JPH04137620A - 電極形成方法 - Google Patents

電極形成方法

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Publication number
JPH04137620A
JPH04137620A JP2259276A JP25927690A JPH04137620A JP H04137620 A JPH04137620 A JP H04137620A JP 2259276 A JP2259276 A JP 2259276A JP 25927690 A JP25927690 A JP 25927690A JP H04137620 A JPH04137620 A JP H04137620A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
evaporator
electrode
vacuum
layer
electrodes
Prior art date
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Pending
Application number
JP2259276A
Other languages
English (en)
Inventor
Kaneyuki Akagi
赤木 謙之
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Victor Company of Japan Ltd
Original Assignee
Victor Company of Japan Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Victor Company of Japan Ltd filed Critical Victor Company of Japan Ltd
Priority to JP2259276A priority Critical patent/JPH04137620A/ja
Publication of JPH04137620A publication Critical patent/JPH04137620A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L24/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01015Phosphorus [P]

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Led Device Packages (AREA)
  • Led Devices (AREA)
  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、エレクトロンビーム蒸着1!1(EB薫着m
>を使用して、pn接合を有する化合物半導体に電極を
形成する電極形成方法に関するものである。
(従来の技術) 一般的なpn接合を有する化合物半導体装1である発光
タイオード(LED)の構造を第2図に示し、この電極
形成方法を以下に説明する。
このLEDは、GaASを材料としたn−基板1上に液
晶エピタキシャル成長により、n層2及び2層3が形成
されている。
そして、真空蒸着機に移されて、このn型基板1の他面
側には、AuGe 7を蒸着し、2層3側には、AuB
e4 (またはAuZn)を蒸着する。
その後、スパッタ装置に移して、ワイヤボンディング時
の加重から半導体の結晶を守るための緩衝材となるTi
N 5をAuBe4上にスパッタ形成する。
そして、再び真空蒸着機に戻した後、このTiN5上に
ワイヤと同じ材料であるAu6を蒸着する。
さらに、この2層311]Jに形成した電′#i!(A
uBe4 。
TiN5.Au6)をパターン抜きした後、約450°
Cで10分間熱処理をして、2層3とAuBe4とを合
金化することにより電極を形成していた。
なお、他の化合物半導体装室である半導体レーザ装置や
電界効果トランジスタ等でも同様にして、電極を形成し
ていた。
(発明が解決しようとする課題) 一般に、TiNを蒸着機により蒸着しようとすると、T
iNが活生化して蒸着材料(TiN)を入れるボートの
材料であるタングステン、モリブデンと反応して、ボー
トを破壊してしまうので、TiNを付着させるには、ス
パッタ法を用いていた。
そして、従来の電極形成方法では、AuBe (*たは
^u2n)を真空蒸着機内で蒸着した後、スパッタ装置
に移す段階、及び、Aul!−蒸着するためにスパッタ
装置から再び真空蒸着機に戻す段階で、AuBeやTi
Nの表面が空気に触れて酸化するために、ワイヤボンデ
ィング時にAuBeとTiNとの間やTiNとAuとの
間で剥れることか多く、歩留まりが悪かった。
また、真空蒸着機やスパッタ装置を作動させるには、1
0 ’Torr程度の真空にする必要があり、材料を何
度も両装置間を移動して作動させると、装置内を真空状
態にするたけでもかなりの時間か掛り、作業効率か非常
に悪かった。
さらに、スパッタ装置にてTiNをAu5e上にスパッ
タする際に、TiNの一部が■1とNとに分解してAU
Bf3上に付着するので、■1とNとの組成比か変わっ
て、安定したTiNが得られず、緩衝材としての良好な
特性が得られなくなるので、ワイヤボンディング時に結
晶折開の起こる原因となっていた。
そこで、本発明は、スパッタ装置を用いずに、真空蒸着
機内たけで、電極を形成する$極形成方法を提供するこ
とを目的とする。
(課題を解決するための手段) 上記目的を達成するための手段として、pn接合を有す
る化合物半導体に電極を形成する@極形成方法であって
、エレクトロンビーム蒸着機内において、前記化合物半
導体のn層側にAtJGeを真空蒸着し、p711Pl
にAuBeまたは^u2nを真空蒸着し、このAuBe
またはAu2n上に丁1を及びAuを順次真空蒸着して
電極を形成した後、前記化合物半導体をエレクトロンビ
ーム蒸着機から取出して、前記電極をバターニングした
後、N2雰囲気中で熱処理をして前記TiをTiN化す
ることを特徴とするtf!形成方法を提供しようとする
ものである。
(実施例) 本発明の$極形成方法の一実施例である発光ダイオード
(LED)における電極形成方法を第1図(A)〜(F
)と共に説明する。
まず、第1図(A)に示すように、n型基板1上に液晶
エピタキシャル成長により、n層2及び2層3を形成し
た化合物半導体であるLEDを、エレクトロンビーム蒸
着機(EB蒸着11>に入れて、n型基板1側には、^
uGe 7を蒸着し、2層3側には、AuBe4 (ま
たはAuZn)を蒸着する。
そして、同図(B)に示すように、このE−B蒸着機内
において、AuBe4上にTi8を蒸着し、このTiS
上にワイヤと同じ材料であるAu6を蒸着する。
その後、このLEDをEB蒸着機から取出し、同図(C
)に示すように、このAu6上にレジスト9を塗布し、
このレジスト9により電極として必要部分だけを残すよ
うにバターニングを行なう。
そして、同図(D)に示すように、このレジストリのな
い部分のAuBe4 、 Ti8 、Au6をエツチン
グし、その後、レジストリも有機溶剤により除去する(
同図(E))。
最後に、Ti8が高温で活性化することを利用して、こ
のLEDをN2雰囲気中で400〜500℃にて10〜
15分間熱処理を行なうことにより、Ti8が窒化して
、TiN 5となり、さらに、2層3とAuBe4とが
合金化してtiが形成されることになる。
そして、この方法は、各電極材料の付着をEB蒸着機内
で行ない、各電極材料の付着過程で空気中を移動させる
ことかないので、各電極材料の表面か酸化せず、ワイヤ
ボンディング等のときに各を極材料間で剥れることかな
くなり、歩留まりが向上することになる。
以上、本発明の電極形成方法について、LEDを基に説
明したが、本発明は、半導体レーザ装置や電界効果トラ
ンジスタにも適用でき、その半導体材料も、GaAlA
s系、GaAsP系、GaAs系、InGaP系及びG
aP系などに幅広く使用することかできる。
(発明の効果) 本発明の電極形成方法は、エレクトロンビーム蒸着機内
において、化合物半導体のn層側にAuGeを真空蒸着
し、pm側にAuBeまたはAuznを真空蒸着し、こ
のAuBeまたはAu加上に■1を真空蒸着し、この■
1上にAuを真空蒸着した後、化合物半導体をエレクト
ロンビーム蒸s機から取出して、パターニングした後、
400〜500℃のN2雰囲気中で熱処理をしてTiを
T + N化するようにしたので、各電極材料の付着過
程で空気中を移動させることがなくなり、各4!jh極
材料の表面か酸化しなくなるので、ワイヤボンディング
等のときに各電極材料間で剥れることがなくなり、歩留
まりが向上する。
また、エレクトロンビーム蒸着機だけで電極材料を付着
させることかできる結果、この装置を一度真空状態にす
るだけで良く、作業効率が向上する。
さらに、TIはN2雰囲気中で熱処理をする際に、活性
化して積極的にN2と反応するので、N2の流量を一定
にすることにより、安定したTiNを得ることかでき、
ワイヤボンディング時の結晶軒開を減少させることかで
きるという効果かある。
【図面の簡単な説明】
第1図(A)〜(F)は本発明の電極形成方法の一実施
例を示す工程図、第2図は一般的な発光ダイオードを示
す構造図である。 1・・・n型基板、2・・・n層、3・・・9層、4・
・・AuBe、5=4iN 、6−Au、7−AuGe
、8−T i、9・・・レジスト。 特 許 出願人 日本ビクター株式会社(A) (D) (E) (C) (F) 第 図 第 図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 pn接合を有する化合物半導体に電極を形成する電極形
    成方法であつて、 エレクトロンビーム蒸着機内において、前記化合物半導
    体のn層側にAuGeを真空蒸着し、p層側にAuBe
    またはAuZnを真空蒸着し、このAuBeまたはAu
    Zn上にTiを及びAuを順次真空蒸着して電極を形成
    した後、 前記化合物半導体をエレクトロンビーム蒸着機から取出
    して、前記電極をパターニングした後、N_2雰囲気中
    で熱処理をして前記TiをTiN化することを特徴とす
    る電極形成方法。
JP2259276A 1990-09-28 1990-09-28 電極形成方法 Pending JPH04137620A (ja)

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JP2259276A JPH04137620A (ja) 1990-09-28 1990-09-28 電極形成方法

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102006024175B3 (de) * 2006-05-23 2007-09-27 Touchtek Corporation, Chunan Verfahren zum Herstellen von primären Mehrschichtelektroden
JP2007317913A (ja) * 2006-05-26 2007-12-06 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体発光素子およびその製造方法

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DE102006024175B3 (de) * 2006-05-23 2007-09-27 Touchtek Corporation, Chunan Verfahren zum Herstellen von primären Mehrschichtelektroden
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