JPH04107461A - 感光性樹脂組成物 - Google Patents

感光性樹脂組成物

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JPH04107461A
JPH04107461A JP22610890A JP22610890A JPH04107461A JP H04107461 A JPH04107461 A JP H04107461A JP 22610890 A JP22610890 A JP 22610890A JP 22610890 A JP22610890 A JP 22610890A JP H04107461 A JPH04107461 A JP H04107461A
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JP
Japan
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group
photosensitive resin
substituent
resin composition
groups
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Pending
Application number
JP22610890A
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English (en)
Inventor
Yoshikazu Sakata
坂田 美和
Toshio Ito
伊東 敏雄
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Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Publication date
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  • Silicon Polymers (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この発明は、半導体装M等の製造に用いられるレジスト
材料に関するものである。
(従来の技術) 半導体装置の製造における基板加工、例えば工Cにおけ
る金属配線パターンの形成は、被加工基板全面に配線用
7金属膜を形成し、この上にレジスト膜を形成しこれヲ
露光・現像してレジストパターンを得、このレジストパ
ターンをマスクとして金属膜をエツチングし、その後こ
のレジストパターンを除去するという手順で行われる。
しかし、ICの高集積化、高速化1こ伴い、配線パター
ンの超微細化や多層配線の採用か行われ、この超微細化
においては配線抵抗を下げるためにパターンのアスペク
ト比か高くされる傾向にあることから、被加工基板上の
段差はますます大きくなる。このため、被加工基板上に
レジストパターンを形成する場合、以下に説明するよう
な問題か生しる。HD″t5、縮少投影露光装置の焦点
深度以上に段差か大きくなってしまう場合か生じるため
、縮少投影露光装置を用いて目的とする寸法のレジスト
パターンを形成することか困難になる。特に、サブミク
ロン領域のバターニングを行う場合は、開口数の大きな
レンズを装備した縮少投影露光装置か用いられるため焦
点深度はますます浅くなるので、上記段差の問題はざら
に顕著になり、従来のような一層しシストのみてはパタ
ーン形成出来なくなるおそれかある。
そこで、以上のような困難を解決する従来の技術として
、例えば文献(Journal  ○fEleCtro
chemical  5ociety:5OLID−8
TATE  5CIENCEAND  TECHNOL
○GY((ジャーナルオン゛ エレクトロケミカル ソ
サエティー ソリッドステート サイエンス アント 
テクノロジー)132 (5)(1985,5)pp、
1178〜1182)に開示された技術か知られてい1
と。この技術は、二層レジスト法と称されるレジストパ
ターン形成技−術に加えて、遠紫外領域(200〜30
0(nm))に感度を有するポジ型のレジストを用いる
ものであった。
ここで、二層レジスト法とは以下に説明するようなもの
である。
先ず、段差を有する被加工基板上に熱硬化性樹脂を厚く
形成し、これを熱硬化させ、基板を平坦化する。この上
に酸素プラズマによるエツチングに対し高い耐性を有す
る感光性樹脂層を極めて薄く形成し、その後、この感光
性樹脂層を露光現像してこれのパターンを形成する。次
に、このバター〕・ヲマスクとして、酸素ガスを用いた
反応性イオンエツチング(02−日IE)により熱硬化
性樹脂層のエツチングを行い、高アスペクト比の層レジ
ストパターンを得る。さらに、この二層レジストパター
ンをマスクとして被加工基板上の下地金属層をエツチン
グする。
層レジスト法の利点は、厚い平坦化層の上に感光性樹脂
層のパターンを形成するために、下地基板からの影響を
受けることなく、従って寸法変動なしに高アスペクト比
の微細パターンか形成出来ることである。
このような感光性樹脂層に用いるレジストとしてはケイ
素を含宵したものかあり、上述の文献によれば、ポリ(
トリメチルシリルメチルメタクリレート−3−オキシミ
ノ−2−ブタノンメタウリレート)共重合体か開示され
ている。このレジストは、遠紫外線(Deep−UV)
を用いlumのライン・アント・スペースバタン%25
0mJ/Cm2のドーズ量で解像できる感度を有し、0
.75umの最小解像力を有するものであつた。
(発明か解決しようとする課題) しかしなから、上述した従来のレジストは、ケイ層含有
率か9.6重量%と低いために、02RIEによるエツ
チング速度が15nm/mjnと速い。即ち02−RI
E耐性か低いという問題点かあった。また、解像力か十
分てはないという問題点かあった。
この発明は上述した点に鑑みなされたものであり、従っ
てこの発明の目的は、上述した問題点を解決し、膜質及
び加工精度の優れた感光性樹脂組成物を提供することに
ある。
(課題を解決するための手段) この目的の達成を図る1とめ、この発明の感光性樹脂組
成物は、不飽和基、アルキル基及びノ\ロゲン化アルキ
ル基かうなる群より選ばれた1種以上の基とポリシラニ
ル基とを有するポリシロキサン誘導体及び増感剤から成
ることを特徴とする。
ここて、この感光性樹脂組成物の構成成分の−−っであ
る上述のポリシロキサン誘導体は、例えば、下記0式で
示されるもの若しくは下記0式で示されるもの、又は下
記0式で示されるもので置換基か異なるもの同士(3種
以上も含む。以下の混合物、共重合体において同様。)
の混合物、下記0式で示されるもので置換基か異なるも
の同士の混合物若しくは下記0式で示されるものと下記
0式で示されるものとの混合物、又は上記混合物同様な
組み合わせて得られる共重合体とするのが好適である。
なお、式中、R,1及び巳、2は、ポリシラニル基であ
り、同一であっても異なっていても良い。また、B2及
びRLは、不飽和基、アルキル基及びハロゲン化アルキ
ル基からなる群より選ばれた基てあつ、同一であっても
異なっていても良い。また、nは、正の整数である。ま
た、R40、R42、日、3及びR411は、ポリシラ
ニル基であり、全部か同一であっても一部又は全部か異
なっていでも良い。また、R5及びR6は、不飽和基、
アルキル基及びハロゲン化アルキル基からなる群より選
ばれた基であり、同一であっても異なっていても良い。
た、mは、正の整数である。
また、上述のポリシロキサン誘導体か有するポリシラニ
ル基としては、例えば、下記0式で示されるポリシラニ
ル基及び下記0式で示されるポリシラニル基の中から選
ばれた基とするのか好適である(但し、RA、R,、R
o、RE、RF、Re 、RH、巳、及び巳、は、下記
の■〜■からなる群より選ばれた基であり、全部か同一
であっても一部又は全部か異なっていても良い。
■・・・炭素数が10以下の鎖状、分岐状又は環状のア
ルキル基。
■・・・置換基を有しでいないフェニル基。
■・・・置換基を有していないナフチル基。
■・・・ニトロ基、炭素数5以下のアルコキシ基及びハ
ロゲン基の中から選ばれブと基を有するフェニル基。
■・・・ニトロ基、炭素数5以下のアルコキシ基及びハ
ロゲン基の中から選ばれた基を有するナフチル基。
■・・・置換基を有しでいないビフェニル基。
■・・・ニトロ基、炭素数5以下のアルコキシ基及びハ
ロゲン基の中から選ばれた基を有するビフェニル基。
また、Rc、Rl及びRoは、下記の■〜■からなる群
より選ばれた基であり、全部か同一であっても一部又は
全部か異なっていても良い。
■・・・炭素数10以下のアルキル基。
■・・・置換基を有していないフェニル基。
■・・・置換基を有しでいないナフチル基。
■・・・ニトロ基、アルコキシ基及びハロゲン基の中か
ら選ばれた基を有するフェニル基。
■・・・ニトロ基、アルコキシ基及びハロゲン基の中か
ら選ばれた基を有するナフチル基。
[m]・・・炭素数5以下のアルコキシ基。
■・・・置換基を有していないビフェニル基。
■・・・ニトロ基、アルコキシ基及びハロゲン基の中か
ら選ばれた基を有するビフェニル基。
また、■式中のケイ素数ρは2≦l≦107a満足する
整数。また、0式中のケイ素数i、j、には、0≦i≦
7、]≦]≦8.1≦k≦8てかつi、 + j + 
k≦9を満足する整数である。)。
上述のような■又は0式のポリシロキサン誘導体は、塩
基性触媒存在下で好適な出発材料(例えば後述する材料
)に−官能性ポリシラン(例えばモノクロロシランかあ
げられる)を反応させることにより合成出来る。この合
成で用いる塩基性触媒としては、種々のものを挙げるこ
とか出来、例えばトリエチルアミン、トリn−ブチルア
ミン、ピリジン、ルチジン、γ−コリジン、イミグンル
等ヲ挙げることか出来る。まブと、合成で用いる使用溶
媒としては、テトラヒドロフラン、ジメチルホルムアミ
ドジメチルスルホキシト、]、4ジオキサン、メチルエ
チルケトン、メチルイソブチルケトン、トルエン等ヲ挙
げることが出来る。なお、合成の際のポリシラン量は、
出発材料のOH数以上の分子数か入る量であれば良く、
出発材料の数平均分子量によっても異なるか、出発材料
に対し3〜50mol%の範囲内であれば良い。また、
塩基性触媒の量は、ポリシランに対し等量から10倍量
の範囲内であれば良い。
なお、0式で示されるポリシロキサン誘導体を得るため
の出発材料としては、例えば下記の0式で示される直鎖
状の末端水酸基のポリシロキサン誘導体を用いるのが好
適であり、又、■式で示されるポリシロキサン誘導体を
得るための出発材料としては、下記の0式で示される末
端水酸基のポリシルセスキオキサン誘導体を用いるのが
好適である。但し、■、0式(こおいて、RM及びRN
は、不飽和基、アルキル基及びハロゲン化アルキル基か
らなる群より選ばれた基であり、同一であっても異なっ
ていても良い。また、p及びqは、正の整数である。R
M、日、の具体例とじては、アリル基、ビニル基、イソ
プロペニル基等のような不飽和基、炭素数が4以下のア
ルキル基、塩素、臭素或いはヨウ素か1つ以上置換され
ブと炭素数4以下のハロゲン化アルキル基等をあげるこ
とか出来る。
これら出発材料のうちの0式で示されるポリシルセスキ
オキサン誘導体は、この出願に係る出願人によって、特
開昭63−210839号公報で排藁している化合物、
また、0式で示されるポリシロキサン誘導体は、該公報
の中で述へられている合成法中で用いられている原料の
トリクロロシランをシクロロシランとすることにより容
易に得られる化合物である。これら化合物は、重量平均
分子量か100,000程度のものまでは合成段階でゲ
ル化することかなく、容易に入手することか可能である
。しかし、重量平均分子量が2.000より小さいもの
は、結晶化が難しいためレジストパターン形成に不適当
であり、かつパタングに必要な露光量か極めて多くなる
。従って、出発材料としては、■成文か0式で示される
ような化合物であって重量平均分子量か2,000以上
100.○OO以下のものを用いるのか良い。
このような出発材料は、これ自体かレジストのヘース樹
脂になり得、さらに感光剤と共(こ用いることによりレ
ジストを構成出来る。このような場合は、保存安定性を
考慮して末端の○H基をトリメチルシリル基等のような
不活性な基で保護することは常識であった。これ(こ対
し、この発明の感光性樹脂組成物は、上述のような出発
材料の末端の○H基をポリシラニル基で修飾して感光基
をポリロキサン誘導体中に導入した点と、このようなポ
リシロキサン誘導体に増感剤を添加した点て従来技術と
大きく相違する。
また、この発明の感光性樹脂組成物の他方の構成成分で
ある増感剤は、種々のものを用い得るか、特にシラン′
)(後述する)を捕捉する性質を有するヒドロシラン化
合物を用いるのか好適である。このヒドロシラン化合物
は、1分子中にSiH結合を宵するものであって、かつ
、レジストとして使用する点から、液体ないしは固体で
あるものか望ましい。具体的には、例えば、下記(I)
〜(V)式で示される化合物の中から選ばれたものとす
るのか好適である(但し、(1)及び(II )式中の
日、(TJI)式中のR’は、アルキル基、置換基を有
していないフェニル基、置換基を有しているフェニル基
、置換基を有していないナフチル基、置換基を有してい
るナフチル基、置換基を有していないとフェニル基、置
換基を有しているビフェニル基の中から選ばれた基であ
る。
また(III)〜(V)式中日は、少なくとも1つは水
素であり他は水素、アルキル基、置換基を有していない
フェニル基、置換基を有しでるフェニル基、置換基を有
していなるナフチル基、置換基を有しているナフチル基
、置換基を有していないビフェニル基、置換基を有して
いるビフェニル基の中から選ばれた基である。さらに、
CI)〜(V)式中、r、S、t、U、V、Wは、r十
s4、r≧1、S≧1、t+u=6、U≧1.1≦v≦
5.1≦w≦6を満足する正の整数である。) (日)s5i(H)s   ・・・(I)(R)t  
S 12  (H) u  −(II)また、この感光
性樹脂組成物において、増感剤のポリシロキサン誘導体
に対する添加率(増感剤のモル数X100)/(増感剤
のモル数十ポリシロキサン誘導体のモル数)を、0.1
〜30mol%の値にするのが好適である。0.1m0
1%より少いと増感作用か小ざく、30m0ρ%より多
いと成膜性に問題か生しるからである。
(作用) この発明の構成によれば、不飽和基、アルキル基及びハ
ロゲン化アルキル基からなる群より選ばれた1種以上の
基とポリシラニル基とを同一分子内に有するポリシロキ
サン誘導体及び増感剤で感光性樹脂組成物か構成される
ポリシラニル基は、その構造(例えば分岐の有無(上記
■、0式参照))や、ポリシラニル基か有するケイ素数
や置換基の種類を変えることによって波長200〜40
0nmの広い範囲に吸収を持ちその波長の光を受けるこ
とによりシリルラジカル、シリレン等のような活性種を
発生する。
例えば、上述の■式又は[1]式で示されるような構造
のポリシラニル基は、これか有するケイ素数や置換基の
種類からいって、波長200〜400nmの範囲の光を
受けるとシリルラジカル、シリレン等のような活性種を
効率良く発生する。
このため、当該ポリシロキサン誘導体か不飽和基を有す
る場合は、上記活性種かこの不飽和基へ付加して重合を
開始させる。また、当該ポリシロキサン誘導体かアルキ
ル基及び又はハロゲン化アルキル基を有する場合は、上
記活性種かアルキル基から水素の引き抜きやハロゲン化
アルキル基からハロゲンの引き抜きを行なうので、重合
が開始される。当該ポリシロキサン誘導体の重合した部
分は有機溶媒に不溶になる。従って、当該感光性樹脂組
成物に対し光を選択的に照射することにより所望のレジ
ストパターンが得られる。
また、増感剤としてヒドロシラン化合物を用いる構成の
場合、ヒドロシラン化合物はシリレンを捕捉する性質を
有する。従って、光照射によってポリシラニル基から発
せられる活性種のうちポリシロキサン誘導体のゲル化に
直接関与しないシリレンをヒドロシラン化合物か捕捉す
るので、感光性樹脂組成物の高感度化か図れる。
また、ポリシロキサン誘導体及びヒドロシラン化合物共
にケイ素含有率か高いため、当該感光性樹脂組成物のケ
イ素含有率か少なくとも10数重量%となり、この結果
、02−RIE耐性に優れる感光性樹脂組成物か得られ
る。
(実施例) 以下、この発明の感光性樹脂組成物の実施例について説
明する。なお、以下の実施例では、この発明の理解を容
易とするため、特定の条件を例示して説明するか、この
発明は、これら実施例にのみ限定されるものではないこ
とを理解されたい。
また、以下の実施例で用い1と薬品類のうち、出所を省
略する場合も有るが、いずれも化学的に充分に純粋であ
り、容易に入手し得るものを用いた。
場合下記(a)式で示されるシロロー5−メトキシ1.
2,3,4.5ペンタフエニルペンタメチルペンタシラ
ン19.79(29,5mmol)とを、溶媒としての
1.2ρのトルエンに溶解させ、この溶液を水浴中で攪
拌する。
〈実施例1〉 *ポリシロキサン誘導体の合成説明 始めに、実施例1の感光性樹脂組成物の構成成分の−っ
であるポリシロキサン誘導体を以下のように合成する。
出発材料として、この実施例の場合、末端かOHである
ポリアリルシルセスキオキサン(上記0式中のRM及び
日、かアリル基のもの)であって数平均分子量Mn=1
0.○O○、重量平均分子量Mw−31,000のポリ
アリルシルセスキオキサンを用いる。
このポリアリルシルセスキオキサン93.29(1mo
l)と、ポリシラン化合物としてのこの(但し、Meは
メチル基、phはフェニル基。
以下、同様。)。
次に、水浴中で、この溶液に塩基性触媒としてトリエチ
ルアミン3.0Q (’:)9.5mmol)を攪拌し
ながら滴下し、その後攪拌を15分間続ける。
次に、水浴から溶液を外しこれを室温にて3時間攪拌す
る。
次に、この溶液を溶媒(この場合はトルエン)によって
稀釈し不溶物を濾過する。次に、稀釈に用い1と溶媒の
留去を行う。その後、溶媒による稀釈と、不溶物の濾過
と、溶媒の留去とを、不溶物か発生しなくなるまで繰返
し行う。
この操作が終了すると、油状物が72.09得られる。
この油状物は、上述の0式中のR5及び巳、か共にアリ
ル基であり、R41〜Ft、+aか上述の(a)式で示
される物質から塩素か除かれたポリシラニル基である、
ポリシロキサン誘導体に相当する。
*感光性樹脂組成物の調製 次に、上述のように合成したポリシロキサン誘導体93
9(1moりと、ヒドロシラン化合物としてこの実施例
1の場合下記(b)式て示されるジメチルフェニルシラ
ン(上記CI)式中のR。
かメチル基2個、フェニル基1個のものに相当)13.
69(この量はポリシロキサン誘導体に対し10mol
%に相当)とを、キシレン8379に溶解する。
ph 次に、この溶液を、直径0.2umの孔を有するメンブ
レンフィルタで濾過して実施例1の感光性樹脂組成物の
塗布溶液を得る。
*パターニング実験(その1) 次に、実施例1の感光性樹脂組成物を用い、露光に用い
る光源uXe−H9ランプとして、以下の手順でバター
ニング実験を行う。
始めに、シリコン基板上に下層レジスト層を形成するた
め、回転塗布法によりシリコン基板上にフォトしラスト
(この実施例の場合シブレー社製MP2400)%所定
の条件で塗布し、次いで、200°Cの温度のオーブン
中に1時間この試料を入れてフォトレジストを硬化させ
る。これにより、膜厚か1.5umの下層レジスト層を
形成しブ5:。
次に、回転塗布法によりこの下層レジスト層上に実施例
1の感光性樹脂組成物を膜厚か0.2umとなるように
塗布し、その後、ホ・ントブレトを用いこの試料を80
°Cの温度で1分間ヘーキングl−る。
次に、この試料に最少の線幅か0.5umとされた1重
々のライン・アンド・スペースのテストパターンを有す
るマスクを2着させ、Xe−H9ランプ及び0M250
コールドミラーを装着している露光量N(この実施例で
は、キャノン(株)社製PLA501アライナ)により
、露光量を変えなから露光を行なう。
次に、露光済みの試料を、メチルイソブチルケトンと、
イソプロピルアルコール(工PA)との11混合液(容
積比)中に45秒間浸漬し現像を行ない、その後、IP
A中に30秒間浸漬しリンスを行ない、その後、ホット
プレートを用い60°Cの温度て1分間ヘ−ウする。
現像の終了した試料を観察したところ、初期膜厚(この
例では回転塗布後の膜厚である0、2um)に対する残
膜率か50%となる露光量(D覧5)は、1.1カウン
ト(ここで、1カウント(c t)=39mJ/cm2
である。以下同様。)であることか分かつプと。また、
得られたレジストパターンを走査型電子顕微鏡(SEM
)で観察したところ、最小解像寸法は、用いたマスクの
最小寸法と同し0.5umのライン・アント・スペース
(L/S)であることか分った。なお、この実験(こ用
い1とテストパターンの最少線幅が0.5umであるた
めに、0.5日mの解像力が確保され1.:ことしか確
認出来なかったか、実施例1の感光性樹脂組成物はざら
に高い解像力を有するものであることは理解されたい(
以下の各実施例のバターニング実験においても同様。)
*バターニング実験(その2) また、実施例1の感光性樹脂組成物を用い、露光に用い
る光源uKrFエキシマレーザとし1.T:こと以外は
上述のバターニング実験(その1)と同様な手順でバタ
ーニング実験を行う。
なお、レーザ発振器は、ラムダフィジックス社製のもの
を用いている。このレーザ発振器は、1パルス当たつ0
.50mJ/cm2の照射量か得られるもので、パルス
数により露光量か制御出来るものである。
その結果、感度(D%5)は50 m J / c m
 2であることか分った。また、0.5umのライン・
アンド・スペースパターンか解像可能なことか分った。
*パターニング実験(その3) まプと、実施例1の感光性樹脂組成物を上層レジストと
して用い二層レジスト法によるバターニング実験を以下
に説明するように行う。
先す、バターニング実験(その1)と同様な手順で下層
レジスト層(MP2400層)及び第1実施例の感光性
樹脂組成物のパターンをそれぞれ形成する。但し、この
バターニング実験では、下層レジスト層の膜厚を2um
とし、この下層レジスト上に形成する実施例1の感光性
樹脂組成物の露光前のヘーキング温度を60°Cとし、
XeH9ランプによる露光量を1.7カウント(約66
mJ/cm2)としている。
次に、この試料を平行平板型のトライエツチング装置(
この実施例で日電アネルバ(株)製DEM451)内に
入れる。そして、02ガス圧を1、OPa、02ガス流
量を20SCCM、RFパワー記度を0.12W/cm
2、エツチング時間を35分とした条件で、下層レジス
ト層のエツチングを行う。
このエツチング後に得られた二層レジストパターンの断
面@SEM@用いて観察したところ、0.5umのライ
ン・アント・スペースパターンであってアスペクト比か
4の然も矩形形状のライン・アジド・スペースパターン
か形成されていることか分った。
上述の各バターニング実験結果から明らかなように、実
施例コの感光性樹脂組成物は、感度及び解像力共に従来
の感光性樹脂より優れていることか理解出来る。
*02−RIE耐性の調査結果 次に、実施例1の感光性樹脂組成物の02R工E耐性を
以下のように調査する。
先ず、回転塗布法によりシリコン基板上に実施例1の感
光性樹脂組成物を0.2umの膜厚に塗布し、その後、
この試料をホットプレートを用い60°Cの温度で1分
間ヘーキングする。
次に、この試料をDEM451トライエツチング装百内
に入れた後バターニング実験(その3)のトライエツチ
ング条件と同様な条件でエツチングする。但し、エツチ
ング時間は20分とした。
上記エツチング終了少、実施例]の感光性樹脂組成物皮
膜の膜減り量を膜厚計(この場合、テラーホブソン社製
のタリステップ)を用いて測定したところ、51nmで
あることか分った。
このエツチング時の実施例1の感光性樹脂組成物のエツ
チング速度は、51/20=2.6nm/ m i n
であるといえ、従来の感光性樹脂のエツチング速度か1
5nm/minてあり然もその際のエツチング条件はこ
の実施例のものより緩いことを考えると、実施例1の感
光性樹脂組成物か従来より02−RIE耐性に優れるも
のであることか理解出来る。
夾】l性λ 次に、ポリシラン化合物を下記の(C)式で表わされる
クロロ−1,1,4,4−テトラフェニルペンタメチル
テトラシランとしたこと以外は実施例1の手順と同様な
手順てポリシロキサン誘導体を合成する。ここで得られ
たポリシロキサン誘導体は、上述の0式中のB5及びB
6か共にアリル基であり、R41〜巳4.、が下記の(
C)式で示される物質から塩素か除かれたポリシラニル
基である、ポリシロキサン誘導体に相当する。
次に、増感剤としてのヒドロシラン化合物は実施例1と
同様なジメチルフェニルシランとし、実施例1と同様な
手順で実施例2の感光性樹脂組成物の塗布溶液を調製す
る。
次に、この実施例2の感光性樹脂組成物について、実施
例1のバターニング実験(その2)の手順と同様な手順
て感度(D懸5)及び解像力をそれぞれ調査する。
この結果、実施例2の感光性樹脂組成物の感度(D乳5
)は120m J / c m 2であることが分った
。また、0.5umのライン・アント・スペースパター
ンか解像されていることが分った。
釆覇l外旦 次に、ポリシラン化合物を下記の(d)式で表わされる
クロロ−1,5−ジンエニルノナメチルペンタシランと
したこと以外は実施例1と同様な手順てポリシロキサン
誘導体を合成する。ここで得られるポリシロキサン誘導
体は、上述の0式中のR5及び巳。か共にアリル基であ
り、R41〜巳、4か下記の(d)式で示される物質か
ら塩素か除かれたポリシラニル基である、ポリシロキサ
ン誘導体に相当する。
次に、増感剤としてのヒドロシラン化合物は実施例1と
同様なジメチルフェニルシランとし、実施例1と同様な
手順で実施例3の感光性樹脂組成物の塗布溶液を調製す
る。
次に、この実施例3の感光性樹脂組成物について、実施
例1のバターニング実験(その2)の手順と同様な手順
で感度(D雰5)及び解像力をそれぞれ調査する。
この結果、実施例3の感光性樹脂組成物の感度(D乳5
)は85 m J / c m 2であることか分った
。また、0.5umのライン・アンド・スベスパターン
か解像されていることか分った。
実施例4 次に、実施例1と全く同様にしてポリシロキサン誘導体
を合成する。次に、増感剤としてのヒドロシラン化合物
をこの実施例4ては下記(e)式で示されるフェニルメ
チルシラン(上記(I)式中のSか2(水素か2個)で
Bかフェニル基とメチル基のものに相当)とし、それ以
外は実施例1と同様な手順で実施例4の感光性樹脂組成
物の塗布溶液を調製する。
■ e 次に、この実施例4の感光性樹脂組成物について、実施
例1のバターニング実験(その2)の手順と同様な手順
で感度(D−5)及び解像力をそれぞれ調査する。
この結果、実施例4の感光性樹脂組成物の感度(Dor
L5)は30m J / c m 2であることが分っ
た。また、0.5umのライン・アント・スベスパター
ンか解像されていることか分った。
実施例2〜実施例4のバターニング実験結果から明らか
なように、実施例2〜4の各感光性樹脂組成物も従来の
感光性樹脂より優れた感度及び解像力を有することが理
解出来る。
なお、上述においては、この発明の理解を容易とするた
め、薬品の使用量、皮膜の膜厚、ヘーキング温度及び時
間、エツチング条件等を特定の値に設定していたか、こ
れら値は単なる例示でありこの発明かこれら値にのみ限
定されるものでないことは理解されたい。
(発明の効果) 上述した説明からも明らかなように、この発明の感光性
樹脂組成物は、02−RIE耐性か高いことて知られる
ポリシロキサン誘導体であって、不飽和基、アルキル基
及びハロゲン化アルキル基の中から選ばれた1種以上の
官能基とこの官能基に対し反応性の高いシリルラジカル
を効率的に発生するポリシラニル基とを有するポリシロ
キサン誘導体及び増感剤で構成されているので、高感度
、高解像度、高02−R工E耐性を示す。
従って、膜質及び加工精度に優れる感光性樹脂組成物か
提供出来る。
また、この発明の感光性樹脂組成物によれば、ポリシラ
ニル基の構造(例えば分岐の有無)や、ポリシラニル基
か有するケイ素数や置換基の種類を適当に選択すること
によって波長200〜400nmの広い範囲で光吸収波
長を変えられるので、1線用、XeCβエキシマレーザ
用、KrFエキシマレーザ用、△rFエキシマレーザ用
のレジストを構成することか可能になる。
特許出願人   沖電気工業株式会社

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)不飽和基、アルキル基及びハロゲン化アルキル基
    から成る群より選ばれた1種以上の基とポリシラニル基
    とを有するポリシロキサン誘導体及び増感剤から成るこ
    とを特徴とする感光性樹脂組成物。
  2. (2)前記ポリシロキサン誘導体を下記[1]式で示さ
    れるものとしたことを特徴とする請求項1に記載の感光
    性樹脂組成物(但し、R_1_1及びR_1_2は、ポ
    リシラニル基であり、同一であっても異なっていても良
    い。また、R_2及びR_3は、不飽和基、アルキル基
    及びハロゲン化アルキル基からなる群より選ばれた基で
    あり、同一であっても異なっていても良い。また、nは
    、正の整数である。)。 ▲数式、化学式、表等があります▼・・・(1)
  3. (3)前記ポリシロキサン誘導体を下記[2]式で示さ
    れるものとしたことを特徴とする請求項1に記載の感光
    性樹脂組成物(但し、R_4_1、R_4_2、R_4
    _3及びR_4_4は、ポリシラニル基であり、同一で
    あっても異なっていても良い。また、R_5及びR_6
    は、不飽和基、アルキル基及びハロゲン化アルキル基か
    らなる群より選ばれた基であり、同一であっても異なっ
    ていても良い。また、mは、正の整数である。)。 ▲数式、化学式、表等があります▼・・・(2)
  4. (4)前記不飽和基を、ビニル基(CH_2=CH−)
    、アリル基(CH_2=CHCH_2−)、イソプロペ
    ニル基▲数式、化学式、表等があります▼▲数式、化学
    式、表等があります▼及び2−ブテニル基(CH_2=
    CH−CH_2−CH_2−)としたことを特徴とする
    請求項1〜3のいずれか1項に記載の感光性樹脂組成物
  5. (5)前記アルキル基を、メチル基、エチル基、ノルマ
    ルプロピル基、イソプロピル基、ノルマルブチル基、イ
    ソブチル基及びターシャリブチル基としたことを特徴と
    する請求項1〜3のいずれか1項に記載の感光性樹脂組
    成物(但し、前記ポリシロキサン誘導体の置換基全てが
    ターシャリブチル基となる場合を除く。)。
  6. (6)前記ハロゲン化アルキル基を、クロロメチル基、
    クロロエチル基、クロロプロピル基、クロロブチル基、
    ブロモメチル基、ブロモエチル基、ブロモプロピル基、
    ブロモブチル基、ヨードメチル基、ヨードエチル基、ヨ
    ードプロピル基及びヨードブチル基としたことを特徴と
    する請求項1〜3のいずれか1項に記載の感光性樹脂組
    成物(但し、前記各ハロゲン化アルキル基中のハロゲン
    数は、1以上当該基においてとり得る最大数以下の範囲
    内のいずれの数でも良い。)。
  7. (7)前記ポリシラニル基を、下記[3]式で示される
    ポリシラニル基及び下記[4]式で示されるポリシラニ
    ル基の中から選ばれた基としたことを特徴とする請求項
    1〜3のいずれか1項に記載の感光性樹脂組成物(但し
    、R_A、R_B、R_D、R_E、R_F、R_G、
    R_H、R_K及びR_Lは、下記の[a]〜[g]か
    らなる群より選ばれた基であり、同一であっても異なっ
    ていても良い。 [a]・・・炭素数が10以下の鎖状、分岐状又は環状
    のアルキル基。 [b]・・・置換基を有していないフェニル基。 [c]・・・置換基を有していないナフチル基。 [d]・・・ニトロ基、炭素数5以下のアルコキシ基及
    びハロゲン基の中から選ばれた基を有す るフェニル基。 [e]・・・ニトロ基、炭素数5以下のアルコキシ基及
    びハロゲン基の中から選ばれた基を有す るナフチル基。 [f]・・・置換基を有していないビフェニル基。 [g]・・・ニトロ基、炭素数5以下のアルコキシ基及
    びハロゲン基の中から選ばれた基を有す るビフェニル基。 また、R_c、R_l及びR_jは、下記の[h]〜[
    o]からなる群より選ばれた基であり、同一であっても
    異なっていても良い。 [h]・・・炭素数10以下のアルキル基。 [i]・・・置換基を有していないフェニル基。 [j]・・・置換基を有していないナフチル基。 [k]・・・ニトロ基、アルコキシ基及びハロゲン基の
    中から選ばれた基を有するフェニル基。 [l]・・・ニトロ基、アルコキシ基及びハロゲン基の
    中から選ばれた基を有するナフチル基。 [m]・・・炭素数5以下のアルコキシ基。 [n]・・・置換基を有していないビフェニル基。 [o]・・・ニトロ基、アルコキシ基及びハロゲン基の
    中から選ばれた基を有するビフェニル 基。 また、[3]式中のケイ素数lは2≦l≦10を満足す
    る整数。また、[4]式中のケイ素数i、j、kは、0
    ≦i≦7、1≦j≦8、1≦k≦8でかつi+j+k≦
    9を満足する整数である。)。 ▲数式、化学式、表等があります▼・・・[3]
  8. (8)前記ポリシロキサン誘導体を得るための出発材料
    を、重量平均分子量か2,000以上100,000以
    下の直鎖状の末端水酸基のポリシロキサン誘導体とした
    ことを特徴とする請求項1又は2に記載の感光性樹脂組
    成物。
  9. (9)前記ポリシロキサン誘導体を得るための出発材料
    を、重量平均分子量か2,000以上100,000以
    下の末端水酸基のポリシルセスキオキサン誘導体とした
    ことを特徴とする請求項1又は3に記載の感光性樹脂組
    成物。
  10. (10)前記ポリシロキサン誘導体を請求項2に記載の
    ポリシロキサン誘導体と請求項3に記載のポリシロキサ
    ン誘導体との共重合体または混合物としたことを特徴と
    する請求項1に記載の感光性樹脂組成物。
  11. (11)前記増感剤を下記( I )〜(V)式で示され
    るヒドロシラン化合物の中から選ばれたものとしたこと
    を特徴とする請求項1に記載の感光性樹脂組成物(但し
    、( I )及び(II)式中のR、(III)式中のR’は、
    アルキル基、置換基を有していないフェニル基、置換基
    を有しているフェニル基、置換基を有しでいないナフチ
    ル基、置換基を有しているナフチル基、置換基を有して
    いないビフェニル基、置換基を有しているビフェニル基
    の中から選ばれた基である。また(III)〜(V)式中
    のRは、少なくとも1つは水素であり他は水素、アルキ
    ル基、置換基を有していないフェニル基、置換基を有し
    ているフェニル基、置換基を有していないナフチル基、
    置換基を有しているナフチル基、置換基を有していない
    ビフェニル基、置換基を有しているビフェニル基の中か
    ら選ばれた基である。さらに、( I )〜(V)式中、
    r、s、t、u、v、wは、r+s=4、r≧1、s≧
    1、t+u=6、u≧1、1≦v≦5、1≦w≦6を満
    足する正の整数である。)。 (R)_rSi(H)_s・・・( I ) (R)_rSi_2(H)_u・・・(II)▲数式、化
    学式、表等があります▼・・・(III) ▲数式、化学式、表等があります▼・・・(IV) ▲数式、化学式、表等があります▼・・・(V)
  12. (12)前記増感剤の前記ポリシロキサン誘導体に対す
    る添加率を0.1〜30mol%としたことを特徴とす
    る請求項1に記載の感光性樹脂組成物。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI756588B (zh) * 2018-11-21 2022-03-01 日商信越化學工業股份有限公司 含碘之熱固性含矽材料、含此材料之極紫外線微影用光阻下層膜形成用組成物、及圖案形成方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI756588B (zh) * 2018-11-21 2022-03-01 日商信越化學工業股份有限公司 含碘之熱固性含矽材料、含此材料之極紫外線微影用光阻下層膜形成用組成物、及圖案形成方法
US11914295B2 (en) 2018-11-21 2024-02-27 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. Thermosetting iodine- and silicon-containing material, composition containing the material for forming resist underlayer film for EUV lithography, and patterning process

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