JPH039880A - 情報記録媒体 - Google Patents

情報記録媒体

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JPH039880A
JPH039880A JP1143470A JP14347089A JPH039880A JP H039880 A JPH039880 A JP H039880A JP 1143470 A JP1143470 A JP 1143470A JP 14347089 A JP14347089 A JP 14347089A JP H039880 A JPH039880 A JP H039880A
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Masato Harigai
真人 針谷
Yukio Ide
由紀雄 井手
Katsuyuki Yamada
勝幸 山田
Hiroko Iwasaki
岩崎 博子
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光による記録層の相変化を利用して情報の記録
再生及び書き換えを行う為の相変化型光情報記録媒体に
関する。
〔従来技術〕
電磁波特にレーザービームの照射により情報の記録・再
生および消去可能な光メモリー媒体の一つとして、精品
−非晶質相聞或いは結晶−結晶相聞の転移を利用する、
いわゆる相変化型記録媒体が良く知られている。特に光
磁気メモリーでは困難な単一ビー11によるオーバーラ
イドが可能であり、ドライブ側の光学系もより単純であ
ることなどから最近その研究開発が活発になっている。
その代表的な材料例として、USP 3,530,44
1に開示されているようにGe−Te、Ge−Te−5
b 、Ge−Te−3,、Ge−5e−5、Ge−5e
−5b 、 Ge−A 5−5e 、 In−Te、5
e−Te、5s−As等所謂カルコゲン系合金材料が挙
げられる。又、安定性、高速結晶化等の向上を目的にG
e−Te系にAu (特開昭61−219692号)。
Sn及びAu (特開昭61−270190号) 、 
Pd (特開昭62−19400号)等を添加した材料
の提案や、記録/消去の繰返し性能向上を目的にGe−
Te−5e−5bの組成比を特定した材料(特開昭62
−73438号)の提案等もなされている。しかしなが
ら、そのいずれもが相変化型書換え可能光メモリー媒体
として要求される諸特性のすべてを満足し得るものとは
いえない。特に記録感度、消去感度の向上、オーバーラ
イド時の消し残りによる消去比低下の防止、くり返し性
能の向上並びに記録部、未記録部の長寿命化が解決すべ
き最重要課題となっている。
〔発明が解決しようとする課題〕
本発明の目的は従来技術における上記問題点を解消し高
速消去、記録感度、消去感度の向上、記録部の安定性等
の特性を全て満足する新規な相転移性四元化合物を用い
たオーバーライド可能な相変化型情報記録媒体を提供し
ようとするものである。
〔課題を解決するための手段〕
上記課題を解決するための本発明の構成は基板上に、下
記一般式で示される四元化合物よりなる記録層を設けた
ことを特徴とする相変化型情報記録媒体に関する。
一般式 %式%) ここでXは周期律表第Ib族元素から選ばれた元素、Y
Iは第1II b族元素から選ばれた元素、又Y、は第
Vb族元素から選ばれた元素、Zは第VIb族元索から
選ばれた元素を表わす。
具体的にはXとしてはCu 、 Ag 、^Uが、YI
としてはAl、Ga、Inが、YIlとしてはSb、B
iが、ZとしてはSe 、 Teなどを挙げることがで
きる。
本発明の記録層に用いられる前記一般式の四元化合物は
X又は(Y、YIl)又はZの各々の元素比をかえるこ
とにより融点、結晶化温度、活性化エネルギー及びその
光学定数等を任意に変化させることが可能である。すな
わち本発明の基礎をなすtbIIIbvrb、化合物、
あるいはIbVbVIb、化合物は融点が約500〜8
00℃前後にあり、又、そのエネルギーギャップも現在
多く使用されている(GaA1)As系半導体レーザに
対して効率的に吸収可能な範囲にあるため、感度の向上
及び高速消去が可能となる。
本発明はこれら三元系化合物の有する各種物性の幅を四
元素とすることにより大きく拡大することができるため
現在相変化型光記録媒体が有する前記問題点を解消した
ものである。
又前記一般式の化合物の場合、成膜条件によっては従来
の非晶質−結晶質間の相転移と同時に結晶質−結晶質間
の相転移も可能である。
以上のような本発明の新規な相転移性四元化合物の具体
的な例としては、 Ag(Inx−5b、−x)Te、、 Ag(Inx−
5b、−x)Se2゜Ag(Gax−5bi−x)Te
t、 Ag(Alx−Sb1−x)Te2゜ Ag(Inx−Bil−x)Te2゜ Ag(Gax−Bi、−x)Te、、 Ag(Alx−[1i□−x)Te、、Cu(Inx−
5b、−x)Te2、 Cu(Gax−5b、−x)Te2゜ 3g(Gax−5b、−x)Scj、 Ag(Alx−5b、−x)ScJ、 Ag(Inx−Bi□−x)Ss、、 Ag(Gax−Bi□−x)Se2、 Ag(Alx・[li、−x)Se2゜Cu(Inx−
5b、−x)Se、、 Cu(Gax−5b、−x)Se、、 Cu(^1x−5b□−x)Te、、Cu(Alx−5
b、−x)Se2゜Cu(Inx−Bi□−x)Te、
、Cu(Inx−Bi、−x)Se2、Cu(Gax−
Bi、−x)Tc2、Cu(Gax−Bil−x)Se
、、Cu(Alx−[3i、−x)Te、、Cu(Al
x−[1i1−x)Se2、等が挙げられる。
本発明で用いられる基板は通常、ガラス、石英、セラミ
ックスあるいは樹脂であり、樹脂基板が成型性、コスト
等の点で好適である。樹脂の代表例としてはポリカーボ
ネート樹脂、アクリル樹脂、エポキシ樹脂、ポリスチレ
ン樹脂、アクリロニトリル−スチレン共重合体樹脂、ポ
リエチレン樹脂、ポリプロピレン樹脂、シリコン系樹脂
、フッ素系樹脂、ABS樹脂、ウレタン樹脂等が挙げら
れるが、加工性、光学特性等の点でポリカーボネート樹
脂、ポリメチルメタクリレートのようなアクリル系樹脂
が好ましい。
又、基板の形状としてはディスク状、カード状あるいは
シート状であっても良い。
本発明の光情報記録媒体を作るには所定の組酸比のター
ゲットを作製し、スパッター法による方法が好適である
。又膜の組成ずれを補正するために必要に応じて単元素
のチップを用いる場合もある。
こうして形成された記録層の厚さは通常300〜150
0人、好ましくは500〜1000人である。なお記録
層を非晶質状態にするか、或いは結晶状態にするかは蒸
着時の基板温度によって決定され、常温の場合は非晶質
状態となり、又材料にもよるが、100℃以上の場合(
又は前記温度でのアニール後)は結晶状態となる。
本発明では記録層上に更に保護層を設けることができる
。保IIの材料としては熱的に安定な窒化ケイ素等の窒
化物;二酸化ケイ素、二酸化チタン等の酸化物等が使用
されろ。好ましい材料としてはSin、5in2.Zn
O,Sn○2. A I、0.、 T i O2,I 
n、O,、M g O。
zrO2等の金属酸化物、S i3N4. A I N
TiN、BN、ZrN等の窒化物、SiC,TaC,B
4C,WC,TiC,ZrC等の炭化物やダイヤモンド
状カーボン或いはそれらの混合物が挙げられる。又、必
要に応じて不純物を含んでいてもよい。このような保W
INは各種気相成膜法、例えば、真空蒸着法、スパッタ
法、プラズマCVD法、光CVD法、イオンブレーティ
ング法、電子ビーム蒸着法等によって形成できる。なお
、保護層の厚さは通常300〜t、so。
人、好ましくは約1,000人である。形成法は記録層
の場合と同様1通常スパッタ法が適用される。 記録、
再生及び消去に用いる111波としてはレーザー光、電
子線、X線、紫外線、可視光線、赤外線、マイクロ波等
1種々のものが採用可能であるが、ドライブに取付ける
際、小型でコンパクトな半導体レーザーのビームが最適
である。
〔実施例〕
以下に本発明を実施例によって更に詳しく説明する。
実施例I A gzs (I n1x、5s bxz、s) T 
esoの組成を有するスパッタ用ターゲットを作製し、
直径130mm、厚み1 、2mmのガラス基板上にス
パッタ法により1000人厚の記8層を形成した後、保
護膜として窒化ケイ素を1000人厚同じくスパッタ法
で形成した。
得られた記a層は非晶質であるため記8mの初期化(結
晶化)をほどこした。記8WIを形成する際、テストピ
ースとしてスライドガラス上に同じ膜を形成しておき、
この膜から本記録層の光学特性、熱的特性をそれぞれ分
光光度計及びDSCにより測定した。
本記録層の融点は〜620℃であり、結晶化温度は〜1
30℃前後であった。又非晶質と初期化後(結晶化)の
間の反射率変化は〜18%程度であった(測定波長78
0nn+) 。
これらの値はInとsbの組成比をかえることによって
変化することはもちろんである。このことは目的に応じ
て記録感度、消去感度及び記録の長寿命化をはかる為の
自由度が広いことを示している。
次に初期化後の記録媒体を180Orpmの速度で回転
させながらビーム径を1μmφ程度に絞った半導体レー
ザi光(発振波長λ= 780nm)を照射することに
より、記録、再生及び消去を行った・ なお、記録出力は記録最小パワー11m1+I、再生出
力は2mW、消去出力は消去最小パワー51である。又
この出力/消去条件で記録後、さらに2Mfizでオー
バーライド試験を行った。
その結果、初期記録のC/N比は52dllでオーバー
ライド後も51dllと殆ど変わらなかった。又この時
の消去率は31dllであり消去残りが若干認められる
が、充分使用可能な段階であることが確認された。又i
o、ooo回の記録、消去のくり返し実験を行ったが、
信号レベルの低下はほとんど認められず、くり返し特性
も良好であることが確認された。
以下、本発明の記S層を用いることにより記録感度及び
消去感度はGeTe、Sb2Te、系記録層に比較し大
きく向上し、消去率、くり返し特性も改良されているこ
とが確認された。
実施例2 A gas (I n1ss bto) T esoの
組成を有するターゲラi・を作製し、実施例1と同じ方
法で光情報記録媒体を作製した。テストピースにより光
学特性、熱特性をそれぞれ分光光度計及びDSCにより
測定した0反射率変化は蒸着後(非晶質)と初期化後(
結晶質)(λ= 780nm)で18層程度であり、融
点は〜620℃、結晶化温度は〜160℃前後であった
次に初期化後の記録媒体を180Orpmの速度で回転
させながらビーム径を1μmφ程度に絞った半導体レー
ザー光(λ= 780nm)を照射することにより記録
、再生及び消去をおこなった。
なお記録出力は記録最小パワー11+nW、再生出力は
2mW、消去出力は消去最小パワー7n+Wであった。
又この出力/消去条件で記録後さらに2M Hzでオー
バーライド実験を行った。
その結果初期記録のC/N比は52dB、オーバーライ
ド後も50dBと良好な値を示した。又この時の消去率
は30d[lであった。
又10,000回の記録、消去のくり返し実験を行った
が、信号レベルの低下はほとんど認められなかった。
以下本発明の28層を用いることにより記録感度及び消
去感度はGeTe、Sb2Te、県北り層に比較し大い
に向上し、消去率、くり返し特性も改良されていること
が確認された。
実施例3 A g25 (I n1lls bus) T (35
6の組成を有するスパッタ用ターゲットを作製し、直径
130ff1m、厚さ!、2n+n+のガラス基板上に
実施例1.2と同じ方法により1000人厚の記録層を
設けた後、窒化シリコンを保護膜として1000人厚形
記録た。
そして初めにテストピースにより本記録層の光学特性及
び熱特性を実施例1,2と同じく分光光度計及びDSC
により測定した。反射率変化は蒸着後(非晶質)と初期
化後(結晶質)(λ= 780nm)で20層程度であ
った。又融点は〜590℃、結晶化温度は〜120℃前
後であった。
次に本記録層のディスク特性を実施例1,2と同様に測
定した。先ず記録媒体を1800rpmの速度で回転さ
せながらビーム径を1μmφ程度に絞った半導体レーザ
光(λ= 780nn+)を照射することにより、記録
、再生及び消去を行った。
なお記録出力は記録最小パワー1011w、再生出力は
2IIIw、消去出力は消去最小イ(ワー5mすであっ
た。
又この出力/消去条件で記録後さらに2M Hzでオー
バーライドの実験を行った。
その結果初期記録のC/N比53dB、オーバーライド
後も51dBであった。一方この時の消去率は32dB
であった。
又10.000回の記録、消去の繰返し実験を行ったが
、信号レベルの低下はほとんどみとめられなかった。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明で用いられる前記一般式の
四元化合物は、その構成元素比を変化させることにより
、その光学定数をはじめ。
融点、結晶化点及び活性化エネルギーを広い範囲で任意
に制御することが可能なため相変化型光メモリー用記録
層材料として使用した時、記録感度、消去感度の向上、
及び消去率の改良そして記録の長寿命化をはかることが
できる。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、基板上に、下記一般式で示される四元化合物より成
    る記録層を設けたことを特徴とする相変化型情報記録媒
    体。 一般式 X・(Y_ I 、Y_II)Z_2 (但しXは周期律表第 I b族元素から選ばれた元素。 Y_ I は第IIIb族元素から選ばれた元素、 Y_IIは第Vb族元素から選ばれた元素、 Zは第VIb族元素から選ばれた元素を表わす。)
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5316402A (en) * 1991-12-13 1994-05-31 Tombow Pencil Co., Ltd. Penholder cap

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63251290A (ja) * 1987-04-08 1988-10-18 Hitachi Ltd 光記録媒体と記録・再生方法及びその応用

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