JPH04137377A - Icソケット - Google Patents

Icソケット

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Publication number
JPH04137377A
JPH04137377A JP26018790A JP26018790A JPH04137377A JP H04137377 A JPH04137377 A JP H04137377A JP 26018790 A JP26018790 A JP 26018790A JP 26018790 A JP26018790 A JP 26018790A JP H04137377 A JPH04137377 A JP H04137377A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
socket
contact
conductive film
anisotropic conductive
outer terminal
Prior art date
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Pending
Application number
JP26018790A
Other languages
English (en)
Inventor
Tsunehiro Koyama
恒弘 小山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、表面実装タイプのパッケージに封止された
半導体集積回路装置(IC)の測定に用いるICソケッ
トに関するものである。
〔従来の技術〕
第3図、第4図は従来のQ[JAD FLATパッケー
ジ用ICソケットの構成を示す平面図とその一部断面の
側面図で、図において、1はICの外部端子と接触し、
ICソケット外部よりの電気信号を工Cソケットを介し
て、ICに伝えるリード、2はICをICソケットに位
置合せするためのわく、3はICの外部端子のピッチず
れを防止する突起である。
次に使用方法について説明する。プリント基板などに実
装されたICソケットにICを装着する場合、ICの外
部端子とICソケットのリードの対応を確認した後、I
CをICソケットのわく2に嵌め込むと同時に、ICの
外部端子のピッチずれかないように、ICの外部端子を
足まがりの原因となる突起3をよけて、確実にリード1
に接触させる。
この状態で、ICの測定が可能となるが、ICの各外部
端子とリードとの接触不良が存在するため、ICソケッ
ト用のふた、または人手仁より、ICK荷重をかけ、接
触を保った状態でICの測定をするものであった。
〔発明が解決しようとする課題〕
従来のICソケットは以上のように構成されているので
、ICの外部端子の足まがりが発生しないように、確実
にICの外部端子をリードに接触させなければならず、
また、ICの外部端子とリードの接触不良がICの測定
時に判明した場合は、殆どの場合において足まがりのI
Cを発生させていた。
この発明は上記のような閏題点を解消するためになされ
たもので、ICの外部端子とリードが容易にかつ確実に
接触できるとともに、ICの外部端子のピッチずれによ
る足まがりのないICソケットを得ることを目的とする
〔課題を解決するための手段〕
この発明に係るICソケットは、ICの外部端子と接触
する部分に異方導電性フィルムを敷設し、ICの外部端
子とICソケットのリードを、この異方導電性フィルム
を介して接触、導通させるようにしたものである。
〔作用〕
この発明におけるICソケットは、ICの外部端子と接
触するICソケット側の端子は、異方導電性フィルムが
平らに配置されているので、足まがりの原因となるよう
な突起が存在しない。
〔実施例〕
以下、この発明の一実施例を図について説明する。上記
第3図、第4図に対応する第1図、第2図において、4
はICソケットの表面周辺部に敷設され、ICの外部端
子と接触する異方導電性フィルムであり、その接触位置
に対応する裏面側で、該異方導電性フィルム4と接触し
ているリード5があり、ICソゲット外部よりの信号を
ICに伝える。
このようなICソケットにおいて、ICを装着する場合
、ICの外部端子とICソケットのリードの対応を確認
した後、ICをICソケットのわく2に位置を合わせ、
ICに荷重をかけて、ICを測定する。
〔発明の効果〕
以上のようにこの発明によれば、ICの外部端子との接
触部分を異方導電性フィルムとしたことで、ICの足ま
がりの原因となるような突起をなくしたので、ICの外
観を損なうことなく測定が容易にでき、また、突起が存
在した部分にも、ICソケットのリードと異方導電性フ
ィルムとの接触領域を設けることにより、ICの外部端
子との接触可能面積が大きくとれるなどの多くのすぐれ
た効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例によるICソケットの平面
図、第2図は第1図の半部を■−■線断面で示した側面
図、第3図は従来のICソケットの平面図、第4図は第
3図の半部を1%’ −Th’線断面で示した側面図で
ある。 図中、2はわく、4は異方導電性フィルム、5はリード
である。 なお、図中同一符号は同−又は相当部分を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  表面実装型パッケージに封止された半導体集積回路装
    置の装着を行うICソケットにおいて、上記半導体集積
    回路装置の外部端子と接触する部分に異方導電性フィル
    ムを敷設し、この異方導電性フィルムの裏面側に接触し
    てリードが配置されているICソケット。
JP26018790A 1990-09-27 1990-09-27 Icソケット Pending JPH04137377A (ja)

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JPH04137377A true JPH04137377A (ja) 1992-05-12

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