JPH04217257A - レジスト現像装置 - Google Patents

レジスト現像装置

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JPH04217257A
JPH04217257A JP40383290A JP40383290A JPH04217257A JP H04217257 A JPH04217257 A JP H04217257A JP 40383290 A JP40383290 A JP 40383290A JP 40383290 A JP40383290 A JP 40383290A JP H04217257 A JPH04217257 A JP H04217257A
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JP
Japan
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processing liquid
resist
processed substrate
disk
developing device
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JP40383290A
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English (en)
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JP2943328B2 (ja
Inventor
Tomoyoshi Miyake
三宅 知義
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Panasonic Holdings Corp
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光ディスク等に用いら
れる露光済みレジスト被膜を有する被処理基板(以下、
レジスト原盤という)のレジスト現象を均一に行うレジ
スト現像装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のレジスト現像装置を図2を参照し
ながら説明する。
【0003】図2において、予めレーザ露光装置により
露光されたレジスト原盤1をカップ5内に設けられモー
ター3によって駆動され回転するターンテーブル2上に
固定する。次にターンテーブル2を低速回転させカップ
5に退避している液供給ノズル4aをターンテーブル2
の回転中心付近に移動する。その後液供給ノズル4aよ
り前水洗用の純水をレジスト原盤1の表面上に供給する
。供給された純水モーター3の回転によって生ずる遠心
力によりレジスト原盤1の外周へ拡がりレジスト原盤1
の表面を洗浄する。次に純水と現像液の供給を切り替え
、液供給ノズル4aより現像液を供給する。供給された
現像液はモーター3の回転による遠心力によりレジスト
原盤1の表面を均一に覆い、レーザ露光機で露光された
部分のレジストをエッチングし凹凸の溝を形成していく
。その後現像液を純水の供給に切り替え供給ノズル4a
より純水を供給し後水洗を十分行った後、液供給ノズル
4aよりの液供給を停止し液供給ノズル4aをカップ5
外に退避させ、モーター3の回転数を高速回転させるこ
とにより、レジスト原盤1の表面に付着している水を遠
心力で飛ばして乾燥させる。なお、現像によって生じた
処理済み廃液は排水口6より排出される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の液供給
ノズル4aを有するレジスト現像装置では、液供給によ
って生ずる処理液の吐出圧力によるレジストの機械的浸
食を防止するため処理液を未露光部であるレジスト原盤
の回転中心付近に供給し、モーター3の回転によって生
ずる遠心力によりレジスト原盤1の外周へ処理液を拡げ
ている。そのため、外周部は内周部に比べ表面積が広く
半径方向外側への処理液到達時間が不均一になり、レジ
スト原盤1の全面の現像が不均一になりやすいという問
題があった。
【0005】本発明は、短時間内に処理液をレジスト原
盤の全面に拡散し、均一で安定した現像が可能なレジス
ト現像装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに本発明は、レジスト原盤の回転中心上方に位置する
処理液供給機構の液供給ノズル先端に、レジスト原盤と
の間に間隙ができるように平行に対面した処理液整流円
盤を設け、処理液を前記処理液整流円盤の中心よりレジ
スト原盤の表面と処理液整流円盤で構成された間隙を経
てレジスト原盤の露光部へ供給できるようにしたもので
ある。
【0007】
【作用】上記した構成により、液供給ノズルに配管によ
り圧送されてくる処理液は、液供給ノズル先端に取り付
けられた処理液整流円盤とレジスト原盤の表面とからな
る微小の間隙により、勢いよくレジスト原盤の表面外周
方向へ噴出する。そのため処理液のレジスト原盤の外周
部までの拡散は、回転による遠心力と処理液の噴出力に
より短時間で均一に拡散し、均一な現像を行うことがで
きる。
【0008】
【実施例】以下、本発明の一実施例について、図面に基
づいて説明する。
【0009】図1に本発明の一実施例を示す。レーザ露
光装置により予め露光されたレジスト原盤1をカップ5
内に設けられたモーター3によって駆動され回転するタ
ーンテーブル2上に固定する。次にターンテーブル2を
低速回転させカップ5外に退避している処理液整流円盤
7を先端に設けた液供給ノズル4をターンテーブル2の
回転中心付近に移動する。その後液供給ノズル4、処理
液整流円盤7とレジスト原盤1の表面によって構成され
た間隙8より前水洗用の純水をレジスト原盤1表面上に
供給する。供給された純水はモーター3の回転によって
生ずる遠心力と間隙8からの処理液噴出圧力により短時
間でレジスト原盤1の外周へ拡がりレジスト原盤1の表
面を洗浄する。次いで純水と現像液の供給を切り替え、
液供給ノズル4の先端に設けられた処理液整流円盤7と
レジスト原盤1の表面で構成された間隙8より現像液を
レジスト原盤1の表面上に供給する。供給された現像液
はモーター3の回転力によって生ずる遠心力と間隙8か
らの処理液噴出圧力により短時間でレジスト原盤1の外
周へ到達し、レーザ露光機で露光された部分のレジスト
を均一にエッチングし凹凸の溝を形成していく。その後
現像液を純水の供給に切り替え液供給ノズル4、間隙8
より純水を供給し水洗を十分行った後、処理液整流円盤
7を設けた液供給ノズル4からの液供給を停止し、処理
液整流円盤7を設けた液供給ノズル4をカップ5の外に
退避させる。その後モーター3の回転数を高速回転させ
ることにより、レジスト原盤1の表面に付着している水
を遠心力により飛ばし、乾燥させる。なお、現像によっ
て生じた処理済み廃液は排水口6より排出される。
【0010】この実施例では、レーザ露光機で露光した
部分のレジストをエッチングする場合について説明した
が露光しない部分のレジストをエッチングする場合につ
いても同様であることはいうまでもない。
【0011】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように本発明に
よれば、現像に使用する処理液を短時間内にレジスト原
盤全面に拡散し、均一で安定した現像が可能であり、処
理液が分散されることから処理液の吐出圧力によるレジ
ストの機械的な浸食を受けることもないレジスト現像装
置を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例におけるレジスト現像装置の
構成図
【図2】従来のレジスト現像装置の構成図
【符号の説明】
1  レジスト原盤(被処理基板) 2  ターンテーブル(回転機構) 3  モーター(回転機構) 4  液供給ノズル 5  カップ 7  処理液整流円盤

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  露光済みレジスト被膜を有する被処理
    基板をその被処理基板の中心を回転軸として回転させる
    回転機構と、前記被処理基板の表面に現像液および純水
    を供給する処理液供給機構と、前記被処理基板の周囲を
    囲むカップと前記被処理基板の回転中心上方に位置する
    処理液供給機構の液供給ノイズ先端に被処理基板と間隙
    ができるように平行に対面した処理液整流円盤とを備え
    、処理液を前記処理液整流円盤の中心より供給するレジ
    スト現像装置。
JP40383290A 1990-12-19 1990-12-19 レジスト現像装置 Expired - Fee Related JP2943328B2 (ja)

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JP2943328B2 (ja) 1999-08-30

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