JPH04170042A - プロービング装置 - Google Patents

プロービング装置

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Publication number
JPH04170042A
JPH04170042A JP2297525A JP29752590A JPH04170042A JP H04170042 A JPH04170042 A JP H04170042A JP 2297525 A JP2297525 A JP 2297525A JP 29752590 A JP29752590 A JP 29752590A JP H04170042 A JPH04170042 A JP H04170042A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
probe card
probe
card
integrated circuit
pellet
Prior art date
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Pending
Application number
JP2297525A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Motoki
浩 本木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Yamagata Ltd
Original Assignee
NEC Yamagata Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Yamagata Ltd filed Critical NEC Yamagata Ltd
Priority to JP2297525A priority Critical patent/JPH04170042A/ja
Publication of JPH04170042A publication Critical patent/JPH04170042A/ja
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  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ウェーハの面に縦横に並べて形成された集積
回路領域(以下単にベレットと呼ぶ)の電気的特性を測
定する(以下P/Wチエツクと呼ぶ)プロービング装置
に関する。
〔従来の技術〕
従来、この種のプロービング装置は、図面には示さない
が、ウェーハを塔載するステージと、ウェーハのベレッ
トの入出力端子に接触させるプローブと、このプローブ
より得られる信号によりベレットの良品を制定する装置
本体と、ベレットが不良と判定したとき、ベレットにイ
ンク捺印するインクマーカと、前記ステージにウェーハ
を移載するウェーハ搬送部とを有していた。
このプロービング装置で、ウェーハのP/Wチエツクを
行う際は、まず、ウェーハー搬送部によりウェーハをス
テージに移載する0次に、ウェーハをステージを回転す
ることによりアライメントをとる0次に、ウェーハのベ
レットにプローブを接触させ、ベレット内の集積回路の
電気特性を測定する。このとき、電気特性が良好であれ
ば、ステージは1ベレット部移動し、再びプローブでベ
レットに接触させ、特性を測定する。ここで、もし、こ
のベレットが不良であればインクマーカでそのベレット
でインク捺印する。再び、ステージを移動し、次のベレ
ットを測定する。このような動作を繰返し行い、−枚の
ウェーハのP/Wチエツクを行っていた。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来のプロービング装置では、しばしば、ベレ
ットに塗布したインクよりプローブが汚れることがある
。インクで汚れたプローブでP/Wチエツクを行うと、
良品と判定されたベレットにもインクが転写され、不良
品と見なされる欠点がある。さらに、インクで汚れたプ
ローブで測定する際に、接触不良を起し、安定した測定
値が得られないという欠点がある。
本発明の目的は、かかる欠点を解消するプロービング装
置を提供することである。
〔課題を解決するための手段〕
本発明のプロービング装置は、−面に縦横に並べて複数
の集積回路領域が形成されたウェーハを塔載するステー
ジと、前記第 積回路領域の入出力端子と接触するプロ
ーブをもつプローブカードと、プローブカードと接続さ
れるとともに前記集積回路領域の特性良否を判定する本
体と、前記集積回路領域の集積回路の特性が不良である
とき、該集積回路領域にインクを塗布するインクマーカ
とを備えるプロービング装置において前記プローブカー
ドのプローブの汚れを観察する手段と、汚れがある場合
には前記プローブカードを取外す手段と、汚れた前記プ
ローブカードを搬送する手段と、汚れた前記プローブカ
ードを洗浄する手段と、洗浄された前記プローブカード
を再装慎する手段とを備えることを特徴としている。
〔実施例〕
次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明によるプロービング装置の一実施例を示
す断面図である。このプロービング装置は、同図に示す
ように、ステージ9の移動する方向に並べて配置される
とともにプロービングカード6のプロービングを洗浄す
る蓋付きの洗浄槽12と、ソケット7よりプローブカー
ド6を離脱させたり、装着させたりする着脱部4及びモ
ータ付き歯車5と、プローブの汚れを観察するCCDカ
メラ3と、離脱されたプローブカード6を吸着する吸着
パッド10と、洗浄槽12の上にあって、プローブカー
ド6を装慎し、洗浄槽12にプローブカード6を浸す装
着部11とを設けたことである。それ以外は従来例と同
である。また、洗浄槽12の蓋は開閉用モータ13によ
り開閉を行っている。
次にその動作を説明する。まず、P/Wチエツク中にC
CDカメラ3を用いて常にプローブカード6のプローブ
の汚れ状態を観察し、その撮像信号を制御装置に送る。
次に、インク汚れが認識された場合は、P/Wチエツク
を中断し、装着部11がプローブカード6の下に移動す
る。次にモータ付き歯車5を回転させることにより、巷
説部4凹転し、下降する。この下降する着脱部4により
プローブカード6をソケット7より外し、プローブカー
ド6を装着部11に装慎される。次に、モータ付き歯車
5を逆回転させることにより、着脱部4が上昇し、元の
位置に復帰する。
次に、装着部11は洗浄槽12上に移動する。
次に、プローブカード6は吸着バッド10に吸収され、
装着部11は洗浄槽12の上より他に移動する。
次に、洗浄槽12の蓋を開閉用モータ13を回転させる
ことにより開け、吸着バッド10を下降することにより
プローブカード6を洗浄槽12の洗浄液に浸す、このこ
とにより、付着したインクの汚れは除去される0次に、
洗浄が終了したならば、吸着パッド10を上昇させプロ
ーブカード6を上げる0次に、開閉用モータ13を逆回
転させることにより洗浄槽12の蓋を閉める0次に、外
側に移動していた装着部11が洗浄槽12上に移動し、
吸着パッド10の真空を解放することにより、プローブ
カード6は装着部11に装置される。次に、装着部11
が移動し、ソケット7の下で停止する。次に、装着部1
1を押し上げることにより、プローブカード6をソケッ
ト7に取り付ける。再び、P/Wチエツクを再開する。
このように、プローブカードのプローブが汚れていれば
、事前に検査し、自動的にプローブカードを洗浄する。
第2図は本発明によるプロービング装置の他の実施例を
示すプロービング装置の断面図である。
洗浄装置として、前述の実施例で示した洗浄槽の代りに
ジェット噴射のノズル13と、ノズル13に洗浄液を供
給する液槽14と設け、容器!2aにあるプローブカー
ド6にメチルエチルケトンを吹き付け、インク汚れを洗
浄することである。その他は前述の実施例と同じである
。この実施例では短時間でよりきれいに洗浄できるとい
う利点と、蓋開閉用モータが不用となるため、よりコン
パクトにできるという利点がある。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、プローブカードのインク
汚れを自動的に認識する手段と、汚れを洗浄する洗浄手
段を設けることによって、ベレットを汚し、歩留りを低
下させることなく、かつ安定して試験の出来るプロービ
ング装置が得られるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のプロービング装置の一実施例を示す断
面図、第2図は本発明のプロービング装置の他の実施例
を示す断面図である。 1・・・ベース、2・・・インクマーカ、3・・・CC
Dカメラ、4・・・着脱部、5・・・モータ付き歯車、
6・・・プローブカード、7・・・ソケット、8・・・
ウェーハ、9・・・ステージ、10・・・吸着パッド、
11・・・装着部、12・・・洗浄槽、13・・・開閉
用モータ、14・・・液槽、15・・・ノズル。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  一面に縦横に並べて複数の集積回路領域が形成された
    ウェーハを塔載するステージと、前記集積回路領域の入
    出力端子と接触するプローブをもつプローブカードと、
    プローブカードと接続されるとともに前記集積回路領域
    の特性良否を判定する本体と、前記集積回路領域の集積
    回路の特性が不良であるとき、該集積回路領域にインク
    を塗布するインクマーカとを備えるプロービング装置に
    おいて、前記プローブカードのプローブの汚れを観察す
    る手段と、汚れがある場合には前記プローブカードを取
    外す手段と、汚れた前記プローブカードを搬送する手段
    と、汚れた前記プローブカードを洗浄する手段と、洗浄
    された前記プローブカードを再装慎する手段とを備える
    ことを特徴とするプロービング装置。
JP2297525A 1990-11-02 1990-11-02 プロービング装置 Pending JPH04170042A (ja)

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JP2297525A JPH04170042A (ja) 1990-11-02 1990-11-02 プロービング装置

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ID=17847656

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JP2297525A Pending JPH04170042A (ja) 1990-11-02 1990-11-02 プロービング装置

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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS635542A (ja) * 1986-06-25 1988-01-11 Nippon Maikuronikusu:Kk 半導体ウエハプロ−バ
JPH0244746A (ja) * 1988-08-04 1990-02-14 Hitachi Ltd ウエハプローバ
JPH0252341B2 (ja) * 1983-04-20 1990-11-13 Victor Company Of Japan

Patent Citations (3)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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