JPH04112054A - 感熱記録方法 - Google Patents

感熱記録方法

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JPH04112054A
JPH04112054A JP2233018A JP23301890A JPH04112054A JP H04112054 A JPH04112054 A JP H04112054A JP 2233018 A JP2233018 A JP 2233018A JP 23301890 A JP23301890 A JP 23301890A JP H04112054 A JPH04112054 A JP H04112054A
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    • B41J2/315Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by selective application of heat to a heat sensitive printing or impression-transfer material
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    • B41J2/35Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by selective application of heat to a heat sensitive printing or impression-transfer material using thermal heads providing current or voltage to the thermal head
    • B41J2/355Control circuits for heating-element selection
    • B41J2/36Print density control
    • B41J2/365Print density control by compensation for variation in temperature

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ファクシミリ装置等の感熱記録方法に関し、
特に濃度のバラツキを減少させることが可能な感熱記録
方法に関する。
〔従来の技術〕
従来の感熱記録装置では、高速記録を行う場合、記録濃
度は記録間隔時間に影響される。
例えば、1 、8 m5ecの時間幅をもつ記録電力パ
ルスで発熱要素を熱的に駆動した場合、所定の記録濃度
で記録され、その発熱要素は10m5ec程度後に蓄熱
状態から基底温度レベルに復帰する。この際、発熱要素
から発色剤または転写剤へ与えられる熱エネルギーによ
って記録濃度が決まり、高蓄熱状態で熱駆動するほど濃
く記録される。そして、発熱要素が基底温度レベルへ落
ちるのを待って次の記録を行う。
しかし、この方法では、記録周期が2.011sec程
度以下の高速記録が要求される場合に対応できず、蓄熱
状態で次の記録を行わざるを得ないため、例えば特開昭
55−142675号公報に記載されているような装置
が提案されている。
この装置では、予定濃度を与える記録間隔時間と記録電
力パルスの時間幅との関係を予め記録しておき、各発熱
要素に実際の記録間隔時間を測定し、その測定結果に応
じて熱駆動の記録電力パルス幅を選択している。これに
より、予定濃度での記録を蓄熱状態で開始でき、記録の
ために予定された時間間隔が一定しない場合でも運用可
能である。
この他にも、蓄熱状態から急速に基底温度レベルへ落と
す方法や発熱要素温度に応じたパルス幅を選択する方法
が提案されている。
ここで、発熱要素の温度と記録電力パルス幅の関係につ
いて述べる。
第2図は、感熱記録装置における発熱要素の温度と記録
電力パルス幅との関係を示す説明図、第3図は感熱記録
装置における発熱要素部分の構成図、第4図は感熱記録
装置におけるサーミスタ抵抗値と温度の関係を示す説明
図、第5図は感熱記録装置におけるサーミスタ抵抗値の
きざみを一定にした場合の記録電力パルス幅と温度の関
係を示す説明図である。
一般には、感熱記録時の濃度むらをなくすため、適切な
印字濃度を与える必要があり、この場合、発熱要素の温
度Tにより記録電力パルス幅Hpwを変化させることが
考えられる。
これらの関係は、第2図(a)に示され、温度20℃を
境にして、2つの傾きをもつ直線で近似できる。また、
理想的には、(a)のように各温度に対して対応した記
録電力パルス幅を選択すればよいが、実際は適応温度(
例えば5〜60℃)での数点の記録電力パルス幅値を決
定し、(b)のように上記直線を近似している。
また、発熱要素の温度Tは、第3図のように、発熱要素
体(例えばサーマルヘッド)にサーミスタ34を取り付
け、そのサーミスタ抵抗値を測定することにより、温度
Tを測定して記録電力パルス幅Hpwを選択している場
合が一般的である。なお、第3図において、31はサー
ミスタ抵抗値を測定するための8ビツトカウンタ、32
はシュミット入力、33はオープンドレイン出力、35
は抵抗を示す。
このサーミスタ抵抗値(ThN)は、一般に次式の関係
を持つ双曲線で表わされる。
ThN=R,expB(1/TN−1/T、)但し、 ThN、TN℃でのサーミスタ抵抗値 R0: T、(25℃)でのサーミスタ抵抗値B:熱感
度定数 T、:25℃(298,15K) である。
また、サーミスタ抵抗値ThNと温度TNの間係は、第
4図のように示される。
(a)は、サーミスタ抵抗値ThNのきざみを一定(T
hN=h)にした場合を示し、温度TNのきざみは高温
側であらくなる(Ta<Tb<r、<・・・<Tn)。
この場合、記録電力パルス幅Hpwと、サーミスタ抵抗
値が示す温度Tの関係は、第5図のように、低温側では
理想直線に近づくが、高温側では記録電力パルス幅Th
のきざみが大きく、濃度差が生じる原因となる。
また、第4図(b)は、逆に記録電力パルス幅Thの変
化量が濃度差一定になるように、温度TNのきざみを一
定(TN=t)にした場合を示し、この場合、ThNの
変化量を見ると、高温側ではThNが微小になっている
(Tha>Thn)。
従って、実際には、サーミスタ抵抗値ThNの実際の変
化量が記録電力パルス幅Hpwに追従しきれず、結局、
高温側での記録電力パルス幅Hpwのきざみが一定にな
らず、また、低温側では、第5図より粗いものになって
濃度のバラツキが生じる原因となる。
〔発明が解決しようとする課題〕
上記従来技術では、サーミスタ抵抗値ThNの実際の変
化量が記録電力パルス幅Hpwに追従しきれず、濃度の
バラツキが生じるという問題があった。
本発明の目的は、濃度むらの原因となる記録電力パルス
幅とサーミスタ値(温度)に適切な補正を与えて熱駆動
することにより、このような問題点を改善して、温度む
らを減少させることが可能な感熱記録方法を提供するこ
とにある。
[課題を解決するための手段] 上記目的を達成するため、本発明の感熱記録方法は、発
熱要素の温度と記録電力パルス幅の関係を示すテーブル
を格納するROMを有し、一定しない時間間隔で感熱記
録を行うファクシミリ等の感熱記録装置において、ある
時間間隔で測定した発熱要素の温度に対応する記録電力
パルス幅(測定パルス幅)、および印字出力の際の記録
電力パルス幅(印字パルス幅)を設定するためのRAM
を備え、ある時間間隔でサーミスタにより発熱要素ごと
の温度を測定して、上記テーブルを参照し、その測定温
度に対応する記録電力パルス幅を選択して、その時間間
隔を分割するか、あるいは延長するかして変更し、当該
記録電力パルス幅をサーミスタ抵抗値と発熱要素の温度
との関係に基づいて補正することにより、印字出力の際
の記録電力パルス幅を段階的に変化させることに特徴が
ある。
〔作用J 本発明においては、システム制御部の測定パルス幅RA
Mには、測定温度に対応した記録電力パルス幅値を設定
する。
また、印字パルス幅RAMには、ある時間間隔ごとに測
定パルス幅RAMの値を設定し、さらに、その時間間隔
を分割して得た時間ごとにその値と印字パルス幅を比較
して、分割前の間隔時間になるまで、段階的に変化させ
た印字パルス幅を設定する。
これにより、発熱要素の温度が高い場合でも、適当な記
録電力パルス幅を設定することができ、濃度むらを減少
させることが可能である。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例を図面により説明する。
まず、本発明の感熱記録方法の原理について述べる。
第6図は、サーミスタ値と発熱要素の温度との関係を示
す説明図、第7図は本発明の一実施例における補正の説
明図、第8図は本発明の一実施例における測定パルス幅
と印字パルス幅の関係を示す説明図である。
サーミスタを有するサーマルヘッド部(第3図)により
感熱記録を行う場合、記録電力パルス幅と温度の近似は
、従来技術の説明で第2図(b)に示したように、記録
電力パルス幅の変化量が一定で、かつ細いことが要求さ
れる。この際、低温側では温度のきざみが小さい方がよ
り理想の直線に近似される。
しかし、第4図(b)に示したように、低温側では測定
しているサーミスタ値の温度変化による変化量(Tba
)が大きいので、測定精度は高いが、高温側では変化量
が微小(T hn; O)となるため、第6図に示すよ
うに、実際はある一定値以上では温度変化量が固定的に
決まってしまう。
さらに、これを記録電力パルス幅と温度のグラフにして
、第2図(b)に示したグラフの補正グラフを作ると、
第7図のようになる。この場合、低温側では、理想直線
にほぼ近似しているが、高温側では、記録電力パルス幅
の変化量が大きくなっている。このデータを作って感熱
記録を行うと、温度A近くでは、温度変化により記録電
力パルス幅が大きくかわるため、濃度むらが発生し易い
例えば、160m5ごとに温度を測定して記録電力パル
ス幅の値を設定している場合、第8図の実線部分で示す
ように、温度変化により記録電力パルス幅が大きくかわ
る。
本実施例では、このような記録電力パルス幅値のギャッ
プを補正するため、点線部分で示すように間隔時間を4
分割し、第7図の補正グラフをもとに、40m5ごとに
記録電力パルス幅を除々に変化させるように制御する。
次に、本発明の感熱記録方法をファクシミリ装置に適用
した場合について述べる。
第1図は、本発明の一実施例における感熱記録方法を示
すフローチャート、第9図は本発明の一実施例における
ファクシミリ装置の構成図である。
第9図において、91は回線制御回路(NCU)、92
は送受信号の変復調を行うモデム、93はROMおよび
RAMを有し、システム全体を制御するシステム制御部
、95は原稿を読み取るスキャす、96は受信した画像
データを記録紙に出力するプロッタ、94はその他のフ
ァクシミリユニットを含むファクシミリユニット部であ
る。
また、プロッタ96の発熱要素(サーマルヘッド)部分
は、第3図に示したものと同様にサーミスタ抵抗を備え
、゛発熱要素の温度を測定するため、サーミスタ抵抗値
を8ビツトカウンタ等で測定する。
また、記録電力パルス幅は、システム制御部93内のR
OM、RAMのデータにより決定され、温度測定時間サ
イクル(160m5)内の適切な時間(40ms)ごと
の記録電力パルス幅変化量により、段階的な変化を与え
る。
すなわち、ROMにはサーミスタ抵抗値が示す温度と記
録電力パルス幅の関係を示すテーブルを格納する。また
、RAMを2個にエリア分割し、一方(測定パルス幅R
AM)には、160m5ごとにその時のヘッド温度に対
応した記録電力パルス幅をROMの関係テーブルより得
て設定する。また、他方(印字パルス幅RAM)には、
40m5ごとに実際に印字する際の記録電力パルス幅を
設定する。
これにより、従来の方法(160msごとに記録電力パ
ルス幅値を設定する方法)で生じるギャップによる濃度
むらを防ぐことができる。
次に、本実施例のファクシミリ装置における感熱記録装
置の手順について述べる。
第1図のように、プロッタ96内のサーミスタ値より現
在の温度を測定しく101)、その温度に対応した測定
パルス幅をシステム制御部93のROMから読み出して
測定パルス幅RAMに退避させる(102)。
次に、その測定パルス幅を印字パルス幅RAMにセット
する(103)。
そして、所定の印字パルス幅セット時間(4011sご
と)で印字パルス幅と測定パルス幅の大小をチエツクし
く104,105)、印字パルス幅く測定パルス幅なら
ば、前回の印字パルス幅値を更新する(106)。
また、印字パルス幅〉測定パルス幅ならば、前回の印字
パルス幅を減じてセットする(107゜108)。
この後、所定の測定パルス幅セット時間(160ms)
になると(109)、サーミスタ値よりヘッド温度を測
定して(110)、その測定値に対応したパルス幅値を
測定パルス幅RAMに退避させて(111)、ステップ
104に戻る。
なお、本実施例では、初めに設定した間隔時間を細分し
ているが、逆に、間隔時間を延長して補正を行う方法も
可能である。
〔発明の効果〕
本発明によれば、発熱要素に取り付けているサーミスタ
により測定した値から直接記録電力パルス幅値を決定し
て熱駆動せず、システムのROM、RAMでその値に間
隔時間および記録電力パルス幅値変化量を考慮した補正
を加え、徐々に記録電力パルス幅を変化させることによ
り、濃度むらを減少させることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例における感熱記録方法を示す
フローチャート、第2図は感熱記録装置における発熱要
素の温度と記録電力パルス幅との関係を示す説明図、第
3図は感熱記録装置における発熱要素部分の構成図、第
4図は感熱記録装置におけるサーミスタ抵抗値と温度の
関係を示す説明図、第5図は感熱記録装置におけるサー
ミスタ抵抗値のきざみを一定にした場合の記録電力パル
ス幅と温度の関係を示す説明図、第6図はサーミスタ値
と発熱要素の温度との関係を示す説明図、第7図は本発
明の一実施例における補正の説明図、第8図は本発明の
一実施例における測定パルス幅と印字パルス幅の関係を
示す説明図、第9図は本発明の一実施例におけるファク
シミリ装置の構成図である。 31:8ビツトカウンタ、32:シュミット入力、33
ニオ−プントレイン出力、35:抵抗。 91 : 回arm回路(NCU)、92 :モデム。 93ニジステム制御部、95:スキャナ、96:第 図 (a) 20°C (b) 20’C (a) 第 図 ! 憇 !ニー器具式= 第 図 第 図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)発熱要素の温度と記録電力パルス幅の関係を示す
    テーブルを格納するROMを有し、一定しない時間間隔
    で感熱記録を行う感熱記録方法において、ある時間間隔
    で測定した発熱要素の温度に対応する記録電力パルス幅
    、および印字出力の際の記録電力パルス幅を設定するた
    めのRAMを備え、ある時間間隔でサーミスタにより発
    熱要素ごとの温度を測定して、上記テーブルを参照し、
    該測定温度に対応する記録電力パルス幅を選択して、該
    時間間隔を変更し、該記録電力パルス幅をサーミスタ抵
    抗値と発熱要素の温度との関係に基づいて補正すること
    により、印字出力の際の記録電力パルス幅を段階的に変
    化させることを特徴とする感熱記録方法。
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