JPH0393509A - スライシングマシンの切断方法 - Google Patents

スライシングマシンの切断方法

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JPH0393509A
JPH0393509A JP1232426A JP23242689A JPH0393509A JP H0393509 A JPH0393509 A JP H0393509A JP 1232426 A JP1232426 A JP 1232426A JP 23242689 A JP23242689 A JP 23242689A JP H0393509 A JPH0393509 A JP H0393509A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はスライシングマシンの切断方法に係り、特にス
ライシングマシンを使用して柱状体材料を切り出す際の
スライシングマシンの切断方法に関する。
〔従来の技術〕
スライシングマシンによって柱状体材料(シリコンイン
ゴット等〉を切断し半導体ウェハを製造する場合、イン
ゴットを基準位置からウェハの厚さの量だけ軸方向下方
へ下げた後、回転しているブレード(切断刃)に対して
インゴットを切断方向に移動して薄片状の半導体ウェハ
に切り出している。或いは、ウェハの切断とウェハ端面
の研削を同時に行うスライシングマシンに於いてはウェ
ハの所望厚さに研削しるの分を加えた量だけインゴット
を下方へ下げ、インゴットを水平に移動しながら切断と
ウェハ端面の研削同時に行う。この場合の研削しろはウ
ェハの厚み等から経験的に割り出されたもので、作業者
の熟練度や勘により決定される。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、切断中のブレード(切断刃〉の変位は切
断を経るに従って不安定となるため、所望のウェハを安
定して製造することができないという欠点がある。また
、周囲温度、クーラント、機械が発生する熱(ペアリン
グの摩擦、モータの発熱等)の影響で発生する熱応力の
ため、ブレードと研削砥石との相対的位置関係が変化し
、精度の高いウェハが得られないという問題がある。更
に、ブレード及び研削砥石は切断、研削を経るに従って
摩耗するため、研削量等が変化し、ウェハ厚さを変動さ
せる原因となっている。また、ウェハ端面の研削量はか
なりの余裕をとって設定されるため、柱状体材料が無駄
に研削されることがありコストの面からも好ましくない
本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、精度
の高いウェハを製造することができ、柱状体材料を無駄
なく切断することが可能なスライシングマシンの切断方
法を提供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
本発明は、前記目的を達成するために、柱状体材料を所
定の割り出し量だけ移動させた後、回転している切断刃
に対して柱状体材料を切断方向に移動して所定の厚さの
ウェハに切断すると共に、ウェハ端面の研削を行うスラ
イシングマシンの切断方法に於いて、切断後のウェハ厚
さの実測データ、切断中に検出される切断刃の軸方向の
変位データ並びにウェハ切断後の柱状体材料の端面形状
の実測データのうち、少なくとも1つのデータに基づい
て、切断後のウェハが所定の厚さとなる研削砥石の研削
位置と、研削量が最小となる柱状体材料の割り出し量と
を算出し、該割り出し量に応じて柱状体材料を下方へ移
動させ、且つ前記研削位置に研削砥石を移動して、柱状
体材料の切断工程と研削工程とを同時に行うことを特徴
としている。
〔作用〕
本発明によれば、柱状体材料を切断する際、切断後のウ
ェハ厚さの実測データ、切断中に検出される切断刃の軸
方向の変位データ並びにウェハ切断後の柱状体材科の端
面影状の実測データのうち、少なくとも1つデータから
切断後のウェハが所定の厚さとなる研削砥石の研削位置
、割り出し量を算出する。即ち、切断後のウェハ厚さの
実測データから切断刃の正確なカーフ・ロスを求め、こ
のカーフ・ロスに基づいて割り出し量、研削位置を算出
するようにしている。このため、ウェハ厚さの実測を定
期的に行うことにより、切断刃の状態に応じた適切な割
り出し量、研削位置でウェハの製造を行うことができる
また、切断中に検出される切断刃の軸方向の変位データ
から割り出し量、研削位置をその都度補正するようにし
ているので、切断中に切断刃の変位が変動した場合でも
切断作業を中止することなく迅速に研削位置及び割り出
し量を自動補正することができる。
更に、柱状体材料の端面形状の実測データから切断刃の
目詰まりや、切断刃のドレッシングによって生じる柱状
体材科の端面形状の変化を把握して割り出し量と研削位
置の補正を行うため、柱状体材料の端面形状が変化した
場合でも精度の良いウェハを生産できる。
〔実施例〕
以下、添付図面に従って本発明に係るスライシングマシ
ンの切断方法の好ましい実施例を詳説する。
第1図は本発明に係るスライシングマシンの切断方法に
使用されるスライシングマシンの概略を示した斜視図で
ある。第1vgJのスライシングマシンは本体lO、送
りテーブル12、支柱l4、インゴット〈柱状体材料)
保持iI1S16等を主な構戒としている。本体lOに
は送りテーブル12が矢印A又はB方向に摺劾自在に設
けられている。また、テーブル12には支柱l4が立設
され、支柱14の側方にはインゴット保持als16が
設けられ、シリコンインゴットl8を上下動自在に支持
している。本体lO中央部には内周刃(切断刃)20が
配設され、更に、本体10のテーブル12に対向する位
置には切断後のウェハを収納81S22に搬送する搬送
装置24が設置されている。また、内周刃20のドレッ
シングを行うドレッシング装置25が内周刃20の下方
に設置され、必要に応じて内周刃20のドレッシングを
行う。
第2図は第1図のスライシングマシンの制御系を示した
説明図である。第2図に示すように、インゴット保持部
16には割り出し制御装置26が設置され、スライシン
グマシンに内蔵された主制御装置28によって算出され
る割り出し量の分だけ、インゴットl8を下方へ移動さ
せる。また、送りテーブル12〈第2図には図示せず〉
には切断時にインゴット18の水平方向の送り位置の制
御を行う切断送り制御装置29が配設されている。
主制御装置28は内周刃20のカーフ・ロス等に応じた
切断時のインゴット18の軸方向の割り出し量の算出、
研削位置の算出並びに切断時のインゴッ}18の切断送
りの制御位置を算出し、切断時のスライシングマシンを
制御する。
また、内周刃20を回転させるスピンドル30には内周
刃20と共に回転するカップ型の研削砥石32が配設さ
れ、研削砥石32と内周刃20が同時に回転することに
より、ウェハ端面の研削と共にウェハの切断を行う。更
にスピンドル30の下端には主制御装置28と接続され
た研削砥石制御装置34が設置され、研削砥石制御装置
34は主制御装置28の指令によって研削砥石32を上
下動させ、ウェハ端面の研削量を制御する。
第3図は変位センサ36A,36Bと内周刃20との位
置関係を示した略平面図である。第2図及び第3図に示
すように、内周刃20の近傍には内周刃20の軸方向変
位を検出する非接触式の変位センサ36A,36Bが取
り付けられ、内周刃20の変位量を非接触式変位計37
を介して主制御装置28に出力している。
次に本発明に係るスライシングマシンの切断方法の第1
実施例について説明する。第1実施例は、切断後のウェ
ハの実測データから往状体材料の割り出し量の制御を行
う方法で、端面研削を行わない場合と、端面研削を行う
場合の2通りについて説明する。先ず、内周刃20のカ
ー7・ロスκB1ウェハの目標厚さTTを主制御装置2
8に人力するとインゴッ}18の上下方向の割り出し量
Iが次式によって設定される。
I=(目標厚さTT十カーフ・ロスκB) x( 1 
/COSθ.) X ( 1 /COSθ2)・・・■
但し、θいθ2はインゴット18のチルチング角度(傾
き)であり、インゴツ}18の切断方向と切断直角方向
とのなす角度に相当する。内周刃20のカー7・ロスK
Bが不明な場合は、仮値(内周刃の刃軍+20〜30μ
m)を入力しておく。
主制御装置28は■式で算出された割り出し量■だけイ
ンゴット18を軸方向へ移動させる信号を割り出し制御
装置26へ出力すると共に、インゴット18を水平に移
動させる駆動信号を切断送り駆動装129に出力し、1
枚の試験用ウエ/翫を切断する。そして、試験用ウェハ
の切り始め厚さTMを測定し、この実測1i17Mを主
制御装置28に人力することにより、次の■式に従って
内周刃20のカーブ・ロスKBを算出すると共に、この
算出されたカーフ・ロスKBを■式に代入して、補正さ
れた割り出し量Iを求め、この割り出し量lに基づいて
ウェハを連続して切断する。
カーフ・ロスκB= I XCOSθl XCOSθ2
−ウェハの厚さTM (実測!)・・・■切断中、ウェ
ハの実測作業を定期的に繰り返し、カー7・ロスκBの
値を■式によって補正することにより内周刃20の摩耗
や切れ味の悪化によって生じるカーフ・ロスKBの変劾
に対して割り出し量Iを正確に算出することができる。
切断と共に端面研削を行う場合は以下の通りである。
第4図はインゴット18、内周刃20,研削砥石32並
びに切断後のウエノ\35との関係を示す説明図である
。先ず、前記の端面研削を行わない場合と同様に、内周
刃20のカーフ・ロスKB,ウェハの目標厚さTT,研
削砥石32の最小カーフ・ロスKG、研削基準位置GO
を主制御装置28に人力する。カーフ・ロスKBは前述
の研削を行わない切断で正確に求めておくものとする。
また、第4図の研削基準位置GOが不明な場合、研利基
準位置GOは以下のように設定される。第5図は研削基
準位置GOを求める場合の手順を示す説明図である。先
ず、スライシングマシンのスピンドル30を停止させ、
電気マイクロメータ40を送りテーブルl2に取り付け
る。そして、送りテーブルl2を移動させて研削砥石3
2の上面と内周刃20の最上部とを交互に測定しながら
、その高さの差が0となるよう研削砥石32を上下動さ
せ、差が0になった位置を研削基準位置GOに設定する
尚、第4図で示される研削変位量GSP, GSN,G
GP, GGNは、スライス面18A及び研削面18B
の凹凸を示すパラメータで以下のような符号を有する。
GSP. GGP ≧0、GSN, GGN ≦O主制
御装置28は入力されたデータから、研削位置G m 
l R及びGII411%は以下の計算式から算出され
る。尚、GII.7は研削によってウェハの厚さが最小
となる位置、G a .は最大となる位置で、後工程に
応じて適宜選択される。
G1、=GO−TT−κB+GSN・・・■c.,. 
=GO −TT −KB +GSP ・・・■研削変位
量GSN, GSPの値はここでは0とする。
従って、研削位置GはG1、=G m a Nとなり、
この値Gを次式に当てはめることにより、インゴッ}1
8の割り出し量Iが算出される。
1=  (GO−G+GGP+KG)  x  (1/
COS  θl)X(1/COSθ2)・・・■ 更に、主制Ill装置28は前記■式によって算出され
た研削位置Gから研削砥石32を研削位置まで上動させ
ると共に、前記■式によって得られた割り出し量Iに基
づく駆動信号を割り出し制御装置26へ出力し、インゴ
ッ}18を割り出し位置に駆動する。次いで、インゴッ
}18を切断送り駆動装置28によって切断方向に移動
し、1枚の試験用ウェハを切断する。そして、研削・切
断を一時中止し、試験用ウェハを切断方向及び切断直角
方向を含め、全体的に、切り始め厚さ、最大厚さ、最小
厚さをそれぞれ測定する。
測定された切り始め厚さTM,最大厚さ、最小厚さから
、研削変位量GSP, GSNSGGP, GGNが次
式に従って算出される。
研削変位量:GSP =最大厚さ一切り始め厚さTM研
削変位量2:GSN=最小厚さ一切り始め厚さTIJ研
削変位量3:GGP=最大厚さ一切り始め厚さTM研削
変位量4:GGN=最小厚さ一切り始め厚さTI4また
、研削基準位置GOは次式によって自動計算され、前記
第5図で設定されたGOと置き換えられる。
GO = G +TM +KB・・・■そして、■式に
よって設定された研削基準位置を前記■式、■式に当て
はめることにより、補正された研削基準位置G a l
 n及びG...及び割り出し量■が算出され、切断刃
の状態に対して適切な割り出し量及び研削位置でウェハ
を製造することができる。
次に、本発明に係る第2実施例について説明する。第2
実施例は切断後のウェハの実測データ及び内膚刃20の
軸方向変位量の測定データからスライシングマンンの制
御を行う方法である。先ず、第1実施例の端面研削を行
う場合と同様な手順で、試験用ウェハを1枚切断し、切
断方向及び切断直角方向を含め全体的に、切り始め厚さ
TM,最大厚さ、最小厚さをそれぞれ測定し、前記■式
によって研削基準位置GOを算出する。
次に、研削位置Gの自動補正の手順は以下の通りである
。第6図は内周刃20と変位センサ36A,36Bとの
相対関係を示す説明図、第7図(^〉〜(F)は変位セ
ンサ36A,36Bによって検出される内周刃20の代
表的な変位パターンを示した説明図である。試験用ウェ
ハ切断時の内周刃20の軸方向変位量は変位センサ36
A,36Bによって、逐次測定され、測定データは主制
御装置28に記憶され、検出される変位パターンのほと
んどは第7図(A)〜(F)に示される6通りに分類さ
れる。内周刃20の変位量のうち、十側の最大変位をB
PO、一側の最大変位をBNOとする。
軸方向変位量は変位センサが:36A,36Bの2個の
ときは、LとMの平均値、変位センサが36Aのみのと
きは、Lの値とする。また、試験用ウェハ以外のウェハ
を切断するときの軸方向変位量のうち、十側の最大変位
をBP、一側の最大変位をBNとする。加えて、前記で
測定した試験用ウェハの切り始め庫さTM,最大厚さ、
最小厚さから、GP:試験ウェハ最大厚さ一切り始め厚
さTMGN:試験ウェハ最小厚さ一切り始め厚さ伸とす
ると、以下の式から研削変位量GSP, GSN,GG
P, GGNの補正計算が行われる。
GSP =Ax( BP−BPO)  +GP − I
P≧OGSN =Ax( BN−BNO)  +GN 
− IN ≦OGGP =Ax( BP−BPO)  
+GP≧OGGN = A X ( BN − BNO
)  + GN≦0更に、前記■、■、■式から研削砥
石の研削位置と、インゴットl8の割り出し量が算出さ
れる。
尚、前式のAは研削補正係数で、内屑刃20の変位量の
変化がパラメータGSP〜GGNへ、どの程度影響する
かを統計処理によって経験的に求めた係数である。また
、IPSINはドレッシング補正量で、ドレッシングの
実施がパラメータGSP, GSHにどの程度影響する
かを経験的に求めた補正量である。
このように、第2実施例では、逐次入力される内周刃2
0の変位データから、切断中にその都度割り出し量■と
研削位置Gの補正を行うようにしているので、内周刃2
0の変位量が切断中に目詰まりやドレッシングによって
変化した場合でも自動的に補正を繰り返し、精度の良い
ウェハを製造することができる。
次に、本発明に係るスライシングマシンの切断方法の第
3実施例について説明する。先ず、前記第2実施例の場
合と同様な手順で、試験用ウェハをl枚切断し、試験用
ウェハを切断方向及び切断直角方向を含め全体的に、切
り始め厚さTM,最大厚さ、最小厚さをそれぞれ測定し
、研削基準位置GOを前記■式で設定する。
第8図はインゴッ}18の端面形状を測定する測定器3
8を示した斜視図である。測定器38は試験用ウェハ切
断後のインゴットl8端面に、支持具39A,39B,
39Cの3点が当接され、中央部の測定子38Aによっ
てインゴット18の凹凸が測定器の向きにより切断方向
と切断直角方向に分離して測定される。このときの切断
方向の測定値のうち、GSP, GGPと同極性の測定
値をXPO、又、GSN , GGN ト同極性ノ測定
値ヲxNOトスる。測定器38は中央1点で、インゴッ
}18を測定するため、XPO, XNOのいずれか一
方は0となる。
次に、所定数のウェハ切断後のインゴッ}18の端面形
状を測定し、その切断方向の測定値のうち、GSP, 
GGPと同極性の測定値をXP,GSN、GGNと同極
性の測定値をXNとし、加えて、前記で測定した試験用
ウェハの切り始め厚さTM,最大厚さ、最小厚さを主制
i#装置28に入力する。
GP:試験ウェハ最大厚さ一切り始め厚さTMGN:試
験ウェハ最小厚さ一切り始め厚さTRIそうすると、前
式によってGP , GNが算出され、更に以下の式か
ら研削変位量GSP, GSN, GGP,GGNの補
正計算が主制御装置28によって行われる。
GSP =Ax( XP−XPO)  +GP − I
P ≧OGSN =Ax( XN−XNO)  +GN
− IN ≦OGGP =AX( XP−XPO)  
+GP≧OGGN =AX( XN−XNO)  +G
N≦0更に、前記■、■、■式に前式で求めた研削変位
量GSPSGSN, GGP%GGNと、■式で求めた
研削基準位置GOを代入すると研削砥石の研削位置と、
インゴットl8の割り出し量が算出される。A1IP及
びINは第2実施例の場合と同様に統計処理によって経
験的に求めた補正係数並びに補正量である。また、イン
ゴッ}18端面の測定が再び行われるまでは、同じ研削
位置及び割り出し量で研削・切断を行う。インゴッ}1
8端面の測定間隔は、生産時間と精度の要求を考慮して
決定される。
このように、連続した切断工程で、定期的にインゴット
18の端面形状の測定を行い研削変位量の補正計算を実
施すれば、内周刃20の目詰まりやドレッシング等でイ
ンゴット端面の形状が変化しても、自動的に補正を繰り
返して精度の良いウェハを生産することができる。
次に、第4実施例について説明する。第4実施例は、切
断後のウェハの実測データ、内周刃20の軸方向変位量
の測定データ及び切断後のインゴット端面形状測定デー
タに基づいて制御する切断方法である。先ず、前記第1
実施例、第2実施例、第3実施例の場合と同様に内周刃
20のカー7・ロスKB,ウェハの目標厚さTT、研削
砥石の最小カーフ・ロスKG並びに研削基準位置GOを
主制御装置28に入力し、スライシングマシンを駆動し
て試験用ウェハをl枚切断する。切断中、変位センサ3
6A,36Bで検出された変位は、第2実施例と同様に
主制御装置28によって内周刃20のウェハ切断時の変
位パターンとして記憶される。
更に、第3実施例の場合と同様に、第8図の測定器38
によって、試験用ウェハ切断後のインゴット18の端面
形状を測定する。測定は切断方向と切断直角方向の2方
向から行い、その測定値をそれぞれX,Yとし、この値
を主制御装置28に入力する。また、第7図の変位セン
サ36A,36Bによって検出された内周刃20の中央
部の変位をそれぞれLSM,又、内周刃20の切り終わ
りの変位をHとし、これらの値を主制御装置28に人力
すると、切断後のインゴット18端面の切断方向の凹凸
x1及び切断直角方向の凹凸Ylは(第6図ではYlの
み図示)それぞれ次式によって算出される。
X1=X+1/2xH Y1=Y+1/2X (L+M) 但し、変位センサ36Aのみを使用する場合は、Y1=
Y+Lとなる。
ソシテ、主制御装置28はXl、YISLSM,Hの中
で、十側の最大櫨及び一側の最大値となるものを内周刃
20の十側の最大変位BBPO及び−側の最大変位BB
NOとして選択する。更に、切断された試験用ウェハの
切り始め厚さTM,最大厚さ、最小厚さをそれぞれ測定
し、主制御装置28にこれらの数値をを入力する。
GP:試験ウェハ最大厚さ一切り始め厚さTMGN;試
験ウェハ最小厚さ一切り始め厚さTM前式によって算出
されたGP, GNから研削変位量GSP, GSNS
GGPSGGNの補正計算が主制御装置28によって行
われる。
GSP = BBP − BBPO+ GP − IP
 ≧OGSN = BBN − 88NO+ GN −
 IN ≦OGGP =BBP−BBPO+GP≧OG
GN = BBN − BBNO + GN≦O次いで
、補正された研削変位量及び研削基準位置GOを計算式
■、■、■に当てはめることにより、補正された研削位
置0.17、G II a g及び割り出し量■がウェ
ハ毎に演算され、連続的にウェハの研削・切断が行われ
る。切断中は、第2実施例の場合と同様に変位センサ3
6A,36Bにより常に、内周刃20の変位量が主制御
装置28に入力されているので、変位量の変動に対して
迅速に研削位置及び割り出し量を自動的に補正する。ま
た、定期的にインゴット18の端面形状の測定を行えば
、内周刃20の目詰まりや、ドレッシング等によるイン
ゴット端面の形状変化を把握することができ、精度の良
いウェハを生産することができる。インゴット18の端
面形状の測定間隔は、生産時間と精度の要求を考慮して
決定される。
更に、他の実施例と同様にウェハの実測を定期的に繰り
返すことにより、内屑刃20や研削砥石32の状態に対
して;適切な補正を行うことができ、精度の高い切断が
可能となる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明に係るスライシングマシン
の切断方法によれば、切断後のウェハ厚さの実測データ
、切断中に検出される切断刃の軸方向の変位データ並び
にウェハ切断後の柱状体材料の端面形状の実測データに
基づいて研削位置及び柱状体材料の割り出し量を補正す
る。これにより、正確な研削位置が算出され柱状体材料
の損失が最小限になると共に、正確な割り出し量で切断
を行うことができ、容易、且つ迅速に精度の高いウェハ
を!II造することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係るスライシングマシンの切断方法に
使用されるスライシングマシンの概略を示した斜視図、
第2図は第1図のスライシングマシンの制御系を示した
説明図、第3図は変位センサと内周刃との位置関係を示
した略平面図、第4図は柱状体材料と内周刃並びに研削
砥石との関係を示す説明図、第5図は研削基準位置GO
を求める場合の手順を示す説明図、第6図は内周刃と変
位センサとの相対関係を示す説明図、第7図(^〉〜(
F)は変位センサによって検出される内周刃の代表的な
変位パターンを示した説明図、第8図はインゴットの端
面形状を測定する測定器38を示した斜視図である。 18・・・インゴット(柱状体材料)、 20・・・内
周刃(切断刃)、 26・・・割り出し制御装置、28
・・・主制御装置、 32・・・研削砥石、 34・・
・研削砥石制御装置、 36A,36B・・・変位セン
サ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 柱状体材料を所定の割り出し量だけ移動させた後、回転
    している切断刃に対して柱状体材料を切断方向に移動し
    て所定の厚さのウェハに切断すると共に、ウェハ端面の
    研削を行うスライシングマシンの切断方法に於いて、 切断後のウェハ厚さの実測データ、切断中に検出される
    切断刃の軸方向の変位データ並びにウェハ切断後の柱状
    体材料の端面形状の実測データのうち、少なくとも1つ
    のデータに基づいて、切断後のウェハが所定の厚さとな
    る研削砥石の研削位置と、研削量が最小となる柱状体材
    料の割り出し量とを算出し、該割り出し量に応じて柱状
    体材料を下方へ移動させ、且つ前記研削位置に研削砥石
    を移動して、柱状体材料の切断工程と研削工程とを同時
    に行うことを特徴とするスライシングマシンの切断方法
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DE69011020T DE69011020T2 (de) 1989-09-07 1990-09-06 Verfahren zum Zerschneiden von zylindrischem Material in Scheiben.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110509444A (zh) * 2018-05-21 2019-11-29 株式会社迪思科 被加工物的加工方法

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR950011673B1 (ko) * 1991-04-24 1995-10-07 박경 사면폭유지와 판유리 모양감지를 겸할수 있는 롤러장치가 부착된 판유리 변형면취기
JPH05116138A (ja) * 1991-09-30 1993-05-14 Mitsubishi Materials Corp スライシングマシン
DE4134110A1 (de) * 1991-10-15 1993-04-22 Wacker Chemitronic Verfahren zum rotationssaegen sproedharter werkstoffe, insbesondere solcher mit durchmessern ueber 200 mm in duenne scheiben vermittels innenlochsaege und vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens
DE4136566C1 (ja) * 1991-11-07 1993-04-22 Gmn Georg Mueller Nuernberg Ag, 8500 Nuernberg, De
US5351444A (en) * 1992-09-25 1994-10-04 Silicon Technology Corporation Blade track control system
JP2979870B2 (ja) * 1992-11-27 1999-11-15 信越半導体株式会社 半導体インゴットのコーン状端部切除方法
JP2789983B2 (ja) * 1993-01-28 1998-08-27 信越半導体株式会社 加工誤差補正装置
EP0709878B1 (en) * 1994-10-24 1998-04-01 Naoetsu Electronics Company Method for the preparation of discrete substrate plates of semiconductor silicon wafer
JPH07323420A (ja) * 1994-06-02 1995-12-12 Tokyo Seimitsu Co Ltd ウェーハ製造方法及びその装置
US5513722A (en) * 1995-03-10 1996-05-07 Foltz; Donald R. Compressed air lubricator
US6217433B1 (en) * 1995-05-16 2001-04-17 Unova Ip Corp. Grinding device and method
DE19607695A1 (de) * 1996-02-29 1997-09-04 Wacker Siltronic Halbleitermat Verfahren zur Herstellung von Halbleiterscheiben
US5816892A (en) * 1997-02-06 1998-10-06 Cobra Machine Tool Co., Inc. Positioning control for combined milling machine and internally positioned grinding wheel
DE10335062A1 (de) * 2003-07-31 2005-04-07 Siltronic Ag Verfahren zum Sägen eines Halbleiterstabs und Entfernen der Sägeunterlage

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01110910A (ja) * 1987-10-26 1989-04-27 Toshiba Corp 薄板切断方法および薄板切断装置
JPH01115604A (ja) * 1987-10-29 1989-05-08 Tokyo Seimitsu Co Ltd ウエハの切断装置

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2204491C3 (de) * 1972-01-31 1981-02-26 Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen Meßsteuerung einer Siliciumsäge über eine Hilfsspindel
NL7304070A (ja) * 1973-03-23 1974-09-25
FR2469259A1 (fr) * 1979-08-08 1981-05-22 Radiotechnique Compelec Procede d'elaboration de plaquettes de materiaux durs, notamment de silicium et appareil de mise en oeuvre du procede
JPS57168854A (en) * 1981-04-05 1982-10-18 Tokyo Seimitsu Co Ltd Slicing device
JPS57178660A (en) * 1981-04-27 1982-11-02 Hitachi Ltd Slicer
JPS6296400A (ja) * 1985-10-23 1987-05-02 Mitsubishi Metal Corp ウエハの製造方法
DE3613132A1 (de) * 1986-04-18 1987-10-22 Mueller Georg Nuernberg Verfahren zum zerteilen von harten, nichtmetallischen werkstoffen
US4852304A (en) * 1987-10-29 1989-08-01 Tokyo Seimtsu Co., Ltd. Apparatus and method for slicing a wafer
DE3737540C1 (de) * 1987-11-05 1989-06-22 Mueller Georg Nuernberg Verfahren und Maschine zum Herstellen von Ronden mit zumindest einer planen Oberflaeche
EP0329087B1 (en) * 1988-02-15 1994-11-17 Tokyo Seimitsu Co.,Ltd. Method and device for dressing an inner peripheral blade in a slicing machine

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01110910A (ja) * 1987-10-26 1989-04-27 Toshiba Corp 薄板切断方法および薄板切断装置
JPH01115604A (ja) * 1987-10-29 1989-05-08 Tokyo Seimitsu Co Ltd ウエハの切断装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110509444A (zh) * 2018-05-21 2019-11-29 株式会社迪思科 被加工物的加工方法
CN110509444B (zh) * 2018-05-21 2022-10-18 株式会社迪思科 被加工物的加工方法

Also Published As

Publication number Publication date
US5074276A (en) 1991-12-24
JPH0767692B2 (ja) 1995-07-26
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DE69011020T2 (de) 1994-11-10
EP0417644A3 (en) 1992-05-27
DE69011020D1 (de) 1994-09-01
EP0417644A2 (en) 1991-03-20

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