JPH04186798A - 多層プリント配線板および層間ずれチェック方法 - Google Patents

多層プリント配線板および層間ずれチェック方法

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JPH04186798A
JPH04186798A JP31716490A JP31716490A JPH04186798A JP H04186798 A JPH04186798 A JP H04186798A JP 31716490 A JP31716490 A JP 31716490A JP 31716490 A JP31716490 A JP 31716490A JP H04186798 A JPH04186798 A JP H04186798A
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JP
Japan
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layer
independent
printed wiring
land
wiring board
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JP31716490A
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Keizo Yamamoto
桂三 山本
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 多層プリント配線板に係り、特に層間のずれ量のチェッ
ク手段に関し、 導通試験器等を利用して層間ずれ量の範囲を簡易的に判
定可能な多層プリント配線板および層間ずれチェック方
法の提供を目的とし、 多層プリント配線板の製品領域の外周にテスト領域を設
け、当該テスト領域の上面層と最下層にチェック用の一
定外径のスルーホールを穿設するための複数個の独立ラ
ンドを列設したチェック領域を、前記製品領域を挟んで
少なくとも2箇所に設け、中間層にそれぞれ設けられた
導体箔には、前記スルーホールの外径より大で、かつ段
階的に寸法の異なるクリアランスホールを、前記各独立
ランドの中心位置と対応する位置に、前記チエ、。
り領域毎に前記独立ランドより一個少なく形成してなり
、前記各層を所要の部材を介して積層後に、前記各独立
ランドの中心位置に前記スルーホールを穿設ならびに該
スルーホール内面にメッキ被覆を施してなる前記チェッ
ク用スルーホールを具備してなる多層プリント配線板を
形成し、前記多層プリント配線板の中間層に前記クリア
ランスホールを設けなかった位置に対応する独立ランド
と、その他の各独立ランド間の導通試験を行なうことに
より前記多層プリント配線板の層間ずれ量を判定するよ
うに構成する。
〔産業上の利用分野〕
本発明は高密度化された各層を積層した場合の各中間層
の位置ずれをチェックして良否を判定するための構造と
チェック方法に関する。
プリント配線板への部品の高密度実装を実現させるため
、最近プリント配線板の配線パターンが微細になってき
た。このような微細な配線パターンを持った一層を多数
枚積層する場合、例えば各層に設けられているスルーホ
ールの位置合わせが問題となる。このため積層前の各層
の配線パターン精度は厳しくチェックされる。
ところがこれらの位置精度を厳しくチェックされたプリ
ント配線板でも、多数枚積層する場合に加熱・加圧時あ
るいは冷却時の各プリント配線板および各層間に挿入さ
れる接着シートの収縮率の相違等により、プリント配線
パターンの層間の位置がずれることがある。
従って、スルーホールの孔明は加工時のランド切れや、
スルーホールと電源パターン等との接触を防止するため
に積層工程完了の時点において層間のずれ量をチェック
する手段の開発が望まれている。
〔従来の技術〕
従来の層間のずれ量をチェック方法としては特願平1−
229732号にて特許出願された[多層プリント配線
板の内層ずれ測定方法」が知られている。
第4図は従来の測定方法を説明するための原理図を示し
、第5図は第4図の要部X線写真の拡大説明図を示す。
本例は5層の多層プリント配線板について説明する。両
図において、P1〜P5は多層プリント配線板の層毎の
分解図であって、Plは表面層、P2〜P4はそれぞれ
第2層目、第3層目、第4層目の内層(中間層)、P5
は最下層(下側の表面層)を示す。1−1.2−1.3
−1.4−1はそれぞれ表面層P1の四隅に設けられた
位置決め用貫通孔を示し、以下同様に例えば表面層P1
の位置決め用貫通孔2−1に対応して内層P2〜P4お
よび最下層P5に設けられた位置決め用貫通孔の符号を
それぞれ2−2.2−3.2−4.2−5のごとく定め
、これらを総称して貫通孔2と呼称する。
7aは位置決め用貫通孔1−1と2−1の各中心を結ぶ
中心線を示し、7bは位置決め用貫通孔2−1と3−1
の各中心を結ぶ中心線を示す。
L2〜L5は各内層P2〜P4および最下層P5の周辺
部の少なくとも2辺(例えば中心に7A1a、 7b)
に沿って各層毎に少なくとも1個を前記各層に異なる所
定位置、例えば各層の位置決め用貫通孔2−2,2−3
.2−4.2−5をそれぞれ基準点として距離j。
2j、3j、4jの位置を中心とするように配設された
所要直径dの円形ランドを示し、ここでは4辺(内2辺
は一部または全部が上層に隠れている)に沿って配置し
た例を示している。
16は表面層Plに設けられた計測用パターンであって
、前記円形ランドに対応した位置に設けられている。第
5図に示すように、中心線7b上の位置決め用貫通孔2
−1の中心位置から距離jづつ離れた位置を中心とする
所要直径D (Dad)の空白円形領域を対応する円形
ランドの数、すなわち4個を有する矩形のパターンであ
る。
次に、計測用パターン16を設けた表面層P1に対して
プリプレグ(接着シート)を各層間に挟みながら四隅の
貫通孔1〜4を位置決め用ピンに挿通して積層し、さら
に加熱・加圧して各層のプリント配線板を接着して多層
プリント配線板を形成する。
このようにして形成された多層プリント配線板を未露光
のXi用写真乾板上に載置し、上から、X線を照射して
写真乾板上に貫通孔1〜4ならびに各計測用パターンを
写し出し、現像を行うと表面層P1に対する各内層P2
〜P4および最下層P5のずれと方向に対応して計測用
パターン16の各空白円形領域の中に各円形ランドL2
〜L5の位置が観測できる。
ここで各円形ランドの直径をd=100−とし、空白円
形の直径をD=300−に設定するならば、第5図に示
すように同心円上に位置する円形ランドL5は表面層P
1に対する最下層P5のずれが全く無いことを示してい
る。この場合、同心形状における空隙寸法は100−と
なるから目視測定により円形ランドL4は右斜上方に1
00−のずれが目視計測できる。同様に円形ランドL3
. L2叫それぞれ上方5Q4.右方150/ffiの
ずれが目視計測できる。
許容誤差が120−ならばd=100−とし、空白円形
の直径を01= 340mに設定することにより円形ラ
ンドが空白円形に内接する場合が許容限度となり、これ
以上は不合格の目視判定が容易にできる。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来の層間ずれ判定方法によれば、X線写真撮
影の結果により各層毎のずれ量、ずれ方向が目視判定で
きるが、X線写真撮影装置を使用することが不可欠とな
り、撮影フィルムの作成、拡大観測手段等、工数的に手
間のかかる欠点がある。
本発明は上記従来の欠点に鑑みてなされたもので、導通
試験器等を利用して層間ずれ量の範囲を簡易的に判定可
能な多層プリント配線板および層間ずれチェック方法の
提供を目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
上記の目的を達成するため本発明は第1図及び第2図に
示すように、多層プリント配線板の製品領域8の外周に
テスト領域9を設け、当該テスト領域の上面層Q1と最
下層QII+にチェック用の一定外径のスルーホールを
穿設するための複数個の独立ランドC0,C1〜Cnを
列設したチェック領域1oを、前記製品領域を挟んで少
なくとも2箇所に設け、中間層Q2. Q3にそれぞれ
設けられた導体箔11.12には、前記スルーホールの
外径より大で、かつ段階的に寸法の異なるクリアランス
ホール旧〜Inを、前記各独立ランドの中心位置と対応
する位置に、前記チェック領域毎に前記独立ランドより
一個少なく形成してなり、前記各層を所要の部材を介し
て積層後に、前記各独立ランドの中心位置に前記スルー
ホールを穿設ならびに該スルーホール内面にメッキ被覆
を施してなる前記チェック用スルーホールT0,Tl〜
Tnを具備してなる多層プリント配線板を形成し、中間
層に前記クリアランスポールを設けなかった位置に対応
する独立ランドcoと、その他の各独立ランド01〜C
n間の導通試験を行なうことにより前記多層プリント配
線板の層間ずれ量を判定するように構成する。
〔作 用〕
各中間層Q2. Q3に穿設されたクリアランスホール
旧〜Hnの中心位置はそれぞれ独立ランドC1〜Cnの
中心位置に対応させて形成されている。また独立ランド
COに対応する位置にはそれぞれ導体箔11゜12が存
在している。積層の際に中間層が表面層に対してずれが
発生すると、そのずれた中間層のクリアランスホールの
中心位置は対応する独立ランドの中心位置に対して偏心
する。従って積層後に各独立ランドの中心位置に一定直
径のチェック用スルーホールを設けることにより、独立
ランドCOはずれの有無に関係なく各層とも共通に接続
され、ずれが発生しない場合は各クリアランスホールの
外径はチェック用スルーホールの外径より大きいから接
触せず、ずれが発生した場合にはそのずれ量の寸法に対
応して段階的に外径寸法の異なるりリアランスホールH
1−Hnの内、接触するものができる。従って導通試験
において、導通のあった独立ランドの位置とその位置に
隣接して導通のない独立ランドの位置を確認することに
より層間のずれ量の寸法的範囲を判定することができる
〔実施例〕
以下本発明の実施例を図面によって詳述する。
第1図は本発明の多層プリント配線板の平面略図、第2
図は本発明のチェック領域の拡大分解斜視図とチェック
方法を説明するための図である。以下第1図を参照しな
がら第2図の説明を行う。
両図において、8は多層プリント配線板の製品領域、9
は製品領域の外周に設けられたテス) 6N域、10は
チェック領域の総称であって、多層プリント配線板の上
面層Qlと最下層Qa+におけるテスト領域9に製品領
域8を挟んで少なくとも2箇所に設けられている。本実
施例ではテスト領域9の四隅にチェック領域10a〜1
0dを配設した例を示している。各チェック領域10a
〜10dにはチェック用の一定外径のスルーホールを穿
設するための複数個の独立ランドCo、C1〜Cn(n
は正の整数で個数を表す)を列設して構成され、。
Q2と03はそれぞれ複数(本実施例では2枚)の中間
層の一部分を示したものであって、独立ランドCo、C
1〜Cnに対向する部分にはそれぞれ導体箔11、12
が貼着されており、その導体箔IL 12には前記した
スルーホールの外径より大で、かつ段階的に寸法の異な
るクリアランスホール旧〜Hnを・各独立ランドC1〜
Cnの中心位置に対向する位置にチェック領域10a〜
10d毎に独立ランドC1〜Cnに対向する位置に形成
している。従って独立ランドCOに対向する中間層の位
置には導体箔11.12が存在する。
以上のように配置した状態で各層を所要の部材を会して
加熱、加圧工程を経由して積層後に、独立ランドCo、
C1〜Cnの各中心位置にチェック用の一定外径のスル
ーホールを穿設する。そしてそのスルーホールの内面に
メッキ被覆を施してチェック用スルーホールTo、 T
1=Tnを形成する。
独立ランドCOの中心位置に設けたチエ、り用スルーホ
ールToは、その内部をめっきすることにより対向する
中間層が導体箔11.12であるため各中間層の導体箔
11.12および最下層Qmの独立ランドCOに共通に
接続されている。
13はテスター(導通試験器)、14aと14bはリー
ド線で接続されたテスター棒を示す。図示するように一
方のテスター棒14aを独立ランドCOに接続し、他方
のテスター棒14bにて順次独立ランドC1からCnま
でチェックする。
第3図は、本発明のスルーホールとクリアランスホール
の関係位置を示す中間層の断面図を示す。
この図は中間層Q2が上面層に対してずれが発生した状
態を示したものである。チェック用スルーホールの各内
面はメッキ被覆が施されているから、チェック用スルー
ホールの円周と交差するクリアランスホールの円周部分
は接触することになり、導通試験の際に明確に接触位置
が検出可能である。
この図では独立ランドCOとCIおよびC2の間に導通
があり、C3およびC4との間は絶縁状態を示す。勿論
、ずれ量がクリアランスホール旧の直径とチェック用ス
ルーホールの外径の差の1/2より小さい場合にはテス
ター13によって接触の検出はできない。
次に層間ずれ量の判定方法を説明する。例えばチェック
用スルーホールの外径を11に統一し、クリアランスホ
ールH1=Hnの各直径をそれぞれ段階的に1.2 、
1.3 、1.4 、1.5  (各単位+mm以下同
じ)とすれば、各クリアランスホールH1〜)Inのチ
ェック用スルーホールに対するギャップ寸法はそれぞれ
0.1 、0.15.0.2 、0.25となる。従っ
て上記のテスター検出結果のずれ量をKIIIIllと
すれば、0.15< K <0.2と判定できる。
以上により段階的に設定する各クリアランスホールH1
〜Hnの各直径および統一されたチェック用スルーホー
ルの外径に対応して検出ずれ量を定めることができる。
この方法により製品領域内に規定されたずれの許容値と
比較することにより多層プリント配線板にチェック用ス
ルーホールと各独立ランドからなる表面回路が形成され
た段階において簡単に層間ずれの合否検査を行うことが
できる。
〔発明の効果〕
以上の説明から明らかなように本発明によれば、簡単な
導通試験の実施で多層プリント配線板の層間ずれ量の範
囲が容易に判定可能となり、中間層接続信顛性の向上に
効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の多層プリント配線板の平面略図、 第2図は本発明のチェック領域の拡大分解斜視図とチェ
ック方法を説明するための図、第3図は、本発明のスル
ーホールとクリアランスホールの関係位置を示す中間層
の断面図、第4図は従来の測定方法を説明するための原
理図、 第5図は第4図の要部X線写真の拡大説明図を示す。 第1図と第2図において、8は製品領域、9はテスト領
域、10 (10a −10d )はチエ7り領域、1
1、12は導体箔、Qlは上面層、Q2. Q3は中間
層、Qsは最下層、COおよびC1〜Cnは独立ランド
、旧〜Hnはクリアランスホール、TOおよびT1〜T
nはチェック用スルーホールをそれぞれ示す。 オis月/1号1.7(ヤIへ^よt友分鳥午軒劉em
rチτッフ方厖を友を岬47また^e聞第21II1 13IQ 第4g

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 〔1〕多層プリント配線板の製品領域(8)の外周にテ
    スト領域(9)を設け、当該テスト領域の上面層(Q1
    )と最下層(Qm)にチェック用の一定外径のスルーホ
    ールを穿設するための複数個の独立ランド(C0,C1
    〜Cn)を列設したチェック領域(10)を、前記製品
    領域を挟んで少なくとも2箇所に設け、中間層(Q2,
    Q3)にそれぞれ設けられた導体箔(11,12)には
    、前記スルーホールの外径より大で、かつ段階的に寸法
    の異なるクリアランスホール(H1〜Hn)を、前記各
    独立ランドの中心位置と対応する位置に、前記チェック
    領域毎に前記独立ランドより一個少なく形成してなり、 前記各層を所要の部材を介して積層後に、前記各独立ラ
    ンドの中心位置に前記スルーホールを穿設ならびに該ス
    ルーホール内面にメッキ被覆を施してなる前記チェック
    用スルーホール(T0,T1〜Tn)を具備してなるこ
    とを特徴とする多層プリント配線板。 〔2〕請求項1記載の多層プリント配線板の、前記中間
    層に前記クリアランスホールを設けなかった位置に対応
    する独立ランド(C0)と、その他の各独立ランド(C
    1〜Cn)間の導通試験を行なうことにより前記多層プ
    リント配線板の層間ずれ量を判定することを特徴とする
    多層プリント配線板の層間ずれチェック方法。
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