JPH02250425A - 出力バッファ回路 - Google Patents

出力バッファ回路

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JPH02250425A
JPH02250425A JP1071472A JP7147289A JPH02250425A JP H02250425 A JPH02250425 A JP H02250425A JP 1071472 A JP1071472 A JP 1071472A JP 7147289 A JP7147289 A JP 7147289A JP H02250425 A JPH02250425 A JP H02250425A
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JP
Japan
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output line
inverter
output
potential
transistor
Prior art date
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Pending
Application number
JP1071472A
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English (en)
Inventor
Hitoshi Kondo
仁史 近藤
Hiroyuki Suwabe
裕之 諏訪部
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Toshiba Electronic Device Solutions Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Microelectronics Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Toshiba Microelectronics Corp filed Critical Toshiba Corp
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  • Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は、出力バッファ回路に関し、特に、半導体集積
回路に設けられて大電流の出力供給を行なうものに適用
して好適な出力バッファ回路に関する。
(従来の技術) 従来、0MOS−LSIの出力バッファ回路には、第2
図及び第3図に示すようにな回路構成が用いられている
。第2図は、ソースSが電@Vに接続されたPチャンネ
ルトランジスタP1と、ソースSが接地電位GNDに接
続されたNチャンネルトランジスタN1とのドレインD
、D相互が接続されて出力線2に接続され、ゲートG、
 G相互が接続されて入力線Aに接続されているCMO
SインバータIVから構成される回路の例を示している
。一方、第3図は、入力線Aが入力端に直接接続された
インバータIVIの出力端と、入力線Aが遅延回路DL
を介して入力端に接続されたインバータIV2の出力端
とが出力線Zに共通に接続される場合の構成例を示して
いる。図中、P2はPチャンネルトランジスタ、N2は
Nチャンネルトランジスタを示している。
第2図及び第3図のいずれの構成も、Pチャンネルトラ
ンジスタとNチャンネルトランジスタのコンプリメンタ
リ動作によって、入力線Aに入力されるゲートへの入力
信号を反転して出力線Z1;出力する機能を有する。
近年の半導体製造技術の進歩による素子の微細化は金属
層等で形成される配線幅を細くし、LSIの高集積化、
高密度化を可能にしている。
しかしながら、配線幅を細くすることは、配線の誘導性
負荷、すなわちインダクタンスを増大することにつなが
る。
一方、出力バッファ回路が大電流供給を必要とする場合
や、高速動作を必要とする場合には、トランジスタのチ
ャンネル幅を大きくしてトランジスタのオン抵抗を下げ
る。すなわち電流供給能力を高める等の設計上の対策が
採られる。
(発明が解決しようとする課!g) 第4図(a)は、第2図に示した従来の出力バッファ回
路の等価回路図である。図中、抵抗R1、R2はそれぞ
れPチャンネルトランジスタP1、Nチャンネルトラン
ジスタN1のオン抵抗を表わし、インダクタンスL1、
R2はそれぞれ電源線vDD、接地電位GNDの各電源
線の寄生インダクタンスを表わし、インダクタンスL3
は出力線Zの寄生インダクタンスを表わし、容量Cは出
力線Zの負荷容量を表わすものである。スイッチS1、
N2は、それぞれのオン/オフがPチャンネルトランジ
スタP1とNチャンネルトランジスタN1のオン/オフ
に対応する。
この等価回路は、直列共振回路を構成しており、出力バ
ッファ回路駆動時に、電源線VDD’接地電位GND及
び出力線2に電圧振動が生じ、第4図(b)の波形図に
示すように、出力信号にオーバーシュート現象やアンダ
ーシュート現象を生じる。
その結果、電源電圧の変動を招き、この出力回路に接続
されている他の素子の誤動作やラッチアップ現象を誘発
するという問題がある。
これに対して、第3図に示した出力バッファ回路では、
第1のインバータlv1と第2のインバータIV2とに
より負荷を2段階に分けて駆動するようにしたので、オ
ーバーシュート現象やアンダーシュート現象はある程度
緩和される。しかしながら、インバータIV2は遅延回
路DLを介して入力線に接続されている。そのため、イ
ンバータIVIの出力反転時にトランジスタP’l、N
2の組あるいはトランジスタP2.Nlの組のいずれか
の組において各トランジスタが同時にオン状態となって
電源vDDと接地電位GNDとの間に貫通電流が流れて
しまうという問題がある。この貫通電流は電、1iX電
圧を変動させるため、他の素子の誤動作を誘発してしま
うという悪影響を及ぼす。
ここで、オーバーシュート現象を例にとって、この現象
が起こる条件について考えてみる。オーバーシュートは
、第4図(a)のスイッチS2がオフしていて、スイッ
チS1がオンする時に発生する。よって、第4図の点線
内の回路に着目し、これを第5図に抜き出してみる。第
5図から、この回路の方程式は、 となる。但し、tは時間、q (t)は電荷量、Y(1
)はスイッチS1のスイッチング特性を表わす関数で、
入力信号の波形の“なまり”に対応する。
近年のLSIでは、入力信号の状態遷移時間は数ナノ秒
程度なので、関数Y(t)は理想的な階段関数であると
考えてよい。この条件と、t−0のときq−0でかつd
 p/d t −0という初期条件に基づいて(1)式
の微分方程式を解くと、その解は C の大小関係によって異なる関数形になる。
いま、 とする。したがって、出力線Zの電圧V (t)は次の
ようになる。
とすると、式(1)の解は となる。
但し、 R1+R3 L1+L3゜ e−tan−’ α ・・・・・・(3) この信号波形を第5図(b)に示す。同図から、第4図
(b)の点線内に相当するオーバーシュート現象が確認
できる。これに対して、他の条件、すなわち、 の場合、出力線Zの電位V (t)は接地電位GNDか
ら電源線vDDの電位に向う単調増加関数になり、ff
16図の波形図に示すようにオーバーシュート現象は確
認されない。
同様にして、 の条件が成立するとアンダーシュート現象が確認される
以上のような理由から、寄生インダクタンスL1、L2
、L3が増加するかあるいはオン抵抗R1、R2や負荷
抵抗R3または負荷容量Cが減少するとオーバーシュー
ト現象やアンダーシュート現象が発生し易くなる。
本発明は、上記に鑑みてなされたもので、その目的は、
出力の電流供給能力を損なうことなく、出力反転時のオ
ーバーシュート現象、アンダーシュート現象及び貫通電
流の発生を抑制し、これらの現象に共なう電源電圧の変
動を抑え、電源を共有する他の素子や回路の誤動作の誘
発等を防止し得る出力バッフ7回路を提供することにあ
る。
〔発明の構成〕
(課題を解決するための手段) 本発明の出力バッファ回路は、一端が高い電位の電源に
接続され、他端が低い電位の電源に接続され、さらに、
入力線に入力端が接続され、出力線に出力端が接続され
た第1のCMOSインバータと一一端が高い電位の電源
に接続され、他端が前記出力線に接続される2個直列P
型MOSトランジスタと一一端が低い電位の電源に接続
され、他端が前記出力線に接続される2個直列N型MO
Sトランジスタと;を備え、前記2個直列P型MOSト
ランジスタの一方のトランジスタのゲートと、前記2個
直列N型MOSトランジスタの一方のトランジスタのゲ
ートとをそれぞれ入力線に接続し、前記出力線を、第2
のインバータを介して、前記2個直列のP型MO5)ラ
ンジスタの他方のトランジスタのゲートと、前記2個直
列のN型MOSトランジスタの他方のトランジスタのゲ
ートとにそ九ぞれ接続したものとして構成される。
(作 用) 入力線の電位が反転すると、第1のCMOSインバータ
を構成する2つのトランジスタのオン、オフが反転し、
それにより出力線の電位が反転する。よって、その第1
のCMOSインバータのオン抵抗を、出力線に接続する
負荷との関係で適当な値としておくことにより、オーバ
ーシュート現象及びアンダーシュート現象が有効に抑制
される。
また、入力線の変位は、2個直列P型MOSトランジス
タの一方のトランジスタのゲートと、2個直列N型MO
Sトランジスタの一方のトランジスタのゲートとに加え
られる。よって、入力線の電位の反転により、入力線の
電位の加えられたトランジスタのオン、オフが、遅延す
ることなく、反転する。出力線の電位は第2のインバー
タを介し、2個直列P型MOSトランジスタの他方のト
ランジスタのゲートと2個直列N型MoSトランジスタ
の他方のトランジスタのゲートとに加えられる。
これにより、出力線の電位の反転により、出力線の電位
が加えられたトランジスタのオン、オフが反転し、出力
線の導通が、高い電位と低い電位の2つの電源の一方か
ら他方に切り換わる。これにより、出力線は、第1のイ
ンバータと、2個直列P型あるいはN31J)ランジス
タのいずれかのトランジスタとによって、高い電位ある
いは低い電位の電源に並列に接続される。これにより、
第1のCMOSインバータの電流供給能力が補助され、
回路全体としての電流供給能力が向上する。且つ、出力
線の電位を、第2のインバータを介し遅延させて、2個
直列P型及びN型トランジスタのそれぞれの他方のトラ
ンジスタに加えるようにしたので、出力線の高い電位あ
るいは低い電位の電源への導通時には、出力線とそれに
接続された電源との電位差は小さなものとなっており、
オーバーシュート現象及びアンダーシュート現象は実際
上止じない。また、入力線の電位反転時に、高い電位と
低い電位の電源間が導通される時間は非常に小さく、貫
通電流は小さなものとなる。
(実施例) 以下、図面を参照しながら本発明の詳細な説明する。
第1図(a)は本発明の一実施例に係る出力バッファ回
路の回路構成図である。同図に示すように、第1のイン
バータIVIはトランジスタP1、N1のコンプリメン
タリ接続で構成され、入力線Aを各トランジスタP1、
N1のゲート入力とし、出力1zを各トランジスタPi
SNlのドレイン出力としているCMOSインバータで
ある。そして、2つのPチャンネルトランジスタP2、
P3を直列接続して成る2個直列Pチャンネルトランジ
スタと、2つのNチャンネルトランジスタN2、N3を
直列接続して成る2個直列Nチャンネルトランジスタを
配し、入力線Aを各トランジスタP2、N2のゲートに
接続し、第1のインバータIVIの出力線Zを各トラン
ジスタP3、N3のドレインに接続している。なお、各
トランジスタP2、N2のソースはそれぞれ電源vDD
、接地電位GNDに接続しである。また、第1のインバ
ー91V1の出力線Zには第2のインバータIV2の入
力が接続されており、その出力線YにはトランジスタP
3、N3のゲートが接続される。
かかる構成において次にその動作を第1図(b)の波形
図及び第1図(c)の特性図に従って説明する。第1図
(b)は、出力線2の波形を従来との比較において示す
ものであり、第1図(C)は、電源vDDから接地電位
GNDへの貫通電流の特性を従来との比較において示す
ものである。
さて、入力線Aの電位が電源V、。の電位で安定し、出
力線2の電位が接地電位GNDで安定しているとする。
この時に、NチャンネルトランジスタN1、N2、N3
はオン状態にあり、PチャンネルトランジスタP1、P
2、P3はオフ状態にある。この状態から、入力線Aの
電位を電源vDDの電位から接地電位GNDに向って下
げてゆくと、先ずPチャンネルトランジスタPL、P2
がオンになり、次にNチャンネルトランジスタN1、N
2が一オンになる。この時、トランジスタP3はオフの
状態を保っているので負荷容量CはPチャンネルトラン
ジスタP1のみによって充電されはじめ、出力線2の電
位は接地電位GNDから電源vDDの電位に向って上が
り始める。出力線Zの電位が第2のインバータIV2の
回路しきい値電位を超えると、インバータIV2の出力
線Yは有限なゲート遅延時間を経て電源VDD電位から
接地電位GNDに反転する。これにより、先ず、Pチャ
ンネルトランジスタP3がオンし、その後Nチャンネル
トランジスタN3がオフする。インバータIV2のゲー
ト遅延時間の間に、出力線Zの電位はインバータIV2
の回路しきい値電位を超え電源vDD電位に近づいてい
る。このため、PチャンネルトランジスタP3のオンに
より電源vDDがトランジスタP2、R3を介して出力
線Zに導通しても、両者間の電位差が小さいことから、
顕著なオーバーシュート現象は現われない。このことは
第1図(b)に示す通りである。
さて、出力線2の電位が電源VDDの電位で安定したと
きにおける出力バッファ回路の電流供給能力は、Pチャ
ンネルトランジスタP1、R2、R3のオン抵抗R1、
R2、R3の合成抵抗RPと、Nチャンネルトランジス
タN1、N2、N3のオン抵抗R4、R5、R6の合成
抵抗RNによって決定される。合成抵抗RPは、 R1+R2+R3 であり、合成抵抗RNは、 である。よって、必要とする電流供給能力に従つて各合
成抵抗RP、RNの値を決定し、出力反転時にオーバー
シュート現象が起こらないような各オン抵抗の値R1〜
R3及びR4−R6の組み合わせを選べばよい。
なお、出力反転時の貫通電流は、Pチャンネルトランジ
スタP1とNチャンネルトランジスタN1によるものだ
けを考えればよく、第3図の従来例のようにPチャンネ
ルトランジスタとNチャンネルトランジスタが同時にオ
ンするようなタイミングを作らないので、貫通電流の総
和は第1図(c)に示すように第2図及び第3図のいず
れの従来例に比べても小さくなる。
また、第3図の従来例では、負荷容量Cが大きくなると
第1のインバターIVIによる出力線Zの電圧の上昇が
遅くなるが、負荷容量Cに無関係な伝達特性を持つ遅延
回路を用いるため、オーバーシュート、アンダーシュー
ト現象の抑制効果は得られるものの、小さなものとして
得られる。これに対して、本発明の実施例では出力線Z
の電圧が第2のインバータIV2の回路しきい値を超え
たことを認識してトランジスタP3、N3をオンさせる
ようにしたので、負荷容量Cに応じたオーバーシュート
現象及びアンダーシュート現象の抑制効果を、大きなも
のとして得ることができる。
〔発明の効果〕
本発明によれば、出力反転時のオーバーシュート現象や
アンダーシュート現象の発生を抑制しつつ電流供給能力
を向上でき、さらに、貫通電流を小さなものとでき、そ
れにより電源を共用する他の素子の誤動作等の誘発を防
止することが可能である。
第6図は第5図の回路におけるオーバーシュート現象が
出ない場合の出力波形図である。
N1、N2、N3・・・Nチャンネルトランジスタ、P
l、R2、R3・・・Pチャンネルトランジスタ、IV
I・・・第1のインバータ、IV2・・・第2のインバ
ータ、A・・・入力線、Z・・・出力線、DL・・・遅
延回路。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 一端が高い電位の電源に接続され、他端が低い電位の電
    源に接続され、さらに、入力線に入力端が接続され、出
    力線に出力端が接続された第1のCMOSインバータと
    ;一端が高い電位の電源に接続され、他端が前記出力線
    に接続される2個直列P型MOSトランジスタと;一端
    が低い電位の電源に接続され、他端が前記出力線に接続
    される2個直列N型MOSトランジスタと;を備え、前
    記2個直列P型MOSトランジスタの一方のトランジス
    タのゲートと、前記2個直列N型MOSトランジスタの
    一方のトランジスタのゲートとをそれぞれ入力線に接続
    し、 前記出力線を、第2のインバータを介して、前記2個直
    列のP型MOSトランジスタの他方のトランジスタのゲ
    ートと、前記2個直列のN型MOSトランジスタの他方
    のトランジスタのゲートとにそれぞれ接続したことを特
    徴とする出力バッファ回路。
JP1071472A 1989-03-23 1989-03-23 出力バッファ回路 Pending JPH02250425A (ja)

Priority Applications (1)

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JP1071472A JPH02250425A (ja) 1989-03-23 1989-03-23 出力バッファ回路

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JP1071472A JPH02250425A (ja) 1989-03-23 1989-03-23 出力バッファ回路

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JP1071472A Pending JPH02250425A (ja) 1989-03-23 1989-03-23 出力バッファ回路

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5430389A (en) * 1992-09-29 1995-07-04 Hitachi, Ltd. Output circuit with a current injection circuit including a reference voltage generator
JPH07326195A (ja) * 1994-02-21 1995-12-12 Sgs Thomson Microelettronica Spa レギュレーティング回路およびその放電制御方法
JPH08195096A (ja) * 1994-08-26 1996-07-30 Sgs Thomson Microelectron Ltd メモリアレイとメモリアレイ内の制御線へ電圧を供給する方法及びしきい回路

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5430389A (en) * 1992-09-29 1995-07-04 Hitachi, Ltd. Output circuit with a current injection circuit including a reference voltage generator
JPH07326195A (ja) * 1994-02-21 1995-12-12 Sgs Thomson Microelettronica Spa レギュレーティング回路およびその放電制御方法
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