JPH0410096B2 - - Google Patents
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- JPH0410096B2 JPH0410096B2 JP57113474A JP11347482A JPH0410096B2 JP H0410096 B2 JPH0410096 B2 JP H0410096B2 JP 57113474 A JP57113474 A JP 57113474A JP 11347482 A JP11347482 A JP 11347482A JP H0410096 B2 JPH0410096 B2 JP H0410096B2
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- JP
- Japan
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- data
- control device
- mode
- register
- circuit
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- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 claims description 17
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 claims description 5
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 4
- 238000002405 diagnostic procedure Methods 0.000 claims description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Digital Magnetic Recording (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
発明の技術分野
本発明は、フロツピイデイスクあるいはハード
デイスク等の磁気デイスク装置における制御装置
の診断方式に関し、特にデイスク媒体を使用せず
に、装置の通常の動作確認を行なうことができ、
VFO回路を含む制御装置内回路の全ての診断を
可能にする診断方式に関する。
デイスク等の磁気デイスク装置における制御装置
の診断方式に関し、特にデイスク媒体を使用せず
に、装置の通常の動作確認を行なうことができ、
VFO回路を含む制御装置内回路の全ての診断を
可能にする診断方式に関する。
技術の背景
一般に、磁気デイスク装置の制御回路を試験す
るためには、正常レコードを書込んだとき異常に
読出せるか否かと、育常レコードを書込んだと
き、異常として正しく応答してくれるか否かの２
種類の機能を主として試験する必要がある。
るためには、正常レコードを書込んだとき異常に
読出せるか否かと、育常レコードを書込んだと
き、異常として正しく応答してくれるか否かの２
種類の機能を主として試験する必要がある。
しかし、たとえばフロツピイデイスク装置の場
合、その制御装置の主要回路は、通常、フロツピ
イデイスクコントロールLSIを用いて構成されて
いるが、既存のこの種LSIでは、異常レコードを
作成することができない。そのため、予めフロツ
ピイデイスクドライブより送られてくるリードデ
ータと同じビツト直列の信号で、かつ何らかの異
常部分をもつレコードを作成し、これを書込んだ
ROMを制御装置に内蔵させておき、診断時にこ
のROM内の異常レコードを読出して、制御の診
断を行なつていた。
合、その制御装置の主要回路は、通常、フロツピ
イデイスクコントロールLSIを用いて構成されて
いるが、既存のこの種LSIでは、異常レコードを
作成することができない。そのため、予めフロツ
ピイデイスクドライブより送られてくるリードデ
ータと同じビツト直列の信号で、かつ何らかの異
常部分をもつレコードを作成し、これを書込んだ
ROMを制御装置に内蔵させておき、診断時にこ
のROM内の異常レコードを読出して、制御の診
断を行なつていた。
第１図は、フロツピイデイスクのセクタフオー
マツトを示す。
マツトを示す。
上記ROM内に書込まれるレコードは、ID部あ
るいはDATA部のCRC（Cyclic Redundancy
Check）が正常でないレコード、およびID部ある
いはDATA部のアドレスマークが正常でないよ
うな異常レコードである。
るいはDATA部のCRC（Cyclic Redundancy
Check）が正常でないレコード、およびID部ある
いはDATA部のアドレスマークが正常でないよ
うな異常レコードである。
このROMを作成するためには、FM記録方式
あるいはMFM記録方式通りに、データに対しク
ロツクビツトを付加して信号変換操作をしなけれ
ばならないため、人手によるROM作成には、多
くの設計工数を必要とした。
あるいはMFM記録方式通りに、データに対しク
ロツクビツトを付加して信号変換操作をしなけれ
ばならないため、人手によるROM作成には、多
くの設計工数を必要とした。
発明の目的および構成
本発明の目的は、磁気デイスク装置の制御装置
の診断において、診断用の異常レコードを、従来
方式のようなROMを使用して供給するのではな
く、CPUから供給して診断可能にする手段を提
供することにある。そのため、本発明は、制御装
置内部に、デイスクを経由しないライト系からリ
ード系への折返しバスを診断時に設定できるよう
にし、また診断用データを蓄積できるメモリを用
意して、制御装置内部での診断機能を高めるもの
であり、その構成として、磁気デイスク制御装置
において、該制御装置内に診断モードを設定する
ためのモードレジスタと、該モードレジスタの内
容にしたがつてライト系回路からリード系回路へ
内部折返しパスを形成するスイツチ回路と、リー
ドデータを選択的に蓄積できるメモリとをそな
え、上記制御装置を診断する際、上記モードレジ
スタを診断モードに設定して上記スイツチ回路に
より内部折返しパスを形成させ、予め作成した診
断用の正常レコードあるいは異常レコード等のデ
ータをライト入力し、内部折返しパスを経由して
リード系回路上に現われた該診断用のデータを上
記メモリに蓄積し、該蓄積された診断用のデータ
を用いて制御装置内の機能を診断することを特徴
としている。
の診断において、診断用の異常レコードを、従来
方式のようなROMを使用して供給するのではな
く、CPUから供給して診断可能にする手段を提
供することにある。そのため、本発明は、制御装
置内部に、デイスクを経由しないライト系からリ
ード系への折返しバスを診断時に設定できるよう
にし、また診断用データを蓄積できるメモリを用
意して、制御装置内部での診断機能を高めるもの
であり、その構成として、磁気デイスク制御装置
において、該制御装置内に診断モードを設定する
ためのモードレジスタと、該モードレジスタの内
容にしたがつてライト系回路からリード系回路へ
内部折返しパスを形成するスイツチ回路と、リー
ドデータを選択的に蓄積できるメモリとをそな
え、上記制御装置を診断する際、上記モードレジ
スタを診断モードに設定して上記スイツチ回路に
より内部折返しパスを形成させ、予め作成した診
断用の正常レコードあるいは異常レコード等のデ
ータをライト入力し、内部折返しパスを経由して
リード系回路上に現われた該診断用のデータを上
記メモリに蓄積し、該蓄積された診断用のデータ
を用いて制御装置内の機能を診断することを特徴
としている。
発明の実施例
以下に、本発明を実施例にしたがつて説明す
る。
る。
第２図は、本発明方式をフロツピイデイスク装
置に適用した場合の１実施例回路を示す。同図に
おいて、１はフロツピイデイスクの制御装置、２
はフロツピイデイスクドライブ、３は制御回路
LSI、４はデータレジスタ、５はコマンドレジス
タ、６はトラツク番号レジスタ、７はセクタ番号
レジスタ、８はステータスレジスタ、９はモード
レジスタ、１０はバイトカウンタ、１１はデータ
直／並列変換回路、１２はCRC生成およびチエ
ツク回路、１３はミキサ、１４はマルチプレク
サ、１５はデータセパレータ、１６はデータ保持
用のメモリ、１７はマルチプレクサ、１８は制御
部、１９はマルチプレクサ、２０はVFOを表わ
している。
置に適用した場合の１実施例回路を示す。同図に
おいて、１はフロツピイデイスクの制御装置、２
はフロツピイデイスクドライブ、３は制御回路
LSI、４はデータレジスタ、５はコマンドレジス
タ、６はトラツク番号レジスタ、７はセクタ番号
レジスタ、８はステータスレジスタ、９はモード
レジスタ、１０はバイトカウンタ、１１はデータ
直／並列変換回路、１２はCRC生成およびチエ
ツク回路、１３はミキサ、１４はマルチプレク
サ、１５はデータセパレータ、１６はデータ保持
用のメモリ、１７はマルチプレクサ、１８は制御
部、１９はマルチプレクサ、２０はVFOを表わ
している。
本実施例回路では、ライトデータが、ライト系
回路中のミキサ１３の出力から、リード系回路中
のデータセパレータ１５はLSI内部で折返し、も
う一つは、LSI外部でVFO２０へ折返すことがで
きるように、マルチプレクサ１４，１９の切替え
手段が設けられている。またリード系回路からの
リード信号は、データ保持用メモリ１６に蓄積可
能にされている。モードレジスタ９は、CPUか
らの診断モード指令DIAG１，DIAG２、
Memory Writeなどを保持し、折返しパスの選
択、あるいはデータ保持用メモリ１６へのリード
データの書込みを制御する信号を供給する。
回路中のミキサ１３の出力から、リード系回路中
のデータセパレータ１５はLSI内部で折返し、も
う一つは、LSI外部でVFO２０へ折返すことがで
きるように、マルチプレクサ１４，１９の切替え
手段が設けられている。またリード系回路からの
リード信号は、データ保持用メモリ１６に蓄積可
能にされている。モードレジスタ９は、CPUか
らの診断モード指令DIAG１，DIAG２、
Memory Writeなどを保持し、折返しパスの選
択、あるいはデータ保持用メモリ１６へのリード
データの書込みを制御する信号を供給する。
第３図はモードレジスタ９の構成を示す。レジ
スタは８ビツトの容量をもち、第０ビツト位置お
よび第１ビツト位置は診断モードを指定する場合
に設定される。第０ビツト位置はDIAG１動作モ
ードを示し、マルチプレクサ１４を介してのLSI
内部折返しを選択する。第１ビツト位置はDIAG
２動作モードであり、マルチプレクサ１９を介し
てのVFO２０経由の折返しを選択する。第２ビ
ツト位置はMemory Write動作モードであり、
通常のリードの際にCPUへのデータ転送を行な
うとき、同時にメモリ１６へリードデータを書込
ませる。
スタは８ビツトの容量をもち、第０ビツト位置お
よび第１ビツト位置は診断モードを指定する場合
に設定される。第０ビツト位置はDIAG１動作モ
ードを示し、マルチプレクサ１４を介してのLSI
内部折返しを選択する。第１ビツト位置はDIAG
２動作モードであり、マルチプレクサ１９を介し
てのVFO２０経由の折返しを選択する。第２ビ
ツト位置はMemory Write動作モードであり、
通常のリードの際にCPUへのデータ転送を行な
うとき、同時にメモリ１６へリードデータを書込
ませる。
第４図はバイトカウンタ１０の構成を示す。バ
イトカウンタ１０は上位、下位２つのカウンタで
構成され、診断モード時のデータ要求（DRQ）
回数を指定するために使用される。
イトカウンタ１０は上位、下位２つのカウンタで
構成され、診断モード時のデータ要求（DRQ）
回数を指定するために使用される。
このような構成をもつことにより、CPUは、
任意の正常レコードあるいは異常レコードを作成
して、制御装置１にライトデータとして供給し、
制御装置１内の折返しパスにより、ライトデータ
をリードデータとしてメモリに収集し、ライト系
あるいは必要に応じてVFOを含めたリード系の
チエツクを行なうことができる。
任意の正常レコードあるいは異常レコードを作成
して、制御装置１にライトデータとして供給し、
制御装置１内の折返しパスにより、ライトデータ
をリードデータとしてメモリに収集し、ライト系
あるいは必要に応じてVFOを含めたリード系の
チエツクを行なうことができる。
本方式では次に示すような異常レコードを自由
に作成して、CPU側から供給できる為、制御装
置（VFO回路を含む）全ての診断が容易になる。
に作成して、CPU側から供給できる為、制御装
置（VFO回路を含む）全ての診断が容易になる。
(1) ギヤツプ部分が“FF”でないものあるいは、
規格以上のバイト数であるもの、 (2) シンクフイールドが異常であるもの、 (3) ID／DATAのアドレスマークが正しくない
もの、 (4) ID／DATAのCRCが正しくないもの、 …など。
規格以上のバイト数であるもの、 (2) シンクフイールドが異常であるもの、 (3) ID／DATAのアドレスマークが正しくない
もの、 (4) ID／DATAのCRCが正しくないもの、 …など。
第５図は、IDアドレスマークを除去して作成
した異常レコードの例を示す。
した異常レコードの例を示す。
次に本方式による具体的な診断動作を説明す
る。
る。
〔ライト動作の診断〕
バイトカウンタ１０にデータ転送要求の回数
を指定する。
を指定する。
モードレジスタ９に診断モードの選択を指示
する。
する。
トラツク番号レジスタ６にトラツクアドレス
を、またセクタ番号レジスタ７にセクタ−アド
レスを書込む。
を、またセクタ番号レジスタ７にセクタ−アド
レスを書込む。
コマンドレジスタ５にライトコマンドを発行
する。
する。
バイトカウンタ１０で指定した回数だけ、１
バイト毎にデータ転送要求（DRQ）が、制御
装置１よりCPUに対して上がる。
バイト毎にデータ転送要求（DRQ）が、制御
装置１よりCPUに対して上がる。
１バイトのデータ転送要求毎に、CPUは、
データレジスタ４にデータを書込む。
データレジスタ４にデータを書込む。
データレジスタ４にライトされた８ビツトの
データは、データ直／並列変換回路１１で、並
列から直列に変換される。次にミキサ１３でク
ロツクビツトが付加され、ライトデータ信号と
なる。ここでモードレジスタ１で選択した診断
モードが有効となり、DIAG１をONにしてい
る場合は、制御用LSI内部で折り返えされ、次
にデータセパレータ部でクロツクビツトとデー
タビツトに分離され、データビツトのみがメモ
リ１６へ書込まれる。又DIAG２をONにして
いる場合は、ライトデータ信号がVFOをへて
リードデータ信号となり、データセパレータ部
に入力される。ここではクロツクビツトとデー
タビツトに分離され、データビツトのみがメモ
リへ書込まれる。
データは、データ直／並列変換回路１１で、並
列から直列に変換される。次にミキサ１３でク
ロツクビツトが付加され、ライトデータ信号と
なる。ここでモードレジスタ１で選択した診断
モードが有効となり、DIAG１をONにしてい
る場合は、制御用LSI内部で折り返えされ、次
にデータセパレータ部でクロツクビツトとデー
タビツトに分離され、データビツトのみがメモ
リ１６へ書込まれる。又DIAG２をONにして
いる場合は、ライトデータ信号がVFOをへて
リードデータ信号となり、データセパレータ部
に入力される。ここではクロツクビツトとデー
タビツトに分離され、データビツトのみがメモ
リへ書込まれる。
バイトカウンタ１０で指定した回数だけ、デ
ータ転送要求が終了すると、制御用LSI内部で
メモリにライトされているID−AMの検出が行
なわれ、次にトラツク番号とトラツクレジスタ
の内容およびセクタ番号とセクタ番号レジスタ
の内容が比較される。またID−CRCのチエツ
クも行う。
ータ転送要求が終了すると、制御用LSI内部で
メモリにライトされているID−AMの検出が行
なわれ、次にトラツク番号とトラツクレジスタ
の内容およびセクタ番号とセクタ番号レジスタ
の内容が比較される。またID−CRCのチエツ
クも行う。
が終了した時点でCPUに対し割込み
（IRQ）を上げ、動作終了を示す。
（IRQ）を上げ、動作終了を示す。
CPUは、状態表示レジスタをセンスし、ス
テータスのチエツクを行う。
テータスのチエツクを行う。
ライト動作の診断の際にライトしたメモリ１６
の内容をセンスして各種のステータスをチエツク
する。
の内容をセンスして各種のステータスをチエツク
する。
発明の効果
以上述べたように、本発明方式では、次に示す
３つの段階の診断方式をとることができ、制御部
分を切り分けてチエツクすることができ、障害部
分の特定が容易となる。
３つの段階の診断方式をとることができ、制御部
分を切り分けてチエツクすることができ、障害部
分の特定が容易となる。
(1) 制御用LSIの診断
(2) 制御用LSIの診断及びVFO回路の動作確認
(3) 制御用LSIの診断及びVFO回路の動作確認／
デバイスの動作確認。
デバイスの動作確認。
また、診断時に使用しているメモリを使用し、
頻度の高いFileをメモリに保持して使用すること
により、アクセス時間の短縮を図ることができ
る。
頻度の高いFileをメモリに保持して使用すること
により、アクセス時間の短縮を図ることができ
る。
第１図はセクタフオーマツトの説明図、第２図
は実施例装置の構成図、第３図はモードレジスタ
の説明図、第４図はバイトカウンタの説明図、第
５図は異常レコードの説明図である。 図中、１はフロツピイデイスク制御装置、２は
フロツピイデイスクドライブ、４はデータレジス
タ、９はモードレジスタ、１０はバイトカウン
タ、１６はメモリ、１８は制御部、１４および１
９はマルチプレクサ、２０はVFOを表わす。
は実施例装置の構成図、第３図はモードレジスタ
の説明図、第４図はバイトカウンタの説明図、第
５図は異常レコードの説明図である。 図中、１はフロツピイデイスク制御装置、２は
フロツピイデイスクドライブ、４はデータレジス
タ、９はモードレジスタ、１０はバイトカウン
タ、１６はメモリ、１８は制御部、１４および１
９はマルチプレクサ、２０はVFOを表わす。
Claims (1)
- １ 磁気デイスク制御装置において、該制御装置
内に診断モードを設定するためのモードレジスタ
と、該モードレジスタの内容にしたがつてライト
系回路からリード系回路へ内部折返しパスを形成
するスイツチ回路と、リードデータを選択的に蓄
積できるメモリとをそなえ、上記制御装置を診断
する際、上記モードレジスタを診断モードに設定
して上記スイツチ回路により内部折返しパスを形
成させ、予め作成した診断用の正常レコードある
いは異常レコード等のデータをライト入力し、内
部折返しパスを経由してリード系回路上に現われ
た該診断用のデータを上記メモリに蓄積し、該蓄
積された診断用のデータを用いて制御装置内の機
能を診断することを特徴とする診断方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57113474A JPS5998263A (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | 磁気デイスク制御装置診断方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57113474A JPS5998263A (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | 磁気デイスク制御装置診断方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5998263A JPS5998263A (ja) | 1984-06-06 |
| JPH0410096B2 true JPH0410096B2 (ja) | 1992-02-24 |
Family
ID=14613174
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57113474A Granted JPS5998263A (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | 磁気デイスク制御装置診断方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5998263A (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2153114B (en) * | 1984-01-24 | 1987-11-04 | Apple Computer | Integrated floppy disk drive controller |
| JP2622953B2 (ja) * | 1986-04-25 | 1997-06-25 | 株式会社リコー | ディジタル記録・再生装置における誤動作検出方式 |
| JPH0237571A (ja) * | 1988-07-27 | 1990-02-07 | Nec Corp | データ記録再生装置 |
| JPH02162573A (ja) * | 1988-12-16 | 1990-06-22 | Nec Corp | データ記録再生装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5564660A (en) * | 1978-11-06 | 1980-05-15 | Toshiba Corp | Self-diagnostic device of magnetic disk unit |
-
1982
- 1982-06-30 JP JP57113474A patent/JPS5998263A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5564660A (en) * | 1978-11-06 | 1980-05-15 | Toshiba Corp | Self-diagnostic device of magnetic disk unit |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5998263A (ja) | 1984-06-06 |
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