JP2804313B2 - 相変化型光情報記録媒体 - Google Patents

相変化型光情報記録媒体

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JP2804313B2
JP2804313B2 JP1266322A JP26632289A JP2804313B2 JP 2804313 B2 JP2804313 B2 JP 2804313B2 JP 1266322 A JP1266322 A JP 1266322A JP 26632289 A JP26632289 A JP 26632289A JP 2804313 B2 JP2804313 B2 JP 2804313B2
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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は光による記録層の相変化を利用して情報の記
録再生及び書き換えを行うための相変化型光情報記録媒
体に関する。
[従来の技術] 電磁波特にレーザービームの照射により情報の記録・
再生および消去可能な光メモリー媒体の一つとして、結
晶−非晶質相間或いは結晶−結晶相間の転移を利用す
る、いわゆる相変化型記録媒体が良く知られている。特
に光磁気メモリーでは困難な単一ビームによるオーバー
ライトが可能であり、ドライブ側の光学系も、より単純
であることなどから最近その研究開発が活発になってい
る。その代表的な材料例として、USP 3,530,441に開示
されているようにGe−Te、Ge−Te−Sb、Ge−Te−S、Ge
−Se−S、Ge−Se−Sb、Ge−As−Se、In−Te、Se−Te、
Se−As等所謂カルコゲン系合金材料が挙げられる。又、
安定性、高速結晶化等の向上を目的にGe−Te系にAu(特
開昭61−219692)、Sn及びAu(特開昭61−270190)、Pd
(特開昭62−19490)等を添加した材料の提案や、記録
/消去の繰返し性能向上を目的にGe−Te−Se−Sbの組成
比を特定した材料(特開昭62−73438)の提案等もなさ
れている。
しかし、そのいずれもが相変化型書換え可能光メモリ
ー媒体として要求された諸特性のすべてを満足し得るも
のとはいえない。特に記録感度、消去感度の向上、オー
バーライト時の消し残りによる消去比低下の防止、並び
に記録部、未記録部の長寿命化が解決すべき最重要課題
となっている。
[発明が解決しようとする課題] 本発明は従来技術における上記問題を全て解消し高速
消去、記録感度の向上、消去率、記録の安定性等の材料
特性を全て満足する新規な相転移性三元化合物を用いた
オーバーライト可能な相変化型光情報記録媒体を提供し
ようとするものである。
[課題を解決するための手段] 上記課題を解決するための本発明の構成は特許請求の
範囲に記載されたとおりの相変化型光情報記録媒体であ
る。
これを要約すれば一般式としてAg2・IV b・VI b3で表
わせる三元化合物よりなる記録層を有する層変化型光情
報記録媒体である。
IV b族元素としてはGe、Sn、Si等が挙げられ、VI b族
元素としてはSe、Te等を挙げることができる。
ちなみに、本発明者らは前記目的を達成するために多
くの研究・検討を行った結果、前記一般式で表わされる
三元化合物は、 融点約350〜500℃の範囲にあり、又、バンドギャッ
プが約0.5eV前後の範囲にあるため、現在多く使用され
ている(Ga、Al)As系半導体レーザーに対して効率的に
吸収、発熱効果が期待できるため、記録感度の大幅な向
上が実現可能となる。さらに本発明の三元化合物Ag2・I
V b・VI b3においてAgのかわりにCuとしたものも考えら
れるが、この場合は融点が200℃以上も上昇するため、
記録感度が大幅に低下する。更に結晶化における構造は
立方晶等対称性が高いため感度の向上及び高速消去が期
待される。
前記一般式の化合物の場合成膜条件によっては従来
の非晶質−結晶質間の相転移と同時に結晶質−結晶質間
の相転移も可能である事を確めた。本発明は以上の考察
及び実験に基づいてなされたものである。
このような新規な相転移三元化合物の具体例としては
Ag2GeSe3、Ag2GeTe3、Ag2SnSe3、Ag2SnTe3、等が挙げら
れる。
本発明で用いられる基板は通常、ガラス、石英、セラ
ミックスあるいは樹脂であり、樹脂基板が成型性、コス
ト等の点で好適である。樹脂の代表例としてはポリカー
ボネート樹脂、アクリル樹脂、エポキシ樹脂、ポリスチ
レン樹脂、アクリロニトリル−スチレン共重合体樹脂、
ポリエチレン樹脂、ポリプロピレン樹脂、シリコン系樹
脂、フッ素系樹脂、ABS樹脂、ウレタン樹脂等が挙げら
れるが、加工性、光学特性等の点でポリカーボネート樹
脂、ポリメチルメタクリレートのようなアクリル系樹脂
が好ましい。又、基板の形状としてはディスク状、カー
ド状あるいはシート状であっても良い。
本発明の光情報記録媒体を作るには所定の組成比のタ
ーゲットを作製し、スパッター方による方法が好適であ
る。又膜の組成ずれを補正するために必要に応じて単元
素のチップを用いる場合もある。
こうして形成された記録層の厚さは通常300〜1500
Å、好ましくは500〜1000Åである。なお記録層を非晶
質状態にするか、或いは結晶状態にするかは蒸着時の基
板温度によって決定され、常温の場合は非晶質状態とな
り、又材料にもよるが、100℃以上の場合(又は前記温
度でのアニール後)は結晶状態となる。
本発明では記録層上に更に保護層を設けることができ
る。保護層の材料としては熱的に安定な窒化ケイ素等の
窒化物;二酸化ケイ素、二酸化チタン等の酸化物等が使
用される。
好ましい材料としてはSiO、SiO2、ZnO、SnO2、Al
2O3、TiO2、In2O3、MgO、ZrO2等の金属酸化物、Si3N4
AlN、TiN、BN、ZrN等の窒化物、SiC、TaC、B4C、WC、Ti
C、ZrC等の炭化物やダイヤモンド状カーボン或いはそれ
らの混合物が挙げられる。又、必要に応じて不純物を含
んでいてもよい。このような保護層は各種気相成膜法、
例えば、真空蒸着法、スパッタ法、プラズマCVD法、光C
VD法、イオンプレーティング法、電子ビーム蒸着法等に
よって形成できる。なお、保護層の厚さは通常300〜150
0Å、好ましくは約1000Åである。形成法は記録層の場
合と同様、通常スパッタ法が適用される。記録、再生及
び消去に用いる電磁波としてはレーザー光、電子線、X
線、紫外線、可視光線、赤外線、マイクロ波等、種々の
ものが採用可能であるが。ドライブに取付ける際、小型
でコンパクトな半導体レーザーのビームが最適である。
[実施例] 以下に本発明を実施例によって更に詳しく説明する。
実施例1 Ag2SnSe3の組成を有するスパッタ用ターゲットを作製
し、直径130mm、厚み1.2mmのガラス基板上にスパッタ法
により1000Å厚の記録層を形成した後、保護膜として窒
化ケイ素を1000Å厚同じくスパッタ法で形成した。
得られた記録層は非晶質であるため記録層の初期化
(結晶化)をほどこした。記録層を形成する際、テスト
ピースとしてスライドガラス上に同じ膜を形成してお
き、この膜から本記録層の光学特性、熱的特性をそれぞ
れ分光光度計及びDSCにより測定した。
本記録層の融点は〜490℃であった。又非晶質と初期
化後(結晶化)の間の反射率変化は〜16%程度であっ
た。
次に、この熱処理後の光記録媒体を1800rpmの速度で
回転させながらビーム径を1μmφ程度に絞った半導体
レーザー光(発振波長λ=780nm)を照射することによ
り、記録、再生及び消去を行った。
なお、最小記録出力は9mW、再生出力は2mW、最小消去
出力は4mWである。この出力/消去条件で記録後、さら
に2MHzでオーバーライト実験を行った。
その結果、初期記録のC/N比は52dBでオーバーライト
後も51dBと殆ど変らなかった。しかし、消去残りが若干
認められたが、その値(消去率)は32dBであり、充分使
用可能な段階であることが確認された。又10,000回の記
録、消去のくり返し実験を行ったが、信号レベルの低下
はほとんど認められず、くり返し特性も良好であること
が確認された。
実施例2 Ag2GeTe3の組成を有するターゲットを作製し、実施例
1と同じ方法で光情報記録媒体を作製した。テストピー
スにより光学特性、熱特性をそれぞれ分光光度計及びDS
Cにより測定した。反射率変化は蒸着後(非晶質)と初
期化後(結晶質)(λ=780nm)で18%程度であり、融
点は〜330℃程度であった。
次に初期化後の記録媒体を1800rpmの速度で回転させ
ながらビーム径を1μmφ程度に絞った半導体レーザー
光(λ=780nm)を照射することにより記録、再生及び
消去をおこなった。なお記録出力は記録最小パワー7m
W、再生出力2mW、消去出力は消去最小パワー4mWであっ
た。又この出力/消去条件で記録後さらにに2MHzでオー
バーライト実験を行った。
その結果初期記録のC/N比は52dB、オーバーライト後
も50dBと良好な値を示した。又この時の消去率は30dBで
あった。
又10,000回の記録、消去のくり返し実験を行ったが、
信号レベルの低下はほとんど認められなかった。
実施例3 Ag2GeSe3の組成を有するスパッタ用ターゲットを作製
し、直径130mm、厚さ1.2mmのガラス基板上に実施例1、
2と同じ方法により1000Å厚の記録層を設けた後、窒化
シリコンを保護膜として1000Å厚形成した。そして初め
にテストピースにより本記録層の光学特性及び熱特性を
実施例1、2と同じく分光光度計及びDSCにより測定し
た。反射率変化は蒸着後(非晶質)と初期化後(結晶
質)(λ=780nm)で20%程度であった。又融点は〜540
℃であった。
次に本記録層のディスク特性を実施例1、2と同様に
測定した。先ず記録媒体を1800rpmの速度で回転させな
がらビーム径を1μmφ程度に絞った半導体レーザ光
(λ=780nm)を照射することにより、記録、再生及び
消去を行った。なお記録出力は記録最小パワー10mW、再
生出力2mW消去出力は消去最小パワー5mWであった。又こ
の出力/消去条件で記録後さらに2MHzでオーバライトの
実験を行った。
その結果初期記録のC/N比53dB、オーバーライト後も5
1dBであった。一方この時の消去率は32dBであった。
又10,000回の記録、消去の繰返し実験を行ったが、信
号レベルの低下はほとんど認められなかった。
[発明の効果] 以上説明した様に本発明で用いられる前記一般式の三
元化合物は記録感の大幅な向上が期待できる。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 岩崎 博子 東京都大田区中馬込1丁目3番6号 株 式会社リコー内 (56)参考文献 特開 平1−165047(JP,A) 特開 平1−169747(JP,A) 特開 平1−191347(JP,A) 特開 平1−112538(JP,A) 特開 平2−243391(JP,A) 特開 平1−311431(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) B41M 5/26

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基板上に、下記一般式で示される化合物か
    らなる記録層を有することを特徴とする相変化型光情報
    記録媒体。 一般式 Ag2・IV b・VI b3 ただし、 IV bは周期表IV b族元素から選ばれた一つ以上の元素、 VI bは同じく周期表VI b族元素から選ばれた一つ以上の
    元素である。
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