JPH04123550U - Lead frame - Google Patents
Lead frameInfo
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- JPH04123550U JPH04123550U JP3819091U JP3819091U JPH04123550U JP H04123550 U JPH04123550 U JP H04123550U JP 3819091 U JP3819091 U JP 3819091U JP 3819091 U JP3819091 U JP 3819091U JP H04123550 U JPH04123550 U JP H04123550U
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 防湿性の低下を防止するために表面加工を施
すリードフレームにおけるワイヤボンディング性低下を
防ぐことを目的とする。
【構成】 表面加工対象領域からワイヤボンディングエ
リアを除外した。
(57) [Summary] [Purpose] The purpose is to prevent deterioration in wire bonding properties in lead frames that are surface-treated to prevent deterioration in moisture resistance. [Configuration] The wire bonding area has been excluded from the surface processing target area.
Description
【0001】0001
本考案は、半導体装置の組立てに用いるリードフレーム、特に、リード部表面 と樹脂の接着部を伝って侵入する湿気による防湿性の低下を防止する構造に関す る。 The present invention relates to a lead frame used for assembling semiconductor devices, especially the surface of the lead part. Concerning the structure that prevents the deterioration of moisture resistance due to moisture entering through the bond between the Ru.
【0002】0002
一部の樹脂封止構造の半導体装置で、リード部表面と樹脂との接着部を伝って 湿気が侵入し、タブ部表面に接着した半導体チップとリード部にボンディングし たワイヤの防湿性が低下するのを防止する対策として、使用するリードフレーム 表面にV溝、しぼ加工等の表面加工を施すものがある。この場合、従来は、リー ド部、タブ部の樹脂と接する表面全域に表面加工を施す方法が採られてきた。 In some semiconductor devices with a resin-sealed structure, the Moisture may enter and bond the semiconductor chip adhered to the surface of the tab and the leads. As a measure to prevent the moisture resistance of wires from deteriorating, Some have surface treatments such as V-grooves and graining on the surface. In this case, traditionally A method has been adopted in which surface treatment is applied to the entire surface of the dot and tab parts that come into contact with the resin.
【0003】 図3は従来のこの種のリードフレームにおけるボンディングワイヤの接着状態 の一例を拡大して示す。図において2はリード部、4はボンディングワイヤであ る。0003 Figure 3 shows the bonding state of bonding wires in a conventional lead frame of this type. An enlarged example is shown below. In the figure, 2 is a lead part and 4 is a bonding wire. Ru.
【0004】0004
従来のこの種のリードフレームでは、リード部のワイヤボンディングエリアも 表面加工が施されているので、ボンディングワイヤとリード部の接着部には、図 3に示すように、接着されない部分ができ、信頼性の面で好ましくないという問 題があった。本考案は上記の問題を解消することを目的とする。 In conventional lead frames of this type, the wire bonding area of the leads also Since the surface has been treated, the bonding area between the bonding wire and the lead part is As shown in Figure 3, there are parts that are not bonded, which is unfavorable in terms of reliability. There was a problem. The present invention aims to solve the above problems.
【0005】[0005]
本考案のリードフレームは、リード部やタブ部表面に表面加工を施すリードフ レームにおいて、リード部のワイヤボンディングエリアを表面加工対象領域から 除外したものである。 The lead frame of this invention is a lead frame with surface treatment applied to the lead and tab surfaces. In the frame, move the wire bonding area of the lead part from the area to be surface processed. It has been excluded.
【0006】[0006]
図1は本考案の一実施例を示す。図において1はタブ部、2はリード部、3は タブ部1表面に接着した半導体チップ、4は半導体チップ3表面の電極パットと リード部2を接続するボンディングワイヤ、5は外部樹脂、6は内部樹脂、7は ワイヤボンディングエリアであり、図1(a)は内部樹脂6を除き上から見た構 造を示す平面図、図1(b)は図1(a)に示すA−Aにおける断面を示す断面 図である。 表面加工対象領域から除外したワイヤボンディングエリア7の平らな表面にワ イヤ4がボンディングされるので、ワイヤ4が確実に接着され、安定したワイヤ ボンディングが得られる。 FIG. 1 shows an embodiment of the present invention. In the figure, 1 is the tab part, 2 is the lead part, and 3 is the tab part. The semiconductor chip is bonded to the surface of the tab part 1, and 4 is the electrode pad on the surface of the semiconductor chip 3. Bonding wire connecting lead part 2, 5 is external resin, 6 is internal resin, 7 is This is the wire bonding area, and Figure 1(a) shows the structure seen from above excluding the internal resin 6. Figure 1(b) is a cross-sectional view taken along line A-A shown in Figure 1(a). It is a diagram. A wire is placed on the flat surface of the wire bonding area 7, which is excluded from the surface processing target area. Since the ear 4 is bonded, the wire 4 is firmly bonded and the wire is stable. Bonding is obtained.
【0007】 上記構造のリードフレームは、リードフレームのスタンピング時に表面加工す るステージを設け、ワイヤボンディングエリアの部分だけが表面加工されない金 型により表面加工する方法によるか、または、サンドブラスト、液体ホーニング によりワイヤボンディングエリアの部分をマスキングして、表面加工されないよ うにし、他の部分を表面加工する方法により得ることができる。[0007] The lead frame with the above structure requires surface processing during stamping of the lead frame. A stage is set up to ensure that only the wire bonding area is covered with unprocessed gold. By surface processing method by mold, sandblasting, liquid honing Mask the wire bonding area to prevent surface processing. It can be obtained by a method in which the other parts are surface-treated.
【0008】 図2は図1のワイヤボンディングエリア7表面へのワイヤ4の接着状態を拡大 して示す。平らな表面のために、確実な接着が得られる。[0008] Figure 2 is an enlarged view of the bonding state of wire 4 to the surface of wire bonding area 7 in Figure 1. and show. Due to the flat surface, reliable adhesion is obtained.
【0009】[0009]
以上説明したように、本考案によれば、防湿性を高め、ワイヤボンディングの 信頼性を高めることができるという効果がある。 As explained above, the present invention improves moisture resistance and improves wire bonding. This has the effect of increasing reliability.
【図1】本考案の一実施例を示す平面図、断面図であ
る。FIG. 1 is a plan view and a sectional view showing an embodiment of the present invention.
【図2】図1のワイヤボンディングエリア表面へのワイ
ヤの接着状態を示す拡大図である。FIG. 2 is an enlarged view showing how wires are bonded to the surface of the wire bonding area in FIG. 1;
【図3】従来のこの種のリードフレームにおけるボンデ
ィングワイヤの接着状態の一例を示す拡大図である。FIG. 3 is an enlarged view showing an example of the bonding state of bonding wires in a conventional lead frame of this type.
1 タブ部 2 リード部 3 半導体チップ 4 ボンディングワイヤ 5 外部樹脂 6 内部樹脂 7 ワイヤボンディングエリア 1 Tab section 2 Lead part 3 Semiconductor chip 4 Bonding wire 5 External resin 6 Internal resin 7 Wire bonding area
Claims (1)
入する湿気がタブ部表面に接着した半導体チップとリー
ド部にボンディングしたワイヤに及ぶのを防止する対策
としてリード部やタブ部表面に表面加工を施すリードフ
レームにおいて、リード部のワイヤボンディングエリア
を表面加工対象領域から除外したことを特徴とするリー
ドフレーム。Claim 1: As a measure to prevent moisture from penetrating through the bond between the lead part surface and the resin from reaching the semiconductor chip adhered to the tab part surface and the wire bonded to the lead part, the lead part and the tab part surface are coated. A lead frame to which a surface treatment is applied, characterized in that a wire bonding area of a lead portion is excluded from a surface treatment target area.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3819091U JPH04123550U (en) | 1991-04-26 | 1991-04-26 | Lead frame |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3819091U JPH04123550U (en) | 1991-04-26 | 1991-04-26 | Lead frame |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04123550U true JPH04123550U (en) | 1992-11-09 |
Family
ID=31919778
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3819091U Pending JPH04123550U (en) | 1991-04-26 | 1991-04-26 | Lead frame |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04123550U (en) |
-
1991
- 1991-04-26 JP JP3819091U patent/JPH04123550U/en active Pending
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