JPH04127008A

JPH04127008A - 捺印検査方式

Info

Publication number: JPH04127008A
Application number: JP16787090A
Authority: JP
Inventors: Kenji Sasaki; 健二佐々木; Hidefumi Hiromoto; 廣本　英史; Michio Otsuka; 倫生大塚
Original assignee: Matsushita Electric Works Ltd
Current assignee: Panasonic Electric Works Co Ltd
Priority date: 1990-05-28
Filing date: 1990-06-26
Publication date: 1992-04-28

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［産業上の利用分野１本発明は、画像処理により捺印状態を認識して自動的に
検査を行う捺印検査方式に関するものである。

［従来の技術１捺印検査ｉ置では、捺印状態を撮像装置で撮影し、その
画像信号をＡ／Ｄ変換した後に２値化し、２値化した画
像データの画素数をカウントして、そのカウント値が一
定範囲内である場合に良品と判定して、画像処理により
捺印状態を認識して自動的に検査を行うものがある。

［発明が解決しようとする課題ところで、上述の捺印検査装置では欠けや汚れを確実に
検査するためには、判定レベルの範囲を狭くする必要が
あり、従ってインクが薄くなった場合にも不良と判断さ
れる。しかし、この不良品を目視で判定した場合に、薄
−が良品と判断される場合が多く、人の感覚と合わない
判定結果となる問題があった。

本発明は上述の点に鑑みて為されたものであり、その目
的とするところは、人の感覚に合った良否判定が行える
捺印検査方式を提供することにある。

［課題を解決するための手段］上記目的を達成するために、本発明は複数個連続して不
良品とする判定が行われた場合に、以降の判定ではその
不良品を良品と判定するようにしである。

なお、インクが薄くなった後にも、欠けや汚れを確実に
判定する必要がある場合には、複数個連続して不良品と
する判定が行われた場合に、判定レベルあるいは２値化
レベルのいずれか一方をそれら不良品が良品と判定され
るレベルに変えるようにしても良い。

さらに、複数個連続して不良品とする判定が行われた場
合に、判定レベルあるいは２値化レベルのいずれか一方
をそれら不良品が良品と判定されるレベルに変える捺印
検査方式において、その後さらに複数個連続して不良品
とする判定が行われた場合、インク補充レベルに達した
と判断するようにすると、インク補充を自動的に行うこ
とを可能となる。

また、インクが薄くなった場合に不良と判定されるもの
を全く無くす必要がある場合には、良品と判定される判
定レベル内にインクが薄くなったものを識別するための
チェックレベルを設け、このチェックレベルを下回るも
のが複数個連続した場合に、判定レベルあるいは２値化
レベルのいずれか一方を薄くなったものを良品と判定す
るレベルに変えるようにすれば良い。

［作用１本発明は、上述のように接散個連続した不良判定は、欠
けや汚れ等による不良では起こりにくい現象であるので
、これを判別する、二とにより、欠けや汚れ等による不
良と、インクが薄くなった場合の不良とを識別できるよ
うにして、インクが薄イな、？−壕今Ｌｍ　１士４品と
げなせ石上”＋Ｉこ１−か転のである。

［実施例１］＠１図乃至ｔ！に３図に本発明の一実施例を示す。

本実施例の捺印検査装置では、カメラやイメージセンサ
等の撮像装置１で捺印状態を撮影し、この撮像装置１で
撮影した画像信号をＡ／Ｄ変換回路２でＡ／Ｄｉ換する
と共に、そのＡ／Ｄ！換した画像データをさらに白黒の
２画素に２値化回路３で２値化し、２値化した画像デー
タを画像７モリ４に記憶し、この画像メモリ４に記憶し
た画像データの黒画素または白画素のいずれかを、ｃｐ
ｕからなる＄ｊｌＪ　ｌｉｔ回路７の制御の下でアドレ
スメモリ６に予め記憶しである走査範囲に基づいてカウ
ンタ５でカウントし、そのカウント結果に応じて判定回
路８で捺印状態の良否判定を行う。

ところで、上記捺印検査装置でｒＡＪという文字の捺印
状態を検査した場合、捺印初期にはインクが多目につい
ているため、第３図（ｃ）に示すように文字が膨らんだ
状態になり、このため力ワンタヘめカウシＬ　４ｔｆ着
Ｃ十叛た確本土す　拳！デ　壊印をｍ９返すと、インク
かほど良い状態となり、第３図（ａ）に示すように鮮明
な文字となる。なお、第３図は画像メモリ４に記憶され
た画像を示し、破線でアドレスメモリ６で設定される走
査範囲を示す。第２図はＸ軸に経時的に捺印を行った場
合のサンプルを示すと共に、ｙ軸にカウンタ５で黒画素
をカウントした場合のカウント値を示すもので、判定回
路８ではそのカウント値が図中の上下の実線で示す判定
レベル内にあれば良品と判定する。

ところで、この種の捺印検査装置では、第３図（ｄ）、
（ｅ）に示すような欠けや汚れがあるものを不良と確実
に判定するためには、上記判定レベルは狭い範囲に設定
しなければならない。このため、例えばさらに捺印を繰
り返して、インクが薄くなり、第３図（ｂ）に示すよう
に文字がかすれた状態になると、この場合には上記判定
レベルの範囲以下にカウント値が低下するため、不良品
と判定される。しかし、このような不良品を目視で判定
すると、第３図（ｂ）の場合にはインクが薄いだけで問
題がない場合が多い。そこで、本実施例の判定回路８で
は複数のサンプルが連続して不良品と判定された場合に
は、それ以降は良品と判定するようにしである。つまり
、このような複数個数が連続する不良は、通常の欠けや
汚れの不良では起こりにくい現象であり、インクが薄い
場合を欠けや汚れと識別できるからである。また、それ
以降の不良品を良品としでも、目視で検査するとインク
が薄くなった状態では欠けや汚れもさほどに問題になら
ないという理由にもより、このようにすれば人の官能レ
ベルとあった捺印検査を行える。なお、不良が連続する
個数の規定は、検査サンプルにより異なるので、その都
度決定すれば良い。

［実施例２１本発明の他の実施例を第４図に示す。上述の第１の実施
例では連続して規定個数（ｐ！数個）が不良と判定され
た場合に、それ以降の不良品をすべて良品と判定するよ
うにしていたが、本実施例の場合はインクが薄い場合に
おいても第３図（ｄ）ｔ（ｅ）に示す欠けや汚れの不良
を判定する必要がある場合に適用されるもので、連続し
て規定個数が不良と判定された場合に、判定回路８の判
定レベルを第４図の実線で示すように下げて、インクが
薄い場合に不良品とならないようにしたものである。

なお、第４図の破線は初期の判定レベルを示す。

ところで、連続して規定個数が不良と判定された場合に
、判定レベルはそのままで、２値化回路３の２値化レベ
ルを下げても、判定レベルを下げた場合と同様の結果が
得られる。つまり、２値化レベルを下げると、黒画素の
カウント数が第５図の２重丸のように上がり、上述の場
合と同様にインクが薄い場合にも良品と判定することが
できる。

［実施例３］第６図に本発明のさらに他の実施例を示す。本実施例も
第２の実施例と同様に連続して規定個数が不良と判定さ
れた場合に判定レベルを下げるようにしたもので、本実
施例の場合には下げた判定レベルの下限値をその後さら
に下回る不良が規定個数（複数個）連続した場合、イン
ク補充が必要であると判定して、自動的にインク補充を
行うことを可能としたものである。なお、このようにす
ると、インク補充後に判定レベルがそのままであると、
良品を不良と判定してしまうので、このときには第６図
の実線で示すように判定レベルを初期レベルに戻すよう
にしである。なお、２値化レベルを下げる場合にも本実
施例を同様に適用でき、この場合には第７図に示すよう
にインク補充後に２値化レベルを上げれば良い。

［実施例４１＄８図に本発明のさらに他の実施例を示す。上述した第
２の実施例の場合には、判定レベルの下限値を下回る不
良が連続して規定個数に達したときに、判定レベルを下
げるようにしていたが、本実施例では判定レベルの下限
値よりも高いレベルにチェックレベルを設け、このチェ
ックレベルを下回るものが連続して規定個数に達したと
きに、判定レベルを下げるようにしたものである。つま
り、第２の実施例の場合には目視によれば良品と判定さ
れるべきものでも、判定レベルの下限値を下回る規定個
数は不良と判定されてしまうが、本実施例の場合には不
良と判定される前に判定レベルを下げることができるの
で、第２の実施例のようにインクが薄くなった場合に規
定個数の不良が発生するということがない。なお、上記
チェックレベル及び判定レベルを下げる個数は、検査サ
ンプルにより異なるので、その都度決定すれば良い。

また、連続して規定個数がチェックレベルを下回った場
合に、判定レベルはそのままで、２値化回路３の２値化
レベルを下げても、判定レベルを下げた場合と同様の結
果が得られる。

ところで、上述のように画像処理によって捺印状態を検
査する場合、捺印された物品を照明する照明装置の明る
さの変動の影響をまともに受ける問題がある。そこで、
在米では照明装置そのものに改善を加えて、出来るだけ
明るさの変動を小さく抑えたり、あるいは照明装置の明
るさを計測する計測装置を物品の近くに設置し、その計
測結果に応じて２値化レベルを変化されたりする二とが
試みられていた。しかし、前者の場合には照明装置の明
るさの変動を小さく抑えることには限界がある上、照明
Ｗｃ１ｌｆとして高価なものを必要とする問題があり、
また後者の場合には計測装置を別途必要とし、システム
のコストが高くなる問題がある。

上記従来方法の問題、くを解決し、照明装置の明るさの
変動による影響を小さく抑える方法としては、次の方法
がある。つまり、第９図に示すように、捺印された物品
イの近傍に物体口を設置し、捺印状態を撮影する場合に
上記物体口を一緒に撮影する。なお、第９図中の枠ハ内
が撮影する領域を示す。そして、上記物体口が映った部
分の画像信号を捺印検査の場合と同様にＡ／Ｄ変換した
後に２値化し、２値化した画像データの画素数をカウン
トする。このようにすれば、上記物体口は同一のらので
あるので、その画素数の変化は照明装置の明るさの変化
と一致する。従って、この検知結果に応じて上記物体口
部分の画素数が一定になるように２値化レベルを可変す
れば、照明装置の明るさの変動の影響を小さ（抑えるこ
とができる。

第１０図は照明装置の明るさが一定の場合を示し、第１
１図が明るさが変動した場合を示し、両図中においては
Ｘ印で物体口部分の画素数を示し、印で液卵部分の＃ｌ
素数を示す。

なお、２値化レベルは逐次的に可変しても良いが、照明
装置の微細な明るさの変動や、瞬時的な明るさの変動を
無視するために、複数回の検査における物体口部分の画
素数の平均値を求め、この平均値が第１２図に示す上限
レベル以上となってときに２値化レベルを下げ、下限レ
ベル以下となったときに２値化レベルを上げるというよ
うにしても良い。

ところで、物体ａ　／）＠像信号を２値化した画像信号
からも照明装置の明るさの変動を求めることができ、こ
れに応して捺印検査のための画像処理用の２値化レベル
を変えるようにしても良い。つまり、照明装置の明るさ
が明るくなると、２値化した画像データは第１３図（ａ
）の状態から同図（ｂ）のように変化し、また暗くなる
と第１４図（ａ）の状態から同図（ｂ）の状態に変化す
る。なお、第１３図及び第１４図中実線で画像信号を示
すと共に、破線で２値化したｉＩ像信号を示し、Ｖｔｈ
で２値化するしきい値を示す、ここで、照明装置の明る
さが一定であれば、２値化した画像信号は第１３図及び
第１４図共に（ａ）のものと一致する筈であるので、！
ｓ１３図（ｃ）あるいは第１４図（ｃ）に示すように２
値化した画像信号が一致するようにしきい値Ｖｔｈを可
変すると、照明装置の明るさに応じた変化を乙ｖｔｈが
求まる。従って、この変化量ｔ■ｔｈに応じて捺印検査
のための画像処理用の２値化レベルを可変すれば、照明
装置の明るさの変動を抑えることができるのである。

Ｌ発明の効果１本発明は上述のように、複数個連続して不良品とする判
定が行われた場合に、以降の判定ではその不良品を良品
と判定するようにしたものであり、複数個連続した不良
判定は欠けや汚れ等による不良では起こりにくい現象で
あるので、これを判別することにより、欠けや汚れ等に
よる不良と、インクが薄くなった場合の不良とを識別で
き、従ってインクが薄くなった場合には良品とすること
ができ、人の官能レベルと差の少ない捺印検査を行うこ
とができる。

また、複数＠連続して不良品とする判定が行われた場合
に、判定レベルあるいは２値化レベルのいずれか一方を
それら不良品が良品と判定されるレベル（こ変えるよう
（こすると、インクが薄くなった後にも欠けや汚れを判
定できる。

さらに、複数個連続して不良品とする判定が行われた場
合に、判定レベルあるいは２値化レベルのいずれか一方
をそれら不良品が良品と判定されるレベルに変える場合
において、その後さらに複数個連続して不良品とする判
定が行われた場合、インク補充レベルに達したと判断さ
せると、インクの補充を自動的に行わせることが可能と
なる。

さらにまた、良品と判定される判定レベル内にインクが
薄くなったものを識別するためのチェックレベルを設け
、このチェックレベルを下回るものが複数個連続した場
合に、判定レベルあるいは２値化レベルのいずれか一方
を薄くなったものを良品と判定するレベルに変えると、
インクが薄くなったことを良品と判定される間に識別で
き、このためインクが薄いもので不良と判定されるもの
を全く無くすことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図、第
２図は同上の良否判定方法の説明図、第３図（ａ）〜（
ｅ）は夫々文字の捺印状態の説明図、第４図は他の実施
例の良否判定方法の説明図、第５図は別の方法による良
否判定方法の説明図、第６図はさらに他の実施例の良否
判定方法の説明図、第７図は別の方法による良否判定方
法の説明図、第８図はさらに他の実施例の良否判定方法
の説明図、第９図は照明装置の明るさの変動の影響を小
さく抑える方法の説明図、第１０図及び第１１図は同上
の原理の説明図、第１２図は２値化レベルの可変方法の
説明図、第１３図及び第１４図は照明装置の明るさの変
動を検知する別方法の説明図である。１は撮像装置、２はＡ／Ｄ変換回路、３は２値化回路、
５はカウンタ、８は判定回路である。第１図第２図第３図（ｂ）（Ｃ）（ｄ）（ｅ）第４図第６図第７図第８１１！刀つ訃区第９図第１０図 ηクニトー１第１１図カウニト−１第！２図第１３図第１４図

Claims

【特許請求の範囲】

（１）捺印状態を撮像装置で撮影し、その画像信号をＡ
／Ｄ変換した後に２値化し、２値化した画像データの画
素数をカウントして、そのカウント値が一定範囲内であ
る場合に良品と判定する捺印検査方式において、複数個
連続して不良品とする判定が行われた場合に、以降の判
定ではその不良品を良品と判定して成ることを特徴とす
る捺印検査方式。
（２）捺印状態を撮像装置で撮影し、その画像信号をＡ
／Ｄ変換した後に２値化し、２値化した画像データの画
素数をカウントして、そのカウント値が一定範囲内であ
る場合に良品と判定する捺印検査方式において、複数個
連続して不良品とする判定が行われた場合に、判定レベ
ルあるいは２値化レベルのいずれか一方をそれら不良品
が良品と判定されるレベルに変えて成ることを特徴とす
る捺印検査方式。
（３）捺印状態を撮像装置で撮影し、その画像信号をＡ
／Ｄ変換した後に２値化し、２値化した画像データの一
素数をカウントして、そのカウント値が一定範囲内であ
る場合に良品と判定する捺印検査方式において、複数個
連続して不良品とする判定が行われた場合に、判定レベ
ルあるいは２値化レベルのいずれか一方をそれら不良品
が良品と判定されるレベルに変えると共に、その後さら
に複数個連続して不良品とする判定が行われた場合に、
インク補充レベルに達したと判断して成る捺印検査方式
。
（４）捺印状態を撮像装置で撮影し、その画像信号をＡ
／Ｄ変換した後に２値化し、２値化した画像データの画
素数をカウントして、そのカウント値が一定範囲内であ
る場合に良品と判定する捺印検査方式において、良品と
判定される判定レベル内にインクが薄くなったものを識
別するためのチェックレベルを設け、このチェックレベ
ルを下回るものが複数個連続した場合に、判定レベルあ
るいは２値化レベルのいずれか一方を薄くなったものを
良品と判定するレベルに変えて成ることを特徴とする捺
印検査方式。