JPH0421048Y2 - - Google Patents

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JPH0421048Y2
JPH0421048Y2 JP1985178978U JP17897885U JPH0421048Y2 JP H0421048 Y2 JPH0421048 Y2 JP H0421048Y2 JP 1985178978 U JP1985178978 U JP 1985178978U JP 17897885 U JP17897885 U JP 17897885U JP H0421048 Y2 JPH0421048 Y2 JP H0421048Y2
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/004Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring coordinates of points
    • G01B7/008Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring coordinates of points using coordinate measuring machines
    • G01B7/012Contact-making feeler heads therefor

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、測定機に使用する為の探針に関する
ものである。
〔従来技術とその問題点〕
ホルダ上に載置された触針を測定される工作物
に接触するように測定機を移動させ、触針と工作
物との接触の瞬間におけるヘツドの位置を記録す
る為に測定機ヘツドにこの種の探針を連結する事
は公知である。この様な操作を可能にするには、
触針が工作物と接触した位置を測定機が少し越え
る事ができる様にすることが必要であり、その為
に触針はヘツドに固定された探針部分に対して僅
かに転位可能になつている。
この様な探針は、そのハウジング上に備えられ
た受座と係合する様に付勢された触針を備えてい
る。操作に際しても、もしホルダに連結された触
針が座の面に対して平行な方向に転移させられる
と、この転移に伴つて、ホルダは触針座の上にお
いて、座の対向する方向に傾斜させられ、次にホ
ルダはこの同じ方向において座から離れる。しか
し、公知の探針においては、触針を受座の対向す
る方向と反対方向に転位させる事は不可能であ
る。すなわち、触針をホルダの軸方向における両
方向に移動させることはできなかつた。また、従
来の単純な3点支持の構造では、触針の軸方向に
直交する各方向における力に対する感度が大きく
異なつており、精度に乏しかつた。
〔考案の目的〕
本考案は、かかる点に鑑み、簡単な構造で触針
をホルダの軸方向における両方向に移動でき、し
かも各方向における力に対する感度が大きく異な
ることのない測定機において使用される探針を提
供することを目的とする。
〔考案の概要〕
この目的は、触針を加工物に係合させるために
互いに相対的に移動可能でその係合によつて加工
物の位置を検出する位置測定機において使用さ
れ、軸を有する固定部材と、触針が連結される移
動部材と、前記固定部材上に設けられた前記軸を
横切る平面内において前記軸の周りに配設された
第1受座手段と、前記移動部材上に設けられ前記
第1受座手段に対向する第2受座手段と、前記移
動部材を前記固定手段に前記第1および第2受座
手段を介して係合せしめ、前記固定部材上に前記
移動部材を軸方向の基準位置において前記固定部
材上に位置せしめるための付勢手段と、前記固定
部材と移動部材間に連結された中心位置決め部材
とからなる測定機において使用される探針におい
て、前記中心位置決め部材120,121は、前
記移動部材112が基準位置にあるときに前記軸
を横切る2方向に伸びる少なくとも1つの構造体
であり、前記中心位置決め部材120,121
は、前記2方向における変形に対して剛性を示す
が他の方向においては柔軟性を有し、これにより
前記移動部材112が前記基準位置にあるときに
前記触針113が前記軸Zの周りの回転による固
定部材110に対する変位および前記軸Zを横切
るどのような方向における変位を防止するように
協働するが前記移動部材112は、力が前記移動
部材に加えられたとき、前記軸Zの方向における
基準位置および前記軸Zを通るどのような平面に
おける角度位置から変位するのを許容し、前記付
勢手段117,119,120,121は、力の
付加を停止したときに前記移動部材112を前記
基準位置に戻すように協働することによつて達成
される。
〔実施例〕
以下、本考案を図面に示す実施例によつて詳細
に説明する。
第1図乃至第3図において、図示の探針の触針
113(第3図)は移動部材であるホルダ112
に支持され、このホルダ112の基部は3角形に
なつており、その各頂点に円柱状の受座手段12
3a,123bが固着され、この受座手段123
bは基準軸線Zを中心として等角度な三位置A,
B,Cにおいて円柱状の受座部材122を介して
保持部材114と係合する様に保持部材114と
ホルダ112間に設けた付勢手段であるバネ11
7によつて弾発されている。このバネ117の力
は、軸線Zに対して平行な矢印Z1の方向(上方
向)に加えられる。前記保持部材114そのもの
は、同じく軸線Zを中心として等角度な三位置
D,E,Fにおいて固定部材であるハウジング1
10のフランジ110aと係合する様にハウジン
グ110の上面と保持部材114間に設けた付勢
手段であるバネ119によつて弾発されている
が、このバネ119の力は矢印Z1の方向と逆の
矢印Z2の方向(下方向)に加えられる。
これらの図面は、基準位置にあるホルダを示し
ている。ホルダはこの位置において各バネの作用
によつていかなる線運動または枢転運動に対して
も拘束されている。軸線Zの方向(探針の軸方
向)の線運動に対する拘束力は位置A乃至Fにお
いて加えられる。さらに、これらの位置において
は、軸線Zに対して直角方向の軸線を中心とする
運動、即ち位置A乃至Fのいずれか1つまたはそ
れらの2つを結ぶ直線を中心とするホルダの傾斜
に対して拘束されている。ホルダは、触針の軸方
向における両方向に作用する力Fによつて、バネ
117または119の上記二種の拘束力に対抗し
て移動する事ができる。力Fがかからなくなる
と、バネ117または119がホルダとその触針
基準位置(図示位置)に戻す。
軸線Zに対する横方向移動とこの軸線を中心と
する回転に対する拘束力は中心位置決め部材であ
る2枚の板バネ120と121とによつて加えら
れる。これらの板バネ120,121はそれぞれ
保持部材114とホルダ112をハウジングに対
して連接するものである。前記板バネ120は、
保持部材114に固着された中心部120Aと、
この中心部から突出してその先端120Cがハウ
ジング110のフランジ110aに固着された三
個の脚部120Bとを備えている。この脚部12
0Bには、互いに反対方向にスリツトS,Sが入
つていて、保持部材114の種々の方向の運動を
保証する。これらの脚部120Bは、保持部材1
14の、軸Zの方向または位置A乃至Fのいずれ
かを中心とする横方向運動をも許容するが、この
保持部材114の軸線Zに対して横方向または軸
線Zを中心とする偶然の移動応力が加えられなく
なると、この移動から基準位置に戻る事を保証す
る。板バネ121はバネ120と類似のものであ
つて、ホルダ112とハウジング110のフラン
ジ部110aとを連結し、板バネ120と同様に
中心部と脚部とを有しており、両板バネ120,
121は上下に重なつて配置され、各脚部の先端
部分においてスペーサ150を介して互いに固着
されている。このように板バネを設ければ、簡単
な構造で軸線Zに対する横方向および軸線方向の
触針の変位に抵抗しうる。各場所A乃至Fは、半
径方向横軸線122Aに沿つて配設され保持部材
から突出した円柱形の受座部材122と、これに
直交する軸線123A,123Bに沿つて配設さ
れハウジングのフランジ部110a上に配設され
た受座部材123aおよび前記受座部材122,
123aに対応してホルダ基部に配設された円柱
状の123bとの接点によつて定められる。前記
受座部材122は保持部材114から出て、その
軸線122Aは軸線Zに対して放射方向にある。
前記両受座部材123aおよび123bはハウジ
ング110およびホルダ112上に互いに並立に
固着されている。
第1グループの位置A,B,Cにおいて3個の
受座部材122は、軸線Zに対して直交する面の
中にある集合受座132を形成して、ホルダ11
2が受座部材122に対して傾斜しない様に支承
している。これらの位置A,B,Cの並列した両
受座部材123aおよび123bは、前記保持部
材の受座部材122によつて形成される対応の凸
形面要素に対向する凸形面要素を形成している。
これらの受座部材122,123a,123bの
対向面要素が共働して、ホルダ112を保持部材
114に対して支承している。また位置D,E,
Fにおいては、ハウジングのフランジ部110a
の上に受座部材123aは受座132と同一面に
おける集合受座131を形成し、保持部材114
を受座部材122および受座部材123bを介し
てハウジングのフランジ部110aの上に、傾斜
しないように支承する。集合受座132は矢印
Z1の方向(上方向)に付勢されているのに対し
て、集合受座131は逆方向、即ち、矢印Z2の
方向に付勢されている。
触針の移動を検出する目的で、各位置A乃至F
における受座部材122,123a,123bは
回路開閉器を成している。その目的から、ホルダ
112、保持部材114およびハウジング110
は合成樹脂から成り、これに対して受座部材12
2,123a,123bは硬化処理され研磨され
た鋼から成る。各開閉器は、一対の上下の受座部
材122,123a,123bによつて形成され
る。保持部材114の受座部材122は、その係
合する2個の受座部材123a,123bとそれ
ぞれ別個の2個の開閉器を成している。それぞれ
の位置A乃至Fにおける開閉器は回路124の中
に直列に接続されているので(第1図)、開閉器
のどれか一つが開いた時に回路の状態は変えられ
る。前記回路124は位置Eにおいて受座部材1
23bに対する導線125を有し位置B,Cにお
ける2つの受座部材123a間、位置FD間には
導線126,128が設けられている。
位置Aにおける受座部材123aは板バネ12
0を介して帰路導線127に接続され、こうして
回路か閉じる。
第1位置A,B,Cは対応する第2位置D,
E,Fと軸Zの周りに実際に可能な範囲でできる
だけ等しい角度位置をとる。すなわち、3つの対
になつた位置A,D;B,E;C,F、が存在す
る。
本実施例においてホルダ上の各々の第1位置
A,B,Cはそれぞれのハウジングのフランジ部
110a上の第2位置D,E,Fとともに半径線
R1,R2,R3上に置かれている。これらの第2位
置D,E,Fは隣接する第1位置から半径方向に
所定距離だけ離れている。
上述した一A乃至Fの角度位置は最小モーメン
トの6角形状の関係軸を事実上備えている。
今触針が横方向の力Gによつてある横方向M1
に動かされるならば(第1図、第6図)、ホルダ
は位置AおよびCを通る軸である軸ACの周りに
下方に傾斜し、そして開閉器の接触は位置DFお
よびBにおいて離れる。逆にM2方向に力が作用
するとホルダが軸線DFを中心として上方に傾斜
し、このとき位置A,CおよびEにおいて開閉接
点が開かれる。軸線ACと軸線Zとの距離と軸線
DFと軸線Zとの距離の差dは小さいので触針を
方向M1とM2に傾斜させるのに必要なモーメント
はほぼ等しくなる。これに対して、第5図に示す
ように、単純な3点支持の場合は、M1とM2方向
におけるモーメントが2:1となり、それらの差
が大きい。したがつて、力の方向によつて触針の
感度が大きく異つてくるが、本考案の場合は差d
が小さいので各方向における感度の差が小さい。
また、M1方向すなわち三角形状の支持点の2
つを結ぶ軸線に直交する方向の力の傾斜モーメン
トは各支持点に向かうたとえばM2方向の傾斜モ
ーメントよりも小さいことがわかる。これら方向
の中間方向に力を加えた場合の傾斜モーメントは
各傾斜軸線(6本の傾斜軸線が存在する)に対す
るモーメント成分に分けて考えればよい。触針の
片寄り方向がN1とN2の場合、またはP1とP2の
場合にも、同様の状態が生じる。この故に、基準
位置において触針の安定性を得る為、触針は2組
の三位置上に支承されているけれども、実際上、
触針が傾斜する際に6つの傾斜軸線が存在する。
従つて、軸線Zに対して横方向の任意の傾斜力方
向について、触針を傾斜させるのに必要なモーメ
ントは実質的に同一であり、この様な横方向傾斜
力に起因する触針の片寄りは避け難いが、それは
小さく、単一の組の三位置を使用する場合に見ら
れる変動を免れる事ができる。
軸線Zの方向の触針転位に関しては、第3図か
ら、触針は矢印方向Z1またはZ2の方向に移動で
きる事は明らかである。触針がZ1の方向に転位
する時、位置D,E,Fにおいて開閉接点が開か
れる。逆方向Z2に転位する時、位置ABCにおい
て開閉接点が開く。このように、触針がZ,Z2
の両方向に動くことができれば、測定機を上下い
ずれかの方向に動かしているときでも工作物を検
出できる。
図示されていない他の実施態様においては、板
バネ120と121は自由状態において皿状を成
し、これらのバネが探針中に組立てられた時、バ
ネ121はZ1方向の力を加えて、ホルダ112
を保持部材114に対して弾発する。同様に、板
バネ120が組立てられた時、方向Z2の力を加
えて保持部材114をハウジングに対して弾発す
る。この様な状態においては、バネ117と11
9を省略し、または比較的弱くする事ができ、ま
たこれらのバネ117,119はバネ120,1
21の力を補足し或は調節するのに充分である。
第1図乃至第3図について記述した実施例にお
いて、2組の三位置、即ち位置A,B,Cの組と
D,E,Fの組が存在し、その一方の組の各位置
の軸線を中心とする角度位置は他の組のものと同
一である。一組当り三位置の構造は安定性を示し
余分の位置を省略するものであるが、もし望むな
ら三位置以上の位置を設ける事ができる。その場
合には、組当りの位置の数が偶数であるか奇数で
あるかに応じてことなる状態が生じる。第1図乃
至第3図の様に奇数であれば、傾斜モーメントは
実質的に均一にする為には二組の各位置を実質的
に同一角度位置としなければならない。しかし偶
数であれば、実質的に同一の傾斜モーメントを得
る為には、一方の組の位置を他方の位置の中間角
度位置に配置し、また同一半径位置に配置する事
が好ましい。
更に他の実施様態として、各受座部材122,
123a,123bの間の電気的接触構造を省略
して、その代りに触針ホルダ112とハウジング
110との間に近接検知器または類似物を導入
し、又はホルダ112と保持部材114間と保持
部材とハウジング110の間とに、それぞれ近接
スイツチを設けてもよい。第4図に図示の探針
は、受座部材によつて形成されるハウジング21
0のフランジ210a上の受座231とホルダ1
12の基部上の受座232が軸線Zに沿つて軸方
向に離間配置された複数の面に配置されている事
以外は、第1図乃至第2図に図示の探針と類似で
ある。すなわち、細径に形成されたハウジング2
10内には、上下に離間して一体形成された2つ
の保持部材214,214が収納され、これら各
保持部材214には円柱状受座部材222が等間
隔で3つずつ配置されている。上方の保持部材の
受座部材222は、ハウジング210のフランジ
部210a上の円柱状の受座部材223aに当接
し、下方の保持部材の受座部材222はホルダの
基部上の円柱状受座部材223bに当接してい
る。前記保持部材214の連結部214aとハウ
ジングのフランジ部210a間は板バネ220に
よつて連結されたホルダ基部とハウジング210
下面間は板バネ221によつて連結され、ホルダ
112と保持部材214間、保持部材214とい
うハウジング上面間にはコイルバネ117および
119がそれぞれ設けられている。ホルダ112
は保持部材214と三位置2A,2B,2Cにおいて
係合し、また保持部材214は前記の位置2A,
2B,2Cに対応する上方の三位置2D,2E,2Fに
おいてハウジング210と係合している。各位置
2A乃至2Fにおいて、保持部材214に固着され
た円柱形の受座部材222は、触針ホルダ112
またはハウジング210に固着された円柱形の両
受座部材223a,223bに係合している。
この構造においては、2組の受座位置を軸線Z
から同一放射方向距離に配置し、または触針片寄
りモーメントの均一性を得る様にこれらの位置の
相対放射距離を選択する事が可能である。また、
この構造においては、ハウジング210の全体直
径を小さくする事ができる。第1図乃至第3図に
比較すれば、ホルダ112は変更されていない
が、保持部材214は保持部材114より大きい
軸方向高さを有しなければならない。また板バネ
220,221は小直径ハウジング210に適し
た直径とする。
第7図と第8図に図示した第4図構造の変形に
おいては、各円柱形の受座部材223a,223
bの代りに、1対の球形の部材323が使用さ
れ、これらの球形の受座部材は軸線Zの方向に集
中する一対の表面要素223−1,223−2を
形成するように配置されている。その場合,各位
置、例えば2D,2E,2Fは、それぞれの表面要素
対223−1,223−2の中間点によつて形成
される。各位置における集中表面要素223−
1,223−2は、ホルダが基準位置にあると
き、相互に共働して、ホルダを軸線Zに対して横
方向にまたは軸線Zを中心として運動しない様に
拘束するので、板バネ220,221を省略する
事ができる。
〔考案の効果〕
本考案は、以上のように構成したので、触針が
その軸の両方向に移動可能となり、探針を上方に
移動させつつ上側の加工物の表面を測定できると
ともに探針を下方に移動させつつ加工物の下側表
面をも測定できる。また、単純な三点支持の触針
と異なり、異なる方向における触針の傾斜モーメ
ントがほぼ等しくなるので力の方向における感度
が均一であるし、特にハウジングと保持部材ホル
ダ間に板バネを設けているので簡単な構造で軸回
りの変移を防止でせきる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの考案の探針の第1実施例の平面
図、第2図は第1図の−線による断面図、第
3図は第1図の−線による断面図、第4図は
第1図の変形例を示す類似の断面図、第5図は単
純三点支持の触針の作用説明図、第6図は第1図
の説明補助図、第7図は第4図の一部の変形を示
す詳細図、第8図は第7図の平面図である。 110,210……ハウジング、112……ホ
ルダ、123a,223a……受座部材、123
b,223b……受座部材、122,222……
受座部材、117,119……バネ。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 触針113を加工物に係合させるために互いに
    相対的に移動可能でその係合によつて加工物の位
    置を検出する位置測定機において使用され探針に
    おいて、軸線Zを有する固定部材110と、触針
    113が連結される移動部材112と、前記固定
    部材110上に設けられ前記軸線Zに直交する平
    面内において前記軸線Zの半径方向に配設された
    第1受座手段123a,123bと、前記移動部
    材112上に設けられ前記第1受座手段123
    a,123bに対向する第2受座手段122と、
    前記移動部材112を前記固定部材110に前記
    第1および第2受座手段123a,123b,1
    22を介して係合せしめ前記固定部材110上に
    前記移動部材112を前記軸線Zの方向の基準位
    置において前記固定部材110上に位置せしめる
    ための付勢手段117,119と、前記固定部材
    110と前記移動部材112間に連結された中心
    位置決め部材120,121とからなり、前記中
    心位置決め部材120,121は前記移動部材1
    12が基準位置にあるときに前記軸線Zに直交す
    る2方向に伸びる少なくとも1つの構造体からな
    り、前記中心位置決め部材120,121は前記
    軸線Zに直交する2方向における変形に対して剛
    性を有するが他の方向に対しては柔軟性を有する
    ことを特徴とする測定機において使用される探
    針。
JP1985178978U 1976-12-24 1985-11-20 Expired JPH0421048Y2 (ja)

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GB54032/76A GB1589297A (en) 1976-12-24 1976-12-24 Probe for use in measuring apparatus
GB2265677 1977-05-28

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JPS61125702U JPS61125702U (ja) 1986-08-07
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JP1985178978U Expired JPH0421048Y2 (ja) 1976-12-24 1985-11-20

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JP15550177A Pending JPS5382377A (en) 1976-12-24 1977-12-23 Probe used in measuring instruments
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US (4) US4288925A (ja)
JP (3) JPS5382377A (ja)
CH (1) CH617881A5 (ja)
DE (1) DE2757453B2 (ja)
FR (1) FR2375580A1 (ja)
IT (1) IT1088539B (ja)
SE (1) SE437301B (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1568053A (en) * 1975-10-04 1980-05-21 Rolls Royce Contactsensing probe
IT1088539B (it) * 1976-12-24 1985-06-10 Rolls Royce Sonda per l'uso in apparecchi di misura
GB1593682A (en) * 1977-01-20 1981-07-22 Rolls Royce Probe for use in mearusing apparatus
DE2712181C3 (de) * 1977-03-19 1981-01-22 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Tastsystem
IT1107310B (it) * 1978-03-23 1985-11-25 Dea Spa Gruppo di attacco per un montaggio di precisione e di sicurezza di un utensile su una macchina particolarmente una macchina di misura
DE2947394A1 (de) * 1979-11-24 1981-05-27 Ernst Leitz Wetzlar Gmbh, 6330 Wetzlar Einrichtung zur messwerterfassung an prueflingen
FR2475717A1 (fr) * 1980-02-08 1981-08-14 Roch Pierre Sarl Instrument a poignee pour la mesure de diametres interieurs
US4583000A (en) * 1980-11-14 1986-04-15 Difracto Ltd. Coordinate measuring method and device with a contact member and light detector
DE3279249D1 (en) * 1981-06-30 1989-01-05 Renishaw Plc Probe for measuring workpieces
US4558312A (en) * 1982-03-05 1985-12-10 Sony Magnescale Incorporated Position detecting device
DE3215878A1 (de) * 1982-04-29 1983-11-03 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Tastkopf fuer koordinatenmessgeraete
JPS58169502U (ja) * 1982-05-06 1983-11-12 大昭和精機株式会社 工作機械用位置測定装置
JPS58196404A (ja) * 1982-05-11 1983-11-15 Mitsutoyo Mfg Co Ltd タッチ信号プロ−ブ
US4451987A (en) * 1982-06-14 1984-06-05 The Valeron Corporation Touch probe
DE3231160C2 (de) * 1982-08-21 1985-11-07 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut Mehrkoordinaten-Tastkopf
US4577416A (en) * 1982-11-05 1986-03-25 Traub Gmbh Tracing sensor
JPS59104003U (ja) * 1982-12-29 1984-07-13 黒田精工株式会社 タツチセンサ
US4567672A (en) * 1983-06-16 1986-02-04 Mitutoyo Mfg. Co., Ltd. Coordinate measuring instrument
US4612622A (en) * 1983-07-12 1986-09-16 United Technologies Corporation Probe for coordinate measuring machine
IT1168698B (it) * 1983-11-21 1987-05-20 Finike Italiana Marposs Testa per il controllo di dimensioni lineari
US4523063A (en) * 1983-12-05 1985-06-11 Gte Valeron Corporation Touch probe having nonconductive contact carriers
US4553001A (en) * 1983-12-05 1985-11-12 Gte Valeron Corporation Touch probe having nonconductive contact carriers
US4542590A (en) * 1984-03-26 1985-09-24 Gte Valeron Corporation Two axis touch probe
FR2573865B1 (fr) * 1984-11-23 1989-04-28 Commissariat Energie Atomique Dispositif de retour automatique d'un plateau mobile a sa position de repos et palpeur multidirectionnel utilisant ce dispositif
US4625417A (en) * 1985-06-17 1986-12-02 Gte Valeron Corporation Probe with stylus pressure adjustment
WO1987000915A1 (fr) * 1985-07-30 1987-02-12 Norio Fukuhisa Detecteur de position
GB8627374D0 (en) * 1986-11-15 1986-12-17 Renishaw Plc Checking setting of tool
DE3706767A1 (de) * 1987-03-02 1988-09-15 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Mehrkoordinaten-tastkopf
US4778313A (en) * 1987-05-18 1988-10-18 Manuflex Corp. Intelligent tool system
DE3811235A1 (de) * 1987-08-21 1989-10-19 Wegu Messtechnik Dynamischer tastkopf
US5491904A (en) * 1990-02-23 1996-02-20 Mcmurtry; David R. Touch probe
US5253428A (en) * 1990-02-23 1993-10-19 Renishaw Plc Touch probe
GB9004117D0 (en) * 1990-02-23 1990-04-18 Renishaw Plc Touch probe
IT1238266B (it) * 1990-03-06 1993-07-12 Marposs Spa Testa per il controllo di dimensioni lineari di pezzi.
US5410334A (en) * 1990-09-19 1995-04-25 International Business Machines Corporation Switch for pen-down sensing in electronic styli
GB9106731D0 (en) * 1991-03-28 1991-05-15 Renishaw Metrology Ltd Touch probe
DE4123081C2 (de) * 1991-07-12 2001-05-17 Zeiss Carl Tastkopf vom schaltenden Typ
DE4209829A1 (de) * 1992-03-26 1993-09-30 Max Hobe Präzisions-Kupplung zum Einsatz in einem Tastkopf einer Meßeinrichtung
DE4228018C2 (de) * 1992-08-24 1994-11-24 Haff & Schneider Werkzeug Und Mehrkoordinaten-Tastmeßgerät
IT1258132B (it) * 1992-12-24 1996-02-20 Dispositivo tastatore, particolarmente per macchine a copiare.
DE4325743C1 (de) * 1993-07-31 1994-09-08 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Mehrkoordinaten-Tastkopf
US5594995A (en) * 1995-04-06 1997-01-21 Metrol Co., Ltd. Touch sensor
US5825666A (en) * 1995-06-07 1998-10-20 Freifeld; Daniel Optical coordinate measuring machines and optical touch probes
US5819429A (en) * 1995-10-12 1998-10-13 Metrol Co., Ltd. Touch sensor
DE29612475U1 (de) * 1996-07-18 1996-09-19 Zeiss Carl Fa Tastkopf
DE19630823C1 (de) * 1996-07-31 1997-12-11 Zeiss Carl Fa Koordinatenmeßgerät mit Kollisionsschutz
JP3121289B2 (ja) * 1997-06-10 2000-12-25 株式会社ミツトヨ 測定器
GB0118981D0 (en) * 2001-08-03 2001-09-26 Renishaw Plc Electron microscope and spectroscopy system
US6553682B1 (en) 1999-03-15 2003-04-29 Paradyne Touch probe
DE19931226C2 (de) * 1999-07-06 2001-10-18 Mahr Gmbh Führungssystem für einen Taster und Tastsystem
US6718647B2 (en) * 2000-06-14 2004-04-13 Renishaw Plc Force sensing probe
DE10118069A1 (de) * 2001-04-11 2002-10-17 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Längenmesstaster
GB0201845D0 (en) * 2002-01-26 2002-03-13 Renishaw Plc Analogue probe
US6810599B2 (en) * 2002-07-01 2004-11-02 The Boeing Company Pin tip sharpness measurement gauge
AU2003267798A1 (en) * 2002-10-29 2004-05-25 Koninklijke Philips Electronics N.V. A coordinate measuring device with a vibration damping system
EP1443300B1 (fr) * 2003-01-29 2010-02-24 Tesa SA Palpeur orientable
EP1443301B1 (fr) * 2003-01-29 2010-02-10 Tesa SA Palpeur orientable
US7116555B2 (en) * 2003-12-29 2006-10-03 International Business Machines Corporation Acoustic and thermal energy management system
EP1610087B1 (fr) * 2004-06-22 2010-01-20 Tesa SA Palpeur avec déclencheur
US7404260B2 (en) * 2005-11-10 2008-07-29 Johns Manville Gauge and method for indicating one or more properties of a loose-fill insulation
DE102005054593B4 (de) * 2005-11-14 2018-04-26 Immobiliengesellschaft Helmut Fischer Gmbh & Co. Kg Messonde zur Messung der Dicke dünner Schichten
EP1852674B1 (de) * 2006-05-05 2015-09-09 Dr. Johannes Heidenhain GmbH Messvorrichtung zur Bestimmung des relativen Versatzes zwischen zwei Bauteilen
GB2437982B (en) * 2006-05-08 2011-07-27 Taylor Hobson Ltd Metrological apparatus
CN109048498B (zh) * 2018-08-29 2020-10-20 扬州大学 一种可自动寻边系统

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4946350A (ja) * 1972-09-04 1974-05-02
JPS4994370A (ja) * 1972-09-21 1974-09-07
JPS52145058A (en) * 1976-03-24 1977-12-02 Rolls Royce Displacement measuring device
JPS6130163U (ja) * 1984-07-25 1986-02-22 ロ−レルバンクマシン株式会社 硬貨投出装置

Family Cites Families (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE92567C (ja) *
DD92567B (ja) *
DE506115C (de) * 1928-05-17 1930-09-01 Fritz Werner Akt Ges Gelenkiger Kopierstift
US2470244A (en) * 1946-09-07 1949-05-17 Submarine Signal Co Electrical reproducing stylus
US3016619A (en) * 1957-12-19 1962-01-16 Kurt H Mueller Depth and groove locating gage
US3028675A (en) * 1958-04-03 1962-04-10 Sheffield Corp Gaging device
US3212325A (en) * 1963-07-30 1965-10-19 Katz Lester Force measuring instrument
JPS4425436Y1 (ja) * 1964-06-06 1969-10-24
US3277248A (en) * 1965-07-19 1966-10-04 Western Electric Co Switch control unit with improved pivot arm actuator structure
FR1543450A (fr) * 1967-09-14 1968-10-25 Gambin S A Dispositif palpeur pour machine-outil à copier
US3520063A (en) * 1968-08-30 1970-07-14 Rohr Corp Multiaxis inspection probe
US3557462A (en) * 1968-10-30 1971-01-26 Inspection Engineering And Equ Gaging device and system
GB1271841A (en) * 1969-01-01 1972-04-26 British Aircraft Corp Ltd Improvements relating to dimensional sensing devices
US3673695A (en) * 1970-05-22 1972-07-04 Rohr Corp Non-tilting probe
US3670420A (en) * 1971-01-04 1972-06-20 Inspection Eng And Equipment I Gaging head construction
US3766653A (en) * 1971-10-04 1973-10-23 Lockheed Missiles Space Three axis inspection probe
DE2242355C2 (de) * 1972-08-29 1974-10-17 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Elektronischer Mehrkoordinatentaster
US4153998A (en) * 1972-09-21 1979-05-15 Rolls-Royce (1971) Limited Probes
US3855708A (en) * 1972-10-16 1974-12-24 Candid Logic Inc Self-actuated digital location sensor
GB1447613A (en) * 1973-06-14 1976-08-25 Rolls Royce Probes
DE2346031C2 (de) * 1973-09-12 1975-08-07 Kugelfischer Georg Schaefer & Co, 8720 Schweinfurt Meßkopf für Koordinatenmeßmaschinen
AR205904A1 (es) * 1973-10-01 1976-06-15 Illinois Tool Works Dispositivo detector para revelar variaciones de la superficie de una pieza de trabajo
DE2356030C3 (de) * 1973-11-09 1978-05-11 Ernst Leitz Wetzlar Gmbh, 6330 Wetzlar Taster zur Werkstückantastung
US4130941A (en) * 1975-03-20 1978-12-26 Rolls-Royce Limited Displacement gauge
GB1568053A (en) * 1975-10-04 1980-05-21 Rolls Royce Contactsensing probe
US4136458A (en) * 1976-10-01 1979-01-30 The Bendix Corporation Bi-axial probe
IT1088539B (it) * 1976-12-24 1985-06-10 Rolls Royce Sonda per l'uso in apparecchi di misura
DE2712181C3 (de) * 1977-03-19 1981-01-22 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Tastsystem

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4946350A (ja) * 1972-09-04 1974-05-02
JPS4994370A (ja) * 1972-09-21 1974-09-07
JPS52145058A (en) * 1976-03-24 1977-12-02 Rolls Royce Displacement measuring device
JPS6130163U (ja) * 1984-07-25 1986-02-22 ロ−レルバンクマシン株式会社 硬貨投出装置

Also Published As

Publication number Publication date
DE2757453A1 (de) 1978-07-06
FR2375580B1 (ja) 1981-12-18
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JPS5866307U (ja) 1983-05-06
US4360973A (en) 1982-11-30
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US4473955A (en) 1984-10-02
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FR2375580A1 (fr) 1978-07-21
DE2757453B2 (de) 1979-05-03
SE437301B (sv) 1985-02-18
US4397093A (en) 1983-08-09
CH617881A5 (ja) 1980-06-30
DE2757453C3 (ja) 1989-10-12
JPS5382377A (en) 1978-07-20

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