JPH08306643A - 3−5族化合物半導体用電極および発光素子 - Google Patents
3−5族化合物半導体用電極および発光素子Info
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- JPH08306643A JPH08306643A JP10677095A JP10677095A JPH08306643A JP H08306643 A JPH08306643 A JP H08306643A JP 10677095 A JP10677095 A JP 10677095A JP 10677095 A JP10677095 A JP 10677095A JP H08306643 A JPH08306643 A JP H08306643A
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Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【目的】3−5族化合物半導体を用いて、発光面から均
一な発光を得ることができる発光素子および該3−5族
化合物半導体に用いる電極を提供することにある。 【構成】〔1〕サファイア上に形成されたn型またはp
型の一般式Inx GayAlz N(ただし、x+y+z
=1、0≦x≦1、0≦y≦1、0≦z≦1)で表され
る3−5族化合物半導体に用いる電極において、n電極
7は3−5族化合物半導体の面の実質的に中央部に形成
されてなり、p電極6は同一面上に該n電極を囲む形状
に形成されてなることを特徴とする3−5族化合物半導
体用電極。 〔2〕サファイア上に形成されたn型またはp型の一般
式Inx Gay Alz N(ただし、x+y+z=1、0
≦x≦1、0≦y≦1、0≦z≦1)で表される3−5
族化合物半導体と、〔1〕記載の3−5族化合物半導体
用電極を用いたことを特徴とする発光素子。
一な発光を得ることができる発光素子および該3−5族
化合物半導体に用いる電極を提供することにある。 【構成】〔1〕サファイア上に形成されたn型またはp
型の一般式Inx GayAlz N(ただし、x+y+z
=1、0≦x≦1、0≦y≦1、0≦z≦1)で表され
る3−5族化合物半導体に用いる電極において、n電極
7は3−5族化合物半導体の面の実質的に中央部に形成
されてなり、p電極6は同一面上に該n電極を囲む形状
に形成されてなることを特徴とする3−5族化合物半導
体用電極。 〔2〕サファイア上に形成されたn型またはp型の一般
式Inx Gay Alz N(ただし、x+y+z=1、0
≦x≦1、0≦y≦1、0≦z≦1)で表される3−5
族化合物半導体と、〔1〕記載の3−5族化合物半導体
用電極を用いたことを特徴とする発光素子。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は3−5族化合物半導体用
電極およびそれを用いた発光素子に関する。
電極およびそれを用いた発光素子に関する。
【0002】
【従来の技術】紫外もしくは青色の発光ダイオード(以
下、「LED」と記すことがある。)又は紫外もしくは
青色のレーザーダイオード等の発光デバイスの材料とし
て、一般式Inx Gay Alz N(ただし、x+y+z
=1、0≦x≦1、0≦y≦1、0≦z≦1)で表され
る3−5族化合物半導体が知られている。該3−5族化
合物半導体は、3族元素の組成によって制御できるバン
ドギャップを有しているので、可視光領域から紫外線領
域の発光を生じる発光素子に用いることができる。さら
に該3−5族化合物半導体は直接遷移型のバンド構造を
有するので、これを用いて発光効率の高い発光素子が得
られる。とくに、Inの濃度が10%以上のものは、発
光波長が紫色およびそれより長波長の可視領域にするこ
とができるため、表示用途への応用上とくに重要であ
る。
下、「LED」と記すことがある。)又は紫外もしくは
青色のレーザーダイオード等の発光デバイスの材料とし
て、一般式Inx Gay Alz N(ただし、x+y+z
=1、0≦x≦1、0≦y≦1、0≦z≦1)で表され
る3−5族化合物半導体が知られている。該3−5族化
合物半導体は、3族元素の組成によって制御できるバン
ドギャップを有しているので、可視光領域から紫外線領
域の発光を生じる発光素子に用いることができる。さら
に該3−5族化合物半導体は直接遷移型のバンド構造を
有するので、これを用いて発光効率の高い発光素子が得
られる。とくに、Inの濃度が10%以上のものは、発
光波長が紫色およびそれより長波長の可視領域にするこ
とができるため、表示用途への応用上とくに重要であ
る。
【0003】該3−5族化合物半導体は基板として充分
な厚さの単結晶の作製が困難であるため、サファイア、
Si、GaAs、ZnO、SiC等の基板に成膜され
る。これらの基板のなかでは、サファイアは可視部で透
明であり大面積かつ高品質の基板が得られるという特徴
があり、またAlNやGaN等のバッファ層を用いる2
段階成長で高品質の膜が成長できることが知られてお
り、該3−5族化合物半導体用基板としてよく用いられ
ている。しかし、サファイアは絶縁体であるため、この
上に成長した発光素子への正負の電極は、いずれも基板
とは反対側に作製しなければならない。
な厚さの単結晶の作製が困難であるため、サファイア、
Si、GaAs、ZnO、SiC等の基板に成膜され
る。これらの基板のなかでは、サファイアは可視部で透
明であり大面積かつ高品質の基板が得られるという特徴
があり、またAlNやGaN等のバッファ層を用いる2
段階成長で高品質の膜が成長できることが知られてお
り、該3−5族化合物半導体用基板としてよく用いられ
ている。しかし、サファイアは絶縁体であるため、この
上に成長した発光素子への正負の電極は、いずれも基板
とは反対側に作製しなければならない。
【0004】上記の状況をさらに詳しく説明する。即
ち、図1にサファイア上に作製した該3−5族化合物半
導体による発光素子の構造の概略を示す。該3−5族化
合物半導体は、p型不純物をドープしても低抵抗のp型
とはなりにくく、低抵抗化のためには成長後に熱アニー
ル処理、電子線照射処理等の後処理が必要と提案されて
いる。このような後処理を有効なものとするため、一般
にp層は最表面に形成される。n電極は、p層および活
性層をエッチングしてn層を表面に露出させ、このn層
の上に形成される。該3−5族化合物半導体をサファイ
アの上に成膜した場合、結晶性は膜厚に依存し、膜厚が
おおよそ3〜6μm程度で最もよくなる。このため、n
層はおおよそ4μm程度に成膜される。
ち、図1にサファイア上に作製した該3−5族化合物半
導体による発光素子の構造の概略を示す。該3−5族化
合物半導体は、p型不純物をドープしても低抵抗のp型
とはなりにくく、低抵抗化のためには成長後に熱アニー
ル処理、電子線照射処理等の後処理が必要と提案されて
いる。このような後処理を有効なものとするため、一般
にp層は最表面に形成される。n電極は、p層および活
性層をエッチングしてn層を表面に露出させ、このn層
の上に形成される。該3−5族化合物半導体をサファイ
アの上に成膜した場合、結晶性は膜厚に依存し、膜厚が
おおよそ3〜6μm程度で最もよくなる。このため、n
層はおおよそ4μm程度に成膜される。
【0005】図1に示す構造の発光素子の場合、p層へ
の電極は発光層直上のp層に形成することができるもの
の、n電極は発光層から離れた部分に形成される。とこ
ろで、発光ダイオードの基板面方向の大きさは通常30
0μm又はそれ以上であり、上述の該3−5族化合物半
導体を用いた発光素子の場合、n電極より供給される電
流は、4μm程度の厚さのn層を通して発光層へ運ばれ
る。発光素子の大きさに対してn層の厚みは100分の
1程度に薄いため、素子全面にわたって均一に電流を供
給すること、つまり、発光面から均一な発光を得ること
が難しい。
の電極は発光層直上のp層に形成することができるもの
の、n電極は発光層から離れた部分に形成される。とこ
ろで、発光ダイオードの基板面方向の大きさは通常30
0μm又はそれ以上であり、上述の該3−5族化合物半
導体を用いた発光素子の場合、n電極より供給される電
流は、4μm程度の厚さのn層を通して発光層へ運ばれ
る。発光素子の大きさに対してn層の厚みは100分の
1程度に薄いため、素子全面にわたって均一に電流を供
給すること、つまり、発光面から均一な発光を得ること
が難しい。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、3−
5族化合物半導体を用いて、発光面から均一な発光を得
ることができる発光素子および該3−5族化合物半導体
に用いる電極を提供することにある。
5族化合物半導体を用いて、発光面から均一な発光を得
ることができる発光素子および該3−5族化合物半導体
に用いる電極を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、このよう
な事情をみて鋭意検討した結果、n電極とp電極の配置
を従来のものとは異なる特定の配置とすることで、上記
のような問題を解決できることを見いだし、本発明を完
成するに至った。即ち、本発明は、次に記す発明であ
る。 〔1〕サファイア上に形成されたn型またはp型の一般
式Inx Gay Alz N(ただし、x+y+z=1、0
≦x≦1、0≦y≦1、0≦z≦1)で表される3−5
族化合物半導体に用いる電極において、n電極は3−5
族化合物半導体の面の実質的に中央部に形成されてな
り、p電極は同一面上に該n電極を囲む形状に形成され
てなることを特徴とする3−5族化合物半導体用電極。 〔2〕前記〔1〕に記載のp電極の表面と、これと接す
る3−5族化合物半導体のp層の表面とに、第2のp電
極が接することを特徴とする3−5族化合物半導体用電
極。 〔3〕前記〔1〕または〔2〕記載のp電極が、Mg、
ZnおよびNiからなる群から選ばれた少なくとも1つ
の金属と、Auとの合金であることを特徴とする〔1〕
または〔2〕記載の3−5族化合物半導体用電極。 〔4〕前記〔2〕記載の第2のp電極が、Al、Tiも
しくはCrまたはAl、Ti、Crからなる群から選ば
れた少なくとも2種の金属の合金であることを特徴とす
る〔1〕、〔2〕または〔3〕記載の3−5族化合物半
導体用電極。 〔5〕前記〔1〕記載のn電極がAl、Cr、Tiもし
くはInまたはAl、Cr、Ti、Inからなる群から
選ばれた少なくとも2種の金属の合金であることを特徴
とする〔1〕、〔2〕、〔3〕または〔4〕記載の3−
5族化合物半導体用電極。 〔6〕サファイア上に形成されたn型またはp型の一般
式Inx Gay Alz N(ただし、x+y+z=1、0
≦x≦1、0≦y≦1、0≦z≦1)で表される3−5
族化合物半導体と、〔1〕、〔2〕、〔3〕、〔4〕ま
たは〔5〕記載の3−5族化合物半導体用電極を用いた
ことを特徴とする発光素子。
な事情をみて鋭意検討した結果、n電極とp電極の配置
を従来のものとは異なる特定の配置とすることで、上記
のような問題を解決できることを見いだし、本発明を完
成するに至った。即ち、本発明は、次に記す発明であ
る。 〔1〕サファイア上に形成されたn型またはp型の一般
式Inx Gay Alz N(ただし、x+y+z=1、0
≦x≦1、0≦y≦1、0≦z≦1)で表される3−5
族化合物半導体に用いる電極において、n電極は3−5
族化合物半導体の面の実質的に中央部に形成されてな
り、p電極は同一面上に該n電極を囲む形状に形成され
てなることを特徴とする3−5族化合物半導体用電極。 〔2〕前記〔1〕に記載のp電極の表面と、これと接す
る3−5族化合物半導体のp層の表面とに、第2のp電
極が接することを特徴とする3−5族化合物半導体用電
極。 〔3〕前記〔1〕または〔2〕記載のp電極が、Mg、
ZnおよびNiからなる群から選ばれた少なくとも1つ
の金属と、Auとの合金であることを特徴とする〔1〕
または〔2〕記載の3−5族化合物半導体用電極。 〔4〕前記〔2〕記載の第2のp電極が、Al、Tiも
しくはCrまたはAl、Ti、Crからなる群から選ば
れた少なくとも2種の金属の合金であることを特徴とす
る〔1〕、〔2〕または〔3〕記載の3−5族化合物半
導体用電極。 〔5〕前記〔1〕記載のn電極がAl、Cr、Tiもし
くはInまたはAl、Cr、Ti、Inからなる群から
選ばれた少なくとも2種の金属の合金であることを特徴
とする〔1〕、〔2〕、〔3〕または〔4〕記載の3−
5族化合物半導体用電極。 〔6〕サファイア上に形成されたn型またはp型の一般
式Inx Gay Alz N(ただし、x+y+z=1、0
≦x≦1、0≦y≦1、0≦z≦1)で表される3−5
族化合物半導体と、〔1〕、〔2〕、〔3〕、〔4〕ま
たは〔5〕記載の3−5族化合物半導体用電極を用いた
ことを特徴とする発光素子。
【0008】次に本発明を詳細に説明する。一般に、L
EDとして用いられる半導体の形状は、ほぼ正方形であ
る。これは、正方形が、基板の切断が容易であり、基板
の無駄も少なく、さらにワイヤボンディング等のプロセ
スが行ないやすいからである。現在までに、正方形に切
断された半導体の隅にn電極を設ける方法が提案されて
いる(特開平6−338632号公報)。この場合のp
およびn電極の配置の概略を図2に示す。図2の波線で
の断面が図1に対応する。本発明の3−5族化合物半導
体用電極においては、n電極は発光部との距離がなるべ
く小さくなるように、発光面のほぼ中央に形成される。
本発明でのp電極とn電極の配置の概略を図3に示す。
また、図3の波線での断面を図4に示す。図2の場合、
n電極から最も遠い発光部位は、おおよそ発光素子の対
角線の長さだけ離れている。本発明の電極においては、
図3から明らかなように、n電極から最も離れている発
光部位は図2の場合に比べてほぼ半分だけ離れており、
図2の場合に比べて発光面の全体にわたり、より均一に
電流を供給できる。本発明において、上記の趣旨から、
本発明の目的を損なわない範囲で、必要に応じて発光面
の中央からずらせてもよい。具体的には、p電極の幾何
学的重心とp電極の周との中点の軌跡で囲まれる範囲内
にn電極を形成することが挙げられる。
EDとして用いられる半導体の形状は、ほぼ正方形であ
る。これは、正方形が、基板の切断が容易であり、基板
の無駄も少なく、さらにワイヤボンディング等のプロセ
スが行ないやすいからである。現在までに、正方形に切
断された半導体の隅にn電極を設ける方法が提案されて
いる(特開平6−338632号公報)。この場合のp
およびn電極の配置の概略を図2に示す。図2の波線で
の断面が図1に対応する。本発明の3−5族化合物半導
体用電極においては、n電極は発光部との距離がなるべ
く小さくなるように、発光面のほぼ中央に形成される。
本発明でのp電極とn電極の配置の概略を図3に示す。
また、図3の波線での断面を図4に示す。図2の場合、
n電極から最も遠い発光部位は、おおよそ発光素子の対
角線の長さだけ離れている。本発明の電極においては、
図3から明らかなように、n電極から最も離れている発
光部位は図2の場合に比べてほぼ半分だけ離れており、
図2の場合に比べて発光面の全体にわたり、より均一に
電流を供給できる。本発明において、上記の趣旨から、
本発明の目的を損なわない範囲で、必要に応じて発光面
の中央からずらせてもよい。具体的には、p電極の幾何
学的重心とp電極の周との中点の軌跡で囲まれる範囲内
にn電極を形成することが挙げられる。
【0009】p電極用材料としては、p層と接触抵抗の
低い材料を用いることが好ましい。具体的にはMg、Z
nおよびNiからなる群から選ばれた少なくとも1つの
金属と、Auとの合金が挙げられる。具体的には、Au
−Mg、Au−Zn、Au−Zn−Mg、Au−Niな
どが挙げられる。これらの合金は、熱処理を施すことで
電気的接触を増すことができる場合があり、成膜後に熱
処理を行なうのが好ましい。n電極用材料としては、n
層と接触抵抗の低い材料を用いることが好ましい。具体
的にはAl、Cr、TiもしくはInまたはAl、C
r、Ti、Inからなる群から選ばれた少なくとも2つ
の金属の合金が挙げられる。Alはn型の該3−5族化
合物半導体と低い接触抵抗を有し、また該3−5族化合
物半導体との密着性も優れており、特に好ましい。これ
らの電極材料は、通常の真空蒸着法により、該3−5族
化合物半導体上に成膜することで電極とすることができ
る。電極として合金を用いる場合には、合金を直接蒸着
することができる。また、合金の構成金属を別々の蒸着
源から同時に蒸着し、合金とすることもできる。さら
に、合金の構成金属を該3−5族化合物半導体上に積層
した後、熱を加えて合金化することもできる。
低い材料を用いることが好ましい。具体的にはMg、Z
nおよびNiからなる群から選ばれた少なくとも1つの
金属と、Auとの合金が挙げられる。具体的には、Au
−Mg、Au−Zn、Au−Zn−Mg、Au−Niな
どが挙げられる。これらの合金は、熱処理を施すことで
電気的接触を増すことができる場合があり、成膜後に熱
処理を行なうのが好ましい。n電極用材料としては、n
層と接触抵抗の低い材料を用いることが好ましい。具体
的にはAl、Cr、TiもしくはInまたはAl、C
r、Ti、Inからなる群から選ばれた少なくとも2つ
の金属の合金が挙げられる。Alはn型の該3−5族化
合物半導体と低い接触抵抗を有し、また該3−5族化合
物半導体との密着性も優れており、特に好ましい。これ
らの電極材料は、通常の真空蒸着法により、該3−5族
化合物半導体上に成膜することで電極とすることができ
る。電極として合金を用いる場合には、合金を直接蒸着
することができる。また、合金の構成金属を別々の蒸着
源から同時に蒸着し、合金とすることもできる。さら
に、合金の構成金属を該3−5族化合物半導体上に積層
した後、熱を加えて合金化することもできる。
【0010】該3−5族化合物半導体を用いた発光素子
において、基板側から光を取り出す場合と電極側から取
り出す場合とがある。基板側へ光を取り出す場合におい
ては、電極を形成した発光素子のチップは、リードフレ
ームに直接導電性接着剤で取付けられる。この場合、n
電極およびp電極の膜厚は充分な導電性が得られる程度
であればよい。光を電極側から取り出す場合において
は、p型電極は発光の取り出し効率を下げないよう充分
透光性であることが好ましい。そのためには、p型電極
の膜厚は1500Å以下が好ましく、さらに好ましくは
1000Å以下である。
において、基板側から光を取り出す場合と電極側から取
り出す場合とがある。基板側へ光を取り出す場合におい
ては、電極を形成した発光素子のチップは、リードフレ
ームに直接導電性接着剤で取付けられる。この場合、n
電極およびp電極の膜厚は充分な導電性が得られる程度
であればよい。光を電極側から取り出す場合において
は、p型電極は発光の取り出し効率を下げないよう充分
透光性であることが好ましい。そのためには、p型電極
の膜厚は1500Å以下が好ましく、さらに好ましくは
1000Å以下である。
【0011】ところで、本発明の発光素子において、電
極を通して光を取り出す場合、リードフレームはサファ
イア基板と接触し、電極とは直接には電気的接触をとる
ことができないため、リードフレームと電極は通常ワイ
ヤボンディングにより電気的接触をとることが好まし
い。上記p電極については該3−5族化合物半導体との
密着性が十分でなく、ワイヤボンディングすると容易に
剥離してしまう場合がある。このような場合には、該3
−5族化合物半導体と密着性のよい材料よりなる第2の
p電極を上記のp電極に積層して、密着性を改善でき
る。すなわち、第2のp電極を、上記p電極と、p型の
該3−5族化合物半導体層との両方の表面に連続して形
成することで、電気的特性を損なうことなく密着性のす
ぐれた電極とすることができる。この電極の積層構造の
例を図5に示す。また、この場合の電極の配置を図6に
示す。図6の波線での断面が図5である。ワイヤボンデ
ィングは図5、図6のa部、つまり第2のp電極とp型
層との接着面に行なう。このような目的に使用できる第
2のp電極用材料としては、Al、TiもしくはCrま
たはAl、Ti、Crからなる群から選ばれた少なくと
も2種の金属の合金が挙げられる。Alは該3−5族化
合物半導体との密着性が優れており、特に好ましい。
極を通して光を取り出す場合、リードフレームはサファ
イア基板と接触し、電極とは直接には電気的接触をとる
ことができないため、リードフレームと電極は通常ワイ
ヤボンディングにより電気的接触をとることが好まし
い。上記p電極については該3−5族化合物半導体との
密着性が十分でなく、ワイヤボンディングすると容易に
剥離してしまう場合がある。このような場合には、該3
−5族化合物半導体と密着性のよい材料よりなる第2の
p電極を上記のp電極に積層して、密着性を改善でき
る。すなわち、第2のp電極を、上記p電極と、p型の
該3−5族化合物半導体層との両方の表面に連続して形
成することで、電気的特性を損なうことなく密着性のす
ぐれた電極とすることができる。この電極の積層構造の
例を図5に示す。また、この場合の電極の配置を図6に
示す。図6の波線での断面が図5である。ワイヤボンデ
ィングは図5、図6のa部、つまり第2のp電極とp型
層との接着面に行なう。このような目的に使用できる第
2のp電極用材料としては、Al、TiもしくはCrま
たはAl、Ti、Crからなる群から選ばれた少なくと
も2種の金属の合金が挙げられる。Alは該3−5族化
合物半導体との密着性が優れており、特に好ましい。
【0012】
【実施例】以下、実施例により本発明を詳細に説明する
が、本発明はこれらの限定されるものではない。サファ
イア基板の上に、バッファ層、Siをドープしたn型G
aN層、In0. 25Ga0.85N発光層、Mgをドープした
p型GaN層を順に積層した該3−5族化合物半導体の
試料を用意する。p層は予め熱処理により低抵抗化して
おく。図7にその断面図を示す。最表面のp層の上にマ
スクを形成し、マスクに覆われた部分以外のp層と活性
層をエッチングにより取り除き、n層を露出させ、図8
に示す構造とする。
が、本発明はこれらの限定されるものではない。サファ
イア基板の上に、バッファ層、Siをドープしたn型G
aN層、In0. 25Ga0.85N発光層、Mgをドープした
p型GaN層を順に積層した該3−5族化合物半導体の
試料を用意する。p層は予め熱処理により低抵抗化して
おく。図7にその断面図を示す。最表面のp層の上にマ
スクを形成し、マスクに覆われた部分以外のp層と活性
層をエッチングにより取り除き、n層を露出させ、図8
に示す構造とする。
【0013】次にこの試料の上にp電極に対応するマス
クを形成し、MgとAuをこの順にそれぞれ100Å、
900Å蒸着する。さらに、窒素中、800℃で90秒
間アニールし、MgとAuとを合金化し、図9の構造と
する。次にこの上にp層上の第2のp電極とn電極に対
応したマスクを形成し、Alを蒸着し、図6の構造とす
る。このときn層が露出した部分に蒸着されたAlはn
電極として作用する。また、p層に蒸着されたAlは、
本発明における第2のp電極である。p電極であるAu
−Mg合金に接するように蒸着されたAlは、p層と直
接接している部分では、Alは該3−5族化合物半導体
と密着性がよいため良好なワイヤボンディングができ
る。また、すでに形成されているp電極と接しているた
め、p電極はAlを通して外部電極と良好な電気的接触
を持つ。こうして得られたLEDは図2に示すパターン
のものより均一な発光が得られる。
クを形成し、MgとAuをこの順にそれぞれ100Å、
900Å蒸着する。さらに、窒素中、800℃で90秒
間アニールし、MgとAuとを合金化し、図9の構造と
する。次にこの上にp層上の第2のp電極とn電極に対
応したマスクを形成し、Alを蒸着し、図6の構造とす
る。このときn層が露出した部分に蒸着されたAlはn
電極として作用する。また、p層に蒸着されたAlは、
本発明における第2のp電極である。p電極であるAu
−Mg合金に接するように蒸着されたAlは、p層と直
接接している部分では、Alは該3−5族化合物半導体
と密着性がよいため良好なワイヤボンディングができ
る。また、すでに形成されているp電極と接しているた
め、p電極はAlを通して外部電極と良好な電気的接触
を持つ。こうして得られたLEDは図2に示すパターン
のものより均一な発光が得られる。
【0014】
【発明の効果】本発明の3−5族化合物半導体用電極を
用いた発光素子は、発光面から均一な発光を得ることが
できるので工業的価値が大きい。
用いた発光素子は、発光面から均一な発光を得ることが
できるので工業的価値が大きい。
【図1】従来の発光素子の構造を示す断面図。
【図2】従来の発光素子の電極の配置を示す平面図。
【図3】本発明の発光素子の電極の配置を示す平面図。
【図4】本発明の発光素子の構造を示す断面図。
【図5】本発明の実施例における発光素子の構造を示す
断面図。
断面図。
【図6】本発明の実施例における発光素子の電極の配置
を示す平面図。
を示す平面図。
【図7】本発明の実施例における3−5族化合物半導体
の構造を示す断面図。
の構造を示す断面図。
【図8】3−5族化合物半導体のエッチング後の構造を
示す断面図。
示す断面図。
【図9】3−5族化合物半導体にp電極を形成した後の
構造を示す断面図。
構造を示す断面図。
1...サファイア基板 2...バッファ層 3...n型GaN層 4...InGaNからなる発光層 5...p型GaN層 6...p電極 7...n電極 8...第2のp電極
Claims (6)
- 【請求項1】サファイア上に形成されたn型またはp型
の一般式Inx Ga y Alz N(ただし、x+y+z=
1、0≦x≦1、0≦y≦1、0≦z≦1)で表される
3−5族化合物半導体に用いる電極において、n電極は
3−5族化合物半導体の面の実質的に中央部に形成され
てなり、p電極は同一面上に該n電極を囲む形状に形成
されてなることを特徴とする3−5族化合物半導体用電
極。 - 【請求項2】請求項1に記載のp電極の表面と、これと
接する3−5族化合物半導体のp層の表面とに、第2の
p電極が接することを特徴とする3−5族化合物半導体
用電極。 - 【請求項3】請求項1または2記載のp電極が、Mg、
ZnおよびNiからなる群から選ばれた少なくとも1つ
の金属と、Auとの合金であることを特徴とする請求項
1または2記載の3−5族化合物半導体用電極。 - 【請求項4】請求項2記載の第2のp電極が、Al、T
iもしくはCrまたはAl、Ti、Crからなる群から
選ばれた少なくとも2種の金属の合金であることを特徴
とする請求項1、2または3記載の3−5族化合物半導
体用電極。 - 【請求項5】請求項1記載のn電極がAl、Cr、Ti
もしくはInまたはAl、Cr、Ti、Inからなる群
から選ばれた少なくとも2種の金属の合金であることを
特徴とする請求項1、2、3または4記載の3−5族化
合物半導体用電極。 - 【請求項6】サファイア上に形成されたn型またはp型
の一般式Inx Ga y Alz N(ただし、x+y+z=
1、0≦x≦1、0≦y≦1、0≦z≦1)で表される
3−5族化合物半導体と、請求項1、2、3、4または
5記載の3−5族化合物半導体用電極を用いたことを特
徴とする発光素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10677095A JPH08306643A (ja) | 1995-04-28 | 1995-04-28 | 3−5族化合物半導体用電極および発光素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10677095A JPH08306643A (ja) | 1995-04-28 | 1995-04-28 | 3−5族化合物半導体用電極および発光素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08306643A true JPH08306643A (ja) | 1996-11-22 |
Family
ID=14442149
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10677095A Pending JPH08306643A (ja) | 1995-04-28 | 1995-04-28 | 3−5族化合物半導体用電極および発光素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH08306643A (ja) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10341039A (ja) * | 1997-04-10 | 1998-12-22 | Toshiba Corp | 半導体発光素子およびその製造方法 |
US6734091B2 (en) | 2002-06-28 | 2004-05-11 | Kopin Corporation | Electrode for p-type gallium nitride-based semiconductors |
US6881983B2 (en) | 2002-02-25 | 2005-04-19 | Kopin Corporation | Efficient light emitting diodes and lasers |
US6911079B2 (en) | 2002-04-19 | 2005-06-28 | Kopin Corporation | Method for reducing the resistivity of p-type II-VI and III-V semiconductors |
JP2008004729A (ja) * | 2006-06-22 | 2008-01-10 | Nichia Chem Ind Ltd | 半導体発光素子 |
JP4909448B2 (ja) * | 2010-04-01 | 2012-04-04 | パナソニック株式会社 | 窒化物系半導体素子およびその製造方法 |
US8441108B2 (en) | 2009-04-02 | 2013-05-14 | Panasonic Corporation | Nitride semiconductor element having electrode on m-plane and method for producing the same |
CN107195690A (zh) * | 2017-03-28 | 2017-09-22 | 南京邮电大学 | 基于p‑n结量子阱二极管器件的全双工通信芯片及制备方法 |
US11855238B2 (en) | 2016-12-16 | 2023-12-26 | Nichia Corporation | Light emitting element |
-
1995
- 1995-04-28 JP JP10677095A patent/JPH08306643A/ja active Pending
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