JPH04168377A - Ic試験装置 - Google Patents

Ic試験装置

Info

Publication number
JPH04168377A
JPH04168377A JP2295001A JP29500190A JPH04168377A JP H04168377 A JPH04168377 A JP H04168377A JP 2295001 A JP2295001 A JP 2295001A JP 29500190 A JP29500190 A JP 29500190A JP H04168377 A JPH04168377 A JP H04168377A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
driver
timing
comparison
signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2295001A
Other languages
English (en)
Inventor
Takashi Sehata
瀬畑 貴史
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP2295001A priority Critical patent/JPH04168377A/ja
Publication of JPH04168377A publication Critical patent/JPH04168377A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、IC試験装置に関する。
[従来の技術] 従来のIC試験装置での、被測定ICへ試験信号を印加
するドライバ回路1と被測定ICからの出力信号を取り
込み良否判定を行う比較判定器2間のタイミング補正回
路構成と方法を第7図に示す。第7図に示すように、複
数のドライバ回路1と比較判定器2は、分岐スイッチ5
によって、被測定IC測定のためのIC測定信号ライン
3への接続と、両回路間のタイミング補正をするために
、両回路の電気的接続を目的とし、個々のドライバ回路
lから比較判定器2までの波形伝送時間が一定になるよ
うに構成されたマトリックス回路4への接続が可能とな
っている。また、個々のドライバ回路1は、設定タイミ
ングの補正が行えるドライバタイミング補正回路6を有
し、比較判定器2は、判定タイミングの補正が行える比
較器タイミング補正回路10を有している。IC試験装
置内部のドライバ回路1と比較判定器2のタイミング自
動補正の手順を説明する。■:ドライバ回路間のタイミ
ング補正・・第8図にドライバ回路1間のタイミング補
正を行う際の電気的接続図を示す。
IC試験装置に構成されている複数のドライバ回路から
の出力信号は、設定タイミングに対し規定されたタイミ
ング設定精度内で設定されていなければならない。該性
能を保証するため、複数のドライバ回路1は分岐スイッ
チ5により、複数の比較判定器中の任意の比較判定器(
以下基準比較判定器11と称す)までの波形伝達時間が
一定になるように構成されたマトリックス回路4に接続
され、個々のドライバ回路1から出力されたドライバ信
号は、該マトリックス回路4を経由して該基準比較判定
器11に入力される。各ドライバ回路1でタイミング設
定された出力信号に対し、基準比較判定器11の判定結
果が保証精度内に納まるように各ドライバ回路1内に構
成されたドライバタイミング補正回路6にドライバ補正
ライン9を経由して補正値が転送され自動的にドライバ
回路lのタイミング補正は行われる。■:比較判定器の
補正・・第9図に比較判定器2のタイミング補正を行う
際の電気的接続図を示す。IC試験装置に構成されてい
る複数の比較判定器は、被測定ICの入力信号に対し一
定時間の遅延を持った出力信号が規定された精度保証内
で忠実に時間判定されなければならない。該性能を保証
するために、前述方法で補正された複数のドライバ回路
1中の任意のドライバ回路を基準として(以下基準ドラ
イバ回路12と称す)、全ての比較判定器2との間で判
定タイミングの補正を行う。該基準ドライバ回路12と
個々の比較判定器2は分岐スイッチ5によって、波形伝
達時間が一定になるように構成されたマトリックス回路
4を経由して接続される。
各比較判定器2には基準ドライバ回路12からの基準信
号(以下基準ドライバ信号と称す)が入力され、各比較
判定器2において該基準ドライバ回路12で設定された
タイミングに対する判定結果が保証精度内に納まるよう
に比較判定器2の比較器タイミング補正回路10に補正
値を取り込み、判定タイミングの補正を行う。本方式に
よりドライバ回路1と比較判定器2間の相対的なタイミ
ング補正を行うことができ、ドライバ回路1の出力信号
から一定時間の遅延を持って出力される被測定ICの出
力信号を保証精度内で、忠実に判定することができる。
しかし、近年の被測定ICの高速化に伴いIC試験装置
の測定精度のさらなる向上が望まれ、従来の被測定IC
に印加するドライバの設定タイミング精度、及び被測定
ICの出力波形を正確に判定する比較判定器の判定タイ
ミング精度の保証方法が問題となってきている。従来の
精度保証においては、自動化も進み比較的容易に高精度
なタイミング保証ツールが開発されているが、比較判定
器の持つハード的性能(周波数透過帯域特性)に伴う判
定エラーが必ず発生する方式となっており、厳密な意味
で複数種類からなる被測定ICの個々の特性に対応した
精度保証とはなっておらず、被測定ICの高速化に伴う
高精度なカテゴリ分類の要求に対し、無視できない判定
エラーを発生する危険性を含んでいる。
[発明が解決しようとする課題1 上述したような従来のIC試験装置のドライバ回路と比
較判定器間の自動補正では、比較判定器に入力される基
準ドライバ信号がIC試験装置内で構成されるドライバ
回路の出力信号であるため、基準ドライバ信号はIC試
験装置固有のドライバ回路特性に依存することとなって
しまう。すなわち、ドライバ回路固有のトランジェント
時間を持った基準ドライバ信号によって比較判定器との
タイミング補正を行うこととなり、固有のトランジェン
ト時間の入力信号に対してのみ有効な補正値を持ったタ
イミング補正となってしまう。−船釣に比較判定器は、
固有の周波数透過帯域を有しており、人力された波形に
対し必ず周波数減衰が生じ、入力波形に対しトランジェ
ントスロープに鈍りを生じるが、従来の補正方法におい
ては、入力波形のトランジェント時間に対して周波数透
過帯域により一律に生じる波形の鈍りを補正値として設
けて、入力波形に対するタイミング補正を行っているの
である。
すなわち、従来の補正方法で求めた補正値は、固有のト
ランジェント時間を有する入力波形に対してのみ有効な
補正値となっているのである。表1に一例として比較判
定器の周波数透過帯域(200MH2)に対してIon
sのトランジェント時間を有する基準ドライバ信号でタ
イミング補正を行った場合に、トランジェント時間の異
なる被測定ICを判定した場合に生じる判定エラーを表
す。
[式A] J5’+10’  =11.18ns (11,18−10,0)/2=0.59ns (IO
NSによる補正値)45’+20” =20.61ns O,3−0,59=−0,29ns    (2ONS
に対す6判定エラー)表   1 式Aは、前記条件で20nsのトランジェント時間を有
するICを測定した場合の判定エラーの算出例を示して
いる。式Aで示すように、20nSのトランジェント時
間に対し本来補正されるべき0.30nsに対し、10
nsのトランジェント時間の基準ドライバ信号で補正を
行っているため、0.59nsの補正値が行われてしま
い、結果的にはその差分である0、29nsの判定エラ
ーが発生してしまうことになる。すなわち、従来の固有
のトランジェント時間の基準ドライバ信号による判定タ
イミングの補正方式では、実際の被測定ICの出力波形
のトランジェント時間と、該基準ドライバ信号のトラン
ジェント時間が極端に異なる場合、判定結果に過大なエ
ラーを発生することとなり、高精度の測定技術が求めら
れるIC試験装置においては重太な問題となる。
本発明の目的は、タイミング補正を可能としたIC試験
装置を提供することにある。
[課題を解決するための手段] 前記目的を達成するため、本発明に係るIC試験装置に
おいては、被測定ICに試験信号を印加してICの良否
判定を行う試験装置において、被測定ICからの出力信
号を取込み良否判定を行う比較判定器を有し、 比較判定器の自動補正機能に、比較判定器に入力するタ
イミング補正用基準ドライバ信号のトランジェント時間
をプログラマブルに変更する機能を有するものである。
〔作用] 比較判定器の判定タイミングの自動補正を行う際、被測
定ICの出力信号のトランジェント時間に合わせたタイ
ミング補正を行うために、比較判定器に入力される基準
ドライバ信号の出力トランジェント時間をプログラマブ
ルに変更する。
[実施例] 次に本発明を図面を参照して説明する。
(実施例1) 第1図は、本発明に係るタイミング補正回路の実施例1
を示す構成図である。
第1図に示すように、本発明のIC試験装置でのタイミ
ング補正回路は、ドライバ回路1と比較判定器2の信号
接続をIC測定信号ライン3から分岐させ、複数のドラ
イバ回路1と比較判定器2の電気的な接続を目的とし、
ドライバ回路lから比較判定器2までの波形伝達時間が
一定になるように構成されたマトリックス回路4に、前
記両回路を接続させる分岐スイッチ5と、個々のドライ
バ回路lに付属されたドライバ回路1の設定タイミング
補正を行うドライバタイミング補正回路6と、コントロ
ールライン7からの制御信号によりプログラマブルに容
量値の変更が可能とされた容量素子で構成されたトラン
ジェント時間変更回路8と、比較判定器2の判定結果に
基づいて各ドライバ回路lのタイミング補正値をドライ
バタイミング補正回路6に転送するドライバ補正ライン
9と、比較判定器2のタイミング補正値を行う比較器タ
イミング補正回路10とで構成されている。
本発明のタイミング補正回路の補正手順と動作を以下に
示す。■:ドライバ回路間の相対的なタイミング補正・
・この際使用される電気伝達経路を第2図に示す。分岐
スイッチ5をマトリックス回路4側に接続することによ
り、IC試験装置内の複数のドライバ回路1は複数の比
較判定器2中の任意の比較判定器(以下基準比較判定器
11と称す)までの波形伝達時間が一定になるように構
成されたマトリックス回路4に接続され、個々のドライ
バ回路1から出力されたドライバ信号は、該マトリック
ス回路4を経由して該基準比較判定器11に入力される
。個々のドライバ回路1で設定された設定タイミングに
対し、該基準比較判定器11で得られた判定結果が保証
精度内に納まるように各ドライバ回路1内に構成された
ドライバタイミング補正回路6にドライバ補正ライン9
を通じて補正値を転送し自動的にドライバ回路1の出力
信号のタイミング補正が行われる。本補正により複数の
ドライバ回路1間の設定タイミングの補正を行うことが
でき、設定精度の保証が行われる。
ただし、被測定ICの測定時に印加するドライバ信号は
、ドライバ回路の本来持つ特性で使用されるため、トラ
ンジェント時間変更回路8内の容量負荷値はドライバ回
路lに対し無負荷の設定とし、ドライバ回路1間のタイ
ミング補正時にはドライバ出力信号のトランジェント時
間は変更させない。
■二次に、IC試験装置に構成された全比較判定器2と
ドライバ回路1間の相対的なタイミング補正を行う。こ
の際使用される電気伝達経路を第3図に示す。分岐スイ
ッチ5は、■と同様にマトリックス回路4との接続状態
を保ったままで、複数のドライバ回路1中任意のドライ
バ回路(以下基準ドライバ回路12と称す)と複数の比
較判定器2が個々に接続される状態で判定タイミング補
正を行う。ドライバ回路1の設定タイミングに対する全
比較判定器2の判定タイミング精度がIC試験装置の総
合タイミング精度を規定することになるが、実際の被測
定ICの測定にマツチしたタイミング精度を保証するた
めに、基準ドライバ回路12からの出力信号(以下基準
ドライバ信号と称す)を、トランジェント時間が実際の
被測定LCの出力信号と同等のトランジェント時間を持
つ信号になるようにトランジェント時間変更回路8によ
り変更する。該トランジェント時間の変更された基準ド
ライバ信号は個々の比較判定器2に順番に入力され、個
々の比較判定器2で該基準ドライバ信号の設定タイミン
グに対する判定を行った結果得られた補正値を比較器タ
イミング補正回路10に設定し、比較判定器2とドライ
バ回路1間のタイミング補正を完了する。個々の比較判
定器は固有の周波数透過帯域を持っているため、一定の
トランジェント時間を持った基準ドライバ信号に対して
、一定のタイミング補正値を求めてしまうが、前述のよ
うにトランジェント時間を変更させた基準ドライバ信号
によってタイミング補正を行うことにより、比較判定器
の持つ周波数透過帯域の影響を受けないタイミング補正
を行うことができる。
(実施例2) 第4図は本発明に係るタイミング補正回路の実施例2を
示す構成図である。
第4図に示すように、本発明のIC試験装置でのタイミ
ング補正回路は、ドライバ回路1と比較判定器2の信号
接続をIC測定信号ライン3がら分岐させ、複数のドラ
イバ回路1と比較判定器2の電気的な接続を目的とし、
ドライバ回路1がら比較判定器2までの波形伝達時間が
一定になるように構成されたマトリックス回路4に、前
記両回路を接続させる分岐スイッチ5と、個々のドライ
バ回路1に付属されたドライバ回路1の設定タイミング
補正を行うドライバタイミング補正回路6と、コントロ
ールライン7からの制御信号によりプログラマブルに容
量値の変更が可能とされた容量素子で構成されたトラン
ジェント時間変更回路    □8と、該トランジェン
ト時間変更回路8により得られた補正値をデータベース
化するデータベース回路13と、データベース制御ライ
ン14がらの制御信号によりデータベース回路13から
必要に応じて補正値を各比較判定器2の比較器タイミン
グ補正回路10に転送する補正データ転送ライン15と
、比較判定器2の判定結果に基づいて各ドライバ回路l
のタイミング補正値をドライバタイミング補正回路6に
転送するドライバ補正ライン9とで構成されている。
本発明のタイミング補正回路の補正手順と動作を以下に
示す。■:ドライバ回路間の相対的なタイミング補正・
・この際使用される電気伝達経路を第5図に示す。分岐
スイッチ5をマトリックス回路側に接続することにより
、IC試験装置内の複数のドライバ回路1は複数の比較
判定器2中の任意の比較判定器(以下基準比較判定器1
1と称す)までの波形伝達時間が一定になるように構成
されたマトリックス回路4に接続され、個々のドライバ
回路1から出力されたドライバ信号は、該マトリックス
回路4を経由して該基準比較判定器11に入力される。
個々のドライバ回路1で設定された設定タイミングに対
し、該基準比較判定器11で得られた判定結果が保証精
度内に納まるように各ドライバ回路1内に構成されたド
ライバタイミング補正回路6にドライバ補正ライン9を
通じて補正値を転送し自動的にドライバ回路1の出力信
号のタイミング補正が行われる。本補正により複数のド
ライバ回路1間の設定タイミングの補正を行うことがで
き、設定精度の保証が行われる。ただし、被測定ICの
測定時に印加されるドライバ信号は、ドライバ回路の本
来持つ特性で使用するため、トランジェント時間変更回
路8内の容量負荷値はドライバ回路lに対し無負荷に設
定し、ドライバ回路1間のタイミング補正時にはドライ
バ呂力信号のトランジェント時間は変更させない。
■二次に、IC試験装置に構成された全比較判定器2と
ドライバ回路1間の相対的なタイミング補正を行う。こ
の際使用される電気伝達経路を第6図に示す。分岐スイ
ッチ5は、■と同様にマトリックス回路4との接続状態
を保ったままで、複数のドライバ回路1中任意のドライ
バ回路(以下基準ドライバ回路12と称す)と複数の比
較判定器2が個々に接続される状態で判定タイミング補
正を行う。ドライバ回路1の設定タイミングに対する全
比較判定器2の判定タイミング精度がIC試験装置の総
合タイミング精度を規定することになるが、実際の被測
定ICの測定にマツチしたタイミング精度を保証するた
めに、予め基準ドライバ回路12からの出力信号(以下
基準ドライバ信号と称す)のトランジェント時間を複数
種類に渡り、トランジェント時間変更回路8により変更
し、複数種類の異なるトランジェント時間を持つ基準ド
ライバ信号で求められた比較判定器2の補正値をデータ
ベース回路13に登録する。そして、被測定ICを実測
する際には、該データベース回路13に対し、被測定I
Cの出力波形のトランジェント時間と、同等のトランジ
ェント時間の基準ドライバ信号で求められた比較判定器
の補正値を、データベース制御ライン14からの制御信
号により補正データ転送ライン15を通じて比較器タイ
ミング補正回路10に設定する。本補正方法により、基
準ドライバ信号のトランジェント時間を被測定ICの出
力信号と同等の状態にしたタイミング補正が行えるため
、比較判定器の持つ周波数透過特性の影響を受けないタ
イミング補正を行うことができる。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明のIC試験装置は、比較判
定器の判定タイミングの自動補正を行う際、被測定IC
の出力信号のトランジェント時間に合わせたタイミング
補正を行うために、比較判定器に入力される基準ドライ
バ信号のトランジェント時間をプログラマブルに変更で
きる機能を有した補正機能により、タイミング補正を行
うために実際の被測定ICの出力信号のトランジェント
時間と同等の条件でのタイミング補正をすることが可能
となり、実測定状態でのタイミング補正値を設定するこ
とができ、比較判定器の周波数透過帯域の影響による発
生する判定エラーを防止することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の実施例1を示す構成図、第2図、第
3図は、実施例1の動作説明図、第4図は、本発明の実
施例2を示す構成図、第5図、第6図は、実施例2の動
作説明図、第7図は、従来例を示す構成図、第8図、第
9図は、従来例の動作説明図である。 トドライバ回路    2・・・比較判定器3・・・I
C測定信号ライン 4・・・マトリックス回路5・・・
分岐スイッチ 6・・・ドライバタイミング補正回路 7・・・コントロールライン 8・・・トランジェント時間変更回路 9・・・ドライバ補正ライン 10・・・比較器タイミング補正回路 11・・・基準比較判定器 12・・・基準ドライバ回
路13・・・データベース回路 14・・・データベース制御ライン 15・・・補正データ転送ライン 特許出願人  日本電気株式会社 第1図 第2図 第4図 第5図 第6図 今 第7図 第9図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被測定ICに試験信号を印加してICの良否判定
    を行う試験装置において、 被測定ICからの出力信号を取込み良否判定を行う比較
    判定器を有し、 比較判定器の自動補正機能に、比較判定器に入力するタ
    イミング補正用基準ドライバ信号のトランジェント時間
    をプログラマブルに変更する機能を有することを特徴と
    するIC試験装置。
JP2295001A 1990-10-31 1990-10-31 Ic試験装置 Pending JPH04168377A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2295001A JPH04168377A (ja) 1990-10-31 1990-10-31 Ic試験装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2295001A JPH04168377A (ja) 1990-10-31 1990-10-31 Ic試験装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04168377A true JPH04168377A (ja) 1992-06-16

Family

ID=17815056

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2295001A Pending JPH04168377A (ja) 1990-10-31 1990-10-31 Ic試験装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04168377A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1996028744A1 (fr) * 1995-03-13 1996-09-19 Advantest Corporation Verificateur de circuit
JP2008122251A (ja) * 2006-11-13 2008-05-29 Advantest Corp 試験装置、調整用ボードおよび調整方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1996028744A1 (fr) * 1995-03-13 1996-09-19 Advantest Corporation Verificateur de circuit
US5930271A (en) * 1995-03-13 1999-07-27 Advantest Corporation Circuit testing apparatus for testing circuit device including functional block
JP2008122251A (ja) * 2006-11-13 2008-05-29 Advantest Corp 試験装置、調整用ボードおよび調整方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4724378A (en) Calibrated automatic test system
US5047725A (en) Verification and correction method for an error model for a measurement network
EP1025450B1 (en) Automated microwave test system with improved accuracy
US5121063A (en) Arrangement for determining on approximation the equivalent circuit diagram of an electrical or electronic element at high frequencies
JPH11326413A (ja) ネットワ―ク・アナライザにおける測定誤差補正方法
DE19723087C2 (de) Fehlerkorrekturverfahren für Transmissionsmessungen in Vektornetzwerkanalysatoren
JPH0262983A (ja) 位相補正装置
US5793640A (en) Capacitance measurement using an RLC circuit model
CN112821885A (zh) 一种ate设备各通道芯片相对延时测量校准方法及装置
JP2001272440A (ja) パルス送出タイミング較正方法および装置
US5471145A (en) Calibrating transition dependent timing errors in automatic test equipment using a precise pulse width generator
JPH11211766A (ja) 自動キャリブレーション装置
DE112004001746T5 (de) Vorrichtung, Verfahren, Programm und Aufzeichnungsmedium zur Erfassung von Fehlerfaktoren
JPH04168377A (ja) Ic試験装置
JP3216171B2 (ja) Ic試験装置の較正方法
JP2000009801A (ja) Ic試験装置のtdrタイミング校正方法
KR960019094A (ko) 다기능 측정기
EP0078219A2 (en) Automatic de-skewing of pin electronics interface circuits in electronic test equipment
JPH06174565A (ja) ロードセル
JP3241777B2 (ja) インサーキットテスタ用オープンテスト装置
JPH07280885A (ja) 半導体試験装置用ドライバの校正方法
JP2001059853A (ja) ネットワーク・アナライザの測定誤差補正装置及び方法
US6829553B2 (en) Method of and apparatus for measuring the correctness of and correcting an automatic test arrangement
JPH0340835B2 (ja)
JPH0736300Y2 (ja) タイミング校正装置