。
【0010】この方法に従えば、比較的信頼性の高い回
路配線板を得ることが可能となった。
路配線板を得ることが可能となった。
【0011】その後、さらに検討した結果、上記ポリイ
ミド樹脂溶解の第2工程において次亜塩素酸ナトリウム
溶液を用いると一層効果的で有り、そのようにして得ら
れた回路配線板は高い信頼性を示すことがわかった。と
ころが、連続的にポリイミド樹脂のエッチングを行なっ
た場合、処理量の増加と共に上記次亜塩素酸ナトリウム
溶液の溶解能力が低下し、一定処理時間内にポリイミド
樹脂を完全に溶解除去できず、不良品が多発するという
問題が発生した。又、場合によっては該基板の銅被膜が
変色する現象も見られた。この銅被膜の変色はその後の
酸等による洗浄でも改善されず、該銅被膜上に金あるい
は錫めっき等を施した場合、得られためっき被膜にはシ
ミ等の外観不良が発生し、製品となりえないという問題
点を生じた。
ミド樹脂溶解の第2工程において次亜塩素酸ナトリウム
溶液を用いると一層効果的で有り、そのようにして得ら
れた回路配線板は高い信頼性を示すことがわかった。と
ころが、連続的にポリイミド樹脂のエッチングを行なっ
た場合、処理量の増加と共に上記次亜塩素酸ナトリウム
溶液の溶解能力が低下し、一定処理時間内にポリイミド
樹脂を完全に溶解除去できず、不良品が多発するという
問題が発生した。又、場合によっては該基板の銅被膜が
変色する現象も見られた。この銅被膜の変色はその後の
酸等による洗浄でも改善されず、該銅被膜上に金あるい
は錫めっき等を施した場合、得られためっき被膜にはシ
ミ等の外観不良が発生し、製品となりえないという問題
点を生じた。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的はポリイ
ミド樹脂の表面に無電解めっきを施し、要すれば引続き
電気めっきを施して銅被膜を形成し、次いで熱処理を施
すことにより得られた銅ポリイミド基板を用いて回路配
線板を作製する工程において、その工程中に行なわれる
基板のポリイミド樹脂の溶解除去を連続的に行なった場
合でも不溶性の有機被膜を残存させることなく且つ銅被
膜の変色を引起こすことのない方法を提供しようとする
ものである。
ミド樹脂の表面に無電解めっきを施し、要すれば引続き
電気めっきを施して銅被膜を形成し、次いで熱処理を施
すことにより得られた銅ポリイミド基板を用いて回路配
線板を作製する工程において、その工程中に行なわれる
基板のポリイミド樹脂の溶解除去を連続的に行なった場
合でも不溶性の有機被膜を残存させることなく且つ銅被
膜の変色を引起こすことのない方法を提供しようとする
ものである。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明者らは上記問題点
を解決すべく種々検討した結果、ポリイミド樹脂溶解の
第2工程で用いる次亜塩素酸ナトリウム溶液のpHが次
第に低下すること、又液温が高い場合にはより一層早く
pHが低下することを見出し本発明にいたった。
を解決すべく種々検討した結果、ポリイミド樹脂溶解の
第2工程で用いる次亜塩素酸ナトリウム溶液のpHが次
第に低下すること、又液温が高い場合にはより一層早く
pHが低下することを見出し本発明にいたった。
【0014】すなわち、上記課題を解決するための本発
明の方法は、ポリイミド樹脂に無電解めっきを施し、要
すれば引続き電気めっきを施して銅被膜を形成し、次い
で熱処理を施すことにより得られた銅ポリイミド基板に
パターニングし、リード部を形成し、不要部の銅めっき
被膜をエッチングした後、該基板の所望部のポリイミド
樹脂の大部分を抱水ヒドラジンを含有する溶液で溶解(
第1工程)し、次いで残部を次亜塩素酸ナトリウム溶液
で溶解(第2工程)して回路配線板を製造する方法にお
いて、第2工程で用いる次亜塩素酸ナトリウム溶液の濃
度を50体積%以上とし、pHを8以上に維持し、且つ
溶解時の次亜塩素酸溶液の温度を40℃未満に維持する
ことを特徴とするものである。
明の方法は、ポリイミド樹脂に無電解めっきを施し、要
すれば引続き電気めっきを施して銅被膜を形成し、次い
で熱処理を施すことにより得られた銅ポリイミド基板に
パターニングし、リード部を形成し、不要部の銅めっき
被膜をエッチングした後、該基板の所望部のポリイミド
樹脂の大部分を抱水ヒドラジンを含有する溶液で溶解(
第1工程)し、次いで残部を次亜塩素酸ナトリウム溶液
で溶解(第2工程)して回路配線板を製造する方法にお
いて、第2工程で用いる次亜塩素酸ナトリウム溶液の濃
度を50体積%以上とし、pHを8以上に維持し、且つ
溶解時の次亜塩素酸溶液の温度を40℃未満に維持する
ことを特徴とするものである。
【0015】
【作用】上記ポリイミド樹脂の溶解を連続的に行なった
場合、第2工程の次亜塩素酸ナトリウム溶液のpHが低
下する原因は、液中の次亜塩素酸イオンが、溶液の熱、
あるいは接触する空気等により分解するためと考えられ
る。このように次亜塩素酸ナトリウム溶液の分解が進行
すると溶液中の有効塩素濃度が低下し、ポリイミド樹脂
の第1の溶解処理で残留した有機皮膜を溶解除去する能
力が低下するばかりか、pHが一層低下した場合には銅
めっき皮膜表面の変色が起きると考えられる。
場合、第2工程の次亜塩素酸ナトリウム溶液のpHが低
下する原因は、液中の次亜塩素酸イオンが、溶液の熱、
あるいは接触する空気等により分解するためと考えられ
る。このように次亜塩素酸ナトリウム溶液の分解が進行
すると溶液中の有効塩素濃度が低下し、ポリイミド樹脂
の第1の溶解処理で残留した有機皮膜を溶解除去する能
力が低下するばかりか、pHが一層低下した場合には銅
めっき皮膜表面の変色が起きると考えられる。
【0016】本発明は、第2工程で次亜塩素酸ナトリウ
ム溶液を用いてポリイミド樹脂の溶解を行う際に、該溶
液のpHおよび温度を所定の範囲内に管理するものであ
るが、これにより該次亜塩素酸ナトリウム溶液の分解を
抑制でき、上記問題の発生の防止が可能となる。
ム溶液を用いてポリイミド樹脂の溶解を行う際に、該溶
液のpHおよび温度を所定の範囲内に管理するものであ
るが、これにより該次亜塩素酸ナトリウム溶液の分解を
抑制でき、上記問題の発生の防止が可能となる。
【0017】本発明において使用する次亜塩素酸ナトリ
ウム溶液の濃度は薄いと十分な溶解速度が得られないの
で50体積%以上とすることが必要である。又、pHは
低い場合には次亜塩素酸ナトリウムの分解が著しく進行
し、ポリイミド樹脂溶解の第1工程で残存した不要性の
有機皮膜を一定時間内に完全に溶解除去できなくなり、
さらにpHが低くなると銅めっき皮膜表面が著しく変色
し、また銅が溶解されリードの形状も変化する。そのた
め、pHは8以上に維持することが必要である。
ウム溶液の濃度は薄いと十分な溶解速度が得られないの
で50体積%以上とすることが必要である。又、pHは
低い場合には次亜塩素酸ナトリウムの分解が著しく進行
し、ポリイミド樹脂溶解の第1工程で残存した不要性の
有機皮膜を一定時間内に完全に溶解除去できなくなり、
さらにpHが低くなると銅めっき皮膜表面が著しく変色
し、また銅が溶解されリードの形状も変化する。そのた
め、pHは8以上に維持することが必要である。
【0018】また、本発明において使用する次亜塩素酸
ナトリウム溶液の温度は40℃未満に管理する必要があ
る。該温度が40℃を超えると次亜塩素酸イオンの分解
がより一層促進されるからであり、この場合、pHをい
くら高く管理しても次亜塩素酸イオンの分解を防止する
ことはできないからである。
ナトリウム溶液の温度は40℃未満に管理する必要があ
る。該温度が40℃を超えると次亜塩素酸イオンの分解
がより一層促進されるからであり、この場合、pHをい
くら高く管理しても次亜塩素酸イオンの分解を防止する
ことはできないからである。
【0019】本発明において行う次亜塩素酸ナトリウム
溶液のpHの管理方法としては特殊な方法を用いる必要
はなく、例えば該溶液のpHを定期的に測定し、低下分
を水酸化ナトリウム等のアルカリ金属水酸化物水溶液で
補給してもよく、次亜塩素酸ナトリウム溶液で補給して
もよい。さらに、本発明において行う次亜塩素酸ナトリ
ウム溶液の温度の管理も特殊な方法を用いる必要はなく
、該溶液を満たした槽の外周を水等の溶液でみたし、該
水等の溶液の温度を調節することによって該次亜塩素酸
ナトリウム溶液の温度を管理してもよいし、むろん該次
亜塩素酸ナトリウム溶液を直接温度調節器等で温度管理
しても構わない。以下実施例を用いてさらに説明する。
溶液のpHの管理方法としては特殊な方法を用いる必要
はなく、例えば該溶液のpHを定期的に測定し、低下分
を水酸化ナトリウム等のアルカリ金属水酸化物水溶液で
補給してもよく、次亜塩素酸ナトリウム溶液で補給して
もよい。さらに、本発明において行う次亜塩素酸ナトリ
ウム溶液の温度の管理も特殊な方法を用いる必要はなく
、該溶液を満たした槽の外周を水等の溶液でみたし、該
水等の溶液の温度を調節することによって該次亜塩素酸
ナトリウム溶液の温度を管理してもよいし、むろん該次
亜塩素酸ナトリウム溶液を直接温度調節器等で温度管理
しても構わない。以下実施例を用いてさらに説明する。
【0020】
【実施例】幅35mm、長さ40mm、厚さ50μmの
ポリイミド樹脂板を抱水ヒドラジンを50重量%含有す
る25℃の水溶液に30秒間浸漬してエッチング処理を
行い、水洗後5%塩酸溶液に15秒間浸せきした。これ
を水洗して奥野製薬社製OPC−80キャタリストMを
使用して25℃で5分間触媒付与を行い、充分に水洗し
た後、奥野製薬社製OPC−555アクセレーターで2
5℃で7分間促進処理を行った。さらに、水洗した後、
20℃で2分間ポリイミド樹脂の表面を乾燥した。以上
の前処理工程を終えた後、ポリイミド樹脂表面に以下に
示す条件で無電解銅めっきを施した。 (浴組成) CuSO4・5H2O : 10 g/
lEDTA・2Na : 30
g/l37%HCHO :
5 m/lジピリジル
: 10mg/lPEG#1000
: 0.5g/l(めっき条件) 温 度 :
65 ℃攪 拌
: 空気攪拌時 間
: 10 分間pH
: 12
.5
ポリイミド樹脂板を抱水ヒドラジンを50重量%含有す
る25℃の水溶液に30秒間浸漬してエッチング処理を
行い、水洗後5%塩酸溶液に15秒間浸せきした。これ
を水洗して奥野製薬社製OPC−80キャタリストMを
使用して25℃で5分間触媒付与を行い、充分に水洗し
た後、奥野製薬社製OPC−555アクセレーターで2
5℃で7分間促進処理を行った。さらに、水洗した後、
20℃で2分間ポリイミド樹脂の表面を乾燥した。以上
の前処理工程を終えた後、ポリイミド樹脂表面に以下に
示す条件で無電解銅めっきを施した。 (浴組成) CuSO4・5H2O : 10 g/
lEDTA・2Na : 30
g/l37%HCHO :
5 m/lジピリジル
: 10mg/lPEG#1000
: 0.5g/l(めっき条件) 温 度 :
65 ℃攪 拌
: 空気攪拌時 間
: 10 分間pH
: 12
.5
【0021】得られた基板を350℃の窒素雰囲気
に保持した加熱炉中で4時間加熱処理した後、該銅皮膜
上に東京応化工業社製フォトレジストPMER HC
−600を厚さ40μmになるように均一に塗布し、7
0℃で15分間乾燥した。その後、TAB用マスクを用
いてレジスト層に1000mJ/cm2の紫外線を照射
し、露光を行い、さらに現像を行った。これにより露出
した無電解めっき皮膜上に以下に示す条件で銅の電気め
っきを施した。 (浴組成) CuSO4・5H2O : 80
g/lH2SO4 :
180 g/l(めっき条件) 温 度 :
25 ℃陰極電流密度
: 3 A/dm2攪
拌 : 空気攪拌、及
びカソードロック 時 間 :
1 時間
に保持した加熱炉中で4時間加熱処理した後、該銅皮膜
上に東京応化工業社製フォトレジストPMER HC
−600を厚さ40μmになるように均一に塗布し、7
0℃で15分間乾燥した。その後、TAB用マスクを用
いてレジスト層に1000mJ/cm2の紫外線を照射
し、露光を行い、さらに現像を行った。これにより露出
した無電解めっき皮膜上に以下に示す条件で銅の電気め
っきを施した。 (浴組成) CuSO4・5H2O : 80
g/lH2SO4 :
180 g/l(めっき条件) 温 度 :
25 ℃陰極電流密度
: 3 A/dm2攪
拌 : 空気攪拌、及
びカソードロック 時 間 :
1 時間
【0022】このようにして得られた基
板のレジスト層を剥離し、露出した無電解銅めっき被膜
を電気銅めっき被膜をマスクとして20%塩化第2鉄水
溶液を用いて25℃で1分間の剥離処理を行なった。そ
の後、該基板の全面に冨士薬品工業社製フォトレジスト
FSRーSを厚さ10μmに均一に塗付し、70℃で3
0分間乾燥し、デバイスホール開孔用のマスクを用いて
露光し、現像し、次いで抱水ヒドラジンを用いて50℃
で5分間ポリイミド樹脂の溶解の第1工程を行なった。 さらにその後以下に示した条件でポリイミド樹脂の溶解
の第2工程を行なった。 (液組成) 次亜塩素酸ナトリウム溶液 70 体積%
(溶解条件) 時 間 :
10 分間攪 拌
: なし次亜塩素酸ナトリウム溶液の
pH及び温度を以下に示す方法で管理しつつ、上記操作
を繰返し、ポリイミド樹脂の溶解を行なった。 pHの管理 : p
H計によるpHの測定後、10%水酸化ナトリウム溶液
を補給する。 温度の管理 : 次
亜塩素酸ナトリウム溶液を温度調節器で管理する。
板のレジスト層を剥離し、露出した無電解銅めっき被膜
を電気銅めっき被膜をマスクとして20%塩化第2鉄水
溶液を用いて25℃で1分間の剥離処理を行なった。そ
の後、該基板の全面に冨士薬品工業社製フォトレジスト
FSRーSを厚さ10μmに均一に塗付し、70℃で3
0分間乾燥し、デバイスホール開孔用のマスクを用いて
露光し、現像し、次いで抱水ヒドラジンを用いて50℃
で5分間ポリイミド樹脂の溶解の第1工程を行なった。 さらにその後以下に示した条件でポリイミド樹脂の溶解
の第2工程を行なった。 (液組成) 次亜塩素酸ナトリウム溶液 70 体積%
(溶解条件) 時 間 :
10 分間攪 拌
: なし次亜塩素酸ナトリウム溶液の
pH及び温度を以下に示す方法で管理しつつ、上記操作
を繰返し、ポリイミド樹脂の溶解を行なった。 pHの管理 : p
H計によるpHの測定後、10%水酸化ナトリウム溶液
を補給する。 温度の管理 : 次
亜塩素酸ナトリウム溶液を温度調節器で管理する。
【0023】上記ポリイミド樹脂の溶解を14回繰返し
た後、第2工程での処理時の次亜塩素酸ナトリウム溶液
のpH及び温度とポリイミド樹脂の溶解残の有無、及び
銅めっき被膜の変色の関係を調査した。得られた結果を
表1に示した。
た後、第2工程での処理時の次亜塩素酸ナトリウム溶液
のpH及び温度とポリイミド樹脂の溶解残の有無、及び
銅めっき被膜の変色の関係を調査した。得られた結果を
表1に示した。
【0024】
【表1】
【0025】表1よりポリイミド樹脂の第2の溶解処理
において、次亜塩素酸ナトリウム溶液のpHを8以上、
且つ温度を40℃未満に管理すればポリイミド樹脂の溶
解残や銅めっき表面の変色は発生せず、性能的に優れた
TABテープを連続的に安定して製造することができる
ことが期待できる。
において、次亜塩素酸ナトリウム溶液のpHを8以上、
且つ温度を40℃未満に管理すればポリイミド樹脂の溶
解残や銅めっき表面の変色は発生せず、性能的に優れた
TABテープを連続的に安定して製造することができる
ことが期待できる。
【0026】
【発明の効果】本発明の方法によれば、不溶性の有機被
膜を残存させることなく且つ銅被膜を変色させることな
く性能的に優れたTABテープを連続的に安定して得る
ことができる。
膜を残存させることなく且つ銅被膜を変色させることな
く性能的に優れたTABテープを連続的に安定して得る
ことができる。
Claims (1)
- 【請求項1】 ポリイミド樹脂に無電解めっきを
施し、要すれば引続き電気めっきを施して銅被膜を形成
し、次いで熱処理を施すことにより得られた銅ポリイミ
ド基板にパターニングし、リード部を形成し、不要部の
銅めっき被膜をエッチングした後、該基板の所望部のポ
リイミド樹脂の大部分を抱水ヒドラジンを含有する溶液
で溶解し(第1工程)、次いで残部を次亜塩素酸ナトリ
ウム溶液で溶解(第2工程)して回路配線板を製造する
方法において、第2工程で用いる次亜塩素酸ナトリウム
溶液の濃度を50体積%以上に維持し、pHを8以上に
維持し、且つ溶解時の次亜塩素酸溶液の温度を40℃未
満に維持することを特徴とするポリイミド樹脂の溶解方
法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1238691A JPH04235284A (ja) | 1991-01-10 | 1991-01-10 | ポリイミド樹脂の溶解方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1238691A JPH04235284A (ja) | 1991-01-10 | 1991-01-10 | ポリイミド樹脂の溶解方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04235284A true JPH04235284A (ja) | 1992-08-24 |
Family
ID=11803832
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1238691A Pending JPH04235284A (ja) | 1991-01-10 | 1991-01-10 | ポリイミド樹脂の溶解方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04235284A (ja) |
-
1991
- 1991-01-10 JP JP1238691A patent/JPH04235284A/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2007158362A (ja) | 絶縁基板に抵抗体を形成する方法 | |
EP0245305A1 (en) | Copper oxide treatment in printed circuit board | |
US5358602A (en) | Method for manufacture of printed circuit boards | |
US4976808A (en) | Process for removing a polyimide resin by dissolution | |
US4968398A (en) | Process for the electrolytic removal of polyimide resins | |
JPH04100294A (ja) | プリント配線板の製造方法 | |
JPH0621157A (ja) | 銅 ポ リ イ ミ ド 基 板 の 製 造 方 法 | |
JPH10135608A (ja) | メッキした抵抗体をもつ印刷回路板の製造方法 | |
JPH05129377A (ja) | 銅ポリイミド基板の製造方法 | |
JPH04235284A (ja) | ポリイミド樹脂の溶解方法 | |
JPS6343470B2 (ja) | ||
JP2000178752A (ja) | 無電解メッキ用パラジウム触媒除去剤 | |
JPH04250642A (ja) | ポリイミド樹脂の溶解方法 | |
JPH06256960A (ja) | 銅被覆アラミド基板の製造方法 | |
JPH0964538A (ja) | プリント配線板の製造方法 | |
JPH08139435A (ja) | プリント配線板の製造方法 | |
JPH04187776A (ja) | ポリイミド樹脂のエッチング方法 | |
JPH05345637A (ja) | ガラス表面へのめっきにおける前処理用エッチング液、めっき方法及びガラス基板の製造方法 | |
JPH0710028B2 (ja) | プリント板の製造法 | |
JPH02312295A (ja) | プリント基板の製造方法 | |
JPH04187774A (ja) | ポリイミド樹脂のエッチング方法 | |
JP3191686B2 (ja) | 印刷配線板の製造方法 | |
JP2768123B2 (ja) | 多層配線板の製造方法 | |
JPH03254178A (ja) | 配線板の製造法 | |
JP2005085898A (ja) | プリント配線基板の製造方法 |