JPH03128282A - 相変化型光情報記録媒体 - Google Patents
相変化型光情報記録媒体Info
- Publication number
- JPH03128282A JPH03128282A JP1266322A JP26632289A JPH03128282A JP H03128282 A JPH03128282 A JP H03128282A JP 1266322 A JP1266322 A JP 1266322A JP 26632289 A JP26632289 A JP 26632289A JP H03128282 A JPH03128282 A JP H03128282A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- recording
- recording layer
- recording medium
- optical data
- phase change
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 18
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims abstract description 9
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 9
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 claims 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 abstract description 19
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 9
- 239000000203 mixture Substances 0.000 abstract description 7
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 abstract description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 5
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 abstract description 5
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 abstract description 5
- 229910052714 tellurium Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 9
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 6
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 5
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 4
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 4
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 4
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 3
- -1 polypropylene Polymers 0.000 description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 3
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 2
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 2
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 2
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 2
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 2
- 229920005668 polycarbonate resin Polymers 0.000 description 2
- 239000004431 polycarbonate resin Substances 0.000 description 2
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 2
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 2
- 238000005477 sputtering target Methods 0.000 description 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 2
- BSYNRYMUTXBXSQ-UHFFFAOYSA-N Aspirin Chemical compound CC(=O)OC1=CC=CC=C1C(O)=O BSYNRYMUTXBXSQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004743 Polypropylene Substances 0.000 description 1
- 229910005091 Si3N Inorganic materials 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 229920000122 acrylonitrile butadiene styrene Polymers 0.000 description 1
- 229920001893 acrylonitrile styrene Polymers 0.000 description 1
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 229910052798 chalcogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001787 chalcogens Chemical class 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 229920006026 co-polymeric resin Polymers 0.000 description 1
- 229910052593 corundum Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000005566 electron beam evaporation Methods 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 1
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(III) oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 150000001247 metal acetylides Chemical class 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 229920013716 polyethylene resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 description 1
- 229920001155 polypropylene Polymers 0.000 description 1
- 229920005990 polystyrene resin Polymers 0.000 description 1
- SCUZVMOVTVSBLE-UHFFFAOYSA-N prop-2-enenitrile;styrene Chemical compound C=CC#N.C=CC1=CC=CC=C1 SCUZVMOVTVSBLE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 229920002050 silicone resin Polymers 0.000 description 1
- 229920002803 thermoplastic polyurethane Polymers 0.000 description 1
- 239000004408 titanium dioxide Substances 0.000 description 1
- 238000007738 vacuum evaporation Methods 0.000 description 1
- 238000001947 vapour-phase growth Methods 0.000 description 1
- 229910001845 yogo sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Thermal Transfer Or Thermal Recording In General (AREA)
- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は光による記録層の相変化を利用して情報の記録
再生及び書き換えを行うための相変化型光情報記録媒体
に関する。
再生及び書き換えを行うための相変化型光情報記録媒体
に関する。
[従来の技術]
電磁波特にレーザービームの照射により情報の記録−再
生および消去可能な光メモリー媒体の一つとして、結晶
−非晶質相間或いは結晶−結晶相間の転移を利用する、
いわゆる相変化型記録媒体が良く知られている。特に光
磁気メモリーでは困難な単一ビームによるオーバーライ
ドが可能であり、ドライブ側の光学系も、より単純であ
ることなどから最近その研究開発が活発になっている。
生および消去可能な光メモリー媒体の一つとして、結晶
−非晶質相間或いは結晶−結晶相間の転移を利用する、
いわゆる相変化型記録媒体が良く知られている。特に光
磁気メモリーでは困難な単一ビームによるオーバーライ
ドが可能であり、ドライブ側の光学系も、より単純であ
ることなどから最近その研究開発が活発になっている。
その代表的な材料例として、USP 3,530,44
1に開示されているようにGe−T e SG e
T e S b SG e T e−S 5Ge−
Se−S%Ge−5e−3bSGe −As−8e%I
n−Te%5e−TeSSe −As等所謂カルコゲン
系合金材料が挙げられる。
1に開示されているようにGe−T e SG e
T e S b SG e T e−S 5Ge−
Se−S%Ge−5e−3bSGe −As−8e%I
n−Te%5e−TeSSe −As等所謂カルコゲン
系合金材料が挙げられる。
又、安定性、高速結晶化等の向上を目的にGe−Te系
にAu(特開昭8l−219892) 、S n及びA
u(特開昭6l−270190) 、P d (特開昭
62−19490)等を添加した材料の提案や、記録/
消去の繰返し性能向上を目的にGe−Te−5e−sb
の組成比を特定した材料(特開昭82−7343g)の
提案等もなされている。
にAu(特開昭8l−219892) 、S n及びA
u(特開昭6l−270190) 、P d (特開昭
62−19490)等を添加した材料の提案や、記録/
消去の繰返し性能向上を目的にGe−Te−5e−sb
の組成比を特定した材料(特開昭82−7343g)の
提案等もなされている。
しかし、そのいずれもが相変化型書換え可能光メモリー
媒体として要求された緒特性のすべてを満足し得るもの
とはいえない。特に記録感度、消去感度の向上、オーバ
ーライド時の消し残りによる消去比低下の防止、並びに
記録部、未記録部の長寿命化が解決すべき最重要課題と
なっている。
媒体として要求された緒特性のすべてを満足し得るもの
とはいえない。特に記録感度、消去感度の向上、オーバ
ーライド時の消し残りによる消去比低下の防止、並びに
記録部、未記録部の長寿命化が解決すべき最重要課題と
なっている。
[発明が解決しようとする課題]
本発明は従来技術における上記問題を全て解消し高速消
去、記録感度の向上、消去率、記録の安定性等の材料特
性を全て満足する新規な相転移性三元化合物を用いたオ
ーバーライド可能な相変化型光情報記録媒体を提供しよ
うとするものである。
去、記録感度の向上、消去率、記録の安定性等の材料特
性を全て満足する新規な相転移性三元化合物を用いたオ
ーバーライド可能な相変化型光情報記録媒体を提供しよ
うとするものである。
[課題を解決するための手段]
上記課題を解決するための本発明の構成は特許請求の範
囲に記載されたとおりの相変化型光情報記録媒体である
。
囲に記載されたとおりの相変化型光情報記録媒体である
。
これを要約すれば一般式としてAg2・IVb・Vlb
zで表わせる三元化合物よりなる記録層を有する層変化
型光情報記録媒体である。
zで表わせる三元化合物よりなる記録層を有する層変化
型光情報記録媒体である。
IVb族元素としてはG e % S m SS h等
が挙げられ、VIb族元素としては5SSeSTe等を
挙げることができる。
が挙げられ、VIb族元素としては5SSeSTe等を
挙げることができる。
ちなみに、本発明者らは前記目的を達成するために多く
の研究・検討を行った結果、前記−般式で表わされる三
元化合物は、 ■ 融点的350〜500℃の範囲にあり、又、バンド
ギャップが約0.5eV前後の範囲にあるため、現在多
く使用されている(Ga、At)As系半導体レーザー
に対して効率的に吸収、発熱効果が期待できるため、記
録感度の大幅な向上が期待できる。更に結晶化における
構造は立方品等対称性が高いため感度の向上及び高速消
去が期待される。
の研究・検討を行った結果、前記−般式で表わされる三
元化合物は、 ■ 融点的350〜500℃の範囲にあり、又、バンド
ギャップが約0.5eV前後の範囲にあるため、現在多
く使用されている(Ga、At)As系半導体レーザー
に対して効率的に吸収、発熱効果が期待できるため、記
録感度の大幅な向上が期待できる。更に結晶化における
構造は立方品等対称性が高いため感度の向上及び高速消
去が期待される。
■ 前記一般式の化合物の場合成膜条件によっては従来
の非晶質−結晶質間の相転移と同時に結晶質−結晶質間
の相転移も可能である事を確めた。本発明はこれに基づ
いてなされたものである。
の非晶質−結晶質間の相転移と同時に結晶質−結晶質間
の相転移も可能である事を確めた。本発明はこれに基づ
いてなされたものである。
このような新規な相転移三元化合物の具体例としてはA
g2GeSez、AgzGeTes、Agz 5nSe
3、Ag25nTe3、Ag25nSz等が考えられる
。
g2GeSez、AgzGeTes、Agz 5nSe
3、Ag25nTe3、Ag25nSz等が考えられる
。
[発明の目的コ
本発明で用いられる基板は通常、ガラス、石英、セラミ
ックスあるいは樹脂であり、樹脂基板が成型性、コスト
等の点で好適である。樹脂の代表例としてはポリカーボ
ネート樹脂、アクリル樹脂、エポキシ樹脂、ポリスチレ
ン樹脂、アクリロニトリル−スチレン共重合体樹脂、ポ
リエチレン樹脂、ポリプロピレン樹脂、シリコン系樹脂
、フッ素系樹脂、ABS樹脂、ウレタン樹脂等が挙げら
れるが、加工性、光学特性等の点でポリカーボネート樹
脂、ポリメチルメタクリレートのようなアクリル系樹脂
が好ましい。
ックスあるいは樹脂であり、樹脂基板が成型性、コスト
等の点で好適である。樹脂の代表例としてはポリカーボ
ネート樹脂、アクリル樹脂、エポキシ樹脂、ポリスチレ
ン樹脂、アクリロニトリル−スチレン共重合体樹脂、ポ
リエチレン樹脂、ポリプロピレン樹脂、シリコン系樹脂
、フッ素系樹脂、ABS樹脂、ウレタン樹脂等が挙げら
れるが、加工性、光学特性等の点でポリカーボネート樹
脂、ポリメチルメタクリレートのようなアクリル系樹脂
が好ましい。
又、基板の形状としてはディスク状、カード状あるいは
シート状であっても良い。
シート状であっても良い。
本発明の光情報記録媒体を作るには所定の組成比のター
ゲットを作製し、スパッター法による方法が好適である
。又膜の組成ずれを補正するために必要に応じて単元素
のチップを用いる場合もある。
ゲットを作製し、スパッター法による方法が好適である
。又膜の組成ずれを補正するために必要に応じて単元素
のチップを用いる場合もある。
こうして形成された記録層の厚さは通常300〜150
0λ、好ましくは500〜1000大である。なお記録
層を非晶質状態にするか、或いは結晶状態にするかは蒸
着時の基板温度によって決定され、常温の場合は非晶質
状態となり、又材料にも゛よるが、100℃以上の場合
(又は前記温度でのアニール後)は結晶状態となる。
0λ、好ましくは500〜1000大である。なお記録
層を非晶質状態にするか、或いは結晶状態にするかは蒸
着時の基板温度によって決定され、常温の場合は非晶質
状態となり、又材料にも゛よるが、100℃以上の場合
(又は前記温度でのアニール後)は結晶状態となる。
本発明では記録層上に更に保護層を設けることができる
。保護層の材料としては熱的に安定な窒化ケイ素等の窒
化物;二酸化ケイ素、二酸化チタン等の酸化物等が使用
される。
。保護層の材料としては熱的に安定な窒化ケイ素等の窒
化物;二酸化ケイ素、二酸化チタン等の酸化物等が使用
される。
好ましい材料としては5iOSSi02、ZnO,5n
Oz、Al2O3、Ti0z、In2O3、MgO,Z
rO2等の金属酸化物、Si3N+、AIN、TiN、
BN、ZrN等の窒化物、S i C,TaC,B4
C,WC。
Oz、Al2O3、Ti0z、In2O3、MgO,Z
rO2等の金属酸化物、Si3N+、AIN、TiN、
BN、ZrN等の窒化物、S i C,TaC,B4
C,WC。
Tic、ZrC等の炭化物やダイヤモンド状カーボン或
いはそれらの混合物が挙げられる。又、必要に応じて不
純物を含んでいてもよい。このような保護層は各種気相
成膜法、例えば、真空蒸着法、スパッタ法、プラズマC
VD法、光CVD法、イオンブレーティング法、電子ビ
ーム蒸着法等によって形成できる。なお、保護層の厚さ
は通常300〜1500λ、好ましくは約1000 !
である。形成法は記録層の場合と同様、通常スパッタ法
が適用される。記録、再生及び消去に用いる電磁波とし
てはレーザー光、電子線、X線、紫外線、可視光線、赤
外線、マイクロ波等、種々のものが採用可能であるが。
いはそれらの混合物が挙げられる。又、必要に応じて不
純物を含んでいてもよい。このような保護層は各種気相
成膜法、例えば、真空蒸着法、スパッタ法、プラズマC
VD法、光CVD法、イオンブレーティング法、電子ビ
ーム蒸着法等によって形成できる。なお、保護層の厚さ
は通常300〜1500λ、好ましくは約1000 !
である。形成法は記録層の場合と同様、通常スパッタ法
が適用される。記録、再生及び消去に用いる電磁波とし
てはレーザー光、電子線、X線、紫外線、可視光線、赤
外線、マイクロ波等、種々のものが採用可能であるが。
ドライブに取付ける際、小型でコンパクトな半導体レー
ザーのビームが最適である。
ザーのビームが最適である。
[実施例]
以下に本発明を実施例によって更に詳しく説明する。
実施例l
Ag25nSe3の組成を有するスパッタ用ターゲット
を作製し、直径130mm、厚み1.2111mのガラ
ス基板上にスパッタ法により1000λ厚の記録層を形
成した後、保護膜として窒化ケイ素を1000λ厚同じ
くスパッタ法で形成した。
を作製し、直径130mm、厚み1.2111mのガラ
ス基板上にスパッタ法により1000λ厚の記録層を形
成した後、保護膜として窒化ケイ素を1000λ厚同じ
くスパッタ法で形成した。
得られた記録層は非晶質であるため記録層の初期化(結
晶化)をほどこした。記録層を形成する際、テストピー
スとしてスライドガラス上に同じ膜を形成しておき、こ
の膜から本記録層の光学特性、熱的特性をそれぞれ分光
光度計及びDSCにより測定した。
晶化)をほどこした。記録層を形成する際、テストピー
スとしてスライドガラス上に同じ膜を形成しておき、こ
の膜から本記録層の光学特性、熱的特性をそれぞれ分光
光度計及びDSCにより測定した。
本記録層の融点は〜490℃であった。又非晶質と初期
化後(結晶化)の間の反射率変化は〜16%程度であっ
た。
化後(結晶化)の間の反射率変化は〜16%程度であっ
た。
次に、この熱処理後の光記録媒体を180Orpmの速
度で回転させながらビーム径を1μmφ程度に絞った半
導体レーザー光(発振波長λ−780r+m)を照射す
ることにより、記録、再生及び消去を行った。
度で回転させながらビーム径を1μmφ程度に絞った半
導体レーザー光(発振波長λ−780r+m)を照射す
ることにより、記録、再生及び消去を行った。
なお、最小記録出力は91IIv1再生出力は2 m
’ds最小消去出力は4mWである。この出力/消去条
件で記録後、さらに2MHzでオーバーライド実験を行
った。
’ds最小消去出力は4mWである。この出力/消去条
件で記録後、さらに2MHzでオーバーライド実験を行
った。
その結果、初期記録のC/N比は52dBでオーバーラ
イド後も51dBと殆ど変らなかった。しかし、消去残
りが若干認められたが、その値(消去率)は32dBで
あり、充分使用可能な段階であることが確認された。又
10.000回の記録、消去のくり返し実験を行ったが
、信号レベルの低下はほとんど認められず、くり返し特
性も良好であることが確認された。
イド後も51dBと殆ど変らなかった。しかし、消去残
りが若干認められたが、その値(消去率)は32dBで
あり、充分使用可能な段階であることが確認された。又
10.000回の記録、消去のくり返し実験を行ったが
、信号レベルの低下はほとんど認められず、くり返し特
性も良好であることが確認された。
実施例2
Ag2GeTezの組成を有するターゲットを作製し、
実施例1と同じ方法で光情報記録媒体を作製した。テス
トピースにより光学特性、熱特性をそれぞれ分光光度計
及びDSCにより測定した。反射率変化は蒸着後(非晶
質)と初期化後(結晶質)(λ−780nm)で18%
程度であり、融点は〜330℃程度であった。
実施例1と同じ方法で光情報記録媒体を作製した。テス
トピースにより光学特性、熱特性をそれぞれ分光光度計
及びDSCにより測定した。反射率変化は蒸着後(非晶
質)と初期化後(結晶質)(λ−780nm)で18%
程度であり、融点は〜330℃程度であった。
次に初期化後の記録媒体を180Qrp+aの速度で回
転させながらビーム径を1μmφ程度に絞つた半導体レ
ーザー光(λ−780nm)を照射することにより記録
、再生及び消去をおこなった。なお記録出力は記録最小
パワー7mW、再生出力2+++W、消去出力は消去最
小パワー4mWであった。
転させながらビーム径を1μmφ程度に絞つた半導体レ
ーザー光(λ−780nm)を照射することにより記録
、再生及び消去をおこなった。なお記録出力は記録最小
パワー7mW、再生出力2+++W、消去出力は消去最
小パワー4mWであった。
又この出力/消去条件で記録後さらにに2MHzでオー
バーライド実験を行った。
バーライド実験を行った。
その結果初期記録のC/N比は52dB、オーバーライ
ド後も50dBと良好な値を示した。又この時の消去率
は30dBであった。
ド後も50dBと良好な値を示した。又この時の消去率
は30dBであった。
又10.000回の記録、消去のくり返し実験を行った
が、信号レベルの低下はほとんど認められなかった。
が、信号レベルの低下はほとんど認められなかった。
実施例3
Ag2GeSe:+の組成を有するスパッタ用ターゲッ
トを作製し、直径130mm 、厚さ1.2IDI!1
のガラス基板上に実施例1.2と同じ方広により100
0 X厚の記録層を設けた後、窒化シリコンを保護膜と
して1000λ厚形成した。そして初めにテストピース
により本記録層の光学特性及び熱特性を実施例1.2と
同じく分光光度計及びDSCにより測定した。反射率変
化は蒸着後(非晶質)と初期化後(結晶質)(λ−78
0n1M)で20%程度であった。又融点は〜540℃
であった。
トを作製し、直径130mm 、厚さ1.2IDI!1
のガラス基板上に実施例1.2と同じ方広により100
0 X厚の記録層を設けた後、窒化シリコンを保護膜と
して1000λ厚形成した。そして初めにテストピース
により本記録層の光学特性及び熱特性を実施例1.2と
同じく分光光度計及びDSCにより測定した。反射率変
化は蒸着後(非晶質)と初期化後(結晶質)(λ−78
0n1M)で20%程度であった。又融点は〜540℃
であった。
次に本記録層のディスク特性を実施例1.2と同様に測
定した。先ず記録媒体を1800rpn+の速度で回転
させながらビーム径を1μmφ程度に絞った半導体レー
ザ光(λ−78Or+m)を照射することにより、記録
、再生及び消去を行った。
定した。先ず記録媒体を1800rpn+の速度で回転
させながらビーム径を1μmφ程度に絞った半導体レー
ザ光(λ−78Or+m)を照射することにより、記録
、再生及び消去を行った。
なお記録出力は記録最小パワー10+nW、再生出力2
mW消去出力は消去最小パワー5mWであった。
mW消去出力は消去最小パワー5mWであった。
又この出力/消去条件で記録後さらに2MHzでオーバ
ライドの実験を行った。
ライドの実験を行った。
その結果初期記録のC/N比53dB、オーバーライド
後も51dBであった。一方この時の消去率は32dB
であった。
後も51dBであった。一方この時の消去率は32dB
であった。
又10,000回の記録、消去の繰返゛し実験を行った
が、信号レベルの低下はほとんど認められなかった。
が、信号レベルの低下はほとんど認められなかった。
[発明の効果]
以上説明した様に本発明で用いられる前記−般式の三元
化合物は記録感の大幅な向上が期待できる。
化合物は記録感の大幅な向上が期待できる。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 基板上に、下記一般式で示される化合物からなる記録層
を有することを特徴とする相変化型光情報記録媒体。 一般式 Ag_2・IVb・VIb_3 ただし、 IVbは周期表IVb族元素から選ばれた一つ以上の元素、 VIbは同じく周期表VIb族元素から選ばれた一つ以上の
元素である。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1266322A JP2804313B2 (ja) | 1989-10-16 | 1989-10-16 | 相変化型光情報記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1266322A JP2804313B2 (ja) | 1989-10-16 | 1989-10-16 | 相変化型光情報記録媒体 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03128282A true JPH03128282A (ja) | 1991-05-31 |
JP2804313B2 JP2804313B2 (ja) | 1998-09-24 |
Family
ID=17429315
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1266322A Expired - Fee Related JP2804313B2 (ja) | 1989-10-16 | 1989-10-16 | 相変化型光情報記録媒体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2804313B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6221557B1 (en) * | 1996-02-27 | 2001-04-24 | Ricoh Company, Ltd. | Optical information recording medium |
-
1989
- 1989-10-16 JP JP1266322A patent/JP2804313B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6221557B1 (en) * | 1996-02-27 | 2001-04-24 | Ricoh Company, Ltd. | Optical information recording medium |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2804313B2 (ja) | 1998-09-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5095479A (en) | Optical information recording medium | |
US5736657A (en) | Sputtering target | |
US6319368B1 (en) | Sputtering target, method of producing the target, optical recording medium fabricated by using the sputtering target, and method of forming recording layer for the optical recording medium | |
EP0288354B1 (en) | Process for manufacturing an optical recording medium | |
JPH03231889A (ja) | 光記録媒体 | |
JPH04232779A (ja) | 情報記録媒体 | |
JP2908826B2 (ja) | 情報記録媒体 | |
JPH11513166A (ja) | 可逆性光情報媒体 | |
JP2001507645A (ja) | Ge−Sb−Te合金の書換型光情報媒体 | |
JPH05151619A (ja) | 光情報記録媒体及び記録方法 | |
JPH03128282A (ja) | 相変化型光情報記録媒体 | |
JPH08249725A (ja) | 光情報記録媒体及びその製造に用いられる耐熱性保護層用材料 | |
JP2868849B2 (ja) | 情報記録媒体 | |
JPH0582838B2 (ja) | ||
JP2963106B2 (ja) | 情報記録媒体 | |
JPH04267192A (ja) | 光情報記録媒体 | |
JPH0399884A (ja) | 情報記録媒体 | |
JPH04232780A (ja) | 相変化光学式記録用媒体 | |
JPH0441292A (ja) | 相変化型光記録媒体 | |
JPH04191089A (ja) | 光情報記録媒体 | |
JPH07161072A (ja) | 光情報記録媒体 | |
JPH05345478A (ja) | 光情報記録媒体及びその製造方法 | |
JP2986897B2 (ja) | 情報記録媒体 | |
JPH03208688A (ja) | 光情報記録媒体 | |
JPH04219623A (ja) | 情報記録媒体初期化方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070717 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080717 Year of fee payment: 10 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |