JPH04110490A - ぶりきの製造方法 - Google Patents
ぶりきの製造方法Info
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- JPH04110490A JPH04110490A JP22719290A JP22719290A JPH04110490A JP H04110490 A JPH04110490 A JP H04110490A JP 22719290 A JP22719290 A JP 22719290A JP 22719290 A JP22719290 A JP 22719290A JP H04110490 A JPH04110490 A JP H04110490A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、ハロゲン型電気錫めっきラインに、161プ
るさっきの製造方法に関する。
るさっきの製造方法に関する。
〈従来の技術〉
ぶりきの耐蝕性とTe3 (Tin Crystal
Size)との関係は一般に認められており、Te3が
粗粒であるほうが而」蝕性に優れているといわれている
。 これに関して、リフロークエンチ時の溶融錫の冷却
速度を小さくする方法が知られている。
Size)との関係は一般に認められており、Te3が
粗粒であるほうが而」蝕性に優れているといわれている
。 これに関して、リフロークエンチ時の溶融錫の冷却
速度を小さくする方法が知られている。
〈発明が解決しようとする課題〉
しかし、前述のりフロー、クエンヂ時の溶融錫の冷却速
度を小さ(する方法を用いても、ハロゲン型電気錫めっ
きラインでは、先めっき面のTe3が後めっき面のそれ
より細粒化しやすいという問題があった。
度を小さ(する方法を用いても、ハロゲン型電気錫めっ
きラインでは、先めっき面のTe3が後めっき面のそれ
より細粒化しやすいという問題があった。
また、後めっき面のプレークーコンダククロール交換直
後においては、先めっき面でも後めっき面と同等の良好
なTe3が得られる場合があり、このコンダククロール
の摩耗状態が先めっき面のTe3に影響を及ぼずことが
指摘されていたが、必ずしも再現性は高くなく、先めっ
き面のTe3を細粒化させるメカニズムについて十分に
説明できるものではなかった。
後においては、先めっき面でも後めっき面と同等の良好
なTe3が得られる場合があり、このコンダククロール
の摩耗状態が先めっき面のTe3に影響を及ぼずことが
指摘されていたが、必ずしも再現性は高くなく、先めっ
き面のTe3を細粒化させるメカニズムについて十分に
説明できるものではなかった。
本発明は、前記問題点を解決し、先めっき面の良好なT
e3を得ることができるぶりきの製造方法を提供するこ
とを目的としている。
e3を得ることができるぶりきの製造方法を提供するこ
とを目的としている。
く課題を解決するだめの手段〉
リフロー、クエンチ後の先めっき面について錫結晶核の
中心を観察したところ、第3図のように成因直前に溶融
錫中のガスか抜りた跡のようなものが数多くみられた。
中心を観察したところ、第3図のように成因直前に溶融
錫中のガスか抜りた跡のようなものが数多くみられた。
しかし、後めっき面に関してはこれらはほとんどみ
られなかっノこ。
られなかっノこ。
そこで溶融錫中に含まれるガスは、フラックスと酸化錫
の反応によって生じる昇華性の生成物と考えた。
の反応によって生じる昇華性の生成物と考えた。
つぎに、ブレーク−通過直後の電着用を観察したところ
、後めっき面は電着用が押しつぶされた状態であった。
、後めっき面は電着用が押しつぶされた状態であった。
これは摩耗したコンダククロールどストリップのスリ
ップによるものと考 え ブこ 。
ップによるものと考 え ブこ 。
以上のことから、電着用が押しつぶされて無数のマイク
ロクラックが生成した先めっき面でフラックスどの反応
生成物かトラップされ、これがリフロー時に昇華し、結
晶核になり、Te3か細粒化するものと考え、本発明を
完成させた。
ロクラックが生成した先めっき面でフラックスどの反応
生成物かトラップされ、これがリフロー時に昇華し、結
晶核になり、Te3か細粒化するものと考え、本発明を
完成させた。
すなわぢ、上記目的を達成するために本発明によれば、
ス)・リップの片面ずつを別々にめっきし、フラックス
を塗布した後、リフローおよびクエンチする電気錫めっ
きラインにおいて、前記フラックス塗布に続いて、少な
くとも前記ストリップの先めっき面を全幅にわたり均一
に洗)争した後リフローおよびクエンチすることを特徴
とするぶりきの製造方法が提供される。
ス)・リップの片面ずつを別々にめっきし、フラックス
を塗布した後、リフローおよびクエンチする電気錫めっ
きラインにおいて、前記フラックス塗布に続いて、少な
くとも前記ストリップの先めっき面を全幅にわたり均一
に洗)争した後リフローおよびクエンチすることを特徴
とするぶりきの製造方法が提供される。
以下に本発明をさらに詳細に説明する。 第1図は、本
発明の1例を示すフローの概要図である。
発明の1例を示すフローの概要図である。
ストリップ1は、まず先めっき面ブjノーター2でその
片面に所定の電気錫めっきが施され、続いて後めっき面
ブレーク−3で他の片面に所定の電気錫めっきが施され
る。
片面に所定の電気錫めっきが施され、続いて後めっき面
ブレーク−3で他の片面に所定の電気錫めっきが施され
る。
つぎに、フラックス処理・洗浄設備4に搬送され、ここ
でフラックスを塗布した後、少なくとも前記ス)・リッ
プの先めっき面を洗浄する。
でフラックスを塗布した後、少なくとも前記ス)・リッ
プの先めっき面を洗浄する。
フラックスは、電着用表層の酸化物を溶解し、後工程の
りフロー時に溶融錫の流動性を向上させ、平滑な光沢面
を得るためのものであるから、前記フラックス塗布はぶ
りきの製造上どうしても必要なプロセスである。
りフロー時に溶融錫の流動性を向上させ、平滑な光沢面
を得るためのものであるから、前記フラックス塗布はぶ
りきの製造上どうしても必要なプロセスである。
そこで、ストリップをフラックスに浸漬し、表層の酸化
物を溶解した後、マイクロクラック間にトラップされた
反応生成物を除去するために、先めっき面を温水洗する
。
物を溶解した後、マイクロクラック間にトラップされた
反応生成物を除去するために、先めっき面を温水洗する
。
第2図は、本発明におけるフラックス処理・洗ン争を実
施する設備の1例を示すフロー図である。 錫めっきさ
れたストリップ」はフラックスタンク5で所定量のフラ
ックスが塗布される。
施する設備の1例を示すフロー図である。 錫めっきさ
れたストリップ」はフラックスタンク5で所定量のフラ
ックスが塗布される。
フラックスどしては、N +−1、Cf:2、HC4を
挙げることができる。 塗布条件は限定しないか、例え
ばN+1.Cfl (’ 0 、5 g/12 )水溶
液中に005〜2秒浸漬することにより錫酸化物が溶解
し、フラックスが塗布される。 本発明においてフラッ
クス塗布は浸漬に限るものではない。 また、片面塗布
でもよい。
挙げることができる。 塗布条件は限定しないか、例え
ばN+1.Cfl (’ 0 、5 g/12 )水溶
液中に005〜2秒浸漬することにより錫酸化物が溶解
し、フラックスが塗布される。 本発明においてフラッ
クス塗布は浸漬に限るものではない。 また、片面塗布
でもよい。
つぎに、温水洗設備6で少なくとも前記ストリップの先
めっき面を洗浄してマイクロクラック間にトラップされ
た反応生成物を除去する。 これにより、後工程のりフ
ロー時にガスが抜けることによる結晶核が発生すること
なく、先めっき面の良好な゛「O8が得られる。
めっき面を洗浄してマイクロクラック間にトラップされ
た反応生成物を除去する。 これにより、後工程のりフ
ロー時にガスが抜けることによる結晶核が発生すること
なく、先めっき面の良好な゛「O8が得られる。
前記洗ン争方法としては限定しないが、温水スプレー7
などを用いることができる。
などを用いることができる。
この場合、温水がストリップの幅方向全域にわたりむら
なくかかっていることが必要である。 スプレーの目詰
まりなどにより一部温水洗が不十分な場合1:]、その
部分でTe3が細粒化する現象がみられる。
なくかかっていることが必要である。 スプレーの目詰
まりなどにより一部温水洗が不十分な場合1:]、その
部分でTe3が細粒化する現象がみられる。
また、洗浄効果を高めるために、使用する水は60°C
以」二の温水を用いるのが好ましい。
以」二の温水を用いるのが好ましい。
第2図に示すように、ストリップ]の両面を洗浄する場
合は、錫目イ月量に対してフラックス濃度が高いときに
発生しゃすいフラックス汚れの発生を防止できる。 8
はリンガロール、9はドライヤーである。
合は、錫目イ月量に対してフラックス濃度が高いときに
発生しゃすいフラックス汚れの発生を防止できる。 8
はリンガロール、9はドライヤーである。
適宜のドライヤー9で水分を除去、乾燥した後、リフロ
ー1046よひクエンチ1]により電着錫を溶融、凝固
させ所望の良好なTe3を両面に有するぶりきを得るこ
とができる。
ー1046よひクエンチ1]により電着錫を溶融、凝固
させ所望の良好なTe3を両面に有するぶりきを得るこ
とができる。
〈実施例〉
以下に本発明を実施例に基づき具体的に説明する。
(実施例1)
第1図および第2図に示すフローにより、ス)・リップ
(厚さ0.32mm、幅780mmの冷延11il様)
を下記条件で電気錫めっきした。
(厚さ0.32mm、幅780mmの冷延11il様)
を下記条件で電気錫めっきした。
ストリップのラインスピード:
250mpm
先めっき面および後めっき面プレーターのめっき条件:
目側り潰 片面11 、 2g/m2
電流密度 40 A/drn’
フラックス塗花・NH,C,f2 (0、5g/、C)
水溶液に2秒浸漬 温水スプレー ストリップ全幅にs o ’cの温水を10℃/分スプ
レー リフロー (クエンチ) 合金すずが1.og/m’(片面)生成できるのを目標
として、280°Cに4〜5秒保って後、s o ’c
の温水に浸漬してクエンチした。
水溶液に2秒浸漬 温水スプレー ストリップ全幅にs o ’cの温水を10℃/分スプ
レー リフロー (クエンチ) 合金すずが1.og/m’(片面)生成できるのを目標
として、280°Cに4〜5秒保って後、s o ’c
の温水に浸漬してクエンチした。
比較のため、温水スプレー7を停止したほかは実施例1
と同様にしでぶつきを製造した(比較例)。
と同様にしでぶつきを製造した(比較例)。
実施例1と比較例の先めっき面の結晶構造を観察したと
ころ、温水洗浄した実施例1は第5図に示すように比較
例(第4図)に(らべ優れたTe3を示した。
ころ、温水洗浄した実施例1は第5図に示すように比較
例(第4図)に(らべ優れたTe3を示した。
〈発明の効果〉
本発明は、以上説明したように構成されているので、フ
ラックス浸漬後先めっき面を温水洗することにより、後
めっき面と同等のTe3を得ることができる。
ラックス浸漬後先めっき面を温水洗することにより、後
めっき面と同等のTe3を得ることができる。
また、後めっき面も温水洗することにより、錫目付量に
対してフラックス濃度が高いときに発生しやすいフラッ
クス汚れを防止する効果がある。
対してフラックス濃度が高いときに発生しやすいフラッ
クス汚れを防止する効果がある。
第1図は、本発明のフローの概要を示すライン図である
。 第2図は、本発明の1例を示すフラックス処理周辺のフ
ロー図である。 第3図、第4図おにび第5図は、結晶の構造を示す図面
代用写真である。 第3図は、従来のクエンチ後の先め
っき面(倍率1.500) 、第4図および第5図il
l、それぞれ温水洗なしの場合と温水洗ありの場合の先
めっき面(倍率0.5)を示す。 符号の説明 l・・・ス1へリップ、 2・・・先めっき面ブレーク− 3・・・後めっき面プレーター 4・・・フラックス処理・洗浄設備、 5・・・フラックスタンク、 6・・・温水洗設備、 7・・・温水スプレー 8・・・リンガロール、 9・・・ドライヤー ]0・・・リフロー 11・・・クエンヂ FIG、1 FIG、2 ン ↓10490 (4) 工 0/″辺 ■
。 第2図は、本発明の1例を示すフラックス処理周辺のフ
ロー図である。 第3図、第4図おにび第5図は、結晶の構造を示す図面
代用写真である。 第3図は、従来のクエンチ後の先め
っき面(倍率1.500) 、第4図および第5図il
l、それぞれ温水洗なしの場合と温水洗ありの場合の先
めっき面(倍率0.5)を示す。 符号の説明 l・・・ス1へリップ、 2・・・先めっき面ブレーク− 3・・・後めっき面プレーター 4・・・フラックス処理・洗浄設備、 5・・・フラックスタンク、 6・・・温水洗設備、 7・・・温水スプレー 8・・・リンガロール、 9・・・ドライヤー ]0・・・リフロー 11・・・クエンヂ FIG、1 FIG、2 ン ↓10490 (4) 工 0/″辺 ■
Claims (1)
- (1)ストリップの片面ずつを別々にめっきし、フラッ
クスを塗布した後、リフローおよびクエンチする電気錫
めっきラインにおいて、前記フラックス塗布に続いて、
少なくとも前記ストリップの先めっき面を全幅にわたり
均一に洗浄した後リフローおよびクエンチすることを特
徴とするぶりきの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2227192A JP3046333B2 (ja) | 1990-08-29 | 1990-08-29 | ぶりきの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2227192A JP3046333B2 (ja) | 1990-08-29 | 1990-08-29 | ぶりきの製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04110490A true JPH04110490A (ja) | 1992-04-10 |
JP3046333B2 JP3046333B2 (ja) | 2000-05-29 |
Family
ID=16856936
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2227192A Expired - Fee Related JP3046333B2 (ja) | 1990-08-29 | 1990-08-29 | ぶりきの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3046333B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112430794A (zh) * | 2020-10-31 | 2021-03-02 | 张家港扬子江冷轧板有限公司 | 一种提高镀锡板表面耐蚀性的自软熔装置及方法 |
CN118704059A (zh) * | 2024-08-30 | 2024-09-27 | 江阴海富钢铁集团有限公司 | 一种镀锡带的成产设备 |
-
1990
- 1990-08-29 JP JP2227192A patent/JP3046333B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112430794A (zh) * | 2020-10-31 | 2021-03-02 | 张家港扬子江冷轧板有限公司 | 一种提高镀锡板表面耐蚀性的自软熔装置及方法 |
CN118704059A (zh) * | 2024-08-30 | 2024-09-27 | 江阴海富钢铁集团有限公司 | 一种镀锡带的成产设备 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3046333B2 (ja) | 2000-05-29 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |