JPH0395917A - 露光装置及び露光方法 - Google Patents

露光装置及び露光方法

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JPH0395917A
JPH0395917A JP1233607A JP23360789A JPH0395917A JP H0395917 A JPH0395917 A JP H0395917A JP 1233607 A JP1233607 A JP 1233607A JP 23360789 A JP23360789 A JP 23360789A JP H0395917 A JPH0395917 A JP H0395917A
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JP
Japan
Prior art keywords
electron beam
accelerometer
exposure apparatus
stage
acceleration
Prior art date
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Pending
Application number
JP1233607A
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English (en)
Inventor
Yoshio Watanabe
義雄 渡辺
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Electron Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 被露光材を搭載した移動台の移動に伴う振動に起因する
照射エネルギー線と被露光材との位置ずれの防止を必要
とする露光装置及び露光方法に関し、 X−Yステージの移動に起因する電子ビームコラムの振
動による電子ビームの照射位置のずれを防止するととも
に不要な時間待ちを行わないようにすることが可能とな
る露光装置及び露光方法の提供を目的とし、 〔1〕表面に感光材を形成した被露光材を移動台に搭載
し、前記感光材にエネルギー線を照射する露光装置にお
いて、前記エネルギー線の照射系の少なくとも一ヶ所に
加速度計を具備し、前記移動台にも加速度計を具備する
よう構威し、〔2〕請求項1に記載の露光装置の前記エ
ネルギー線の照射系に設けた加速度計により検出した前
記照射系の加速度と、前記移動台に設けた加速度計によ
り検出した前記移動台の加速度との差が、前記エネルギ
ー線の前記感光材への照射を行うことが許容される差以
下になった時点で、前記エネルギー線を前記感光材に照
射するよう構成する。
〔3〕請求項1に記載の露光装置の前記エネルギー線の
照射系に設けた加速度計により検出した前記照射系の加
速度と、前記移動台に設けた加速度計により検出した前
記移動台の加速度との差を、前記エネルギー線の前記感
光材の表面における目標位置からのずれ量に変換し、該
ずれ量を補正した位置に前記エネルギー線を照剖するよ
う構成する。
〔産業上の利用分野〕
本発明は、露光装置及び露光方法に係り、特に被露光材
を搭載した移動台の移動に伴う振動に起因する照射エネ
ルギー線と被露光材との位置ずれの防止に関するもので
ある。
エネルギー線、例えば電子ビームを露光する電子ビーム
露光装置は、電子ビームコラムから感光材を形成した被
露光材上の目標位置に電子ビームを照射し、この感光材
に半導体集積回路等のパターンを形成する装置である。
露光方弐としては、移動台を移動させて所定の位置に停
止させて露光を行い、順次移動を繰り返して停止時に露
光を行うステップ・リピート方式と、移動台を移動させ
ながら露光を行う連続移動露光方弐の二種類がある。
これらの何れの方式においても、・電子線の照射方向を
振ることが可能な量には限度があり、近年の益々微細化
し、高精度が要求されるパターンを形戒する場合にはこ
の電子線の照射方向の振り量を減少させることが必要と
なっている。
したがって移動台を移動させる頻度が高くなっており、
この移動台の移動に起因する電子ビームの照射系の振動
により電子ビームの照射位置のずれが生じている。
以上のような状況から電子ビームの照射系が振動した場
合においても、高精度の電子ビームの照射を効率よく行
うことが可能な露光装置及び露光方法が要望されている
〔従来の技術〕
従来の露光装置及び露光方法を電子ビーム露光装置の場
合について第5図〜第6図により詳細に説明する。
第5図は電子ビーム露光装置の概略構戒図であり、第6
図は電子ビーム露光装置の電子ビームコラムの構戒を示
す側断面図である。
電子ビーム露光装置は、第5図に示すように、内部にX
−Yステージ3を備え、その天仮に電子ビームコラム5
を設けた真空チャンバ1oを防振台9の上に設けたもの
である。
X−Yステージ3の上には感光材を形成した被露光材1
を搭載し、X−Yステージ制御部12によってDCモー
タ12aとDCモータ12bを制御してX−Yステージ
3を所定の位置に移動し、このXYステージ3に設けた
ミラー1lbにレーザ発振器11aからレーザを照射し
て反射させ、レーザレシーバIlcでこの反射レーザを
受光して位置検出制御回路lidによりX−Yステージ
3の位置を検出している。
このX−Yステージ3の位置が所定の位置にあることが
位置検出制御回路lidによって確認されると、電子ビ
ーム制御部13によって電子ビームコラム5から電子ビ
ームを被露光材1の表面に照射する。
この電子ビームの照射が終わると、露光制御計算機l4
が作動し、x−yステージ制御部l2によってX−Yス
テージ3を次の所定の位置に移動させる。
このようにX−Yステージ3の移動、X−Yステージ3
の位置確認、電子ビームの照射、次の所定位置へのx−
yステージ3の移動を繰り返して被露光材lの表面に順
次電子ビームの露光を行っているのである。
第6図は電子ビーム露光装置の電子ビームコラムの構或
を示す側断面図である。
図において、電子ビームガンI5から発した電子ビーム
4はスリット16で所定の形状に形戒され、レンズl7
により集光され、印加される電圧に応じてスリットデフ
レクタ18によって電子ビームが振られる。
照射すべきパターンを形或するのに用いる第2スリソト
19とレンズ20の位置を通過した電子ビーム4はプラ
ンキング用コイル21、アバーチャ22を通り、レンズ
23で集光される。
電子ビームの照射位置を大幅に変更するのに用いるメイ
ンデフレクタ24を通った電子ビームは、投影レンズ2
5及びサブデフレクタ26によりジョブト位置の微小な
補正がなされて被露光材1に照射される。
〔発明が解決しようとする課題〕
以上説明した従来の露光装置においては、X−Yステー
ジの移動開始時、移動停止時及び移動中の加減速等の影
響により真空チャンハの天板が振動して電子ビームコラ
ムが振動し、このために電子ビームが被露光材に照射さ
れる位置にずれが生しるという問題点があった。
この状態を模式的に図示すると第7図に示すようになり
、電子ビームコラム5がθ傾くと、被露光材1の表面に
おいて電子ビームの照射位置がδだけずれることを示し
ている。
このずれ量は微小であるが、近年の高密度化・微細化し
た半導体装置のパターンにおいては無視できない量にな
っており、製品の品質を低下させ歩留まり低下の原囚と
もなっている。
このためステソプ・リピート方式の露光方法においては
、移動した後にこの振動が停止するまで電子ビームの照
射を行わないで時間待ちをしているためにスループット
を著しく低下させており、また、この待ち時間では照射
可能な振動まで減衰していない場合には照射位置ずれの
原因となっている。
本発明は以上のような状況からX−Yステージの移動に
起因する電子ビームコラムの振動による電子ビームの照
射位置のずれを防止するとともに不要な時間待ちを行わ
ないようにすることが可能となる露光装置及び露光方法
の提供を目的としたものである。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の露光装置は、表面に感光材を形成した被露光材
を移動台に搭載し、この感光材にエネルギー線を照射す
る露光装置において、このエネルギー線の照射系の少な
くとも一ケ所に加速度計を具備し、この移動台にも加速
度計を具備するよう構威し、 本発明の露光方法は、上記の露光装置のこのエネルギー
線の照射系に設けた加速度計により検出したこの照射系
の加速度と、この移動台に設けた加速度計により検出し
たこの移動台の加速度との差が、エネルギー線のこの感
光材への照射を行うことが許容される差以下になった時
点で、このエネルギー線を感光材に照射するよう構成し
、また、上記の露光装置のこのエネルギー線の照射系に
設けた加速度計により検出したこの照射系の加速度と、
この移動台に設けた加速度3lにより検出したこの移動
台の加速度との差を、エネルギー線のこの感光材の表面
における目標位置からのずれ量に変換し、このずれ量を
補正した位置にエネルギー線を照射するよう構戒する。
〔作用〕
即ち本発明においては電子ビームコラム5が振動してい
る場合に電子ビームコラムの加速度計から得られた第2
図fa)に示す電子ビームコラムの加速度データ(α。
)と、X−Yステージが振動している場合にX−Yステ
ージの加速度計から得られた第2図(blに示すX−Y
ステージの加速度データ(α,)とから第2図(Clに
示すようなこれらの加速度データの差(α。−α,)の
加速度データが得られるが、図に示すように時間の経過
に伴ってこの加速度データが減衰するから、この加速度
データの値が第2図(C)の右端部のように電子ビーム
の照射が許容される範囲内になれば、電子ビームの照射
を行うことが可能となるので、X−Yステージの停止後
、必要にして且つ充分な待ち時間が経過した後に電子ビ
ームの照射を行うことが可能となり、無駄な待ち時間を
費やさず且つ品質を低下させない電子ビームの照射を行
うことが可能となる。
また、第2図(C)のX−Yステージ3の停止直後のよ
うに電子ビームコラムの加速度データとX−Yステージ
の加速度データの差(α0−α,)が大きな値の場合に
は、各時点におけるこの加速度データの差を被露光材の
表面における電子ビームの照射位置のずれ量に変換し、
このずれ量を補正するように電子ビームコラムを作動さ
せて電子ビームを照射すれば、振動が減衰するのを待つ
ことなく、電子ビームのITQ射を被露光材の所定の位
置に正確に行うことが可能となる。
〔実施例〕
以ド第1図.第3図〜第4図により本発明の一実施例を
電子ビーム露光装置の場合について詳細に説明する。
第1図は本発明による一実施例の電子ビーム露光装置の
概略構或図、第3図は本発明による一実施例の電子ビー
ム露光装置のシステムの概念図、第4図は第3図の補正
量計算回路のシステム図である。
本発明の電子ビーム露光装置の主要部は従来の技術にお
いて説明したものと同じであるが、第1図に示すように
電子ビームコラム5とX−Yステージ3にそれぞれ加速
度計6及び加速度計7を設け、これらの加速度計によっ
て検出された加速度データを補正量計算回路8に入力し
、補正量計算回路8における計算結果を電子ビーム制御
部13に出力し、電子ビーム制御部13によって電子ビ
ームコラム5を%+J御して電子ビームの照射を行う露
光装置である。
本発明による一実施例の電子ビーム露光装置のシステム
は第3図に示すように、露光制御計算機14と照射すべ
き電子ビームのパターンデータのメモリ14aにより電
子ビーム制御部13を制御し、電子ビーム制御部l3に
よって電子ビームコラム5を制御して電子ビーム4を照
射している。
この電子ビーム制御部13はパターン発生・形戒回路1
3a、パターン補正回路13b , D/A変換器13
c及び増幅器13dから構威されている。
一方、露光制御計算機14はX−Yステージ制御部12
を介してX−Yステージ3を制御しており、レーザ側長
器によって求められたX−Yステージ3の位置データは
、位置検出制御回路11dからX−Yステージ制御部l
2に出力されると同時に電子ビーム制御部13のパター
ン補正回路13bにも出力され、電子ビームコラム5の
制御に関与している。
第4図に示すように、補正堵計算回路8は電子ビームコ
ラムの加速度計6とX−Yステージの加速度計7から検
出されたそれぞれの加速度データα0及びα,を、変換
データAC及びA,に変換する変換器88及び8bと、
変換データ(Ac  As)を変換する変換器8cとか
ら構或されており、この変換器8cの出力と、レーザ側
長器の位置検出制御回路lidの出力とを電子ビーム制
御部のパターン補正回路13bに人力して電子ビームコ
ラムを制御している。
このようにして従来の電子ビーム制御部13による電子
ビームコラム5の制御に加えて、電子ビームコラム5及
びX−Yステージ3にそれぞれ設けた加速度計6及び7
によって検出されたそれぞれの加速度データの差を用い
、必要匪つ充分な待ら時間経過後に電子ビーム4を照射
するか、或いはこの差に対応するずれ量を補正した電子
ビーム4を被露光材1上に照射することにより、すれ量
の少ない高精度の電子ビーム4の照射を行うことが可能
となる。
〔発明の効果〕
以上の説明から明らかなように本発明によれば、エネル
ギー線の照射系と移動台にそれぞれ加速度計を備え、移
動台の移動に伴うそれぞれの加速度データの差を検出し
てこの差が許容範囲内に減衰するまで待つか、或いはこ
の差に相当する振り量をエネルギー線に与えて照射位置
を補正することにより、高精度のエネルギー線の照射を
行うことが可能となる等の利点があり、著しい経済的及
び信頼性向上の効果が期待できる露光装置及び露光方法
の提供が可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による一実施例の電子ビーム露光装置の
概略構成図、 第2図は本発明の作用を説明する図、 第3図本発明による一実施例の電子ビーム露光装置のシ
ステムの概念図、 第4図は第3図の補正量計算回路のシステム図、第5図
は電子ビーム露光装置の概略構或図、第6図は電子ビー
ム露光装置の電子ビームコラムの構戒を示す図、 第7図は従来の露光装置の問題点を示す模式図、である
。 図において、 lは被露光材、    2は感光材、 3はX−Yステージ、 4は電子ビーム、5は電子ビー
ムコラム、6は加速度計、7は加速度計、    8は
補正量計算回路、9は防振台、      10は真空
チャンバ、11はレーザ側長器、  llaはレーザ発
振器、1lbはξラー     11cはレーザレシー
バ、lidは位置検出制御回路、 12はx−yステージ制御部、 12aはDCモータ、  12bはDCモータ、l3は
電子ビーム制御部、 13aはパターン発生・形戒回路、 13bはパターン補正回路、 13cはD/A変換器、 13dは増幅器、    14は露光制御計算機、14
aはメモリ、    l5は電子ビームガン、I6はス
リット、    17はレンズ、18はスリットデフレ
クタ、 19は第2スリソト、  20はレンズ、21はプラン
キング用コイル、 22はアバーチャ、   23はレンズ、24はメイン
デフレクタ、25は投影レンズ、26はサブデフレクタ
、 を示す。 本発明による一実施例の電子ビーム露光装置の概略構e
.図第1図 (al 電子ビームコラムの加速度データ αC αi +a 電子ビームコラムとX−Yステージの加速度データの差
本発明の作用を説明する図 第3図の補正量計算回路のシステム図 第 4 図 電子!:−b制御BuX,,., 本発明による一実施例の電子ビーム露光装置のシステム
概念図第 3 図 電子ビーム露光装置の電子ビームコラムの構戒を示す図
第 6 図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 〔1〕表面に感光材(2)を形成した被露光材(1)を
    移動台(3)に搭載し、前記感光材(2)にエネルギー
    線(4)を照射する露光装置において、前記エネルギー
    線(4)の照射系(5)の少なくとも一ヶ所に加速度計
    (6)を具備し、前記移動台(3)にも加速度計(7)
    を具備することを特徴とする露光装置。 〔2〕請求項1に記載の露光装置の前記エネルギー線(
    4)の照射系(5)に設けた加速度計(6)により検出
    した前記照射系(5)の加速度と、前記移動台(3)に
    設けた加速度計(7)により検出した前記移動台(3)
    の加速度との差が、前記エネルギー線(4)の前記感光
    材(2)への照射を行うことが許容される差以下になっ
    た時点で、前記エネルギー線(4)を前記感光材(2)
    に照射することを特徴とする露光方法。 〔3〕請求項1に記載の露光装置の前記エネルギー線(
    4)の照射系(5)に設けた加速度計(6)により検出
    した前記照射系(5)の加速度と、前記移動台(3)に
    設けた加速度計(7)により検出した前記移動台(3)
    の加速度との差を、前記エネルギー線(4)の前記感光
    材(2)の表面における目標位置からのずれ量に変換し
    、該ずれ量を補正した位置に前記エネルギー線(4)を
    照射することを特徴とする露光方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1999030346A1 (en) * 1997-12-11 1999-06-17 Philips Electron Optics B.V. Particle-optical apparatus provided with an acceleration sensor for the compensation of specimen vibrations
JP2007184332A (ja) * 2006-01-05 2007-07-19 Nuflare Technology Inc 試料移動機構及び荷電粒子ビーム描画装置

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