JPH04204275A - 信号処理装置 - Google Patents
信号処理装置Info
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- JPH04204275A JPH04204275A JP2337503A JP33750390A JPH04204275A JP H04204275 A JPH04204275 A JP H04204275A JP 2337503 A JP2337503 A JP 2337503A JP 33750390 A JP33750390 A JP 33750390A JP H04204275 A JPH04204275 A JP H04204275A
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- Japan
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- signal
- duty
- signal processing
- circuit
- transistor
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 12
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims 1
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 6
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 241000277269 Oncorhynchus masou Species 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 230000002747 voluntary effect Effects 0.000 description 1
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- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は半導体集積回路などの機能確認が行える信号
処理装置に関するものである。
処理装置に関するものである。
第4図は従来の半導体集積回路などの検査を速くかつ確
実に行うための信号処理装置のブロック図である。
実に行うための信号処理装置のブロック図である。
本来の信号処理装置は信号処理のために必要な端子以外
乙こ、機能確認、モード切替入力端子、確認用信号入力
端子が設けられていた。図において、(3)は信号処理
回路部、(2)は信号処理回路切替部、(40)は信号
入力端子、(41)は機能W!認モード切替入力端子、
(42)はfI V相信号入力端子である。
乙こ、機能確認、モード切替入力端子、確認用信号入力
端子が設けられていた。図において、(3)は信号処理
回路部、(2)は信号処理回路切替部、(40)は信号
入力端子、(41)は機能W!認モード切替入力端子、
(42)はfI V相信号入力端子である。
次に動作について説明する。i能確認モード切替入力端
子(41)より内部回路を確認用の回路状態に切替え、
確認用信号入力端子(42)より確認用信号を入力して
内部回路を確実にかつ短時間で機能fI認できるように
していた。
子(41)より内部回路を確認用の回路状態に切替え、
確認用信号入力端子(42)より確認用信号を入力して
内部回路を確実にかつ短時間で機能fI認できるように
していた。
[発明が解決しようとする課題〕
従来の信号処理装置は以上のように構成されていたので
、検査用として少なくとも1個以上の端子を必要とし、
このため余分な端子を必要とし製品の実装面積や余分な
配線が必要となるという問題点を有していた。
、検査用として少なくとも1個以上の端子を必要とし、
このため余分な端子を必要とし製品の実装面積や余分な
配線が必要となるという問題点を有していた。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、余分な端子を増すことなく、簡単な構成で回
路の切替えを行ない機能確認ができる信号処理装置番得
ることを目的とする。
たもので、余分な端子を増すことなく、簡単な構成で回
路の切替えを行ない機能確認ができる信号処理装置番得
ることを目的とする。
この発明に係る信号処理装置は、信号のデユティを検出
するデユティ検出回路を設け、このデユティ検出回路の
出力に応じて信号処理回路を切替え内部回路の機能確認
ができるようにしたものである。
するデユティ検出回路を設け、このデユティ検出回路の
出力に応じて信号処理回路を切替え内部回路の機能確認
ができるようにしたものである。
この発明における信号処理回路は、信号のデユティによ
り制御され、回路機能確認ができるように作動する。
り制御され、回路機能確認ができるように作動する。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。
第1図はこの発明の一実施例である信号処理装置のブロ
ック図で、図において、+11はデユティ検出回路、(
2)は信号処理回路切替部、(3)は信号処理回路部、
(40)は入力端子である。
ック図で、図において、+11はデユティ検出回路、(
2)は信号処理回路切替部、(3)は信号処理回路部、
(40)は入力端子である。
第2図は第1図の回路の具体的な回路の一実施例を示す
回路図で、図中、デユティ検出回路+11部を抵抗Rと
コンデンサC2信号処理回路切替部(2)をQ、、Q、
のトランジスタとS、、S2のスイッチで構成した場合
を示す。
回路図で、図中、デユティ検出回路+11部を抵抗Rと
コンデンサC2信号処理回路切替部(2)をQ、、Q、
のトランジスタとS、、S2のスイッチで構成した場合
を示す。
次に動作について説明する。
第3図に示すように、入力端子(40)に信号(alが
人力されたとすると、トランジスタQ1 の入力信号は
デユティ検出回路(1)により第3図の(blのような
信号波形となり、トランジスタQ1 の反転レベルを越
えて信号が変化する場合は、第3図の(C1のようにパ
ルスを出力するが、トランジスタQ、の反転レベルを信
号が越えられないようなデユティになるとトランジスタ
Q1の出力は変化しないことになる。すなわち、入力信
号のデユティ番こ応して信号処理回路切替部(2)の制
御B信号が出たり出なかったりすることになり、信号処
理回路部(3)の回路を入力のデユティに応して切替え
て状態設定できることになる。
人力されたとすると、トランジスタQ1 の入力信号は
デユティ検出回路(1)により第3図の(blのような
信号波形となり、トランジスタQ1 の反転レベルを越
えて信号が変化する場合は、第3図の(C1のようにパ
ルスを出力するが、トランジスタQ、の反転レベルを信
号が越えられないようなデユティになるとトランジスタ
Q1の出力は変化しないことになる。すなわち、入力信
号のデユティ番こ応して信号処理回路切替部(2)の制
御B信号が出たり出なかったりすることになり、信号処
理回路部(3)の回路を入力のデユティに応して切替え
て状態設定できることになる。
なお、上記実施例ではデユティ検出回路(11をコンデ
ンサCと抵抗Rを用いた場合を示したが、デユティ検出
回路の種拌は間れない。また、デユティ検出回FI?1
illをいくつ設けてもかまわず、切替モードを数多く
設定できることになる。また、信号処理回路切替部(2
)は上記実施例では簡華なトランジスタQ + Q
zおよびヌイノチS、S2 を用いた場合を示したがラ
ンチデコータなどで構成してもよい。
ンサCと抵抗Rを用いた場合を示したが、デユティ検出
回路の種拌は間れない。また、デユティ検出回FI?1
illをいくつ設けてもかまわず、切替モードを数多く
設定できることになる。また、信号処理回路切替部(2
)は上記実施例では簡華なトランジスタQ + Q
zおよびヌイノチS、S2 を用いた場合を示したがラ
ンチデコータなどで構成してもよい。
以上のようにこの発明によれば、入力信号のデユティに
より内部回路を切替えて制御するように構成したので、
余分な入力端子を必要とセす、簡単な構成で機能確認を
できるという効果がある。
より内部回路を切替えて制御するように構成したので、
余分な入力端子を必要とセす、簡単な構成で機能確認を
できるという効果がある。
第1図はこの発明の一実施例である信号処理装置のブロ
ック図、第2図は第1図の具体的な回路を示す回路図、
第3図は第2図の各部信号の波形図、第4図は従来の信
号処理装置のブロック図である。 図において、f1+はデユティ検出回路、(2)は信号
処理回路切替部、(3)は信号処理回路部、(40)は
入力端子を示す。 なお、各図中、同一符号は同一または相当部分を示す。 代理人 大 岩 増 雄 第1図 Cコンデンサ R抵抗 QIQ2トランジスタ 5152スイッチ第3図 第4図 手続補正書(自発) 平成 3年 6月28日 代表者 志 岐 守 哉 i 補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の欄− 6、補正の内容 (1)明細書第4頁第20行の「N類は間れない、」を
「種類は問わない。」と訂正する。 (2)明細書第5頁第6行の「ラッチデコーダなどで」
を「う、ツチやデコーダなどで」と訂正する。 以上
ック図、第2図は第1図の具体的な回路を示す回路図、
第3図は第2図の各部信号の波形図、第4図は従来の信
号処理装置のブロック図である。 図において、f1+はデユティ検出回路、(2)は信号
処理回路切替部、(3)は信号処理回路部、(40)は
入力端子を示す。 なお、各図中、同一符号は同一または相当部分を示す。 代理人 大 岩 増 雄 第1図 Cコンデンサ R抵抗 QIQ2トランジスタ 5152スイッチ第3図 第4図 手続補正書(自発) 平成 3年 6月28日 代表者 志 岐 守 哉 i 補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の欄− 6、補正の内容 (1)明細書第4頁第20行の「N類は間れない、」を
「種類は問わない。」と訂正する。 (2)明細書第5頁第6行の「ラッチデコーダなどで」
を「う、ツチやデコーダなどで」と訂正する。 以上
Claims (1)
- 入力端子を共通として少なくとも2つ以上に分岐し、こ
の分岐された各々の信号線に少なくとも1つ以上の異っ
たデュテイを検出するデュテイ検出回路を備え、このデ
ュテイ検出回路を介したあとの信号で、信号処理回路の
少なくとも一部を制御して信号処理回路を切替え、信号
の伝達経路または伝達状態を変えて機能確認ができるよ
うにしたことを特徴とする信号処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2337503A JPH04204275A (ja) | 1990-11-30 | 1990-11-30 | 信号処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2337503A JPH04204275A (ja) | 1990-11-30 | 1990-11-30 | 信号処理装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04204275A true JPH04204275A (ja) | 1992-07-24 |
Family
ID=18309270
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2337503A Pending JPH04204275A (ja) | 1990-11-30 | 1990-11-30 | 信号処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04204275A (ja) |
-
1990
- 1990-11-30 JP JP2337503A patent/JPH04204275A/ja active Pending
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