JPH04144083A - 電気的接触子およびｉｃソケット - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概　要〕 ＩＣ等のデバイスに電気信号を印加し、検出するための
電気的接触子およびＩＣソケットに関し、信号伝播路を
短縮することにより、信号遅延を減少し、ノイズを抑え
、高速信号を高精度に測定し得る電気的接触子およびＩ
Ｃソケットを提供することを目的とし、 ［１］接触部と端子部とバネ部とを有し、上記接触部は
、一端に被測定物の端子と接触するだめの接触面が、他
端に第一の接点バネが設けられ、上記端子部は、一端に
第二の接点バネが、他端に端子が設けられ、上記バネ部
は、一端が上記接触部に、他端が上記端子部に接続され
てループ形状をなし、上記第一の接点バネと上記第二の
接点バネとが電気的開閉器の接点部を形成するように構
成されていることを特徴とし、および 〔２〕上記第一及び第二の接点バネの先端部分が互いに
外側に向けて折曲されており、該折曲された先端部分の
対向する内斜面が接点として上記接点部を形成している
ことを特徴としており、および 〔３］上記〔２〕記載の電気的接触子を２以上並設して
なるＩＣソケットであって、第一の上記電気的接触子と
第二の上記電気的接触子とが互いに一つ置きに配列され
、第一の電気的接触子の接点部および第二の電気的接触
子の接点部が相互に重ならない位置に設けられているこ
とを特徴とするように構成する。

（産業上の利用分野〕 本発明は、ＩＣ等のデバイスに電気信号を印加し、検出
するための電気的接触子およびＩＣソケットに関する。

電子デバイスの高周波、高速化に伴い、その高周波特性
、高速ハルス特性を精密に測定できるテスターが要求さ
れている。このため、信号遅延が小さく、ノイズの影響
を受けにくい電気的接触子およびＩＣソケットを実現す
る必要がある。

［従来の技術］ ＩＣ等多端子を有する電子デノ＼イスの電気特性の測定
には、バネにより端子間の寸法誤差を吸収する構造の電
気的接触子が多く使われている。

第３図は、従来例の斜視図であり、かかるノ＼ネを用い
た電気的接触子１０を示す。

従来技術を第３図を参照して説明する。

ループ型のバネ部２の一端に接続された接触部１と、他
端に接続された端子部３とは一体として形成される。被
測定物の端子は、接触部１の上面に設けた接触面４に押
し付けられ、電気的接触が保たれる。

被測定物からの信号は、接触面４を通して、接触部１、
バネ部２を経過し、端子部３に達した後、端子部３に設
けられた端子８を通じて外部機器に出力される。

第４図は、従来の電気的接触子を使用したＩＣソケット
の斜視図である。

第４図（ａ）に示すように、電気的接触子１０はソケッ
ト本体１３内に対向して２列に配列され、この上にＩＣ
のリードを載せて蓋１４で押さえ、蓋１４の端を止具１
５で固定する。

第４図（ｂ）は従来のＩＣソケットの他の例の斜視図で
ある。

電気的接触子１０は測定治具の基板１１にガイド１２を
介して固定されている。

〔発明が解決しようとする課題〕

上述した従来の電気的接触子においては、信号はバネ部
２を含む長い経路を伝播するためインダクタンス及び抵
抗が大きく、伝播遅延時間が長くなる。

また、バネ部２は略ワンターンコイルを形成しており、
隣接する接触子からのノイズを拾い易いといった問題を
生じていた。

本発明は、接触面４から端子８に至る信号伝播経路を短
縮し、またインダクタンスと抵抗を減少することにより
、高速信号を高精度に測定し得る電気的接触子およびＩ
Ｃソケットを提供することを目的とする。

〔課題を解決するための手段〕

上記目的を達成するために、本発明は以下の構成をとる
。

第１図は本発明の第一の実施例の斜視図であり、電気的
接触子を示している。

第一の構成は、第１図を参照して、接触部１と端子部３
とバネ部２とを有し、上記接触部１は、一端に被測定物
の端子と接触するための接触面４が、他端に第一の接点
バネ５が設けられ、上記端子部３は、一端に第二の接点
バネ６が、他端に端子８が設けられ、上記バネ部２は、
一端が上記接触部１に、他端が上記端子部３に接続され
てループ形状をなし、上記第一の接点バネ５と上記第二
の接点バネ６とが電気的開閉器の接点部７を形成するよ
うに構成されていることを特徴としている。

第二の構成は第一の構成の電気的接触子において、第１
図を参照して、上記第一及び第二の接点バネ５．６の先
端部分が互いに外側に向けて折曲されており、上記折曲
された先端部分の対向する内斜面が接点として上記接点
部７を形成していることを特徴としている。

第２図は本発明の第二の実施例の斜視図である。

第三の構成は、第２図を参照して、上記第二の構成に記
載の電気的接触子１０を２以上並設してなるＩＣソケッ
トであって、第一の上記電気的接触子１０Ａと第二の上
記電気的接触子１０Ｂとが互いに一つ置きに配列され、
第一の電気的接触子１０Ａの接点部７Ａおよび第二の電
気的接触子１０Ｂの接点部７Ｂが相互に重ならない位置
に設けられていることを特徴としている。

〔作　用〕

本発明の作用を第１図、第２図を参照して説明する。

被測定物の端子を接触面４に乗せ端子部３方向に押し込
むことにより、被測定物の端子と接触部１との電気的接
触が確保されることは従来の技術と同様である。

本発明では、接触部１は押し込まれた際に端子部３方向
に移動し、スイッチの接点部７を構成する接点バネ５を
これと対をなす接点バネ６に押しつけ、接触部ｌと端子
部３とを短絡する。

この状態では、バネ部を経由するループ状の信ｋ、 号伝播路は、接一部７によりループ入口の最短距離で短
絡されるから、信号伝播距離を短縮するとともに、信号
路インピーダンスおよび電気抵抗を下げることができる
。

従って、信号遅延時間が短縮され、また反射ノイズを含
めてノイズが減少するから、高精度の電気特性の測定が
可能となる。

とくに、ループ状のバネ部２が形成するワンターンコイ
ルにより生ずる’１４Ｍ１誘導の影響は小さくなるから
、隣接する電気的接触子の電流に起因する誘導ノイズを
減少する上での効果が大きい。

本発明の第二の構成に係る電気的接触子における接点部
７は、２枚の接点バネ５，６が同一平面内で移動し接触
する構造であっても、先端を折曲して衝突から逃がして
いるため、必ず接点バネ５６の内側面で接触し摺動する
ことになる。

このため、被測定物の端子の不揃いを吸収するというバ
ネ部２の機能を損なうことなく、安定した電気的接触を
実現することができる。

しかし、上記構造における接点部７は、接点バネ５．６
の先端を逃がすこと、及び接点バネ５゜６が摺動するた
めに重なることから、接点部７の周囲に接点バネ５，６
の板厚の２倍以上の空間をとる必要が生ずる。

このため、電気的接触子を多数並設して使用するＩＣソ
ケットに第二の構成にかかる電気的接触子を適用する場
合には、隣接する接点部が接触するおそれが生ずる。

しかし、本発明の第三の構成に係るＩＣソケットでは、
第２図（ｂ）を参照して、接点部７Ａ　、　７Ｂが千鳥
に配されているから、隣接する電気的接触子１０Ａ、　
１０Ｈの接点部７Ａ、７Ｂは相互に接触することがない
。

従って、本発明の第二の構成に係る電気的接触子をピッ
チの狭いＩＣソケットにも通用できることになり、高速
信号を高精度に測定することのできるＩＣソケットを実
現できる。

（実施例］ 以下本発明の実施例を図面を参照して説明する。

第１図−一一は本発明の第一の実施例を示したものであ
り、電気的接触子を表している。

接触部ｌ、バネ部２および端子部３は接点バネ材料、例
えばＢｅ−Ｃｕで一体として形成される。

接点バネ５．６は、接触部１、端子部↓の対向する側に
それぞれ舌片状に形成され、その先端は互いに外側へ向
けてくの字状に折曲されている。

かかる形状は、接触部１に荷重され接点バネ５６が接触
する際に、接点バネ５．６が端面で衝突することなく、
互いの対向する内側面で接触し摺動するためのものであ
る。

この摺動の機構により、被測定物の端子寸法の誤差等か
ら生ずる接触部１の変位の分散を吸収することができる
。

また、この摺動は、接点に生ずる絶縁被覆を破壊し新、
鮭な接点表面を表出する作用をなし、容易に接点の接触
抵抗を低く維持することになる。

なお、通常の電気的開閉器に使用されている形状の接点
を本発明に利用できることは自明である。

本実施例では、被測定物の端子との接触面４および外部
へ接続するための端子８は、接点バネ５゜６を通る直線
上に配列される。従って、信号伝播経路は最小となり、
信号遅延を少な（することができる。

本実施例において、接触部１及び端子部３の材料とバネ
部２の材料とが異なっていてもよい。

かかる構成により、電気的特性と機械的特性を各別に設
計することができるから、設計が容易になる。例えば、
バネ部２の電気抵抗を大きくし、バネ部の作るループの
影響を小さくすることで、外部からの誘導ノイズを減少
することも容易になる。

第２図は、本発明の第二の実施例を示す斜視図である。

第２図（ａ）はＩＣソケットを表し、第２図（ｂ）は第
２図（ａ）中Ｘで示した部分の拡大図である。

本実施例においては、２種の接触子１０Ａ、　１０Ｂが
存する。

第一の接触子１０Ａの接点ハ名６Ａ、ｓＡは、第一の実
施例の２７５の幅であり、接触部１４、端子部３Ａの端
面９から３１５を残した位置に設けられる。第二の接触
子１０Ｂの接点バネ６８．５Ｂは、第一の実施例の　２
７５の幅であり、接触部ＩＢ、端子部３Ｂの端面９から
設けられる。

本実施例は、上記２種の接触子１０Ａ、１０Ｂを、互い
に一つ置きに並設したものであり、従って接点部７Ａ、
７Ｂは千鳥に配置されている。

かかる配置では、接点バネ５Ａ、５Ｂ、６Ａ、６Ｂが変
形しても、隣接する接点部７Ａ　、　７Ｂが互いに接触
することを回避できる。

よって、端子間ピッチの小さなＩＣソケットにも本発明
に係る電気的接触子の適用が可能となる。

〔発明の効果］ 以上説明したようｔこ本発明によれば、接触面から接触
子の端子に至る信号伝播経路を最短距離で短絡でき、ま
たインダクタンスと抵抗を小さくするすることができる
から、高速信号を高精度に測定し得る、電気的接触子お
よびＩＣソケットを提供することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第一実施例斜視図、 第２図は本発明の第二実施例斜視図、 第３図は従来例斜視図（々）１） 第４図は従来例斜視図Ｃζ。２） である。 図において。 １、ＩＡ、ＩＢは接触部、 ２はバネ部、 ３．３Ａ、３Ｂは端子部、 ４は接触面、 ５．６．５Ａ、６Ａ、５Ｂ、６Ｂは接点バネ、７．７Ａ
、７Ｂは接点部 ８は端子 １０は電気的接触子 １１は基板 Ｉ２はガイド １３はソケット本体 １４は蓋 １５は止具 である。 、本イｉ明第−実方邑ｆ列剥イ見図 第 図 水発萌第二実絶伜１斜償、Ｗ 第 図 ん〔釆例・糾視図 （旨の１） 第 図 （σシ イカー身（ブタ・１１ミ（子地Ｅ矛り　（む２）第 図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 〔１〕接触部（１）と端子部（３）とバネ部（２）とを
   有し、上記接触部（１）は、一端に被測定物の端子と接
   触するための接触面（４）が、他端に第一の接点バネ（
   ５）が設けられ、上記端子部（３）は、一端に第二の接
   点バネ（６）が、他端に端子（８）が設けられ、上記バ
   ネ部（２）は、一端が上記接触部（１）に、他端が上記
   端子部（３）に接続されてループ形状をなし、上記第一
   の接点バネ（５）と上記第二の接点バネ（６）とが電気
   的開閉器の接点部（７）を形成するように構成されてい
   ることを特徴とする電気的接触子。 〔２〕上記第一及び第二の接点バネ（５、６）の先端部
   分が互いに外側に向けて折曲されており、該折曲された
   先端部分の対向する内斜面が接点として上記接点部（７
   ）を形成していることを特徴とする請求項１記載の電気
   的接触子 〔３〕請求項１または２記載の電気的接触子を２以上並
   設してなるＩＣソケットであって、第一の上記電気的接
   触子（１０Ａ）と第二の上記電気的接触子（１０Ｂ）と
   が互いに一つ置きに配列され、第一の電気的接触子（１
   ０Ａ）の接点部（７Ａ）および第二の電気的接触子（１
   ０Ｂ）の接点部（７Ｂ）が相互に重ならない位置に設け
   られていることを特徴とするＩＣソケット。