JPH04133500A - 極性相違検出方法 - Google Patents
極性相違検出方法Info
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- JPH04133500A JPH04133500A JP2255684A JP25568490A JPH04133500A JP H04133500 A JPH04133500 A JP H04133500A JP 2255684 A JP2255684 A JP 2255684A JP 25568490 A JP25568490 A JP 25568490A JP H04133500 A JPH04133500 A JP H04133500A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 6
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 4
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 abstract description 5
- TVWHTOUAJSGEKT-UHFFFAOYSA-N chlorine trioxide Chemical compound [O]Cl(=O)=O TVWHTOUAJSGEKT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は基板の実装検査に際し、極性を有する搭載部品
の極性マークをカメラで撮像し、得られた画像の明るさ
を調べて極性相違を検出する極性相違検出方法に関する
。
の極性マークをカメラで撮像し、得られた画像の明るさ
を調べて極性相違を検出する極性相違検出方法に関する
。
従来、この種の極性相違検出方法は、搭載部品の極性マ
ーク位置をカメラで撮像し、得られた画像素子を２値化
して、特性値として面積１周囲長、角の数などを単独も
しくは統合してあらかじめ設定したしきい値と比較し、
不一致により極性相違と判定する方法となっていた。
ーク位置をカメラで撮像し、得られた画像素子を２値化
して、特性値として面積１周囲長、角の数などを単独も
しくは統合してあらかじめ設定したしきい値と比較し、
不一致により極性相違と判定する方法となっていた。
上述した従来の極性相違の検出方法は、極性マ一りに濃
度が薄い、かすれが発生している場合、面積１周囲共、
角の数などの特徴量は大きなばらつきを持ってし■うた
め、極性相違ではないにもかかわらず極性相違と誤判定
してしまう欠点があった。
度が薄い、かすれが発生している場合、面積１周囲共、
角の数などの特徴量は大きなばらつきを持ってし■うた
め、極性相違ではないにもかかわらず極性相違と誤判定
してしまう欠点があった。
本発明の目的は、極性マーク位置をマークウィンドウと
し、対称位置のウィンドウおよび一つの基準ウィンドウ
をあらかじめ設定して、それぞれの明るさを調べて、極
性の相違を判定することにより、上記欠点を除去する極
性相違検出方法を提供することにある。
し、対称位置のウィンドウおよび一つの基準ウィンドウ
をあらかじめ設定して、それぞれの明るさを調べて、極
性の相違を判定することにより、上記欠点を除去する極
性相違検出方法を提供することにある。
本発明による極性相違検出方法の基本構成は、基板の実
装検査に際し極性を有する搭載部品の極性マークをカメ
ラで撮像し、得られた画像の明るさを調べて極性相違を
検出する極性相違検出方法において、一端に極性マーク
を有するラベルと、極性マークからラベルの他端までの
、少くとも極性マークと下地部分との、明るさを画素子
から調べて一つの２値化レベルを設定するとともに、前
記極性マークの位置範囲を眺くマークウィンドウを設定
してこのマークウィンドウ内の前記ラベルの長さ方向に
垂直方向の画素ラインの本数を極性マークの特性値に設
定し、次いで画素ラインごとの画素子の明るさを調べて
前記２値化レベルで区分する画素子数の一つをしきい値
に設定したのち、少くとも前記マークウィンドウの画素
ラインごとの画素子の明るさを調べて前記しきい値で区
分した画素ラインの本数を前記特性値と比較して極性相
違を判定する。
装検査に際し極性を有する搭載部品の極性マークをカメ
ラで撮像し、得られた画像の明るさを調べて極性相違を
検出する極性相違検出方法において、一端に極性マーク
を有するラベルと、極性マークからラベルの他端までの
、少くとも極性マークと下地部分との、明るさを画素子
から調べて一つの２値化レベルを設定するとともに、前
記極性マークの位置範囲を眺くマークウィンドウを設定
してこのマークウィンドウ内の前記ラベルの長さ方向に
垂直方向の画素ラインの本数を極性マークの特性値に設
定し、次いで画素ラインごとの画素子の明るさを調べて
前記２値化レベルで区分する画素子数の一つをしきい値
に設定したのち、少くとも前記マークウィンドウの画素
ラインごとの画素子の明るさを調べて前記しきい値で区
分した画素ラインの本数を前記特性値と比較して極性相
違を判定する。
次に、本発明の一つの具体化構成は、基板の実装検査に
際し極性を有する搭載部品の極性マークをカメラで撮像
し、得られた画像の明るさを調べて極性相違を検出する
極性相違検出方法において、一端に極性マークを有する
ラベルの極性マーク位置にマークウィンドウを、またこ
の極性マーク位置の対称位置にマーク対称位置ウィンド
ウを、更にラベルを長さ方向に縦断する細長形状の基準
ウィンドウを、それぞれ設けると共に、前記マークウィ
ンドウの、前記基準ウィンドウの長さ方向に垂直方向の
、画素ラインの本数を極性マークの特性値に設定し、才
ず、前記基準ウィンドウの画素子の明るさを調べて一つ
の２値化レベルを設定したのち、前記画素ラインごとの
画素子を前記２値化レベルで区分した画素子数の一つを
しきい値に設定し、次いで前記マークウィンドウおよび
マーク対称位置ウィンドウの少くとも一方で前記画素ラ
インごとの画素子を調べて前記しきい値で区分した画素
ラインの本数を前記特性値と比較して極性相違を判定す
る。
際し極性を有する搭載部品の極性マークをカメラで撮像
し、得られた画像の明るさを調べて極性相違を検出する
極性相違検出方法において、一端に極性マークを有する
ラベルの極性マーク位置にマークウィンドウを、またこ
の極性マーク位置の対称位置にマーク対称位置ウィンド
ウを、更にラベルを長さ方向に縦断する細長形状の基準
ウィンドウを、それぞれ設けると共に、前記マークウィ
ンドウの、前記基準ウィンドウの長さ方向に垂直方向の
、画素ラインの本数を極性マークの特性値に設定し、才
ず、前記基準ウィンドウの画素子の明るさを調べて一つ
の２値化レベルを設定したのち、前記画素ラインごとの
画素子を前記２値化レベルで区分した画素子数の一つを
しきい値に設定し、次いで前記マークウィンドウおよび
マーク対称位置ウィンドウの少くとも一方で前記画素ラ
インごとの画素子を調べて前記しきい値で区分した画素
ラインの本数を前記特性値と比較して極性相違を判定す
る。
次に本発明について図面を参照して説明する。
第１図は本発明の一実施例を示す原理説明の参照図であ
る。第１図には、タンタルコンデンサの製品名が極性マ
ークとともに表示された例が示されう、すなわち、製品
名マークＣ１０５の符号Ｃの側に濃色により極性マーク
１が位置する。
る。第１図には、タンタルコンデンサの製品名が極性マ
ークとともに表示された例が示されう、すなわち、製品
名マークＣ１０５の符号Ｃの側に濃色により極性マーク
１が位置する。
極性マーク１の範囲をマークウィンドウ２とし、この位
置と対称の位置、すなわち部品の極性を逆にして搭載し
たとき極性マーク１がある位置、例えば図示するように
製品名マークＣｌＯ３の数字５のマークウィンドウ２と
同一範囲の位置をマーク対称位置ウィンドウ３とする。
置と対称の位置、すなわち部品の極性を逆にして搭載し
たとき極性マーク１がある位置、例えば図示するように
製品名マークＣｌＯ３の数字５のマークウィンドウ２と
同一範囲の位置をマーク対称位置ウィンドウ３とする。
また、極性マーク１および製品名マークＣｌＯ３を中央
位置で縦断する細長形状の基準ウィンドウ４が設定され
る。この基準ウィンドウ４は極性マークと下地の明るさ
を調べるウィンドウとなり、この基準ウィンドウ４内の
画素子の２値化レベル値によりしきい値が設定される。
位置で縦断する細長形状の基準ウィンドウ４が設定され
る。この基準ウィンドウ４は極性マークと下地の明るさ
を調べるウィンドウとなり、この基準ウィンドウ４内の
画素子の２値化レベル値によりしきい値が設定される。
また、基準ウィンドウ４の長さ方向に垂直方向の一画素
ライン５，６，７．８が図示される。画素ライン５．８
はマークウィンドウ２およびマーク対称位置ウィンドウ
３を含む両端に、また画素ライン５・６および画素ライ
ン７・８のそれぞれはマークウィンドウ２およびマーク
対称位置ウィンドウ３それぞれの両端に、それぞれ位置
する。
ライン５，６，７．８が図示される。画素ライン５．８
はマークウィンドウ２およびマーク対称位置ウィンドウ
３を含む両端に、また画素ライン５・６および画素ライ
ン７・８のそれぞれはマークウィンドウ２およびマーク
対称位置ウィンドウ３それぞれの両端に、それぞれ位置
する。
従って、極性相違検出方法は、撮像装置に、より得られ
た画素子の明るさを調べ、各ウィンドウ１．２．３の明
るさから極性相違を判定する。
た画素子の明るさを調べ、各ウィンドウ１．２．３の明
るさから極性相違を判定する。
次に、具体的な判定手順について説明する。
まず、基準ウィンドウ４の明るさを調べ、例えば平均値
を一つの２値化レベルに設定するとともに、各画素ライ
ンの画素の半数をしきい値に設定する。
を一つの２値化レベルに設定するとともに、各画素ライ
ンの画素の半数をしきい値に設定する。
次に、マークウィンドウ２の画素ライン５で、２値化レ
ベル以上の明るさの画素子を数え、この数がしきい値以
上であれば符号１を、またしきい値未満であれば符号０
を付す。次いで、隣りの画素ラインから画素ライン６ま
で同様手順によりそれぞれに符号を付す。
ベル以上の明るさの画素子を数え、この数がしきい値以
上であれば符号１を、またしきい値未満であれば符号０
を付す。次いで、隣りの画素ラインから画素ライン６ま
で同様手順によりそれぞれに符号を付す。
更に同様手順をマーク対称位置ウィンドウ３の画素ライ
ン７から画素ライン８まで実施してそれぞれ符号を付す
。
ン７から画素ライン８まで実施してそれぞれ符号を付す
。
次いでウィンドウ２，３それぞれで符号１をもつ画素ラ
インの数を調べ、ウィンドウ２の数がウィンドウ３の数
より多いとき、マークウィンドウ２が明るいことになる
ので、コンデンサの極性が逆であると判定される。
インの数を調べ、ウィンドウ２の数がウィンドウ３の数
より多いとき、マークウィンドウ２が明るいことになる
ので、コンデンサの極性が逆であると判定される。
上述の符号０・１を区別するしきい値は、極性マークと
対称位置にある数字・文字の画素ラインで２値化レベル
以上の明るさの画素子の最少値未満の数に設定するとき
、極性マークの対称位置の符号Ｏの画素ラインはほぼ数
値Ｏとなり、極性マークの側の画素ライン数との差が大
きくなる。
対称位置にある数字・文字の画素ラインで２値化レベル
以上の明るさの画素子の最少値未満の数に設定するとき
、極性マークの対称位置の符号Ｏの画素ラインはほぼ数
値Ｏとなり、極性マークの側の画素ライン数との差が大
きくなる。
また、しきい値からラインの全画素子数までの差が、か
すれなどによる画素抜けに対するマージンとして働く。
すれなどによる画素抜けに対するマージンとして働く。
すなわち、マーク対称位置ウィンドウで一方の符号の画
素ライン数をほぼ零にし、かつ極性マークの特性値との
差を最大にしてマージンを大きくするしきい値を設定す
ることが、判定を容易にする。
素ライン数をほぼ零にし、かつ極性マークの特性値との
差を最大にしてマージンを大きくするしきい値を設定す
ることが、判定を容易にする。
本実施例では、マーク対称位置ウィンドウを図示して説
明したが、２値化レベルおよびしきい値の設定ができれ
ば、マークウィンドウだけの画素子の明るさ測定で、極
性の相違が判定できる。
明したが、２値化レベルおよびしきい値の設定ができれ
ば、マークウィンドウだけの画素子の明るさ測定で、極
性の相違が判定できる。
以上説明したように本発明は、始めに極性マークと下地
の明るさとを照合して測定し、適切な２値化レベルを設
定するとともに、極性マークを表す特性値として一つの
しきい値を設定し、このしきい値をもって極性マークの
正常位置と、部品の逆取材けによる異常位置との明度を
測定して比較することにより、極性マークの濃度が薄く
ても、またかすれがあっても誤判定を少くできる効果が
ある。
の明るさとを照合して測定し、適切な２値化レベルを設
定するとともに、極性マークを表す特性値として一つの
しきい値を設定し、このしきい値をもって極性マークの
正常位置と、部品の逆取材けによる異常位置との明度を
測定して比較することにより、極性マークの濃度が薄く
ても、またかすれがあっても誤判定を少くできる効果が
ある。
第１図は本発明の極性相違検出方法の一実施例を示す説
明図である。 １・・・極性マーク、２，３．４・・・ウィンドウ、５
．６，７．８・・・画素ライン。
明図である。 １・・・極性マーク、２，３．４・・・ウィンドウ、５
．６，７．８・・・画素ライン。
Claims (2)
- １．基板の実装検査に際し極性を有する搭載部品の極性
マークをカメラで撮像し、得られた画像の明るさを調べ
て極性相違を検出する極性相違検出方法において、一端
に極性マークを有するラベルと、極性マークからラベル
の他端までの、少くとも極性マークと下地部分との、明
るさを画素子から調べて一つの２値化レベルを設定する
とともに、前記極性マークの位置範囲を眺くマークウィ
ンドウを設定してこのマークウィンドウ内の前記ラベル
の長さ方向に垂直方向の画素ラインの本数を極性マーク
の特性値に設定し、次いで画素ラインごとの画素子の明
るさを調べて前記２値化レベルで区分する画素子数の一
つをしきい値に設定したのち、少くとも前記マークウィ
ンドウの画素ラインごとの画素子の明るさを調べて前記
しきい値で区分した画素ラインの本数を前記特性値と比
較して極性相違を判定することを特徴とする極性相違検
出方法。 - ２．基板の実装検査に際し極性を有する搭載部品の極性
マークをカメラで撮像し、得られた画像の明るさを調べ
て極性相違を検出する極性相違検出方法において、一端
に極性マークを有するラベルの極性マーク位置にマーク
ウィンドウを、またこの極性マーク位置の対称位置にマ
ーク対称位置ウィンドウを、更にラベルを長さ方向に縦
断する細長形状の基準ウィンドウを、それぞれ設けると
共に、前記マークウィンドウの、前記基準ウィンドウの
長さ方向に垂直方向の、画素ラインの本数を極性マーク
の特性値に設定し、まず、前記基準ウィンドウの画素子
の明るさを調べて一つの２値化レベルを設定したのち、
前記画素ラインごとの画素子を前記２値化レベルで区分
した画素子数の一つをしきい値に設定し、次いで前記マ
ークウィンドウおよびマーク対称位置ウィンドウの少く
とも一方で前記画素ラインごとの画素子を調べて前記し
きい値で区分した画素ラインの本数を前記特性値と比較
して極性相違を判定することを特徴とする極性相違検出
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2255684A JP2534798B2 (ja) | 1990-09-26 | 1990-09-26 | 極性相違検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2255684A JP2534798B2 (ja) | 1990-09-26 | 1990-09-26 | 極性相違検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04133500A true JPH04133500A (ja) | 1992-05-07 |
| JP2534798B2 JP2534798B2 (ja) | 1996-09-18 |
Family
ID=17282190
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2255684A Expired - Lifetime JP2534798B2 (ja) | 1990-09-26 | 1990-09-26 | 極性相違検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2534798B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6680949B1 (en) | 1997-02-14 | 2004-01-20 | Siemens Aktiengesellschaft | Method and circuit arrangement for the transmission of message cells during the course of virtual connections having different priorities |
| US6801652B1 (en) | 1998-09-29 | 2004-10-05 | Siemens Aktiengesellschaft | Method for checking the presentation of components to an automatic onserting unit |
| JP2013033792A (ja) * | 2011-08-01 | 2013-02-14 | Panasonic Corp | 部品実装システム及び部品実装システムにおける検査用画像の生成方法 |
| WO2019075920A1 (zh) * | 2017-10-19 | 2019-04-25 | 上海望友信息科技有限公司 | 元器件极性检测方法、系统、计算机可读存储介质及设备 |
-
1990
- 1990-09-26 JP JP2255684A patent/JP2534798B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6680949B1 (en) | 1997-02-14 | 2004-01-20 | Siemens Aktiengesellschaft | Method and circuit arrangement for the transmission of message cells during the course of virtual connections having different priorities |
| US6801652B1 (en) | 1998-09-29 | 2004-10-05 | Siemens Aktiengesellschaft | Method for checking the presentation of components to an automatic onserting unit |
| JP2013033792A (ja) * | 2011-08-01 | 2013-02-14 | Panasonic Corp | 部品実装システム及び部品実装システムにおける検査用画像の生成方法 |
| WO2019075920A1 (zh) * | 2017-10-19 | 2019-04-25 | 上海望友信息科技有限公司 | 元器件极性检测方法、系统、计算机可读存储介质及设备 |
| JP2020537358A (ja) * | 2017-10-19 | 2020-12-17 | 上海望友信息科技有限公司 | 部品極性検出方法、システム、コンピュータで読取可能な記憶媒体及びデバイス |
| US11330705B2 (en) | 2017-10-19 | 2022-05-10 | Vayo (Shanghai) Technology Co., Ltd. | Method, system and apparatus for detecting polarity of component, and computer-readable storage medium |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2534798B2 (ja) | 1996-09-18 |
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