JPH04132939A - 光学式穀粒分析装置 - Google Patents
光学式穀粒分析装置Info
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- JPH04132939A JPH04132939A JP2256338A JP25633890A JPH04132939A JP H04132939 A JPH04132939 A JP H04132939A JP 2256338 A JP2256338 A JP 2256338A JP 25633890 A JP25633890 A JP 25633890A JP H04132939 A JPH04132939 A JP H04132939A
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Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、分光分析の手法により穀粒の成分等を分析す
る光学式穀粒分析装置に関する。
る光学式穀粒分析装置に関する。
上記分析装置としては、従来、例えば、特公平１−４９
８９０号公報に示されるように試料容器の中に各ロフト
からサンプリングした穀粒を粉砕して収容し、穀粒の微
細粒からの散乱光を分析して穀粒の水分、蛋白質、澱粉
等の成分を分析するものがあった。
８９０号公報に示されるように試料容器の中に各ロフト
からサンプリングした穀粒を粉砕して収容し、穀粒の微
細粒からの散乱光を分析して穀粒の水分、蛋白質、澱粉
等の成分を分析するものがあった。
穀粒のうち米を例にとり説明すると一般に、米の含水量
については、一定値以下であることが規格で定められて
いるため乾燥作業が行われるのであるが、この乾燥が過
剰になり含水率か１４％以下となると炊飯時に米粒の亀
裂が生じその亀裂部から糊を放出し、べたついた米飯と
なって品質が低下する。このように、水分含量は米の品
質にとって重要な要素であるが、袋等の容器に蓄えられ
た米は中心側はど水分含量が高く、外側は水分含量が低
（なりやす（て水分濃度勾配が生じる傾向にある。そこ
で、従来の穀粒分析装置を使用して水分量を測定する場
合、試料を容積の小さな試料容器に一定量収容して測定
しなければならないために、袋詰め等されたロットの一
部をサンプリングして測定しなければならず、−製分の
穀粒全体の正確な水分の算出が必要な場合には、サンプ
リング回数を増し、１０ツト内で水分量に大きなバラツ
キがあればあるほどサンプリング回数を増加しなけらば
ならず、実質的に１袋全量を測定しなければ正確な測定
は不可能であった。しかし、１袋全量を定量づつサンプ
リングして測定するには時間を多く要し、しかも、測定
前に穀粒を粉細しなけらばならないために、手間が多く
かかりすぎて、実用的とは言い難かった。また、水分量
以外に、含有成分量等を測定して、着色米、被害米、北
米等の含有量を判定する場合も同様であった。
については、一定値以下であることが規格で定められて
いるため乾燥作業が行われるのであるが、この乾燥が過
剰になり含水率か１４％以下となると炊飯時に米粒の亀
裂が生じその亀裂部から糊を放出し、べたついた米飯と
なって品質が低下する。このように、水分含量は米の品
質にとって重要な要素であるが、袋等の容器に蓄えられ
た米は中心側はど水分含量が高く、外側は水分含量が低
（なりやす（て水分濃度勾配が生じる傾向にある。そこ
で、従来の穀粒分析装置を使用して水分量を測定する場
合、試料を容積の小さな試料容器に一定量収容して測定
しなければならないために、袋詰め等されたロットの一
部をサンプリングして測定しなければならず、−製分の
穀粒全体の正確な水分の算出が必要な場合には、サンプ
リング回数を増し、１０ツト内で水分量に大きなバラツ
キがあればあるほどサンプリング回数を増加しなけらば
ならず、実質的に１袋全量を測定しなければ正確な測定
は不可能であった。しかし、１袋全量を定量づつサンプ
リングして測定するには時間を多く要し、しかも、測定
前に穀粒を粉細しなけらばならないために、手間が多く
かかりすぎて、実用的とは言い難かった。また、水分量
以外に、含有成分量等を測定して、着色米、被害米、北
米等の含有量を判定する場合も同様であった。
本発明の目的は、多量の穀粒全体の品質測定を、短時間
で正確に行えるようにする点にある。
で正確に行えるようにする点にある。
上記目的達成のための本発明の特徴構成は穀粒の搬送路
と、該搬送路中の穀粒に対して光を照射する光源と、該
光源からの光のうち穀粒を透過した透過光を分光する分
光器と、該分光器からの光を受ける受光素子アレイを備
えてある点にある。
と、該搬送路中の穀粒に対して光を照射する光源と、該
光源からの光のうち穀粒を透過した透過光を分光する分
光器と、該分光器からの光を受ける受光素子アレイを備
えてある点にある。
上記構成によると、搬送路中において光源からの光路を
横切って移送される穀粒を測定することになるため、単
位穀粒当たりの測定時間は非常に短くできる。その上、
穀粒を透過した透過光を、分光器で分光して受光素子ア
レイか受けることによって、分光した各波長の光を同時
に受光して検出でき、例えば分光した特定波長の光を選
択的に穀粒に照射した後受光するのに比して搬送途中の
穀粒でも瞬時に広い波長域での透過度が測定できる。
横切って移送される穀粒を測定することになるため、単
位穀粒当たりの測定時間は非常に短くできる。その上、
穀粒を透過した透過光を、分光器で分光して受光素子ア
レイか受けることによって、分光した各波長の光を同時
に受光して検出でき、例えば分光した特定波長の光を選
択的に穀粒に照射した後受光するのに比して搬送途中の
穀粒でも瞬時に広い波長域での透過度が測定できる。
従って、本発明によればサンプリングを行うことなく測
定される穀粒の各ロットの全量の品質の測定を連続的に
短時間ですることができ、もって、穀粒のより正確な品
質の分析が作業性良く行えるようになった。
定される穀粒の各ロットの全量の品質の測定を連続的に
短時間ですることができ、もって、穀粒のより正確な品
質の分析が作業性良く行えるようになった。
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第１図に本発明に係る光学式穀粒分析装置（１）が示さ
れている。この装置（１）は、ハロゲンランプ製の光源
（２）と、穀粒が流下する搬送路（３Ａ）を形成するた
めの筒部（３）と、分光器（４）及び受光素子アレイ（
５）を備えて構成され、受光素子アレイ（５）からの情
報を演算する演算装置（６）及び演算結果を表示する表
示装置（７）が設けである。そして、前記筒部（３）に
は光源（２）から分光器（４）への光の透過を可能にす
る窓部（３Ｂ）が設けである。
れている。この装置（１）は、ハロゲンランプ製の光源
（２）と、穀粒が流下する搬送路（３Ａ）を形成するた
めの筒部（３）と、分光器（４）及び受光素子アレイ（
５）を備えて構成され、受光素子アレイ（５）からの情
報を演算する演算装置（６）及び演算結果を表示する表
示装置（７）が設けである。そして、前記筒部（３）に
は光源（２）から分光器（４）への光の透過を可能にす
る窓部（３Ｂ）が設けである。
前記光源（２）は、可視〜近赤外領域の連続光を照射で
き、この連続光が順次送られてくる搬送路中の穀粒に直
接照射される。そして、穀粒を透過した光は分光器（４
）により各波長の光に分光された後、受光素子アレイ（
５）で各波長領域における吸光度が同時に測定される。
き、この連続光が順次送られてくる搬送路中の穀粒に直
接照射される。そして、穀粒を透過した光は分光器（４
）により各波長の光に分光された後、受光素子アレイ（
５）で各波長領域における吸光度が同時に測定される。
穀粒中の水分、蛋白質及び澱粉等の量はあらかじめ化学
的方法により求めた各成分の含有量とそのときの各成分
に特異的な近赤外領域の波長における吸光度とから演算
式が作成されたおり、その演算式に基づいて水分、蛋白
質、澱粉等の成分含有量が演算される。また、着色粒の
含有率は可視光全体の吸光度の変化により推定できる。
的方法により求めた各成分の含有量とそのときの各成分
に特異的な近赤外領域の波長における吸光度とから演算
式が作成されたおり、その演算式に基づいて水分、蛋白
質、澱粉等の成分含有量が演算される。また、着色粒の
含有率は可視光全体の吸光度の変化により推定できる。
そして、各成分の含有量及び着色粒混入率等の測定値か
ら穀粒の品質を評価し、その評価結果を表示装置（７）
に表示する。
ら穀粒の品質を評価し、その評価結果を表示装置（７）
に表示する。
第２図に上記実施例に示した光学式穀粒分析装置（１）
を組み込んだ穀粒自動分配装置が示されている。この分
配装置は穀粒投入部（８）と、穀粒分析装置（１）と、
制御装置（９）と、搬送路（３Ａ）を形成する筒部（３
）と、搬送路（３Ａ）から各貯蔵タンク（１０）への穀
粒を流下案内する案内管（１１）とから構成され、この
案内管（１１）には夫々制御装置（９）により開閉され
る切換えバルブ（１２）が設けである。
を組み込んだ穀粒自動分配装置が示されている。この分
配装置は穀粒投入部（８）と、穀粒分析装置（１）と、
制御装置（９）と、搬送路（３Ａ）を形成する筒部（３
）と、搬送路（３Ａ）から各貯蔵タンク（１０）への穀
粒を流下案内する案内管（１１）とから構成され、この
案内管（１１）には夫々制御装置（９）により開閉され
る切換えバルブ（１２）が設けである。
上記構成によると、穀粒投入口（８）から搬送されてき
た穀粒は、前記穀粒分析装置（１）で測定されて穀粒の
品質が評価される。そして、各貯蔵タンク（１０）は、
蓄えられる穀粒の品質が予め定められており、測定機後
方に搬送された穀粒か品質評価値に対応した貯蔵タンク
（１ｏ）上にきたときに制御装置（９）により該貯蔵タ
ンク（１０）上の切換バルブ（１２）が開かれる。つま
り、穀粒の品質が不均一な場合に、一定の品質の穀粒ご
とに、分けることが可能となる。
た穀粒は、前記穀粒分析装置（１）で測定されて穀粒の
品質が評価される。そして、各貯蔵タンク（１０）は、
蓄えられる穀粒の品質が予め定められており、測定機後
方に搬送された穀粒か品質評価値に対応した貯蔵タンク
（１ｏ）上にきたときに制御装置（９）により該貯蔵タ
ンク（１０）上の切換バルブ（１２）が開かれる。つま
り、穀粒の品質が不均一な場合に、一定の品質の穀粒ご
とに、分けることが可能となる。
尚、特許請求の範囲の項に図面との対照を便利にする為
に番号を記すが、該記入により本発明は添付図面の構成
に限定されるものではない。
に番号を記すが、該記入により本発明は添付図面の構成
に限定されるものではない。
図面は本発明に係る光学式穀粒分析装置の実施例を示し
、第１図は本発明の光学式穀粒分析装置の概略説明図、
第２図は本発明の装置を応用した穀粒自動分配装置の概
略図である。 （２）・・・・・・光源、（３Ａ）・・・・・・搬送路
、（４）・・・・・・分光器、（５）・・・・・・受光
素子アレイ。
、第１図は本発明の光学式穀粒分析装置の概略説明図、
第２図は本発明の装置を応用した穀粒自動分配装置の概
略図である。 （２）・・・・・・光源、（３Ａ）・・・・・・搬送路
、（４）・・・・・・分光器、（５）・・・・・・受光
素子アレイ。
Claims (1)
- 穀粒の搬送路（３Ａ）と、該搬送路中の穀粒に対して光
を照射する光源（２）と、該光源（２）からの光のうち
穀粒を透過した透過光を分光する分光器（４）と、該分
光器（４）からの光を受ける受光素子アレイ（５）を備
えてある光学式穀粒分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2256338A JPH04132939A (ja) | 1990-09-25 | 1990-09-25 | 光学式穀粒分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2256338A JPH04132939A (ja) | 1990-09-25 | 1990-09-25 | 光学式穀粒分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04132939A true JPH04132939A (ja) | 1992-05-07 |
Family
ID=17291286
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2256338A Pending JPH04132939A (ja) | 1990-09-25 | 1990-09-25 | 光学式穀粒分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04132939A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008175760A (ja) * | 2007-01-22 | 2008-07-31 | National Agriculture & Food Research Organization | 穀物の品質評価装置 |
| JP2017191058A (ja) * | 2016-04-15 | 2017-10-19 | 株式会社クボタ | 乾燥機及び乾燥機用分光分析装置 |
| JP2020056573A (ja) * | 2016-04-15 | 2020-04-09 | 株式会社クボタ | 分光分析装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6230941A (ja) * | 1985-07-31 | 1987-02-09 | Iseki & Co Ltd | 穀粒検査装置 |
| JPS631937A (ja) * | 1986-06-23 | 1988-01-06 | Hitachi Ltd | 分光分析装置 |
| JPH03269347A (ja) * | 1990-03-15 | 1991-11-29 | Seals Instr Ltd | 電気分光定量分析装置 |
-
1990
- 1990-09-25 JP JP2256338A patent/JPH04132939A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6230941A (ja) * | 1985-07-31 | 1987-02-09 | Iseki & Co Ltd | 穀粒検査装置 |
| JPS631937A (ja) * | 1986-06-23 | 1988-01-06 | Hitachi Ltd | 分光分析装置 |
| JPH03269347A (ja) * | 1990-03-15 | 1991-11-29 | Seals Instr Ltd | 電気分光定量分析装置 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008175760A (ja) * | 2007-01-22 | 2008-07-31 | National Agriculture & Food Research Organization | 穀物の品質評価装置 |
| JP2017191058A (ja) * | 2016-04-15 | 2017-10-19 | 株式会社クボタ | 乾燥機及び乾燥機用分光分析装置 |
| WO2017179662A1 (ja) * | 2016-04-15 | 2017-10-19 | 株式会社クボタ | 乾燥機及び乾燥機用分光分析装置 |
| JP2020056573A (ja) * | 2016-04-15 | 2020-04-09 | 株式会社クボタ | 分光分析装置 |
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