JPH039880A - 情報記録媒体 - Google Patents
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- JPH039880A JPH039880A JP1143470A JP14347089A JPH039880A JP H039880 A JPH039880 A JP H039880A JP 1143470 A JP1143470 A JP 1143470A JP 14347089 A JP14347089 A JP 14347089A JP H039880 A JPH039880 A JP H039880A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光による記録層の相変化を利用して情報の記録
再生及び書き換えを行う為の相変化型光情報記録媒体に
関する。
再生及び書き換えを行う為の相変化型光情報記録媒体に
関する。
電磁波特にレーザービームの照射により情報の記録・再
生および消去可能な光メモリー媒体の一つとして、精品
−非晶質相聞或いは結晶−結晶相聞の転移を利用する、
いわゆる相変化型記録媒体が良く知られている。特に光
磁気メモリーでは困難な単一ビー11によるオーバーラ
イドが可能であり、ドライブ側の光学系もより単純であ
ることなどから最近その研究開発が活発になっている。
生および消去可能な光メモリー媒体の一つとして、精品
−非晶質相聞或いは結晶−結晶相聞の転移を利用する、
いわゆる相変化型記録媒体が良く知られている。特に光
磁気メモリーでは困難な単一ビー11によるオーバーラ
イドが可能であり、ドライブ側の光学系もより単純であ
ることなどから最近その研究開発が活発になっている。
その代表的な材料例として、USP 3,530,44
1に開示されているようにGe−Te、Ge−Te−5
b 、Ge−Te−3,、Ge−5e−5、Ge−5e
−5b 、 Ge−A 5−5e 、 In−Te、5
e−Te、5s−As等所謂カルコゲン系合金材料が挙
げられる。又、安定性、高速結晶化等の向上を目的にG
e−Te系にAu (特開昭61−219692号)。
1に開示されているようにGe−Te、Ge−Te−5
b 、Ge−Te−3,、Ge−5e−5、Ge−5e
−5b 、 Ge−A 5−5e 、 In−Te、5
e−Te、5s−As等所謂カルコゲン系合金材料が挙
げられる。又、安定性、高速結晶化等の向上を目的にG
e−Te系にAu (特開昭61−219692号)。
Sn及びAu (特開昭61−270190号) 、
Pd (特開昭62−19400号)等を添加した材料
の提案や、記録/消去の繰返し性能向上を目的にGe−
Te−5e−5bの組成比を特定した材料(特開昭62
−73438号)の提案等もなされている。しかしなが
ら、そのいずれもが相変化型書換え可能光メモリー媒体
として要求される諸特性のすべてを満足し得るものとは
いえない。特に記録感度、消去感度の向上、オーバーラ
イド時の消し残りによる消去比低下の防止、くり返し性
能の向上並びに記録部、未記録部の長寿命化が解決すべ
き最重要課題となっている。
Pd (特開昭62−19400号)等を添加した材料
の提案や、記録/消去の繰返し性能向上を目的にGe−
Te−5e−5bの組成比を特定した材料(特開昭62
−73438号)の提案等もなされている。しかしなが
ら、そのいずれもが相変化型書換え可能光メモリー媒体
として要求される諸特性のすべてを満足し得るものとは
いえない。特に記録感度、消去感度の向上、オーバーラ
イド時の消し残りによる消去比低下の防止、くり返し性
能の向上並びに記録部、未記録部の長寿命化が解決すべ
き最重要課題となっている。
本発明の目的は従来技術における上記問題点を解消し高
速消去、記録感度、消去感度の向上、記録部の安定性等
の特性を全て満足する新規な相転移性四元化合物を用い
たオーバーライド可能な相変化型情報記録媒体を提供し
ようとするものである。
速消去、記録感度、消去感度の向上、記録部の安定性等
の特性を全て満足する新規な相転移性四元化合物を用い
たオーバーライド可能な相変化型情報記録媒体を提供し
ようとするものである。
上記課題を解決するための本発明の構成は基板上に、下
記一般式で示される四元化合物よりなる記録層を設けた
ことを特徴とする相変化型情報記録媒体に関する。
記一般式で示される四元化合物よりなる記録層を設けた
ことを特徴とする相変化型情報記録媒体に関する。
一般式
%式%)
ここでXは周期律表第Ib族元素から選ばれた元素、Y
Iは第1II b族元素から選ばれた元素、又Y、は第
Vb族元素から選ばれた元素、Zは第VIb族元索から
選ばれた元素を表わす。
Iは第1II b族元素から選ばれた元素、又Y、は第
Vb族元素から選ばれた元素、Zは第VIb族元索から
選ばれた元素を表わす。
具体的にはXとしてはCu 、 Ag 、^Uが、YI
としてはAl、Ga、Inが、YIlとしてはSb、B
iが、ZとしてはSe 、 Teなどを挙げることがで
きる。
としてはAl、Ga、Inが、YIlとしてはSb、B
iが、ZとしてはSe 、 Teなどを挙げることがで
きる。
本発明の記録層に用いられる前記一般式の四元化合物は
X又は(Y、YIl)又はZの各々の元素比をかえるこ
とにより融点、結晶化温度、活性化エネルギー及びその
光学定数等を任意に変化させることが可能である。すな
わち本発明の基礎をなすtbIIIbvrb、化合物、
あるいはIbVbVIb、化合物は融点が約500〜8
00℃前後にあり、又、そのエネルギーギャップも現在
多く使用されている(GaA1)As系半導体レーザに
対して効率的に吸収可能な範囲にあるため、感度の向上
及び高速消去が可能となる。
X又は(Y、YIl)又はZの各々の元素比をかえるこ
とにより融点、結晶化温度、活性化エネルギー及びその
光学定数等を任意に変化させることが可能である。すな
わち本発明の基礎をなすtbIIIbvrb、化合物、
あるいはIbVbVIb、化合物は融点が約500〜8
00℃前後にあり、又、そのエネルギーギャップも現在
多く使用されている(GaA1)As系半導体レーザに
対して効率的に吸収可能な範囲にあるため、感度の向上
及び高速消去が可能となる。
本発明はこれら三元系化合物の有する各種物性の幅を四
元素とすることにより大きく拡大することができるため
現在相変化型光記録媒体が有する前記問題点を解消した
ものである。
元素とすることにより大きく拡大することができるため
現在相変化型光記録媒体が有する前記問題点を解消した
ものである。
又前記一般式の化合物の場合、成膜条件によっては従来
の非晶質−結晶質間の相転移と同時に結晶質−結晶質間
の相転移も可能である。
の非晶質−結晶質間の相転移と同時に結晶質−結晶質間
の相転移も可能である。
以上のような本発明の新規な相転移性四元化合物の具体
的な例としては、 Ag(Inx−5b、−x)Te、、 Ag(Inx−
5b、−x)Se2゜Ag(Gax−5bi−x)Te
t、 Ag(Alx−Sb1−x)Te2゜ Ag(Inx−Bil−x)Te2゜ Ag(Gax−Bi、−x)Te、、 Ag(Alx−[1i□−x)Te、、Cu(Inx−
5b、−x)Te2、 Cu(Gax−5b、−x)Te2゜ 3g(Gax−5b、−x)Scj、 Ag(Alx−5b、−x)ScJ、 Ag(Inx−Bi□−x)Ss、、 Ag(Gax−Bi□−x)Se2、 Ag(Alx・[li、−x)Se2゜Cu(Inx−
5b、−x)Se、、 Cu(Gax−5b、−x)Se、、 Cu(^1x−5b□−x)Te、、Cu(Alx−5
b、−x)Se2゜Cu(Inx−Bi□−x)Te、
、Cu(Inx−Bi、−x)Se2、Cu(Gax−
Bi、−x)Tc2、Cu(Gax−Bil−x)Se
、、Cu(Alx−[3i、−x)Te、、Cu(Al
x−[1i1−x)Se2、等が挙げられる。
的な例としては、 Ag(Inx−5b、−x)Te、、 Ag(Inx−
5b、−x)Se2゜Ag(Gax−5bi−x)Te
t、 Ag(Alx−Sb1−x)Te2゜ Ag(Inx−Bil−x)Te2゜ Ag(Gax−Bi、−x)Te、、 Ag(Alx−[1i□−x)Te、、Cu(Inx−
5b、−x)Te2、 Cu(Gax−5b、−x)Te2゜ 3g(Gax−5b、−x)Scj、 Ag(Alx−5b、−x)ScJ、 Ag(Inx−Bi□−x)Ss、、 Ag(Gax−Bi□−x)Se2、 Ag(Alx・[li、−x)Se2゜Cu(Inx−
5b、−x)Se、、 Cu(Gax−5b、−x)Se、、 Cu(^1x−5b□−x)Te、、Cu(Alx−5
b、−x)Se2゜Cu(Inx−Bi□−x)Te、
、Cu(Inx−Bi、−x)Se2、Cu(Gax−
Bi、−x)Tc2、Cu(Gax−Bil−x)Se
、、Cu(Alx−[3i、−x)Te、、Cu(Al
x−[1i1−x)Se2、等が挙げられる。
本発明で用いられる基板は通常、ガラス、石英、セラミ
ックスあるいは樹脂であり、樹脂基板が成型性、コスト
等の点で好適である。樹脂の代表例としてはポリカーボ
ネート樹脂、アクリル樹脂、エポキシ樹脂、ポリスチレ
ン樹脂、アクリロニトリル−スチレン共重合体樹脂、ポ
リエチレン樹脂、ポリプロピレン樹脂、シリコン系樹脂
、フッ素系樹脂、ABS樹脂、ウレタン樹脂等が挙げら
れるが、加工性、光学特性等の点でポリカーボネート樹
脂、ポリメチルメタクリレートのようなアクリル系樹脂
が好ましい。
ックスあるいは樹脂であり、樹脂基板が成型性、コスト
等の点で好適である。樹脂の代表例としてはポリカーボ
ネート樹脂、アクリル樹脂、エポキシ樹脂、ポリスチレ
ン樹脂、アクリロニトリル−スチレン共重合体樹脂、ポ
リエチレン樹脂、ポリプロピレン樹脂、シリコン系樹脂
、フッ素系樹脂、ABS樹脂、ウレタン樹脂等が挙げら
れるが、加工性、光学特性等の点でポリカーボネート樹
脂、ポリメチルメタクリレートのようなアクリル系樹脂
が好ましい。
又、基板の形状としてはディスク状、カード状あるいは
シート状であっても良い。
シート状であっても良い。
本発明の光情報記録媒体を作るには所定の組酸比のター
ゲットを作製し、スパッター法による方法が好適である
。又膜の組成ずれを補正するために必要に応じて単元素
のチップを用いる場合もある。
ゲットを作製し、スパッター法による方法が好適である
。又膜の組成ずれを補正するために必要に応じて単元素
のチップを用いる場合もある。
こうして形成された記録層の厚さは通常300〜150
0人、好ましくは500〜1000人である。なお記録
層を非晶質状態にするか、或いは結晶状態にするかは蒸
着時の基板温度によって決定され、常温の場合は非晶質
状態となり、又材料にもよるが、100℃以上の場合(
又は前記温度でのアニール後)は結晶状態となる。
0人、好ましくは500〜1000人である。なお記録
層を非晶質状態にするか、或いは結晶状態にするかは蒸
着時の基板温度によって決定され、常温の場合は非晶質
状態となり、又材料にもよるが、100℃以上の場合(
又は前記温度でのアニール後)は結晶状態となる。
本発明では記録層上に更に保護層を設けることができる
。保IIの材料としては熱的に安定な窒化ケイ素等の窒
化物;二酸化ケイ素、二酸化チタン等の酸化物等が使用
されろ。好ましい材料としてはSin、5in2.Zn
O,Sn○2. A I、0.、 T i O2,I
n、O,、M g O。
。保IIの材料としては熱的に安定な窒化ケイ素等の窒
化物;二酸化ケイ素、二酸化チタン等の酸化物等が使用
されろ。好ましい材料としてはSin、5in2.Zn
O,Sn○2. A I、0.、 T i O2,I
n、O,、M g O。
zrO2等の金属酸化物、S i3N4. A I N
。
。
TiN、BN、ZrN等の窒化物、SiC,TaC,B
4C,WC,TiC,ZrC等の炭化物やダイヤモンド
状カーボン或いはそれらの混合物が挙げられる。又、必
要に応じて不純物を含んでいてもよい。このような保W
INは各種気相成膜法、例えば、真空蒸着法、スパッタ
法、プラズマCVD法、光CVD法、イオンブレーティ
ング法、電子ビーム蒸着法等によって形成できる。なお
、保護層の厚さは通常300〜t、so。
4C,WC,TiC,ZrC等の炭化物やダイヤモンド
状カーボン或いはそれらの混合物が挙げられる。又、必
要に応じて不純物を含んでいてもよい。このような保W
INは各種気相成膜法、例えば、真空蒸着法、スパッタ
法、プラズマCVD法、光CVD法、イオンブレーティ
ング法、電子ビーム蒸着法等によって形成できる。なお
、保護層の厚さは通常300〜t、so。
人、好ましくは約1,000人である。形成法は記録層
の場合と同様1通常スパッタ法が適用される。 記録、
再生及び消去に用いる111波としてはレーザー光、電
子線、X線、紫外線、可視光線、赤外線、マイクロ波等
1種々のものが採用可能であるが、ドライブに取付ける
際、小型でコンパクトな半導体レーザーのビームが最適
である。
の場合と同様1通常スパッタ法が適用される。 記録、
再生及び消去に用いる111波としてはレーザー光、電
子線、X線、紫外線、可視光線、赤外線、マイクロ波等
1種々のものが採用可能であるが、ドライブに取付ける
際、小型でコンパクトな半導体レーザーのビームが最適
である。
以下に本発明を実施例によって更に詳しく説明する。
実施例I
A gzs (I n1x、5s bxz、s) T
esoの組成を有するスパッタ用ターゲットを作製し、
直径130mm、厚み1 、2mmのガラス基板上にス
パッタ法により1000人厚の記8層を形成した後、保
護膜として窒化ケイ素を1000人厚同じくスパッタ法
で形成した。
esoの組成を有するスパッタ用ターゲットを作製し、
直径130mm、厚み1 、2mmのガラス基板上にス
パッタ法により1000人厚の記8層を形成した後、保
護膜として窒化ケイ素を1000人厚同じくスパッタ法
で形成した。
得られた記a層は非晶質であるため記8mの初期化(結
晶化)をほどこした。記8WIを形成する際、テストピ
ースとしてスライドガラス上に同じ膜を形成しておき、
この膜から本記録層の光学特性、熱的特性をそれぞれ分
光光度計及びDSCにより測定した。
晶化)をほどこした。記8WIを形成する際、テストピ
ースとしてスライドガラス上に同じ膜を形成しておき、
この膜から本記録層の光学特性、熱的特性をそれぞれ分
光光度計及びDSCにより測定した。
本記録層の融点は〜620℃であり、結晶化温度は〜1
30℃前後であった。又非晶質と初期化後(結晶化)の
間の反射率変化は〜18%程度であった(測定波長78
0nn+) 。
30℃前後であった。又非晶質と初期化後(結晶化)の
間の反射率変化は〜18%程度であった(測定波長78
0nn+) 。
これらの値はInとsbの組成比をかえることによって
変化することはもちろんである。このことは目的に応じ
て記録感度、消去感度及び記録の長寿命化をはかる為の
自由度が広いことを示している。
変化することはもちろんである。このことは目的に応じ
て記録感度、消去感度及び記録の長寿命化をはかる為の
自由度が広いことを示している。
次に初期化後の記録媒体を180Orpmの速度で回転
させながらビーム径を1μmφ程度に絞った半導体レー
ザi光(発振波長λ= 780nm)を照射することに
より、記録、再生及び消去を行った・ なお、記録出力は記録最小パワー11m1+I、再生出
力は2mW、消去出力は消去最小パワー51である。又
この出力/消去条件で記録後、さらに2Mfizでオー
バーライド試験を行った。
させながらビーム径を1μmφ程度に絞った半導体レー
ザi光(発振波長λ= 780nm)を照射することに
より、記録、再生及び消去を行った・ なお、記録出力は記録最小パワー11m1+I、再生出
力は2mW、消去出力は消去最小パワー51である。又
この出力/消去条件で記録後、さらに2Mfizでオー
バーライド試験を行った。
その結果、初期記録のC/N比は52dllでオーバー
ライド後も51dllと殆ど変わらなかった。又この時
の消去率は31dllであり消去残りが若干認められる
が、充分使用可能な段階であることが確認された。又i
o、ooo回の記録、消去のくり返し実験を行ったが、
信号レベルの低下はほとんど認められず、くり返し特性
も良好であることが確認された。
ライド後も51dllと殆ど変わらなかった。又この時
の消去率は31dllであり消去残りが若干認められる
が、充分使用可能な段階であることが確認された。又i
o、ooo回の記録、消去のくり返し実験を行ったが、
信号レベルの低下はほとんど認められず、くり返し特性
も良好であることが確認された。
以下、本発明の記S層を用いることにより記録感度及び
消去感度はGeTe、Sb2Te、系記録層に比較し大
きく向上し、消去率、くり返し特性も改良されているこ
とが確認された。
消去感度はGeTe、Sb2Te、系記録層に比較し大
きく向上し、消去率、くり返し特性も改良されているこ
とが確認された。
実施例2
A gas (I n1ss bto) T esoの
組成を有するターゲラi・を作製し、実施例1と同じ方
法で光情報記録媒体を作製した。テストピースにより光
学特性、熱特性をそれぞれ分光光度計及びDSCにより
測定した0反射率変化は蒸着後(非晶質)と初期化後(
結晶質)(λ= 780nm)で18層程度であり、融
点は〜620℃、結晶化温度は〜160℃前後であった
。
組成を有するターゲラi・を作製し、実施例1と同じ方
法で光情報記録媒体を作製した。テストピースにより光
学特性、熱特性をそれぞれ分光光度計及びDSCにより
測定した0反射率変化は蒸着後(非晶質)と初期化後(
結晶質)(λ= 780nm)で18層程度であり、融
点は〜620℃、結晶化温度は〜160℃前後であった
。
次に初期化後の記録媒体を180Orpmの速度で回転
させながらビーム径を1μmφ程度に絞った半導体レー
ザー光(λ= 780nm)を照射することにより記録
、再生及び消去をおこなった。
させながらビーム径を1μmφ程度に絞った半導体レー
ザー光(λ= 780nm)を照射することにより記録
、再生及び消去をおこなった。
なお記録出力は記録最小パワー11+nW、再生出力は
2mW、消去出力は消去最小パワー7n+Wであった。
2mW、消去出力は消去最小パワー7n+Wであった。
又この出力/消去条件で記録後さらに2M Hzでオー
バーライド実験を行った。
バーライド実験を行った。
その結果初期記録のC/N比は52dB、オーバーライ
ド後も50dBと良好な値を示した。又この時の消去率
は30d[lであった。
ド後も50dBと良好な値を示した。又この時の消去率
は30d[lであった。
又10,000回の記録、消去のくり返し実験を行った
が、信号レベルの低下はほとんど認められなかった。
が、信号レベルの低下はほとんど認められなかった。
以下本発明の28層を用いることにより記録感度及び消
去感度はGeTe、Sb2Te、県北り層に比較し大い
に向上し、消去率、くり返し特性も改良されていること
が確認された。
去感度はGeTe、Sb2Te、県北り層に比較し大い
に向上し、消去率、くり返し特性も改良されていること
が確認された。
実施例3
A g25 (I n1lls bus) T (35
6の組成を有するスパッタ用ターゲットを作製し、直径
130ff1m、厚さ!、2n+n+のガラス基板上に
実施例1.2と同じ方法により1000人厚の記録層を
設けた後、窒化シリコンを保護膜として1000人厚形
記録た。
6の組成を有するスパッタ用ターゲットを作製し、直径
130ff1m、厚さ!、2n+n+のガラス基板上に
実施例1.2と同じ方法により1000人厚の記録層を
設けた後、窒化シリコンを保護膜として1000人厚形
記録た。
そして初めにテストピースにより本記録層の光学特性及
び熱特性を実施例1,2と同じく分光光度計及びDSC
により測定した。反射率変化は蒸着後(非晶質)と初期
化後(結晶質)(λ= 780nm)で20層程度であ
った。又融点は〜590℃、結晶化温度は〜120℃前
後であった。
び熱特性を実施例1,2と同じく分光光度計及びDSC
により測定した。反射率変化は蒸着後(非晶質)と初期
化後(結晶質)(λ= 780nm)で20層程度であ
った。又融点は〜590℃、結晶化温度は〜120℃前
後であった。
次に本記録層のディスク特性を実施例1,2と同様に測
定した。先ず記録媒体を1800rpmの速度で回転さ
せながらビーム径を1μmφ程度に絞った半導体レーザ
光(λ= 780nn+)を照射することにより、記録
、再生及び消去を行った。
定した。先ず記録媒体を1800rpmの速度で回転さ
せながらビーム径を1μmφ程度に絞った半導体レーザ
光(λ= 780nn+)を照射することにより、記録
、再生及び消去を行った。
なお記録出力は記録最小パワー1011w、再生出力は
2IIIw、消去出力は消去最小イ(ワー5mすであっ
た。
2IIIw、消去出力は消去最小イ(ワー5mすであっ
た。
又この出力/消去条件で記録後さらに2M Hzでオー
バーライドの実験を行った。
バーライドの実験を行った。
その結果初期記録のC/N比53dB、オーバーライド
後も51dBであった。一方この時の消去率は32dB
であった。
後も51dBであった。一方この時の消去率は32dB
であった。
又10.000回の記録、消去の繰返し実験を行ったが
、信号レベルの低下はほとんどみとめられなかった。
、信号レベルの低下はほとんどみとめられなかった。
以上説明したように、本発明で用いられる前記一般式の
四元化合物は、その構成元素比を変化させることにより
、その光学定数をはじめ。
四元化合物は、その構成元素比を変化させることにより
、その光学定数をはじめ。
融点、結晶化点及び活性化エネルギーを広い範囲で任意
に制御することが可能なため相変化型光メモリー用記録
層材料として使用した時、記録感度、消去感度の向上、
及び消去率の改良そして記録の長寿命化をはかることが
できる。
に制御することが可能なため相変化型光メモリー用記録
層材料として使用した時、記録感度、消去感度の向上、
及び消去率の改良そして記録の長寿命化をはかることが
できる。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、基板上に、下記一般式で示される四元化合物より成
る記録層を設けたことを特徴とする相変化型情報記録媒
体。 一般式 X・(Y_ I 、Y_II)Z_2 (但しXは周期律表第 I b族元素から選ばれた元素。 Y_ I は第IIIb族元素から選ばれた元素、 Y_IIは第Vb族元素から選ばれた元素、 Zは第VIb族元素から選ばれた元素を表わす。)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1143470A JP2963106B2 (ja) | 1989-06-06 | 1989-06-06 | 情報記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1143470A JP2963106B2 (ja) | 1989-06-06 | 1989-06-06 | 情報記録媒体 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11131479A Division JP2000025339A (ja) | 1999-05-12 | 1999-05-12 | 相変化型情報記録媒体の利用方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH039880A true JPH039880A (ja) | 1991-01-17 |
JP2963106B2 JP2963106B2 (ja) | 1999-10-12 |
Family
ID=15339454
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1143470A Expired - Lifetime JP2963106B2 (ja) | 1989-06-06 | 1989-06-06 | 情報記録媒体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2963106B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5316402A (en) * | 1991-12-13 | 1994-05-31 | Tombow Pencil Co., Ltd. | Penholder cap |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63251290A (ja) * | 1987-04-08 | 1988-10-18 | Hitachi Ltd | 光記録媒体と記録・再生方法及びその応用 |
-
1989
- 1989-06-06 JP JP1143470A patent/JP2963106B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63251290A (ja) * | 1987-04-08 | 1988-10-18 | Hitachi Ltd | 光記録媒体と記録・再生方法及びその応用 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5316402A (en) * | 1991-12-13 | 1994-05-31 | Tombow Pencil Co., Ltd. | Penholder cap |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2963106B2 (ja) | 1999-10-12 |
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Legal Events
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