JPH04159812A - 出力バッファ回路 - Google Patents

出力バッファ回路

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JPH04159812A
JPH04159812A JP2286091A JP28609190A JPH04159812A JP H04159812 A JPH04159812 A JP H04159812A JP 2286091 A JP2286091 A JP 2286091A JP 28609190 A JP28609190 A JP 28609190A JP H04159812 A JPH04159812 A JP H04159812A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、半導体集積回路の出力バッファ回路に関し、
特に、動作の高速性を犠牲にすることなく電源ノイズの
発生を抑えることが可能なCMOSトランジスタ構成の
出力バッファ回路の回路構成に関する。
〔従来の技術〕
従来のこの種の出力バッファ回路は、基本的には、第4
図に示すように、P型MOSトランジスタP1とN型M
OS)ランジスタN直で構成されるCMOS型のインバ
ータ回路からなる。
入力信号は、2つのMOS)ランジスタの共通のゲート
に接続された入力端子1に入力される。
出力信号は、2つのMOS)ランジスタの共通のドレイ
ンに接続された出力端子2に出力される。
次に、上述のような回路構成の従来の出力バッファ回路
の動作について、第5図に示す電圧波形図を用いて説明
する。
第4図および第5図において、入力信号がロウレベルか
らハイレベルに変化すると、P型MOSトランジスタP
1がオフ状態に変化し、逆に、N型MOS)ランジスタ
N1がオン状態に変化する。
このため、出力端子2に接続されている負荷回路(図示
せず)の電荷は、N型MOSトランジスタN1を通して
、出力端子2の電圧が接地電圧VSOになるまで放電さ
れ、出力信号はロウレベルになる。
入力信号がハイレベルからロウレベルに変化すると、P
型MO5)ランジスタP1がオン状態に変化し、逆に、
N型MOS)ランジスタN、がオフ状態に変化する。
このため、出力端子2に接続されている負荷回路は、電
源端子4からP型MOS)ランジスタPiを介して電源
電圧V。0のレベルまで充電され、出力信号はハイレベ
ルになる。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述の出力バッファ回路は、実際の半導体集積回路中で
動作する時には、以下に述べるように、電源配線および
接地配線に寄生するインダクタンスのために、同一チッ
プ内に設けられた他の回路が誤動作を起すことがある。
以下に、第4図および第5図を用いてその説明を行う。
上述の出力バッファ回路が実際の半導体集積回路5で用
いられる場合には、第4図に示すように、同一チップ6
内の論理回路7がらの信号が、出力バッファ回路8を駆
動するインバータ9を介して、出力バッファ回路8の入
力端子1に入力されるような使われ方が多い。
チップ6内には、上記のような論理回路7と出力バッフ
ァ回路8との組み合わせが多数設けられている。
又、その他の回路ブロック10も多数設けられている。
このチップ6に対する外部からの電源電圧および接地電
圧の供給は、パッケージの外部に導出されているリード
端子と、このリード端子とチップ6内のポンディングパ
ッド部11aおよびllbとを接続するボンディングワ
イヤを介して行なわれる。
第4図では、上記のリード端子とボンディングワイヤと
が直列に接続された配線を、電源導入線12及び接地導
入線13で示す。
チップ6内では、ポンディングパッド部11a及びll
bから、アルミニウムなど低抵抗材料の配線14によっ
て、それぞれの出力バッファ回路8や論理回路7や回路
ブロック10に、電源電圧および接地電圧が供給される
ここで、実際の半導体集積回路においそは、外部からの
電源電圧VCOの供給を受ける電源端子4とチップ6内
のポンディングパッド部11aとを結ぶ電源導入線12
および接地端子3とポンディングパッド部11bとを結
ぶ接地導入線13には、それぞれの配線に寄生する寄生
インダクタンスL1及びL2が存在する。
そのため、出力端子2に接続される負荷回路を急激に充
電し又は放電すると、第5図に示すように、寄生インダ
クタンスL1及びL2の影響でチップ内のポンディング
パッド部11a、11bの電圧■。□、VSIが、実際
に電源端子4および接地端子3に与えられる値V0゜、
VSOとは異ったものになってしまう。
ところが、チップ6内の出力バッファ回路8゜論理回路
7および回路ブロック10は、ボンディングパッド部]
、]、a及びllbから配置14を介して、電源電圧お
よび接地電圧の供給を受けているので、結局、これらの
回路は、電源電圧および接地電圧が出力バッファ回路8
が動作することによって変動し、誤動作を起しやすくな
る。
従来の出力バッファ回路では、負荷回路を駆動する2つ
のMOS)ランジスタの相互伝達コンダンタンスを、畜
生インダクタンスL1およびL2に急激な電流変化が発
生しないような、小さ目の値に設定することによって、
」1述した誤動作が起らないようにしていた。
そして、この相互コンダクタンスの設定に当っては、従
来、電源電圧の値を規格の上限に設定して最適な相互コ
ンダクタンスを決めていた。
このため、半導体集積回路では、電源電圧VCOが低い
状態で使用されると、出力端子2に接続された負荷回路
を駆動する2つのMOS)ランジスタの相互伝達コンダ
クタンスが小さくなり、データ出力信号のスイッヂング
スピードが悪化するという欠点があった。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の出力バッファ回路は、第1のP型MO8)ラン
ジスタと第1のN型MOS)ランジスタとが直列に接続
されてなる第1の出力回路部と、 第2のP型MO8)−ランジスタと第2のN型MOSト
ランジスタとが直列に接続されてなり、前記第1の出力
回路部に並列な第2の出力回路部とを有し、 第1の出力回路部は、入力信号が、第1のP型MoSト
ランジスタ及び第1のN型MOSトランジスタのゲート
に直接入力されるように接続され、 第2の出力回路部は、入力信号が、第1の定電流素子を
介して第2のP型MOSトランジスタのゲートに入力さ
れ、第2の定電流素子を介して第2のN型MOS)ラン
ジスタに入力されるように接続され、 第1の出力回路部の出力端子と第2の出力回路部の出力
端子とが接続されていることを特徴とする。
〔実施例〕
次に、本発明について、図面を参照して説明する。
第1図は、本発明の第1の実施例の回路構成を示す回路
図である。
本実施例は、並列に接続された第1出方回路部15及び
第2出力回路部16,2つのN型デイプリージョンMO
SトランジスタN、及びN4並びに2つの信号遅延調整
回路17及び18とがらなっている。
第1出力回路部15は、P型MosトランジスタPlと
N型MOS)ランジスタNXとからなるCMO8型O8
バータであり、2つのMosトランジスタのゲートには
、入力信号が直接入力される。
第2出力回路部16は、P型MosトランジスタP2と
N型MOS)−ランジスタN2とが直列に接続されて構
成されている。
この第2出力回路部16を構成するP型MOSトランジ
スタP2のゲートには、入力信号が、N型デイプリージ
ョンMosトランジスタN3と信号遅延調整回路17を
介して入力されている。
又、N型MOS)ランジスタN2のゲートには、N型デ
イプリー992MO8)−ランジスタN4と信号遅延調
整回路18を介して入力信号入力されている。
なお、2つの信号遅延調整回路は、それぞれ、インバー
タを2段に縦属接続したものである。
以下に、本実施例の動作について、第2図の電圧波形図
を参照して説明する。
先ず、入力端子1に入力される入力信号がロウレベルか
らハイレベルに変化すると、第1出方回路部15におい
ては、P型MosトランジスタP、がオフ状態に変化し
、N型MOSトランジスタN1がオン状態に変化する。
このため、出力端子2に接続された負荷回路の電荷は、
N型MOS)ランジスタN、を介して放電を開始する。
一方、入力信号は、N型ディプリーションMOS)ラン
ジスタN3及び信号遅延調整回路17を介して、第2出
力回路部16のP型MOSトランジスタP2のゲートに
も入力される。
この場合、前述のように入力信号がロウレベルからハイ
レベルに変化すると、インバータ19の2 入力信号が
、N型デプリーションMOSトランジスタNSを介して
ハイレベルに変化する。
その結果、インバータ20の出力がハイレベルに変化す
るので、第2出力回路部16のP型MO8)ランジスタ
P2がオフ状態に変化する。
更に、入力信号は、N型デイプリー997MOSトラン
ジスタN4及び信号遅延調整回路18を介して、第2出
力回路部のN型MOS)−ランジスタN2のゲートにも
入力される。
この場合、インバータ21の入力が、N型デイプリー9
52MO8)−ランジスタN4を介してハイレベルに変
化するので、インバータ21の出力信号がロウレベルに
変化する。
この結果、インバータ22の出力信号がハイレベルに変
化するので、N型MOSトランジスタN2がオン状態に
変化する。
このような第2出力回路部16の動作の結果、負荷回路
の電荷は、第2出力回路部16のN型MOS)ランジス
タN2を介しても放電される。
ここで、以上説明したこの出力バッファ回路の動作にお
いて、N型デイプリー997MOSトランジスタN4は
、ゲートがインバータ21の入力側に接続されてダイオ
ード接続になっているので、入力信号がロウレベルから
ハイレベルに変化する時には、定電流素子として動作す
る。
このため、このN型デイプリー997MOSトランジス
タN4を流れる電流が制限され、又、チップに寄生する
容量Cによって、以下に述べるように第2出力回路部1
6のN型MOS)ランジスタN2が遅れてオン状態にな
る。
これによって、負荷回路の電荷が放電される時に、放電
の初期においては、第1出力回路部15のN型OSトラ
ンジスタN、たけて放電され、その後、一定時間たって
から、第2出力回路部16のN型MOS)ランジスタN
2がオン状態になって、以後2つのN型MOSトランジ
スタN、及びN2によって放電される。
以下にその説明を行なう。
例えば、電源電圧VCIを8■、インバータ21の入力
端子に寄生する容量Cの値がO,c;pF’、N型デイ
プリージョンMOS)ランジスタN4が定電流素子とし
て動作する時に流れる電流を100μA、インバータ2
1の論理しきい値電圧を1/2Vc1(=4V)とする
と、節点23がハイレベルに変化してからインバータ2
1の入力端子の電圧が論理しきい値にまで変化するのに
要する時間tは、第2図に示すように、 =2xlO−8(s) である。
すなわち、第1出力回路部15のN型MOS)ランジス
タN1がオン状態になってから、第2出力回路部16の
N型MOS)ランジスタN2がオン状態になるまでには
、約20ns以上の時間がかかる。
従って、出力端子2に接続される負荷回路の電荷を放電
する際に接地導入線13の寄生インダクタンスL2には
、急激な電流の変化は発生しない。
このため、第5図に示す従来の出力バッファ回路におけ
るポンディングパッド部11bの電圧波形と、第2図に
示す本実施例のポンディングパッド部11bの電圧波形
とを比較すると分るように、本実施例では、従来の出力
バッファ回路よりも、チップ内の接地電圧Vs】の変化
が低く抑えられている。
ここで、電源電圧Vclが下った場合の出力信号のスイ
ッチングスピードについて考察する。
この場合は、電源電圧V。1が下っているので、第1出
力回路部15のN型MOSトランジスタN1及び第2出
力回路部16のN型MOSトランジスタN2がオン状態
になる場合のゲート電圧も低下し、前述のように、この
2つのMOSトランジスタの相互伝達コンダクタンスが
小さくなっている。
すなわち、寄生インダクタンスL2によるチップ内の接
地電圧V 5 Hの変動が、そもそも少ない状態である
今、例えば、電源電圧V C1が4■になったとすると
、前述のインバータ21が反転する迄の遅れの時間tは
、 100X 10−6 (A) =1.xlO−8(s) となる。
すなわち、電源電圧V (y 1が低下した場合には、
第2出力回路部16のN型MoSトランジスタN2は、
高速(この場合は、電源電圧V。1が8Vの場合の1/
2の時間)でオン状態となる。
従って、負荷回路の電荷が、早い時期に2つのN型MO
3I〜ランジスタN、及びN2によって放電されるよう
になるため、出力信号のスイッチングスピードが悪化す
ることはない6 次に、入力信号がハイレベルからロウレベルに変化する
場合には、N型デイプリージョンMOSトランジスタN
3が定電流素子として動作する。
このため、上述したと同様の理由により、第1出力回路
部15のP型MOS)ランジスタP1がオン状態になっ
てから、第2出力回路部16のP型MOSトランジスタ
P2がオン状態になる迄の時間は、電源電圧■。、が高
くなるにつれて長くなる。
従って、電源電圧VCIが低い時の出力信号のスイッチ
ングスピードを悪化させることなく、電源電圧VCIが
高い時のチップ内の電源電圧VCIの変動を抑えること
ができる。
次に、本発明の第2の実施例について説明する。
第3図は、本発明の第2の実施例の回路楕を示す回路図
である。
本実施例では、第1図に示した第1の実施例に対して、
インバータ20を2人力のNAND回路24に置き替え
、又、インバータ22を2人力のNOR回路25で置き
替えである。
NAND回路24及びNOR回路25のそれぞれにおい
ては、2つの入力の内の一方には、入力信号の反転信号
D3が入力されている。
このように構成された本実施例においても、第1の実施
例と同様の効果が得られる。
水弟2の実施例は、更に、以下に述べるような効果も併
せ持っている。
第1の実施例では、第1図において、例えば、第1出力
回路部15のN型MOSトランジスタN1がオン状態に
変化してから第2出力回路部16のP型MoSトランジ
スタP2がオフ状態になる迄には、時間差が生じる。
これは、N型デイプリージョンMOSトランジスタN3
並びに2つのインバータ19及び20に基く入力信号の
遅延によるものである。
このように時間差があると、−時的にN型MOSトラン
ジスタN1とP型MOSトランジスタP2とが共にオン
状態になる時間帯が生ずるので、電源端子4と接地端子
3との間に、−時的に大きな貫通電流が流れる。
ところが、第2の実施例においては、入力信号がハイレ
ベルになって第1出力回路部15のN型MOSトランジ
スタN1がオン状態になる時、入力信号の反転信号D3
がロウレベルになっているので、NAND回路24の出
力信号は、入力信号がハイレベルになると、直ちにハイ
レベルになる。
すなわち、本実施例では、第1出力回路部15のN型M
OSトランジスタN1がオン状態になると、第2出力回
路部16のP型MOSトランジスタP2が直ちにオフ状
態になるので、貫通電流が流れることはない。
同様に、信号遅延調整回路18にNOR回路25を設け
たことによって、入力信号がロウレベルになって、第1
出力回路部15のP型MOSトランジスタP1がオン状
態になり、第2出力回路部16のN型MOSトランジス
タN2がオフ状態になる時、この2つのMOS)ランジ
スタを通して流れる貫通電流が防止される。
なお、以上述べた第1の実施例および第2の実施例にお
いては、入力信号を遅らせるたのN型デイプリー932
MOSトランジスタに、直列に信号遅延調整回路を設け
たが、いままでの説明からも分るように、この信号遅延
調整回路を省いても本発明の効果が得られることは明ら
かである。
この信号遅延調整回路を設けると、第1出力回路部と第
2出力回路部の動作との間の時間差が、N型デイプリー
932MOSトランジスタにおける遅延時間と、信号遅
延調整回路における遅延時間とが加わったものとなる。
従って、例えば、製造上のばらつきによって、N型MO
Sトランジスタの電圧電流特性がばらついたり、寄生の
容量の値がばらついたりして、N型MO8)ランジスタ
での信号遅延時間に変動があった場合でも、出力バッフ
ァ回路としての動作を確実なものにすることができる。
又、この信号遅延調整回路の回路構成によっては、第1
出力回路部と第2出力回路部とに亘る貫通電流を防ぐ効
果を期待することもできる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明によれば、出力バッファ回
路の構成を、入力信号の位相を反転する第1の出力回路
部と第2の出力回路部とを並列に接続し、第2の出力回
路部のMOS)ランジスタのゲートに定電流素子を設け
た構成にすることにより、この出力バッファ回路がスイ
ッチングする時に半導体集積回路のチップ内の電源電圧
および接地電圧が変動することを防ぐことができる。
従って、本発明によれば、高速で動作し、しかも動作時
の電源ノイズの発生が少ない出力バッファ回路を提供す
ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の第1の実施例の回路構成を示す回路
図、第2図は、本発明の第1の実施例の動作時の信号波
形を表すタイミングチャート図、第3図は、本発明の第
2の実施例の回路構成を示す回路図、第4図は、従来の
出力バッファ回路の回路構成を示す回路図、第5図は、
従来の出力バッファ回路の動作時の信号波形を表すタイ
ミングチャート図である。 1・・・入力端子、2・・・出力端子、3・・・接地端
子、4・・・電源端子、5・・・半導体集積回路、6・
・・チップ、7・・・論理回路、8・・・出力バッファ
回路、9゜19.20,21.22・・・インバータ、
10・・・回路ブロック、lla、llb・・・ポンデ
ィングパッド部、12・・・電源導入線、13・・・接
地導入線、14・・・配線、15・・・第1出力回路部
、16・・・第2出力回路部、17.18・・・信号遅
延調整回路、23−・・節点、24−N A N D回
路、25−N OR回路。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、第1のP型MOSトランジスタと第1のN型MOS
    トランジスタとが直列に接続されてなる第1の出力回路
    部と、 第2のP型MOSトランジスタと第2のN型MOSトラ
    ンジスタとが直列に接続されてなり、前記第1の出力回
    路部に並列な第2の出力回路部とを有し、 第1の出力回路部は、入力信号が、第1のP型MOSト
    ランジスタ及び第1のN型MOSトランジスタのゲート
    に直接入力されるように接続され、 第2の出力回路部は、入力信号が、第1の定電流素子を
    介して第2のP型MOSトランジスタのゲートに入力さ
    れ、第2の定電流素子を介して第2のN型MOSトラン
    ジスタに入力されるように接続され、 第1の出力回路部の出力端子と第2の出力回路部の出力
    端子とが接続されていることを特徴とする出力バッファ
    回路。 2、請求項1記載の出力バッファ回路において、前記第
    1の定電流素子と前記第2のP型MOSトランジスタの
    ゲートとの間に信号遅延調整回路を設け、 前記第2の定電流素子と前記第2のN型MOSトランジ
    スタのゲートとの間に信号遅延調整回路を設けたことを
    特徴とする出力バッファ回路。
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