JPH04110111A - 光デイスク基板の製造方法 - Google Patents
光デイスク基板の製造方法Info
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- JPH04110111A JPH04110111A JP22675990A JP22675990A JPH04110111A JP H04110111 A JPH04110111 A JP H04110111A JP 22675990 A JP22675990 A JP 22675990A JP 22675990 A JP22675990 A JP 22675990A JP H04110111 A JPH04110111 A JP H04110111A
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- Heating, Cooling, Or Curing Plastics Or The Like In General (AREA)
- Casting Or Compression Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は耐熱性に優れ、反りの小さい光デイスク基板の
製造方法に関するものであるっ(従来技術) 光ディスク基板の製造方法としては、ポリカーボネート
やポリメタクリル酸メチル等り射出成形法が仰られてい
るうこの方法は生産性が高いものの、粘度の高い樹脂を
高圧でキャビティに注入するためて分子配向が起こり、
光学的異方性が生じやす−。
製造方法に関するものであるっ(従来技術) 光ディスク基板の製造方法としては、ポリカーボネート
やポリメタクリル酸メチル等り射出成形法が仰られてい
るうこの方法は生産性が高いものの、粘度の高い樹脂を
高圧でキャビティに注入するためて分子配向が起こり、
光学的異方性が生じやす−。
また、少なくとも一方が光透:i性物質よりなる一対の
成形型により成形された空間に光硬化性樹脂を注入した
後、光透過性物質よりなる一方の型を通して光を照射1
−で重合させ、光ディスク基板を成形する方法があるっ
この方法は比較的低粘度の光硬化性樹脂を無圧力下又は
低圧力下で硬化させるため、分子配向かなく光学的に均
一であるが、耐熱性に劣り、機械精度、特に基板の反り
が大きめという問題がある。
成形型により成形された空間に光硬化性樹脂を注入した
後、光透過性物質よりなる一方の型を通して光を照射1
−で重合させ、光ディスク基板を成形する方法があるっ
この方法は比較的低粘度の光硬化性樹脂を無圧力下又は
低圧力下で硬化させるため、分子配向かなく光学的に均
一であるが、耐熱性に劣り、機械精度、特に基板の反り
が大きめという問題がある。
上記した問題に対して型内で光硬化性樹脂を硬化させた
後−型外て取り出し、型内で光を照射した面とは反対側
の面から再び光を照射して再硬化させる方法、もしくは
、さらに加熱炉中で加熱処理を行なう方法が採用されて
′ハる(持開昭64−27908号公報)。
後−型外て取り出し、型内で光を照射した面とは反対側
の面から再び光を照射して再硬化させる方法、もしくは
、さらに加熱炉中で加熱処理を行なう方法が採用されて
′ハる(持開昭64−27908号公報)。
(発明が解決しようとする課題)
しかしながら、上記の方法シま基板の反りを小さくする
ことはできるが、基板の耐熱性を十分て改善するには至
ってAない。
ことはできるが、基板の耐熱性を十分て改善するには至
ってAない。
そこで−本発明の目的は、耐熱性に優れ、且つ反りの小
さい光ディスク基板を製造する二とにあるっ (課題を解決するための手段) 本発明者らは、上記した優れた性質を有する光ディスク
基板の製造について研究を重ねたつその結果、上記した
目的を達成した光ディスク基板の開発に成功し一本発明
を提案するて至ったつ 即ち、本発明は、重合性単量体又はその部分重合体を少
なくとも一方の型が光透過性物質よりなる一対の成形型
でより形成された空間に注入し、光透過性物質よりなる
一方の型を通して光を照射して注型重合した後−得られ
た重合体を成形型より取り出し一上記の1合時に光を照
射した重合体の面と反対側I7)面に、昇温しつつ光を
照射することを特徴とする光ディスク基板の製造方法で
あるっ 本発明で1.!!用される重合性単量体又1まその部分
重合体は、公知の化合物が何ら制限なく[Jlれる。例
えば、スチレン、つ−メチルスチレン、α−メチルスチ
レン、クロロスチレン、フルオロスチレン、ブロモスチ
レン。
さい光ディスク基板を製造する二とにあるっ (課題を解決するための手段) 本発明者らは、上記した優れた性質を有する光ディスク
基板の製造について研究を重ねたつその結果、上記した
目的を達成した光ディスク基板の開発に成功し一本発明
を提案するて至ったつ 即ち、本発明は、重合性単量体又はその部分重合体を少
なくとも一方の型が光透過性物質よりなる一対の成形型
でより形成された空間に注入し、光透過性物質よりなる
一方の型を通して光を照射して注型重合した後−得られ
た重合体を成形型より取り出し一上記の1合時に光を照
射した重合体の面と反対側I7)面に、昇温しつつ光を
照射することを特徴とする光ディスク基板の製造方法で
あるっ 本発明で1.!!用される重合性単量体又1まその部分
重合体は、公知の化合物が何ら制限なく[Jlれる。例
えば、スチレン、つ−メチルスチレン、α−メチルスチ
レン、クロロスチレン、フルオロスチレン、ブロモスチ
レン。
ブチルスチレン、 trans−スチルベン、ジビニル
ベンゼンなどのスチレン及びその誘導体:メタクリル酸
メチル、メタクリル酸ブチル。
ベンゼンなどのスチレン及びその誘導体:メタクリル酸
メチル、メタクリル酸ブチル。
メタクリル酸エチル、メタクリル酸フェニル。
メタクリル醗シクロヘキシル、メタクリル酸ボルニル、
メタクリル酸インボルニル、アクリル酸メチル、アクリ
ル酸エチルなどのメタクリル酸エステル及びアクリル酸
エステル:無水マレイン酸、フェニル無水マレイン酸ナ
トツマレイン酸及びその誘導体;N〜メチルマレイミド
、N−フェニルマレイミド等のマレイミド誘導体などが
挙げられる。なお、上記の重合性単量体と共重合可能な
単量体を併用してもよい。また、架橋剤の併用も可能で
ある。
メタクリル酸インボルニル、アクリル酸メチル、アクリ
ル酸エチルなどのメタクリル酸エステル及びアクリル酸
エステル:無水マレイン酸、フェニル無水マレイン酸ナ
トツマレイン酸及びその誘導体;N〜メチルマレイミド
、N−フェニルマレイミド等のマレイミド誘導体などが
挙げられる。なお、上記の重合性単量体と共重合可能な
単量体を併用してもよい。また、架橋剤の併用も可能で
ある。
本発明に!>いて1機械清度に優れ且つ耐熱性が高く、
また、複屈折及び散水車が小さい光ディスク基板を得る
ためには、1合性単量体として特にスチレンあるいはそ
の誘導体を10〜50重量%、アクリル酸エステル又は
メタクリル酸エステルを5〜50重量%及び該化合物と
共重合可能な下記一般式〔I〕で表わされる分子内に少
なくとも2個以上のビニルフェニル基を有する化合物6
0〜65重量%よりなる組成物を用いることが好ましb
9上記式中、R1で示される一1@の有機基としては、
例、tば、蓋換苓1. <は非、f換ハ脂、彷族若しく
は芳香族の炭化水素基、又はこr、ら基が好適である。
また、複屈折及び散水車が小さい光ディスク基板を得る
ためには、1合性単量体として特にスチレンあるいはそ
の誘導体を10〜50重量%、アクリル酸エステル又は
メタクリル酸エステルを5〜50重量%及び該化合物と
共重合可能な下記一般式〔I〕で表わされる分子内に少
なくとも2個以上のビニルフェニル基を有する化合物6
0〜65重量%よりなる組成物を用いることが好ましb
9上記式中、R1で示される一1@の有機基としては、
例、tば、蓋換苓1. <は非、f換ハ脂、彷族若しく
は芳香族の炭化水素基、又はこr、ら基が好適である。
上記の炭化水素基の置換基としては・・ロゲン原子が挙
げられ、また脂肪族の炭化水素基の置換基としてはフェ
ニル基が挙げられる。
げられ、また脂肪族の炭化水素基の置換基としてはフェ
ニル基が挙げられる。
また、本発明で使用される重合性単量体の部分1合体は
、上記し±重合性単量体を公知の方法で部分1合するこ
とによって得ることができる。
、上記し±重合性単量体を公知の方法で部分1合するこ
とによって得ることができる。
前記した重合性単量体又はその部分重合体には、重合開
始剤が添加される。重合開始剤としては、光によって重
合を開始させることのできる公知の化合物が何らN限な
く採用される。例えば、ベンゾインメチルエーテル。
始剤が添加される。重合開始剤としては、光によって重
合を開始させることのできる公知の化合物が何らN限な
く採用される。例えば、ベンゾインメチルエーテル。
ベンゾインエチルエーテル、ベンゾインインプロピルエ
ーテル、ペンゾインインブチルエ−チル等のベンゾイン
エーテル類;ベノジルシ(チルケタール、ベンジルジエ
チルケタール等のベンジルケタール類;1−ヒドロキシ
ンクロヘキ・/ルフェニルケトン、4−イノプロピル−
2−ヒドロキシ−2−メチル−プロピオフェノン、2−
ヒドロキシ−2−メチル−プロピオフェノン等のα−ヒ
ドロキシアセトフェノン類;2−メチル−〔4−(メチ
ルチオ)フェニルクー2−モルフォリノ−1−プロパノ
ン等のα−アミノアセトフェノン類;ヘンシル等ノα−
ジカルボニル類;ベンゾフェノン、アセトフェノン、0
−ベンゾイル安息香酸メチル等の芳香族ケトン類;チオ
キサントン、 2,4−ジエチルチオキサントン等のチ
オキサントンIi; 4,4’−ビスジメチルアミノ
ベンゾフェノン、 4.4’−ビスジエチルアミノベ
ンゾフェノン、P−N、N−ジメチル−アミノ−アセト
フェノン等の芳香族アミンill: p t−ブチル
トリクロロアセトフェノン、p−t−ブチルジクロロア
セトフェノン等のクロロアセトフェノン類: Fe−芳
83化合物等の光カチオン系開始剤などが挙げられる。
ーテル、ペンゾインインブチルエ−チル等のベンゾイン
エーテル類;ベノジルシ(チルケタール、ベンジルジエ
チルケタール等のベンジルケタール類;1−ヒドロキシ
ンクロヘキ・/ルフェニルケトン、4−イノプロピル−
2−ヒドロキシ−2−メチル−プロピオフェノン、2−
ヒドロキシ−2−メチル−プロピオフェノン等のα−ヒ
ドロキシアセトフェノン類;2−メチル−〔4−(メチ
ルチオ)フェニルクー2−モルフォリノ−1−プロパノ
ン等のα−アミノアセトフェノン類;ヘンシル等ノα−
ジカルボニル類;ベンゾフェノン、アセトフェノン、0
−ベンゾイル安息香酸メチル等の芳香族ケトン類;チオ
キサントン、 2,4−ジエチルチオキサントン等のチ
オキサントンIi; 4,4’−ビスジメチルアミノ
ベンゾフェノン、 4.4’−ビスジエチルアミノベ
ンゾフェノン、P−N、N−ジメチル−アミノ−アセト
フェノン等の芳香族アミンill: p t−ブチル
トリクロロアセトフェノン、p−t−ブチルジクロロア
セトフェノン等のクロロアセトフェノン類: Fe−芳
83化合物等の光カチオン系開始剤などが挙げられる。
これらの1合、開始剤シま、重合性単量体又はその部分
重合体100重量部に対して、一般には0.1〜10重
量部、好ましくは0.2〜5重量部の範囲で使用される
。
重合体100重量部に対して、一般には0.1〜10重
量部、好ましくは0.2〜5重量部の範囲で使用される
。
さらに、上記の重合性単量体又はその部分重合体に、本
発明の目的の達成を阻害しない範囲で、例えば増感剤、
酸化防止剤、光安定剤、離型剤、帯電防止剤などを混合
してもかまわないつ 上記した重合性単量体又はその部分重合体は一少なくと
も一方の型が光透過性物質よりなる一対の成形型により
形成された空間に注入され、光透過性物質よりなる一方
の型を通して光を照射し注型重合を行なうつ 注型重合は、0.1〜10陣/′i−好ましくは0.5
〜5Kf/−の加圧下に行なうことが一得られる重合体
のヒケを防止し、光学異方性ケ・j・さくするためて好
ましハっ 重合性単量体又はその部分1合体でかけられる圧力は、
注型重合の間、一定の圧力であ・)でも良いが一注型1
合によって生吸する部分1合体の粘度の上昇に応じて圧
力を増加する方法が好適に採用されるっ 注型重合の際の温度は特に限定されないが、通常50℃
〜100℃の範囲で行なわれる。
発明の目的の達成を阻害しない範囲で、例えば増感剤、
酸化防止剤、光安定剤、離型剤、帯電防止剤などを混合
してもかまわないつ 上記した重合性単量体又はその部分重合体は一少なくと
も一方の型が光透過性物質よりなる一対の成形型により
形成された空間に注入され、光透過性物質よりなる一方
の型を通して光を照射し注型重合を行なうつ 注型重合は、0.1〜10陣/′i−好ましくは0.5
〜5Kf/−の加圧下に行なうことが一得られる重合体
のヒケを防止し、光学異方性ケ・j・さくするためて好
ましハっ 重合性単量体又はその部分1合体でかけられる圧力は、
注型重合の間、一定の圧力であ・)でも良いが一注型1
合によって生吸する部分1合体の粘度の上昇に応じて圧
力を増加する方法が好適に採用されるっ 注型重合の際の温度は特に限定されないが、通常50℃
〜100℃の範囲で行なわれる。
また、1合時間は重合性単量体又はその部分重合体の組
成、光の強度及び温度等により異なるが、通tは3分〜
60分穆度であるっ成形型内で注型重合して得られた重
合体は、成形型より取り出し、成形型内での重合時に光
を照射した重合体のfとは反対側の面に、昇温!一つつ
再度光の照射を行なう。昇温を開始する温度は、室温か
ら重合温度までの範囲から選ぶことが、得られる光ディ
スク基板のソリを小さくするために好ましいうまた、昇
温の終了温度は、後述する方法によって測定された光デ
ィスク基板の軟化温度より10℃低い温度から軟化温度
未満−好ましくは、5°C低い温度から軟化温度未満の
範囲かも選ぶことが、上記の昇温開始温度の選択理由と
同様の理由により好ましいっ昇温速度は、作業時間を短
くするためには大きい方がよいが一得られる光ディスク
基板のソリが大きくなるため一一般には0.2〜b 1〜b 1ハウ 本発明において昇温しつつ光の照射を行なう方法として
は、一定の昇温速度で昇温を行ないながら、光を連続し
て、あるいは断続的に照射する方法や、階段状に昇温を
行ないながら、光を連続して、あるいは断続的に照射す
る方法等が挙げられる。上記の階段状に昇温を行なう場
合には一平均昇温速度が前記した昇温速度の範囲である
ことが好まし−。また−光を断続的に照射する場合には
、昇温の開始温度から終了温度の全域にわたって、でき
るだけ平均化して光照射することが好まし実施例 3 実施(lにおいて、紫外線の再照射時の昇温速度を3.
5℃/分とし、紫外線を2分間照射した後2分間休む操
作を5回操り返したこと以外は実施例1と同様にして光
ディスク基板を作成した。得られた光ディスク基板の物
性を表−1に示したつ 比較例1.2 実施例1と同様てして注型重合した後、成形型から1合
体を取り出し、注型重合時と紫外線を照射した面とは反
対側の面に、営温で紫外線を10分間照射した。得られ
た光ディスク基板の物性を比較例1として表−1に示し
た。
成、光の強度及び温度等により異なるが、通tは3分〜
60分穆度であるっ成形型内で注型重合して得られた重
合体は、成形型より取り出し、成形型内での重合時に光
を照射した重合体のfとは反対側の面に、昇温!一つつ
再度光の照射を行なう。昇温を開始する温度は、室温か
ら重合温度までの範囲から選ぶことが、得られる光ディ
スク基板のソリを小さくするために好ましいうまた、昇
温の終了温度は、後述する方法によって測定された光デ
ィスク基板の軟化温度より10℃低い温度から軟化温度
未満−好ましくは、5°C低い温度から軟化温度未満の
範囲かも選ぶことが、上記の昇温開始温度の選択理由と
同様の理由により好ましいっ昇温速度は、作業時間を短
くするためには大きい方がよいが一得られる光ディスク
基板のソリが大きくなるため一一般には0.2〜b 1〜b 1ハウ 本発明において昇温しつつ光の照射を行なう方法として
は、一定の昇温速度で昇温を行ないながら、光を連続し
て、あるいは断続的に照射する方法や、階段状に昇温を
行ないながら、光を連続して、あるいは断続的に照射す
る方法等が挙げられる。上記の階段状に昇温を行なう場
合には一平均昇温速度が前記した昇温速度の範囲である
ことが好まし−。また−光を断続的に照射する場合には
、昇温の開始温度から終了温度の全域にわたって、でき
るだけ平均化して光照射することが好まし実施例 3 実施(lにおいて、紫外線の再照射時の昇温速度を3.
5℃/分とし、紫外線を2分間照射した後2分間休む操
作を5回操り返したこと以外は実施例1と同様にして光
ディスク基板を作成した。得られた光ディスク基板の物
性を表−1に示したつ 比較例1.2 実施例1と同様てして注型重合した後、成形型から1合
体を取り出し、注型重合時と紫外線を照射した面とは反
対側の面に、営温で紫外線を10分間照射した。得られ
た光ディスク基板の物性を比較例1として表−1に示し
た。
また、上記の光ディスク基板をさらに130℃の恒温槽
の中に6分間入れて加熱処理を行なったうその結果を比
較例2として表−1に示した。
の中に6分間入れて加熱処理を行なったうその結果を比
較例2として表−1に示した。
表
実施例−1
(注)反り角の符号が正の場合は成形金型内で光を照射
した面を内側にした反り、負の場合は成形金型内で光を
照射した面を外側にした反りを示す。
した面を内側にした反り、負の場合は成形金型内で光を
照射した面を外側にした反りを示す。
@1図は本発明の光ディスク基板を製造する際に用いた
成形金型の垂直断面図である。 図中、1は固定金型、2は光透通性9IkJ買よりなる
可動金型、3−まキャビティー、4はスタンバ−95は
注入口、6は加圧製電゛(連結されたコ・γドを夫々示
すっ 第1図
成形金型の垂直断面図である。 図中、1は固定金型、2は光透通性9IkJ買よりなる
可動金型、3−まキャビティー、4はスタンバ−95は
注入口、6は加圧製電゛(連結されたコ・γドを夫々示
すっ 第1図
Claims (1)
- (1)重合性単量体又はその部分重合体を少なくとも一
方の型が光透過性物質よりなる一対の成形塵により形成
された空間に注入し、光透過性物質よりなる一方の型を
通して光を照射して注型重合した後、得られた重合体を
成形型より取り出し、上記の重合時に光を照射した重合
体の面と反対側の面に、昇温しつつ光を照射することを
特徴とする光ディスク基板の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22675990A JPH04110111A (ja) | 1990-08-30 | 1990-08-30 | 光デイスク基板の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22675990A JPH04110111A (ja) | 1990-08-30 | 1990-08-30 | 光デイスク基板の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04110111A true JPH04110111A (ja) | 1992-04-10 |
Family
ID=16850172
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP22675990A Pending JPH04110111A (ja) | 1990-08-30 | 1990-08-30 | 光デイスク基板の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04110111A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6893483B2 (en) | 2002-03-08 | 2005-05-17 | Air Products And Chemicals, Inc. | Multilayered adsorbent system for gas separations by pressure swing adsorption |
-
1990
- 1990-08-30 JP JP22675990A patent/JPH04110111A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6893483B2 (en) | 2002-03-08 | 2005-05-17 | Air Products And Chemicals, Inc. | Multilayered adsorbent system for gas separations by pressure swing adsorption |
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