JPH04160883A - 固体撮像素子の欠陥補正回路 - Google Patents
固体撮像素子の欠陥補正回路Info
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- JPH04160883A JPH04160883A JP2285813A JP28581390A JPH04160883A JP H04160883 A JPH04160883 A JP H04160883A JP 2285813 A JP2285813 A JP 2285813A JP 28581390 A JP28581390 A JP 28581390A JP H04160883 A JPH04160883 A JP H04160883A
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- 230000007547 defect Effects 0.000 title claims abstract description 60
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims abstract description 67
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims abstract description 55
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 41
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 35
- 238000012545 processing Methods 0.000 abstract description 24
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/68—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to defects
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/616—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise involving a correlated sampling function, e.g. correlated double sampling [CDS] or triple sampling
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/71—Charge-coupled device [CCD] sensors; Charge-transfer registers specially adapted for CCD sensors
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Color Television Image Signal Generators (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
Ａ 産業上の利用分野
本発明は、固体撮像素子にょる撮像出力信号について、
欠陥のある画素からの信号を欠陥のない画素からの信号
に置き換えることにより、欠陥補正処理を施すようにし
た固体撮像素子の欠陥補正回路に関する。
欠陥のある画素からの信号を欠陥のない画素からの信号
に置き換えることにより、欠陥補正処理を施すようにし
た固体撮像素子の欠陥補正回路に関する。
Ｂ 従来の技術
一般に、半導体により形成した電荷結合素子（ＣＣＤ：
Ｃｈａｒｇｅ Ｃｏｕｐｌｅｄ Ｄｅｖｉｃｅ）等から
成る固体撮像素子では、半導体の局部的な結晶欠陥等に
より光が入射していない状態で特異なレベルの信号を出
力する欠陥画素を生じ、この欠陥画素からの撮像出力に
起因する画質劣化があることが知られている。上記固体
撮像素子における欠陥画素としては、例えば、その撮像
出力によるモニタ画面上の画像に黒点として現れる黒傷
欠陥画素や白点として現れる白傷欠陥画素が知られてい
る。
Ｃｈａｒｇｅ Ｃｏｕｐｌｅｄ Ｄｅｖｉｃｅ）等から
成る固体撮像素子では、半導体の局部的な結晶欠陥等に
より光が入射していない状態で特異なレベルの信号を出
力する欠陥画素を生じ、この欠陥画素からの撮像出力に
起因する画質劣化があることが知られている。上記固体
撮像素子における欠陥画素としては、例えば、その撮像
出力によるモニタ画面上の画像に黒点として現れる黒傷
欠陥画素や白点として現れる白傷欠陥画素が知られてい
る。
従来、ＣＣＤイメージセンサを用いた撮像装置では、例
えば第６図に示すように、ＣＣＤイメージセンサ（２１
）は、同期信号発生器（２２）により与えられる同期信
号に基づいてタイミング信号発生器（２３）が発生する
タイミング信号に応じて作動するＣＣＤ駆動回路（２４
）により駆動され、各画素の撮像電荷が水平転送レジス
タを介してｌ水平ライン分ずつ順次読み出される。二〇
〇ＣＤイメージセンサ（２１）の各画素から順次読み出
される撮像出力信号Ｓ ｏｕアは、サンプルホールド回
路（２５）を介して出力端子（２６）から出力される。
えば第６図に示すように、ＣＣＤイメージセンサ（２１
）は、同期信号発生器（２２）により与えられる同期信
号に基づいてタイミング信号発生器（２３）が発生する
タイミング信号に応じて作動するＣＣＤ駆動回路（２４
）により駆動され、各画素の撮像電荷が水平転送レジス
タを介してｌ水平ライン分ずつ順次読み出される。二〇
〇ＣＤイメージセンサ（２１）の各画素から順次読み出
される撮像出力信号Ｓ ｏｕアは、サンプルホールド回
路（２５）を介して出力端子（２６）から出力される。
上記タイミング信号発生器（２３）は、上記ＣＣＤ駆動
回路（２４）を作動させるための上記タイミング信号を
発生するとともに、上記サンプルホールド回路（２５）
を作動させるためのサンプリングパルスφＳＨを形成し
て出力するようになっている。
回路（２４）を作動させるための上記タイミング信号を
発生するとともに、上記サンプルホールド回路（２５）
を作動させるためのサンプリングパルスφＳＨを形成し
て出力するようになっている。
そして、上述の如きＣＣＤイメージセンサ（２１）に含
まれる欠陥画素による撮像出力に起因する画質劣化を該
撮像出力に対する信号処理により回避するには、上記Ｃ
ＣＤイメージセンサ（２１）の画素毎の欠陥の有無を示
す欠陥情報をメモリ（３０）に記憶しておき、例えば第
７図に示すように、上記ＣＣＤイメージセンサ（２１）
からの撮像出力信号Ｓ ＯＵＴをサンプルホールドする
ためのサンプルホールド回路（２５）にプリングパルス
φ、を与える上記タイミング信号発生器（２３）の動作
を上記メモリ（３０）から読み出される欠陥情報に基づ
いて制御して、上記ＣＣＤイメージセンサ（２１）の欠
陥画素のタイミングで上記サンプリングパルスφ８Ｎを
止めることにより、欠陥画素からの撮像出力を該欠陥画
素の隣の正常な画素から得られる撮像出力で置き換える
所謂０次ホールド補間による欠陥補正処理を行うように
していた。この種の欠陥補正回路は、例えば特公昭６１
−４３９０８号公報に示されている。
まれる欠陥画素による撮像出力に起因する画質劣化を該
撮像出力に対する信号処理により回避するには、上記Ｃ
ＣＤイメージセンサ（２１）の画素毎の欠陥の有無を示
す欠陥情報をメモリ（３０）に記憶しておき、例えば第
７図に示すように、上記ＣＣＤイメージセンサ（２１）
からの撮像出力信号Ｓ ＯＵＴをサンプルホールドする
ためのサンプルホールド回路（２５）にプリングパルス
φ、を与える上記タイミング信号発生器（２３）の動作
を上記メモリ（３０）から読み出される欠陥情報に基づ
いて制御して、上記ＣＣＤイメージセンサ（２１）の欠
陥画素のタイミングで上記サンプリングパルスφ８Ｎを
止めることにより、欠陥画素からの撮像出力を該欠陥画
素の隣の正常な画素から得られる撮像出力で置き換える
所謂０次ホールド補間による欠陥補正処理を行うように
していた。この種の欠陥補正回路は、例えば特公昭６１
−４３９０８号公報に示されている。
Ｃ発明が解決しようとする課題
ところで、従来の０次ホールド補間による欠陥補正処理
では、例えば第７図に斜線を施して示すように、欠陥画
素（Ｐ、）のところに被写体像の明暗の境界線ｌか位置
して、上記ＣＣＤイメージセンサ（２■）からの撮像出
力信号Ｓ ＯＵＴにレベル変化かあった場合に、同図中
に破線で示すように、上記欠陥画素（Ｐ、）のタイミン
グのサンプリングパルスφ□を止めることにより、該欠
陥画素（Ｐ、）の撮像出力Ｓ３ を左隣の正常な画素（
Ｐ２）から得られる撮像比 力Ｓ、°で置き換えるので
、補正誤差Δを生じてしまうという問題点がある。
では、例えば第７図に斜線を施して示すように、欠陥画
素（Ｐ、）のところに被写体像の明暗の境界線ｌか位置
して、上記ＣＣＤイメージセンサ（２■）からの撮像出
力信号Ｓ ＯＵＴにレベル変化かあった場合に、同図中
に破線で示すように、上記欠陥画素（Ｐ、）のタイミン
グのサンプリングパルスφ□を止めることにより、該欠
陥画素（Ｐ、）の撮像出力Ｓ３ を左隣の正常な画素（
Ｐ２）から得られる撮像比 力Ｓ、°で置き換えるので
、補正誤差Δを生じてしまうという問題点がある。
そこで、本発明は、上述の如き従来の問題点に鑑み、固
体撮像素子の複数の画素のうち欠陥のある画素からの出
力信号を欠陥のない画素からの出力信号に置き換える欠
陥補正処理を行うにあたり、補正誤差を少なくして、画
質の良好な撮像出力信号を得られるようにすることを目
的とする。
体撮像素子の複数の画素のうち欠陥のある画素からの出
力信号を欠陥のない画素からの出力信号に置き換える欠
陥補正処理を行うにあたり、補正誤差を少なくして、画
質の良好な撮像出力信号を得られるようにすることを目
的とする。
Ｄ 課題を解決するための手段
本発明に係る固体撮像素子の欠陥補正回路は、固体撮像
素子の複数の画素のうち欠陥のある画素の位置を示す位
置データを記憶する記憶回路と、上記固体撮像素子の各
画素の出力タイミング毎の第１のサンプリングパルスと
、該第１のサンプリングパルスに対して位相が１８０°
ずれた第２のサンプリングパルスを発生するサンプリン
グパルス発生回路と、上記固体撮像素子からの撮像出力
信号を上記第１のサンプリングパルスによりサンプルホ
ールドする第１のサンプルホールド回路と、該第１のサ
ンプルホールド回路の出力信号を上記第２のサンプリン
グパルスによりサンプルホールドする第２のサンプルホ
ールド回路とを備え、上記サンプリングパルス発生回路
は、上記記憶手段から読み出される位置データに基づい
て、上記固体撮像素子の複数の画素のうち欠陥のある各
画素に対応する第１のサンプリングパルスの出力を停止
するとともに、上記欠陥のある各画素に対応する第２の
サンプリングパルスのパルス幅を少なくとも該第２のサ
ンプリングパルスに続く次の第１のサンプリングパルス
の後端まで延長するようにしたことを特徴とするもので
ある。
素子の複数の画素のうち欠陥のある画素の位置を示す位
置データを記憶する記憶回路と、上記固体撮像素子の各
画素の出力タイミング毎の第１のサンプリングパルスと
、該第１のサンプリングパルスに対して位相が１８０°
ずれた第２のサンプリングパルスを発生するサンプリン
グパルス発生回路と、上記固体撮像素子からの撮像出力
信号を上記第１のサンプリングパルスによりサンプルホ
ールドする第１のサンプルホールド回路と、該第１のサ
ンプルホールド回路の出力信号を上記第２のサンプリン
グパルスによりサンプルホールドする第２のサンプルホ
ールド回路とを備え、上記サンプリングパルス発生回路
は、上記記憶手段から読み出される位置データに基づい
て、上記固体撮像素子の複数の画素のうち欠陥のある各
画素に対応する第１のサンプリングパルスの出力を停止
するとともに、上記欠陥のある各画素に対応する第２の
サンプリングパルスのパルス幅を少なくとも該第２のサ
ンプリングパルスに続く次の第１のサンプリングパルス
の後端まで延長するようにしたことを特徴とするもので
ある。
Ｅ 作用
本発明に係る固体撮像素子の欠陥補正回路では、記憶手
段から読み出される位置データに基づいて、サンプリン
グパルス発生器が固体撮像素子の複数の画素のうち欠陥
のない各画素の出力タイミング毎に第１のサンプリング
パルスを出力するとともに、上記固体撮像素子の各画素
のうち欠陥のある各画素の出力タイミングではパルス幅
を延長した第２のサンプリングパルスを出力する。そし
て、第１のサンプルホールド回路は、上記固体撮像素子
の出力信号を上記第１のサンプリングパルスによりサン
プルホールドすることによって、０次ホールド補間によ
る欠陥補正処理を行う。また、第２のサンプルホールド
回路は、上記第１のサンプルホールド回路の出力信号す
なわち０次ホールド補間による欠陥補正処理を施した撮
像出力信号を上記第２のサンプリングパルスによりサン
プルホールドすることによって、平均値補間による欠陥
補正処理を行う。
段から読み出される位置データに基づいて、サンプリン
グパルス発生器が固体撮像素子の複数の画素のうち欠陥
のない各画素の出力タイミング毎に第１のサンプリング
パルスを出力するとともに、上記固体撮像素子の各画素
のうち欠陥のある各画素の出力タイミングではパルス幅
を延長した第２のサンプリングパルスを出力する。そし
て、第１のサンプルホールド回路は、上記固体撮像素子
の出力信号を上記第１のサンプリングパルスによりサン
プルホールドすることによって、０次ホールド補間によ
る欠陥補正処理を行う。また、第２のサンプルホールド
回路は、上記第１のサンプルホールド回路の出力信号す
なわち０次ホールド補間による欠陥補正処理を施した撮
像出力信号を上記第２のサンプリングパルスによりサン
プルホールドすることによって、平均値補間による欠陥
補正処理を行う。
Ｆ 実施例
以下、本発明に係る固体撮像素子の欠陥補正回路の一実
施例について、図面に従い詳細に説明する。
施例について、図面に従い詳細に説明する。
本発明に係る固体撮像素子の欠陥補正回路は、例えば第
１図に示すように構成される。
１図に示すように構成される。
この第１図に示す欠陥補正回路は、撮像部にＣＣＤイメ
ージセンサ（１）を用いたＣＣＤビデオカメラ装置に本
発明を適用したもので、上記ＣＣＤイメージセンサ（１
）の複数の画素のうち欠陥のある画素の位置を示す欠陥
位置データを記憶したリードオンリメモリ（１０）を備
えている。
ージセンサ（１）を用いたＣＣＤビデオカメラ装置に本
発明を適用したもので、上記ＣＣＤイメージセンサ（１
）の複数の画素のうち欠陥のある画素の位置を示す欠陥
位置データを記憶したリードオンリメモリ（１０）を備
えている。
上記ＣＣＤイメージセンサ（１）は、同期信号発生器（
２）により与えられる同期信号に基づいてタイミング信
号発生器（３）が発生するタイミング信号に応じて作動
するＣＯＤ駆動回路（４）により駆動され、各画素の撮
像電荷が水平転送レジスタを介してｌ水平５４２分ずつ
順次読み出される。このＣＣＤイメージセンサ（１）の
各画素から順次読み出される撮像出力信号Ｓ ｏｕＴは
、第１のサンプルホールド回路（５）と第２のサンプル
ホールド回路（６）を介して出力端子（７）から出力さ
れる。
２）により与えられる同期信号に基づいてタイミング信
号発生器（３）が発生するタイミング信号に応じて作動
するＣＯＤ駆動回路（４）により駆動され、各画素の撮
像電荷が水平転送レジスタを介してｌ水平５４２分ずつ
順次読み出される。このＣＣＤイメージセンサ（１）の
各画素から順次読み出される撮像出力信号Ｓ ｏｕＴは
、第１のサンプルホールド回路（５）と第２のサンプル
ホールド回路（６）を介して出力端子（７）から出力さ
れる。
上記タイミング信号発生器（３）は、上記ＣＯＤ駆動回
路（４）を作動させるための上記タイミング信号を発生
するとともに、上記第１及び第２のサンプルホールド回
路（５）、 （６）を作動させるための第１及び第２の
サンプリングパルスφ□１．φ、。
路（４）を作動させるための上記タイミング信号を発生
するとともに、上記第１及び第２のサンプルホールド回
路（５）、 （６）を作動させるための第１及び第２の
サンプリングパルスφ□１．φ、。
を形成して出力するようになっている。
ここで、上記タイミング信号発生器（３）からの第１の
サンプリングパルスφ８ｔ１１は、上記リードオンリー
メモリ（１０）から読み出される欠陥位置データに基づ
いて、上記ＣＣＤイメージセンサ（１）の複数の画素の
うち欠陥画素の出力タイミングのサンプリングパルスが
欠落され、欠陥のない各画素の出力タイミング毎に出力
され、上記第１のサンプルホールド回路（５）に供給さ
れる。
サンプリングパルスφ８ｔ１１は、上記リードオンリー
メモリ（１０）から読み出される欠陥位置データに基づ
いて、上記ＣＣＤイメージセンサ（１）の複数の画素の
うち欠陥画素の出力タイミングのサンプリングパルスが
欠落され、欠陥のない各画素の出力タイミング毎に出力
され、上記第１のサンプルホールド回路（５）に供給さ
れる。
また、上記タイミング信号発生器（３）からの第２のサ
ンプリングパルスφ８Ｎ＋１は、第１のサンプリングパ
ルスφ８＋１１に対して位相が１８０°ずれたタイミン
グで出力され、上記第２のサンプルホールド回路（６）
に供給される。さらに、この第２のサンプリングパルス
φ□２は、上記ＣＣＤイメージセンサ（１）の各画素の
うち欠陥のある各画素の出力タイミングではパルス幅が
延長される。
ンプリングパルスφ８Ｎ＋１は、第１のサンプリングパ
ルスφ８＋１１に対して位相が１８０°ずれたタイミン
グで出力され、上記第２のサンプルホールド回路（６）
に供給される。さらに、この第２のサンプリングパルス
φ□２は、上記ＣＣＤイメージセンサ（１）の各画素の
うち欠陥のある各画素の出力タイミングではパルス幅が
延長される。
なお、上記欠陥のある各画素の出力タイミングにおける
上記２のサンプリングパルスφ、２のパルス幅τ。は、
第２図に示すように、その立ち上がりエツジから次の第
１のサンプリングパルスφ、、１１の立ち下がりエツジ
までの期間τ１よりも長く、さらに次の第１のサンプリ
ングパルスφ□１の立ち上がりエツジまでの期間τ、よ
りも短く設定される。
上記２のサンプリングパルスφ、２のパルス幅τ。は、
第２図に示すように、その立ち上がりエツジから次の第
１のサンプリングパルスφ、、１１の立ち下がりエツジ
までの期間τ１よりも長く、さらに次の第１のサンプリ
ングパルスφ□１の立ち上がりエツジまでの期間τ、よ
りも短く設定される。
そして、上記第１のサンプルホールド回路（５）は、上
記ＣＣＤイメージセンサ（１）の各画素から順次読み出
される撮像出力信号Ｓ。Ｕアを上記タイミング信号発生
器（３）からの第１のサンプリングパルスφ８Ｍ＋によ
りサンプルホールドする。また、上記第２のサンプルホ
ールド回路（６）は該第１のサンプルホールド回路（５
）の出力信号５ＨＯＬＩＴ＋を上記タイミング信号発生
器（３）からの第２のサンプリングパルスφ、□２によ
りサンプルホールドして出力端子（７）から出力する。
記ＣＣＤイメージセンサ（１）の各画素から順次読み出
される撮像出力信号Ｓ。Ｕアを上記タイミング信号発生
器（３）からの第１のサンプリングパルスφ８Ｍ＋によ
りサンプルホールドする。また、上記第２のサンプルホ
ールド回路（６）は該第１のサンプルホールド回路（５
）の出力信号５ＨＯＬＩＴ＋を上記タイミング信号発生
器（３）からの第２のサンプリングパルスφ、□２によ
りサンプルホールドして出力端子（７）から出力する。
このような構成の欠陥補正回路ては、例えば第２図に示
すように上記ＣＣＤイメージセンサ（］）のある水平ラ
インの画素（Ｐ、）に欠陥があるとすると、上記リード
オンリーメモリ（ｌＯ）から読み出される上記欠陥画素
（Ｐ、）の位置を示す位置データに基づいて、上記タイ
ミング信号発生器（３）から出力される第１のサンプリ
ングパルスφ口、が上記欠陥画素（Ｐ、）の出力タイミ
ングで欠落されることにより、上記第１のサンプルホー
ルド回路（５）は、上記ＣＣＤイメージセンサ（１）の
上記欠陥画素（Ｂ２）からの撮像出力Ｓ、に対して、そ
の左隣の正常な画素（Ｂ２）から得られる撮像出力８２
゛で置き換える０次ホールド補間による欠陥補正処理を
行う。そして、上記第２のサンプルホールド回路（６）
は、上記第１のサンプルホールド回路（５）の出力信号
５Ｈｏｕｒ＋すなわち０次ホールド補間による欠陥補正
処理を施した撮像出力信号について、上記第２のサンプ
リングパルスφ■２により順次サンプルホールドすると
ともに、上記欠陥画素（Ｐ、）の出力タイミングにおけ
る上記２のサンプリングパルスφ８８２の立ち上がりエ
ツジから次の第１のサンプリングパルスφ１１８１の立
ち下がりエツジまでの期間τ、よりも長く、さらに次の
第」のサンプリングパルスφ。１の立ち上かりエツジま
での期間τ、よりも短く設定されたパルス幅で。の期間
中は上記第１のサンプルホールド回路（５）の出力信号
５ＨＯＬＩＴ＋をそのまま出力する。これにより、上記
第２のサンプルホールド回路（６）は、上記ＣＣＤイメ
ージセンサ（１）の上記欠陥画素（Ｂ３）からの撮像出
力Ｓ、に対して、左隣の正常な画素（Ｐ、）から得られ
る撮像出力Ｓｔ’と右隣の正常な画素（Ｂ４）から得ら
れる撮像出力３４′とで平均値補間による欠陥補正処理
を行う。
すように上記ＣＣＤイメージセンサ（］）のある水平ラ
インの画素（Ｐ、）に欠陥があるとすると、上記リード
オンリーメモリ（ｌＯ）から読み出される上記欠陥画素
（Ｐ、）の位置を示す位置データに基づいて、上記タイ
ミング信号発生器（３）から出力される第１のサンプリ
ングパルスφ口、が上記欠陥画素（Ｐ、）の出力タイミ
ングで欠落されることにより、上記第１のサンプルホー
ルド回路（５）は、上記ＣＣＤイメージセンサ（１）の
上記欠陥画素（Ｂ２）からの撮像出力Ｓ、に対して、そ
の左隣の正常な画素（Ｂ２）から得られる撮像出力８２
゛で置き換える０次ホールド補間による欠陥補正処理を
行う。そして、上記第２のサンプルホールド回路（６）
は、上記第１のサンプルホールド回路（５）の出力信号
５Ｈｏｕｒ＋すなわち０次ホールド補間による欠陥補正
処理を施した撮像出力信号について、上記第２のサンプ
リングパルスφ■２により順次サンプルホールドすると
ともに、上記欠陥画素（Ｐ、）の出力タイミングにおけ
る上記２のサンプリングパルスφ８８２の立ち上がりエ
ツジから次の第１のサンプリングパルスφ１１８１の立
ち下がりエツジまでの期間τ、よりも長く、さらに次の
第」のサンプリングパルスφ。１の立ち上かりエツジま
での期間τ、よりも短く設定されたパルス幅で。の期間
中は上記第１のサンプルホールド回路（５）の出力信号
５ＨＯＬＩＴ＋をそのまま出力する。これにより、上記
第２のサンプルホールド回路（６）は、上記ＣＣＤイメ
ージセンサ（１）の上記欠陥画素（Ｂ３）からの撮像出
力Ｓ、に対して、左隣の正常な画素（Ｐ、）から得られ
る撮像出力Ｓｔ’と右隣の正常な画素（Ｂ４）から得ら
れる撮像出力３４′とで平均値補間による欠陥補正処理
を行う。
上記第２のサンプルホールド回路（６）の出力信号ＳＨ
，，ア、すなわち平均値補間による欠陥補正処理を施し
た撮像出力信号は、上記第１のサンプルホールド回路（
５）の出力信号ＳＨ，、ア、すなわちＯ次ホールド補間
による欠陥補正処理を施した撮像出力信号における補正
誤差Δの１／２となる。
，，ア、すなわち平均値補間による欠陥補正処理を施し
た撮像出力信号は、上記第１のサンプルホールド回路（
５）の出力信号ＳＨ，、ア、すなわちＯ次ホールド補間
による欠陥補正処理を施した撮像出力信号における補正
誤差Δの１／２となる。
なお、緑色画像撮像用のイメージセンサと赤色画像撮像
用のイメージセンサ及び青色画像撮像用のイメージセン
サとを画素ピッチの１７２だけ水平方向にずらして配置
する所謂空間画素ずらし法を採用したカラー撮像装置に
本発明を適用する場合には、上記空間画素ずらし法のた
めのサンプルホール手段を上記第２のサンプルホールド
回路（６）として流用することができ、これにより回路
構成が複雑になることがない。また、上記空間画素ずら
し法を採用したカラー撮像装置に本発明適用した場合に
は、例えば第３図に示すように、Ｂ相の撮像出力に欠陥
画素（Ｂ２）からの撮像出力が含まれていたとしても、
上記欠陥画素（Ｂ２）からの撮像出力が左隣の正常な画
素（Ｂ１）から得られる撮像出力と右隣の正常な画素（
Ｂ３）から得られる撮像出力とで平均値補間されるので
、欠陥補正により不要な色が付いたりすることがない。
用のイメージセンサ及び青色画像撮像用のイメージセン
サとを画素ピッチの１７２だけ水平方向にずらして配置
する所謂空間画素ずらし法を採用したカラー撮像装置に
本発明を適用する場合には、上記空間画素ずらし法のた
めのサンプルホール手段を上記第２のサンプルホールド
回路（６）として流用することができ、これにより回路
構成が複雑になることがない。また、上記空間画素ずら
し法を採用したカラー撮像装置に本発明適用した場合に
は、例えば第３図に示すように、Ｂ相の撮像出力に欠陥
画素（Ｂ２）からの撮像出力が含まれていたとしても、
上記欠陥画素（Ｂ２）からの撮像出力が左隣の正常な画
素（Ｂ１）から得られる撮像出力と右隣の正常な画素（
Ｂ３）から得られる撮像出力とで平均値補間されるので
、欠陥補正により不要な色が付いたりすることがない。
ここて、上述の第１図に示した欠陥補正回路では、上記
欠陥画素（Ｐ、）の出力期間に対応する上記パルス幅τ
。の期間中、上記第１のサンプルホールド回路（５）の
出力信号５Ｈｏｕｔ＋を上記第２のサンプルホールド回
路（６）からそのまま出力するようにしたので、上記第
１のサンプリングパルスφ８Ｍ＋によるノイズ成分が含
まれてしまう虞れがある。
欠陥画素（Ｐ、）の出力期間に対応する上記パルス幅τ
。の期間中、上記第１のサンプルホールド回路（５）の
出力信号５Ｈｏｕｔ＋を上記第２のサンプルホールド回
路（６）からそのまま出力するようにしたので、上記第
１のサンプリングパルスφ８Ｍ＋によるノイズ成分が含
まれてしまう虞れがある。
上記第１のサンプリングパルスφ□１によるノイズ成分
を除去するには、例えば第４図に示すように、上述の第
１図に示した欠陥補正回路における第２のサンプルホー
ルド回路（６）の出力側に第３のサンプルホールド回路
（８）を設け、上記第１及び第２のサンプリングパルス
φ８Ｈ１，φ■２の２倍の周波数の第３のサンプリング
パルスφ８．で上記第２のサンプルホールド回路（６）
の出力信号Ｓ／Ｈｏｕア、をオーバーサンプリングすれ
ば良い。
を除去するには、例えば第４図に示すように、上述の第
１図に示した欠陥補正回路における第２のサンプルホー
ルド回路（６）の出力側に第３のサンプルホールド回路
（８）を設け、上記第１及び第２のサンプリングパルス
φ８Ｈ１，φ■２の２倍の周波数の第３のサンプリング
パルスφ８．で上記第２のサンプルホールド回路（６）
の出力信号Ｓ／Ｈｏｕア、をオーバーサンプリングすれ
ば良い。
なお、この第４図に示した欠陥補正回路において、上述
の第１図に示した欠陥補正回路と共通の構成要素につい
ては、第４図中に同一符号を付して、その詳細な説明を
省略する。
の第１図に示した欠陥補正回路と共通の構成要素につい
ては、第４図中に同一符号を付して、その詳細な説明を
省略する。
すなわち、この欠陥補正回路において、タイミング信号
発生器（３）は、ＣＣＤ駆動回路（４）を作動させるた
めのタイミング信号を発生するとともに、θ次ホールド
補間による欠陥補正処理を行う第１のサンプルホールド
回路（５）に供給する第１のサンプリングパルスφ１１
１１ と、平均値補間による欠陥補正処理を行う第２の
サンプルホールド回路（６）に供給する第２のサンプリ
ングパルスφｓｓｘと、オーバーサンプリングによるノ
イズ除去処理を行う第３のサンプルホールド回路（８）
に供給する第３のサンプリングパルスφ、。を形成して
出力する。
発生器（３）は、ＣＣＤ駆動回路（４）を作動させるた
めのタイミング信号を発生するとともに、θ次ホールド
補間による欠陥補正処理を行う第１のサンプルホールド
回路（５）に供給する第１のサンプリングパルスφ１１
１１ と、平均値補間による欠陥補正処理を行う第２の
サンプルホールド回路（６）に供給する第２のサンプリ
ングパルスφｓｓｘと、オーバーサンプリングによるノ
イズ除去処理を行う第３のサンプルホールド回路（８）
に供給する第３のサンプリングパルスφ、。を形成して
出力する。
そして、このような構成の欠陥補正回路では、例えば第
５図に示すように、ＣＣＤイメージセンサ（１）のある
水平ラインの画素（Ｐ、）に欠陥があるとすると、上記
第１のサンプルホールド回路（５）は、上記タイミング
信号発生器（３）から出力される第１のサンプリングパ
ルスφ□１で上記ＣＣＤイメージセンサ（１）の撮像出
力信号Ｓ ｏｕアをサンプルホールドすることにより、
上記ＣＣＤイメージセンサ（１）の上記欠陥画素（Ｐｉ
）からの撮像出力Ｓ３に対して、その左隣の正常な画素
（Ｐ２）から得られる撮像出力Ｓ２゛で置き換える０次
ホールド補間による欠陥補正処理を行う。また、上記第
２のサンプルホールド回路（６）は、上記第１のサンプ
ルホールド回路（５）の出力信号５Ｈｏｕｔ＋を、上記
第２のサンプリングパルスφ、、でサンプルホールドす
ることにより、上記ＣＣＤイメージセンサ（１）の上記
欠陥画素（Ｐ、）からの撮像出力、Ｓ、に対して、左隣
の正常な画素（Ｐ２）から得られる撮像出力Ｓ２°と右
隣の正常な画素（Ｐ４）から得られる撮像出力８４′と
で平均値補間による欠陥補正処理を行う。そして、上記
第３のサンプルホールド回路（８）は、上記第２のサン
プルホールド回路（６）の出力信号５Ｈｏｕ Ｔ２を上
記第３のサンプリングパルスφｇ８□てオーバーサンプ
リングすることによって、上記出力信号ＳＨｏ ｕ ｔ
２に含まれている上記第１のサンプリングパルスφｓ
Ｈ，によるノイズ成分Ｎを除去した出力信号ＳＨ，，ア
、を出力する。
５図に示すように、ＣＣＤイメージセンサ（１）のある
水平ラインの画素（Ｐ、）に欠陥があるとすると、上記
第１のサンプルホールド回路（５）は、上記タイミング
信号発生器（３）から出力される第１のサンプリングパ
ルスφ□１で上記ＣＣＤイメージセンサ（１）の撮像出
力信号Ｓ ｏｕアをサンプルホールドすることにより、
上記ＣＣＤイメージセンサ（１）の上記欠陥画素（Ｐｉ
）からの撮像出力Ｓ３に対して、その左隣の正常な画素
（Ｐ２）から得られる撮像出力Ｓ２゛で置き換える０次
ホールド補間による欠陥補正処理を行う。また、上記第
２のサンプルホールド回路（６）は、上記第１のサンプ
ルホールド回路（５）の出力信号５Ｈｏｕｔ＋を、上記
第２のサンプリングパルスφ、、でサンプルホールドす
ることにより、上記ＣＣＤイメージセンサ（１）の上記
欠陥画素（Ｐ、）からの撮像出力、Ｓ、に対して、左隣
の正常な画素（Ｐ２）から得られる撮像出力Ｓ２°と右
隣の正常な画素（Ｐ４）から得られる撮像出力８４′と
で平均値補間による欠陥補正処理を行う。そして、上記
第３のサンプルホールド回路（８）は、上記第２のサン
プルホールド回路（６）の出力信号５Ｈｏｕ Ｔ２を上
記第３のサンプリングパルスφｇ８□てオーバーサンプ
リングすることによって、上記出力信号ＳＨｏ ｕ ｔ
２に含まれている上記第１のサンプリングパルスφｓ
Ｈ，によるノイズ成分Ｎを除去した出力信号ＳＨ，，ア
、を出力する。
Ｇ 発明の効果
上述のように、本発明に係る固体撮像素子の欠陥補正回
路では、固体撮像素子の複数の画素のうち欠陥のある画
素からの出力信号を欠陥のない画素からの出力信号に置
き換える欠陥補正処理を行うにあたり、記憶手段から読
み出される欠陥画素の位置データに基づいて、第１のサ
ンプルホールド回路により０次ホールド補間による欠陥
補正処理を施した撮像出力信号について、第２のサンプ
ルホールド回路により平均値補間による欠陥補正処理を
行うので、補正誤差を少ない欠陥補正処理を行うことが
でき、画質の良好な撮像出力信号を得することができる
。
路では、固体撮像素子の複数の画素のうち欠陥のある画
素からの出力信号を欠陥のない画素からの出力信号に置
き換える欠陥補正処理を行うにあたり、記憶手段から読
み出される欠陥画素の位置データに基づいて、第１のサ
ンプルホールド回路により０次ホールド補間による欠陥
補正処理を施した撮像出力信号について、第２のサンプ
ルホールド回路により平均値補間による欠陥補正処理を
行うので、補正誤差を少ない欠陥補正処理を行うことが
でき、画質の良好な撮像出力信号を得することができる
。
第１図は、本発明に係る固体撮像素子の欠陥補正回路の
構成を示すブロック図である。 第２図は、上記第１図に示した欠陥補正回路の動作を説
明するためのタイムチャートである。 第３図は、空間画素ずらし法を採用したカラー撮像装置
に適用した場合の本発明に係る固体撮像素子の欠陥補正
回路の動作を説明するためのタイムチャートである。 第４図は上記第１図に示した欠陥補正回路を改良した本
発明に係る固体撮像素子の欠陥補正回路の構成例を示す
回路図である。 第５図は、上記第４図に示した欠陥補正回路の動作を説
明するためのタイムチャートである。 第６図は、従来の一般的な欠陥補正回路の構成を示すブ
ロック図である。 第７図は、上記第６図に示した従来の欠陥補正回路の動
作を説明するためのタイムチャートである。 （１）・・・・・・・・固体イメージセンサ（２）・・
・・・・・・同期信号発生器（３）・・・・・・・・タ
イミング信号発生器（４）・・・・・・・・ＣＣＤ駆動
回路（５）・・・・・・・・第１のサンプルホールド回
路（６）・・・・・・・・第２のサンプルホールド回路
（７）・・・・・・・・出力端子
構成を示すブロック図である。 第２図は、上記第１図に示した欠陥補正回路の動作を説
明するためのタイムチャートである。 第３図は、空間画素ずらし法を採用したカラー撮像装置
に適用した場合の本発明に係る固体撮像素子の欠陥補正
回路の動作を説明するためのタイムチャートである。 第４図は上記第１図に示した欠陥補正回路を改良した本
発明に係る固体撮像素子の欠陥補正回路の構成例を示す
回路図である。 第５図は、上記第４図に示した欠陥補正回路の動作を説
明するためのタイムチャートである。 第６図は、従来の一般的な欠陥補正回路の構成を示すブ
ロック図である。 第７図は、上記第６図に示した従来の欠陥補正回路の動
作を説明するためのタイムチャートである。 （１）・・・・・・・・固体イメージセンサ（２）・・
・・・・・・同期信号発生器（３）・・・・・・・・タ
イミング信号発生器（４）・・・・・・・・ＣＣＤ駆動
回路（５）・・・・・・・・第１のサンプルホールド回
路（６）・・・・・・・・第２のサンプルホールド回路
（７）・・・・・・・・出力端子
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 固体撮像素子の複数の画素のうち欠陥のある画素の位置
を示す位置データを記憶する記憶回路と、上記固体撮像
素子の各画素の出力タイミング毎の第１のサンプリング
パルスと、該第１のサンプリングパルスに対して位相が
１８０゜ずれた第２のサンプリングパルスを発生するサ
ンプリングパルス発生回路と、 上記固体撮像素子からの撮像出力信号を上記第１のサン
プリングパルスによりサンプルホールドする第１のサン
プルホールド回路と、 該第１のサンプルホールド回路の出力信号を上記第２の
サンプリングパルスによりサンプルホールドする第２の
サンプルホールド回路とを備え、上記サンプリングパル
ス発生回路は、上記記憶手段から読み出される位置デー
タに基づいて、上記固体撮像素子の複数の画素のうち欠
陥のある各画素に対応する第１のサンプリングパルスの
出力を停止するとともに、上記欠陥のある各画素に対応
する第２のサンプリングパルスのパルス幅を少なくとも
該第２のサンプリングパルスに続く次の第１のサンプリ
ングパルスの後端まで延長するようにしたことを特徴と
する固体撮像素子の欠陥補正回路。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2285813A JPH04160883A (ja) | 1990-10-25 | 1990-10-25 | 固体撮像素子の欠陥補正回路 |
| KR1019910016615A KR920009239A (ko) | 1990-10-25 | 1991-09-24 | 고체촬상소자의 결함보정회로 |
| US07/780,176 US5198906A (en) | 1990-10-25 | 1991-10-21 | Defective pixel compensation with memory using interpolation via plural sample-and-hold circuits |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2285813A JPH04160883A (ja) | 1990-10-25 | 1990-10-25 | 固体撮像素子の欠陥補正回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04160883A true JPH04160883A (ja) | 1992-06-04 |
Family
ID=17696422
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2285813A Pending JPH04160883A (ja) | 1990-10-25 | 1990-10-25 | 固体撮像素子の欠陥補正回路 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5198906A (ja) |
| JP (1) | JPH04160883A (ja) |
| KR (1) | KR920009239A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100362178B1 (ko) * | 1999-12-30 | 2002-11-23 | 주식회사 하이닉스반도체 | 이미지센서에서의 실시간 불량화소 검출 및 보정을 위한장치 |
| US8638377B2 (en) | 2008-09-30 | 2014-01-28 | Sony Corporation | Solid state image pick-up device, semiconductor device, and camera system having auxiliary replacement pixels |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3042159B2 (ja) * | 1992-04-10 | 2000-05-15 | ソニー株式会社 | Ｃｃｄ素子の欠陥画素補正回路 |
| US5499114A (en) * | 1994-10-31 | 1996-03-12 | Eastman Kodak Company | Digital image scanning apparatus with pixel data compensation for bad photosites |
| JP3980782B2 (ja) * | 1999-02-03 | 2007-09-26 | 富士フイルム株式会社 | 撮像制御装置および撮像制御方法 |
| US6768512B1 (en) * | 2000-07-12 | 2004-07-27 | Vanguard International Semiconductor Corp. | Method of bad pixel correction |
| US6741754B2 (en) * | 2001-02-19 | 2004-05-25 | Eastman Kodak Company | Correcting for defects in a digital image taken by an image sensor caused by pre-existing defects in two pixels in adjacent columns of an image sensor |
| US6900836B2 (en) | 2001-02-19 | 2005-05-31 | Eastman Kodak Company | Correcting defects in a digital image caused by a pre-existing defect in a pixel of an image sensor |
| US6735607B2 (en) | 2001-06-02 | 2004-05-11 | Lockheed Martin Corporation | Transparent data access and interpolation apparatus and method therefor |
| US7202894B2 (en) * | 2002-06-04 | 2007-04-10 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus for real time identification and correction of pixel defects for image sensor arrays |
| US7034874B1 (en) * | 2003-03-17 | 2006-04-25 | Biomorphic Vlsi, Inc | Automatic bad pixel correction in image sensors |
| US7796169B2 (en) * | 2004-04-20 | 2010-09-14 | Canon Kabushiki Kaisha | Image processing apparatus for correcting captured image |
| JP2005328421A (ja) * | 2004-05-17 | 2005-11-24 | Sony Corp | 撮像装置および撮像方法 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0828811B2 (ja) * | 1988-05-10 | 1996-03-21 | 富士写真フイルム株式会社 | 画像入力装置 |
| US5010408A (en) * | 1989-09-25 | 1991-04-23 | Eastman Kodak Company | Doubly correlated sample and hold circuit |
-
1990
- 1990-10-25 JP JP2285813A patent/JPH04160883A/ja active Pending
-
1991
- 1991-09-24 KR KR1019910016615A patent/KR920009239A/ko not_active Application Discontinuation
- 1991-10-21 US US07/780,176 patent/US5198906A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100362178B1 (ko) * | 1999-12-30 | 2002-11-23 | 주식회사 하이닉스반도체 | 이미지센서에서의 실시간 불량화소 검출 및 보정을 위한장치 |
| US8638377B2 (en) | 2008-09-30 | 2014-01-28 | Sony Corporation | Solid state image pick-up device, semiconductor device, and camera system having auxiliary replacement pixels |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR920009239A (ko) | 1992-05-28 |
| US5198906A (en) | 1993-03-30 |
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